JPS59184808A - 物品検査方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 本発明は、びんの列を相対的配向および間隔について検
査するための方法および装置に関する。

特定すると、本発明は、びん列を「ダウン（倒れ）」お
よび［スタック（重なり）」状態について検査する方法
および装置に関する。

本発明は、炉とレア間のガラスびん製造プラントの「ホ
ットエンド」で１ダウン」および「スタック」状態のび
んを検出し放出するのに重要である。しかしながら、本
発明は、レアの下流のプラントの「コールドエンド」で
「ダウン」状態のびんを検出するのにも重要である。

普通、ガラスびん製造プラントにおいては、びんは、移
動コンベヤ上に相互に一様に離間され、１列に配置され
る。びんは、コンベヤにより炉からレアに移送され、つ
いで秤々の検査および処理ステーションに移送される。

プラントのホットエンドでは、びんが相互に接触して直
立または傾斜位置においてスタック状態となることがあ
る。加えて、びんがブーラントのホットエンドマたはコ
ールドエンドでコンベヤ上で倒れてしまい、「ダウン状
態」のびんが生じることもある。「ダウン」および「ス
タック」状態のびんはコンベヤから除去し、ラインの詰
まりゃ良い製品との接触を避け、処理時間を減じなけれ
ばならない。

普通のびん製造プラントにおいて遭遇する熱やごみは、
特に光学的装置によりびん列をダウン状態やスタック状
態について検査するのに受は入れ難い環境をもたらす。

検査を逐行するため、種々の非光学的装置も提案された
。例えば、米国特許第３．９６８．３６８号には、熱い
ガラスびんの列がレアに入る前に検査する熱感知装置が
開示されている。この装置は、光学系でない４個の熱感
知グローブを採用する。プローブは、上下のキャリヤ上
に対で横方向に予め位置づけされる。「ダウン」および
「スタック」状態の検出は、びんが熱感知グローブを阻
止する予め選択さｈたパターンに基づく。

「ダウン」および「スタック」状態のびんを検出するた
めの種々の光学的装置も提案されている。

例えば、１９８２年１０月１９日付で発行された米国特
許第４．３５４．８６５号には、移動コンベヤの両側に
全物品がノーマル、ダウンまたはスタックのいずれの状
態にあれ、これらの全物品により放射線ビームが中断さ
れるような高さに赤外線エネルギ源・センサ対を配置し
た装置が開示されている。センサは、ビームが中断され
ないときのみ出力パルスを生ずる。びんの検出ごとに、
ワンショット回路が予め選択された継続時間のノくルス
を発生する。「スタック」状態または「ダウン」状態の
びんがあって、ワンショットパルスの継続時間を越える
時間ビームが中断されると、ワンショットゲートが、拒
絶機構を制御する遅延ワンショット回路をトリガする。

移動コンベヤ上のランダムに離間されたびんのシルエッ
トを検出するための光学的装置も提案された。例えば、
１９７４年９月２４日付で発行された米国特許第３．８
　ｍ　７４８６号には、コンベア速度に比例する周波数
を有するパルス列を得るため、パルスジェネレータを移
動コンベヤに固定した装置が開示されている。放射線源
−センサ対が検査ステーションに配置されており、びん
がステーションを横切るに必要とされる時間に比例した
「直径」パルスを発生する。パルスジェネレータのパル
スは、「直径」パルス内で計数され、プリセットされた
最小および最大スレッショルドに比較すれる。計数値が
スレッショルド間にあれば、びんは受は入れられる。そ
うでない場合は、拒絶機構が作動され、コンベヤからび
んを取り除く。

従来、受は入れられるびんの平均寸法の変動に対して割
合が自動的に変わるスレッショルドとの比較に基づいて
「ダウン」および「スタック」状態のびんを検出する光
学的検出装置は提案されていない。さらに、スタック状
態で直立のびんを、「ダウン」状態のびんおよび「スタ
ック」状態で傾斜したびんを検出するのに採用されたの
と同じセンサ信号に基づいて検出する光学的検出装置は
提案されていない。

本発明の利点は、すべての「ダウン」および「スタック
」状態のびんを検出するのに単一のセンサ信号しか必要
としないことである。、本発明の他の利点は、周囲光や
極端なごみや熱等の広範囲の変動のようなびん製造プラ
ントで通常遭遇する劣化条件に実質的に不感知なことで
ある。

本発明の他の利点は、「ダウン」および「スタック」状
態の検出が全びん形状と無関係であり、列ごとおよび１
列内におけるコンベヤ速度の変化ならびにびんの寸法の
物理的変化を自動的に補償することである。

本発明のさらに他の利点は、容易に利用可能なコンパク
トなマイノロコンレ二一タやその他の集積回路チップを
利用して検査プロセスを実施できることである。

本発明のこれらおよびその他の目的およびその他の利点
は以下の説明から明らかとなろう。

発明の概要 本発明に依れば、びんは、各びんのヒール部を走査する
ため、コンベヤの平面近傍の高さに配置された単一の光
源−センサ対を過ぎてコンベヤ上で移送される。びんが
光源−センサ対を通過する動きに起因してセンサ出力に
生ずる逐次のレベル変換点がプログラム設定されたマイ
クロプロセッサにより検出されろ。逐次の降下および上
昇変換点間の時間間隔で、光源−センサ対の平面に沿う
びんの寸法が定められる。この時間間隔は、列ごとおよ
び１列内におけるコンベヤ速度の変化ならびにびん寸法
の変化ととも托変わる上限スレッショルドおよび下限ス
レッショルドと比較される。

上限スレッショルドはびんの「ダウン」状態を指示する
。下限スレッショルドは、「スタック」状態および傾斜
状態にあるカレントまたはびんな指示する。逐次の上昇
および降下変換点間の時間間隔は、びん間の間隔を定め
る。この時間間隔は、コンベヤ速度および１列の通常の
直立びん間の間隔に基づいて前もって経験的に定められ
てプリセットされた単一のスレッショルドと比較される
。

このプリセットされたスレッショルドは、「スタック」
状態にありかつ直立しているびんを指示する。「スタッ
ク」状態（直立または傾斜）にあるびんの数、「ダウン
」状態にあるびんの数、放出されたびんの数、検査済み
の通常の良好なびんの総数および単位時間当りに検査さ
れたびんの総数（機械速度）について計数値が保持され
る。

検出は、絶対出力レベルでなくセンサ出力レベルの変換
点に感知性であるため、出力レベルを劣化させる周囲条
件に実質、的不感知である。本発明はまた、従来の検査
技術の特徴である多重の光源−センサ対を不必要にする
。

本発明は、ガラスびんの検査について説明するが、一般
に物品の１ダウン」および「スタック」状態の検出に及
ぶものであることを理解されたい。

以下好ましい具体例について図示説明するが１、本発明
はこ瓦に図示される配置および装置そのものに限定され
るものでないことを理解されたい。

なお、図面において同じ部品は同じ参照番号で指示され
ている。

具体例の説明 第１図を参照すると、移動コンベヤ１２上にガラスびん
１０の形式の１列の物品が示されている。

びんは、コンベヤ１２の移動方向に公称距離Ｓだけ一様
に離間されている。びん１４．１６は、スタック状態に
はないが、距離Ｓより少なく離間されている。この状態
は許容できる。びん１８および２０はスタック状態で直
立してい】−８びん２２および２４はスタック状態にあ
り、びん２４はスタック状態にありかつ傾斜している。

びん２６はダウン状態にある。ダウンおよびスタック状
態は許容できない。

仮想線で表わされる早−の光源−センサ対２８が設けら
れており、コンベヤの上面に近接する高さＥにおいて光
源からセンサに走る光線を供給している。好ましくは、
高さＥはびんのヒール部と一致しているのがよいが、直
立位置においてスタック状態にあるびんを検出すること
が必要でなければ、すなわちダウン状態のびんまたはス
タック状態にありかつ傾斜されたびんを検出できさえす
ればよければ、本発明の技術居想内においてより高い高
さも使用できる。

光源センサ対２８の好ましい配置は第２図により明瞭に
示されている。光源は好ましくはレーザ３２がよく、セ
ンサは太陽電池３４を備えるのがよい。レーザ３２およ
び太陽電池６４は、コンベヤの両側に互に対面するよう
に取り付けられている。レーザおよび太陽電池は、垂直
支持体（図示せず）に活って調節自在に位置づけられて
いる。

レーザビーム線３６は、びんが該ビーム線を横切るとき
各びんのヒール部３０がレーザビームを中断するような
高さＥにてびん列の通過路を横切って延びる。

第３図を参照すると、センサ３４の出力は、積分回路３
日により平滑化され、増幅器４０により増幅される。積
分回路および増幅器は、従来形式の演算増幅回路を使用
し得る。増幅器４ｏは、レーザビームがびんにより中断
さ゛れないとき飽和レベルに達し、びんがビームを中断
しないとき静止レベルに留まる。増幅器出力の静止レベ
ルおよび飽和レベル間の変換は、第１図に示される状態
に対して第４図に示されている。びんがレーザビームを
中断するとき、ビームは、ヒール部ｓ　ＯＫより阻止さ
れ、あるいは屈折、散乱等により相当減衰される。それ
ゆえ、増幅器４ｏの出力は、静止レベルに落ちる。ビー
ムが中断なしに太陽電池により受光されると飽和レベル
に上昇する。

第４図から明らかなように、増幅器４ｏの出方は、飽和
および静止レベル間で変動する方形波アナログ信号であ
り、その限りにおいて２通信号であるといえる。第６図
を参照すると、増幅器４゜の出力に発生されたアナログ
方形波信号は、アナログ−ディジタル（Ａ／Ｄ　）コン
バータ４２により多重ビツトディジタル信号に変換され
る。Ａ／Ｄコレバータ４２のディジタル出力は８ピツト
デイジタルワードであり、これがプログラム設定された
マイクロコンピュータ４４に伝送される。

Ａ／Ｄコンバータ４２によるアナログ信号からディジタ
ル信号への変換は、マイクロコンピュータ４４により発
生される書込み（Ｗ）命令により従来態様で制御される
。Ａ／Ｄコンバータのディジタル出力のマイクロコンピ
ュータへの伝送は、マイクロコンピュータにより発生さ
れる読取り（Ｒ）命令により従来態様で制御される。

増幅器４０の静止レベルおよび飽和レベル間における変
換点は、Ａ／Ｄコンバータの逐次のディジタル出力を比
較することによりマイクロコンピュータにより検出され
る。飽和レベルの継続は、高さＥにおけるびんの間隔を
表わす。静止レベルの継続は、高さＥにおける水平面に
沿うびんの寸法を表わす。

マイクロコンピュータ４４は、増幅器４０の出力におけ
る反対方向の逐次の変換と変換の間に１２．５ＫＨ２の
自走クロック４６により発生されるパルスを計数する。

これらの計数値は、静止および飽和レベルの継続時間を
表わす。各計数値は、上限スレッショルドＵＴ、下限ス
レッショルドＬＴまたはプリセットスレッショルドＰＴ
に比較される。上限および下限スレッショルドは、追っ
て詳述されるように時間とともに変わる。上限スレッシ
ョルドは、びんがダウン状態にあるかどうかを決定する
のに使用され、下限スレッショルドは、びんがスタック
状態にありかつ傾斜しているか否かを決定するのに使用
される。

最初、マイクロコンピュータは、１６のような予定数の
通常のびんに対して静止レベルに対応する計数値を記憶
する。この計数値は、マイクロコンピュータの一体部分
であるＲＡＭ４５に記憶される。これらの計数値は、１
６個の普通に形成され位置づげられたびんの高さＥにお
ける水平面に沿っての寸法を表わす。マイクロコンピュ
ータは、計数値の平均を計算し、その平均をＲＡＭ４５
に記憶する。マイクロコンピュータは、ついで、平均に
１より大きいファクタ例えば１．０６を乗算することに
よりＵＴ（上限）スレッショルドを計数する。このファ
クタは、ＲＯＭ４７に記憶されている。ＲＯＭは、ＲＡ
Ｍ４５と同様にマイクロコンピュータの一体部分である
。マイクロコンピュータはまた、平均値を他のファクタ
と乗算することによりＬＴ（下限）スレッショルドを計
数する。

しかしてＲＯＭは、１より小さく例えば０９４である。

ＵＴおよびＬＴスレッショルドは、ついでＲＡＭ４５に
一時的に記憶される。

通常の受は入れられるびんの静止レベ／Ｉ／（シたがっ
て寸法）に対応する計数値の記憶は、古見・計数値が１
群の１６の通常のびんに対応する新し〜λ計数値により
完全に交換されるまでファーストインファーストアウト
（ＦＩＦＯ）式に更新される。

その後記憶された計数値の平均値がコンピュータにより
再度計算され、新しい平均値がＲＡＭ４５に記憶される
。ついで、ＵＴおよびＬＴスレッショルドが、新しい平
均値に基づき前述のように再度計算される。通常の受は
入れられるびんの静止レベルに対応する計数値の記憶、
記憶された計数値の平均の計算、およびＵＴおよびＬＴ
スレツシヨルドの計算は、前述のように検査工程中繰り
返えされる。

高さＥにおける水平面に沿う静止レベルまたはびん寸法
に対応する各計数値は、びんを受は入れるべきか拒絶す
べきかを決定するため、ＵＴおよびＬＴスレツ′ショル
ドに比較される。もしも計数値がＵＴおよびＬＴスレッ
ショルド値間にあれば、これはびんが通常通りであり、
すなわち通常通りに形成され位置づけられており、びん
を受は入れることができることを指示する。したがって
、マイクロコンピュータは、この計数値をもつとも古く
記憶された計数値に代わってＲＡＭ４５に記憶する。計
数値がＵＴスレッショルド値を越えると、これはびん赤
ダウン状態にあることを指示し、マイクロコンピュータ
は後述のように拒絶信号を発生し、計数値をＲＡＭに記
憶しない。同様に計数がＬＴスレッショルド以下にある
と、これはびんがスタック状態にあることを指示し、こ
の計数値をＲＡＭに記憶し−ない。かくして、通常の受
は入れられるびんに対応する計数値のみがラムに記憶さ
れ、平均値を計数するのに使用される。

増幅器４０の飽和レベルの継続に対応する各計数値は、
高さＥにおける水平平面に沿うぴんとびんとの間隔を表
わす。この計数値は、マイクロコンピュータによりＲＡ
Ｍに記憶されない。これは、ＵＴおよびＬＴスレッショ
ルドの基礎となる平均値の計算に関係ないからである。

各計数値は、マイクロコンピュータによりＰＴスレッシ
ョルドに比較される。

ＰＴスレッショルドは、操作者により設定可能なスレッ
ショルドであり、隣接する直立びん間の最小の許容間隔
を表わす。ＰＴスレッショルドは、ポテンショメータ２
００を所望のレベルに設定することにより選択される（
第３図）。Ａ／Ｄコンバータ２０２は、ポテンショメー
タ信号をＰＴスレッショルドを表わすディジタル信号に
変換する。

、：　のａ号はマイクロコンピュータ４４により受信さ
れる。マイクロコンピュータは、飽和し３ルの継続に対
応する計数値がＰＴスレッショルド以下にあるかどうか
を決定する。もしも以下にあれば、１対のびんが直立し
てスタック状態にあることが指示され、マイクロコンピ
ュータは拒絶信号を発生する。

もしも次の事象のいずれかが起こると、拒絶信号がマイ
クロプロセッサにより発生される。

（１）増幅器４０における逐次の降下変換点および上昇
変換点間のパルス計数値がＵＴスレッショルドを越す。

（２）増幅器における逐次の降下変換点および上昇変換
点間のパルス計数値がＬＴスレッショルド以下である。

（３）増幅器４０における逐次の上昇変換点および降下
変換点間のパルス計数値がＰＴスレッショルド以下であ
る。

これらの条件は第１図および第４図を検討するともつと
もよく理解できる。

再度第３図を参照すると、マイクロプロセッサにより発
生される拒絶信号は、Ｄ型フリップフロップ４８をセッ
トする。フリップフロップ４８のＱ出力は、可変パルス
繰返し周波数（ｐｒｆ　）発生器５２により発生される
パルス列のパルス繰返し周波数で６４ビツトシフトレジ
スタ５０中をり四ツクにより送られる。パルス発生器に
対するｐｒｆ制御装置は、従来形式のポテンショメータ
Ｐ１である。フリップフロップ４８は、シフトレジスタ
に装入後すなわちパルス発生器５２のパルス列出力のｐ
Ｈ周波数にてシフトレジスタ５０のＣＬＫＩ出力により
クリヤされ、フリップフロップを次の拒絶のために準備
する。パルス列のｐｒｆおよびシフトレジスタ５００段
数は、フリップフロップ４８のＱ出力をシフトレジス、
りのＴ出力にシフトする際に用いられる時間遅延を決定
する。規定の時間遅延後、シフトレジスタのＴ出力は、
パルス発生器すなわちワンショット回路５６をトリガす
る。ワンショット回路５６は、従来形式のポテンショメ
ータＰ２により設定される可変幅を有するパルスを発生
する。放出機構５４は、ワンショット回路のパルス出力
により全パルス継続時間の開作動される。

シフトレジスタ５０により設定される時間遅延は、コン
ベヤ１２がびんを光源−センサ対２８の位置から放出機
構５４の下流位置に移送するに必要とされる時間に整合
するように選ばれる。放出機構５４は従来形式の空動装
置であり、衝風をびんに当てることにより拒絶されるべ
きびんをびん列から除去する。衝風の継続時間は、びん
の性質に依存してワンショット回路５６により発生され
るパルス幅に依存する。すなわち、ワンショット回路５
６は；ポテンショメータＰ２により設定され、重いびん
に対しては長いパルスを発生し、軽いびんに対しては短
いパルスを発生する。

マイクロコンピュータ４４は、（ａ）スタック状態で直
立および傾斜のびんの数、（ｂ）ダウン状態のびんの数
、（Ｃ）拒絶されたびんの数、（ｄ）検査された通常の
びんの総数、および（ｅ）単位分当りの検査されたびん
の総数のような種々の、事象の計数値を保持するように
プログラム設定される。（ａ）〜（ｅ）の各数は、マイ
クロコンピュータによりディスプレイドライバ５８を介
して６デイジツトデイスプレイ６２に供給される計数値
である。マイクロプロセッサはまた、連続的に拒絶され
るびんの数の計数値を保持するが、この計数値は表示さ
れない。

静止レベルの継続のパルス計数値がＬＴスレッショルド
以下であるか、飽和レベルの継続のパルス計ｉ値がＰＴ
スレッショルド以下であると、マイクロコンピュータは
、内部（ソフトウェア）カウンタを２だけ加算し、スタ
ック状態に・ある傾斜または直立のびんの数を計数する
。パルス計数値（静止レベルの継続時間）がＵＴスレッ
ショルドを越すと、マイクロプロセッサは、内部（ソフ
トウェア）カウンタを１だけ加算し、ダウン状態にある
びんの数を計数する。静止レベルの継続のパルス計数値
がＵＴスレッショルドを越すか、ＬＴスレッショルドレ
ベル以下であるか、あるいハ飽和レベルの継続のパルス
計数値がＰＴスレッショルド以下であると、マイクロコ
ンピュータは、前述のように拒絶信号を発生し、他の内
部（ソフトウェア）カウンタを１　（ＵＴスレッショル
ドを越した場合）または２（ＬＴまたはＰＴスレッショ
ルドに達しない場合）加算し、拒絶の総数を計数する。

静止レベルの継続時間の計数値がＵＴおよびＬＴスレッ
ショルド間にあるたびに、また飽和レベルの継続の計数
値がＰＴスレッショルドに達するたびに１マイクロコン
ピユータは他の内部（ソフトウェア）カウンタを１だけ
加算し、検査された通゛常のびんの数を計数する。さら
に、後述のように、びん感知状態が検出される度に、マ
イクロコンピュータは内部（ソフトウェア）カウンタを
１だけ加算し、検査されたびんの総数を計数する。あら
ゆる拒絶条件に対して、コンピュータは、拒絶条件が発
生した連続事例の数を計数する内部（ソフトウェア）カ
ウンタを加算する。しかしながら、通常のびんが検出さ
れ〜は、すなわち計数値（静止レベルの継続の）がＵＴ
およびＬＴスレッショルド間にあるか、計数値（飽和レ
ベルの継続の）がＰＴスレッショルドを越せば、この計
数値はマイクロコンピュータによりクリヤされる。− また、マイクロコンピュータ４４は、検出されたびんの
総数の計数値およびパルス発生器６６から受信される逐
次の割込みパルスに基づいて単位分当りに検出されるび
んの総数を計数するようにプログラムされている。（第
３図参照）。パルス発生器は、３０秒の周期を有するパ
ルス列を発生する。パルス列はＤ型フリップフロップ６
８をクロックする。７リツグ７０ツブ６８のＱ出力は、
マイクロプロセッサ４４の割込み（ＩＮＴ）入力に供給
される。マイクロコンピュータは、割込みパルスを受信
すると、最後の割込みパルスの受信径検出されたびんの
総数の計数値を２と乗算し、単位分当りに検出された、
びんの総数を誘導する。

各３０秒の期間の終了後、マイクロコンピュータは、新
しい計算の準備としてフリップ７０ツブ６８をクリヤす
る。

好ましくは６個のＬＥＤを含むＬＥＤパンクロ０が、第
３図および第５図に示されるディスプレイドライバに接
続されている。各ＬＥＤは、びんが感知されているかど
うか（びん感知）、びんがスタック状態であるかどうか
（びんスタック）、びんがダウン状態であるかどうか（
びんダウン）、光源−センサ対２８に予定期間びんがな
いかどうか（無びん）、予定の期間ビームがセンサによ
り受信されなかったか′どぅか（無ビーム）、過剰数の
連続拒絶が検出されたかどうか（過剰拒絶）を指示する
。これらの各条件は、後述のようにマイクロプロセッサ
４４により検出される。

マイクロコンピュータは、センサ３４の出力が増幅器４
ｏの出力に降下変換を生ずれば、「びん感知」状態すな
わちびんが光源−センサ対２８に感知されっ匁あること
を決定する。増幅器４ｏの出力の逐次の降下変換点およ
び上昇変換点間の計数値（静止レベルの継続）がＬＴス
レッショルド以下にあるか、増幅器４ｏの出方の逐次の
上昇変換点と降下変換点の間の計数値がＰＴスレッショ
ルド以下にあると、マイクロプロセッサはびんスタック
状態を検出する。増幅器４ｏの上昇変換に続くクロック
４６のパルスの計数値が、ＲＯＭに記憶されておりＲ接
するびん間の最大許容間隔を表わす予定の数を越えると
、「びんなし」状態を検出する。増幅器４ｏの出力の降
下変換に続く計数値が、ＲＯＭに記憶されたプリセット
値を越すトマイクロコンピュータは「無ビーム」を検出
する。しかして、このプリセット値は、Ｕ’Ｔスレッシ
ョルド値を越すものであり、びんが存在することが予想
される列中の位置におけるびんの不存在を表わす。マイ
クロコンピュータはまた、連続拒絶の数の計数値がＲＯ
Ｍに記憶されたプリセット値を越すと、過剰拒絶状態を
決定する。これらの状態のいずれかを検出すると、マイ
クロコンピュータはディスプレイド、ライバを介して適
当なＬＥＤ６０を励起する。

加えて、マイクロプロセッサは、無びん、無ビームまた
は過剰拒絶のような警告状態を検出すると、警報信号を
発生し、これにより渦巻き光またはホーンのような警報
装置６４を作動する（第３図参照）。

上述の各機能を遂行するためのマイクロコンピュータの
プログラムは前述のようにＲＯＭ４７に記憶されている
。

以上本発明を好ましい具体例について図示説明したが、
本発明はその技術思想から逸脱することなく他の特定の
形態にお〜・ても具体化され得るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は移動コンベヤ上で移送されっ又あるびん列の概
路線図で、種々のダウンおよびスタック状態を示すもの
、第２図は移動コンベヤの上面に近接した高さに視線を
有する光源−センサ対の概路線図、第３図はプログラム
されたマイクロコンピュータおよび関連する電子装置の
ブロック図、第４図はＮ１図に図示される状態に対応す
る平滑、増幅されたセンサ出力の線図、第５図は第３図
にブロック形式で示されるＬＥＤ警告装置の線図である
。 ６２：　レーザ ３４：　太陽電池 ３６：　ビーム線 ３８：　積１分回路 ４０：　増幅器 ４２：Ａ／ｌ）コンバータ ４４：　マイクロコンピュータ ４５：　ラム ４６：　夕日ツク ４８：　Ｄ型フリップフロップ ｓｏ：　　６４ビットシフトレジスタ ５２：　パルスジェネレータ ５４：　放出機構 ５６：　ワンショット回路 ５８：　ディスプレイドライバ ６０：　　ＬＥＤ ６２：　ディスプレイ ６４：　アラーム装置

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. （１）移動する容器列をダウンまたはスタック状態につ
   いて検査する方法であって、輻射エネルギで予定された
   高さで前記容器列を走査することを含む方法において、
   反対向きの逐次の変換点を有し、該変換点間の間隔が前
   記の予定された高さにおける容器の寸法または予定され
   た高さにおける隣接する容器間の間隔に比例する信号を
   前記容器列の走査の結果として発生し、逐次の変換点間
   の間隔を計算し、計算された間隔を、前記の予定の高さ
   における容器の最大許容寸法または最小許容寸法を表わ
   す寸法限界または前記の予定された高さにおける隣接す
   る容器間の最小許容間隔を表わす間隔限界と比較し、計
   算された間隔と前記寸法限界または前記間隔限界との比
   較の結果に基づいて容器拒絶機構を作動することを特徴
   とする容量列検査方法。
2. （２）各々前記の予定された高さにおける容器の寸法に
   比例する予定数の計算された間隔の平均を周期的に計算
   し、この平均に比例して前記寸法限界を変える特許請求
   の範囲第１項記載の容器列検査方法。
3. （３）容器寸法に比例する計算された間隔が前記寸法限
   界を越せば前記容器放出機構を作動する特許請求の範囲
   第２項記載の容器列検査方法。
4. （４）容器寸法に比例する計算された間隔が前記寸法限
   界以下であれば前記容器放出機構を作動する特許請求の
   範囲第２項記載の容器列検査方法。
5. （５）前記隣接容器間の間隔に比例する計算された間隔
   が前記間隔限界以下であれば前記容器放出機構を作動す
   る特許請求の範囲第１項記載の容器列検査方法。
6. （６）計算された間隔が前記寸法限界を越す回数の計数
   値を保持する特許請求の範囲第１項記載の容器列検査方
   法。
7. （７）計算された間隔が前記寸法限界以下である回数に
   比例する計数値を保持する特許請求の範囲第１項記載の
   方法。
8. （８）計算された間隔が前記間隔限界以下である回数に
   比例する計数値を保持する特許請求の範囲第１項記載の
   方法。
9. （９）移動する容器列をダウンまたはスタック状態につ
   いて検査する装置であって、前記容器列を輻射エネルギ
   で予定された高さにて検査する手段を含むものにおいて
   、前記の予定された高さにおける容器の寸法に比例して
   輻射エネルギを受信し、かつ前記の予定された高さにお
   ける隣接する容器間の間隔に比例して輻射エネルギを受
   信するように配置されたセンサと、該センサに接続され
   、該センサにより受信される前記輻射エネルギにしたが
   って反対の向きの逐次の変換点を有する２通信号を発生
   する手段（３８，４０）と、クロックパルス源（４６）
   と、前記変換点間における前記クロックパルスを計算す
   ることにより前記２通信号における逐次の変換点間の間
   隔を計算し、容器の寸法に比例する前記の計算された間
   隔を予定数だけ一時的に記憶する手段（４４）と、前記
   寸法を記憶する手段（４５）と、前記間隔限界を記憶す
   る手段（４７）と、計算された間隔を前記の記憶された
   寸法限界または前記の記憶された間隔限界に比較する手
   段（４４）と、計算された間隔と前記寸法限界または前
   記間隔限界との比較に基づいて容器拒絶機構５４を作動
   する手段（４８，５０）とを備える容器列検査物し く１０）前記予定数の一時的に記憶された間隔がファー
   ストインファーストアウト式に配憶され、前記計算、記
   憶手段が、前記予定数の計算された間隔の平均を計算す
   る手段と、前記平均に比例して前記寸法限界を変更する
   手段を含む特許請求の範囲第９項記載の検査装置。 α１）容器の寸法に比例する計算された間隔が前記可変
   寸法限界を越した場合、前記容器方式機構が作動される
   特許請求の範囲第１０項記載の検査装置。 （１２１容器寸法に比例した計算された間隔が可変寸法
   限界以下である場合、前記容器放出機構が作動される特
   許請求の範囲第１０項記載の検査装置。 α□□□隣接容器間の間隔に比例する計算された間隔が
   前記間隔限界以下である場合、前記容器放出機構が作動
   される特許請求の範囲第９項記載の検査装置。 ０４）前記間隔限界を変えるための操作者調節手段を備
   える特許請求の範囲第９項記載の検査装置。 （１９前記計算・記憶手段（４４）が、計算された間隔
   と前記寸法限界との比較で前記容器放射機構の作動をも
   たらした連続比較の数を計算し、または計算された間隔
   と前記間隔限界との比較で前記容器放出機構の作動をも
   たらした連続比較の数を計算する手段と、前記の連続比
   較の数値を予定された数と比較し、ディスプレイを作動
   する手段を備える特許請求の範囲第９項記載の検査装置
   。 ａＯ前記計算・記憶手段（４４）が、計算された間隔が
   前記可変寸法限界を越える回数の計数値を保持する手段
   を備える特許請求の範囲第１０項記載の検査装置。 （Ｉ７）前記計算・記憶手段（４４）が、計算された間
   隔が前記可変寸法限界以下である回数に比例した計数値
   を保持する手段を備える特許請求の範囲第１０項記載の
   検査装置。 αυ　前記計算・記憶手段が、計算された間隔が前記間
   隔限界以下である回数に比例した計数値を保持する手段
   を備える検査装置。