JPS59184317A - 光強度分布の均一化装置 - Google Patents
光強度分布の均一化装置Info
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- JPS59184317A JPS59184317A JP58224566A JP22456683A JPS59184317A JP S59184317 A JPS59184317 A JP S59184317A JP 58224566 A JP58224566 A JP 58224566A JP 22456683 A JP22456683 A JP 22456683A JP S59184317 A JPS59184317 A JP S59184317A
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- mirrors
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- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0004—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は光ビームを横切る方向に於ける強度分布を一様
にするための装置に係る。
にするための装置に係る。
光学の多数の応用面に於て、光ビームを横切る方向に於
ける均一な強度分布が要求てれる。白熱ランプ及びレー
ザー源によって放射てれる光は平坦な強度プロフィルを
呈芒ない。結果として、成る種の光学系をビームの均質
化のために用い衣ければならない。、特に重要なある種
の光源にエクサイマ(excimer)*レーザがあり
、これは高解像度のリングラフィに於いて、±5%よシ
も良好な均一強度分布を光ビームが有する事を必要とす
る応用分野に於て非常に魅力的である。米国特許第36
60778号明細書に於て、レーザ光ビームが隅部のレ
フレクタによって入射ビームに平行に反射てれ、レーザ
がレーザ媒体に存在する時間が増し、よって増幅てれた
出力を有する光ビームが生じる事が開示てれている。I
BM Technical Disclosure Bu
lletinVol。24、A1 i A’、Apri
l 1982、p。
ける均一な強度分布が要求てれる。白熱ランプ及びレー
ザー源によって放射てれる光は平坦な強度プロフィルを
呈芒ない。結果として、成る種の光学系をビームの均質
化のために用い衣ければならない。、特に重要なある種
の光源にエクサイマ(excimer)*レーザがあり
、これは高解像度のリングラフィに於いて、±5%よシ
も良好な均一強度分布を光ビームが有する事を必要とす
る応用分野に於て非常に魅力的である。米国特許第36
60778号明細書に於て、レーザ光ビームが隅部のレ
フレクタによって入射ビームに平行に反射てれ、レーザ
がレーザ媒体に存在する時間が増し、よって増幅てれた
出力を有する光ビームが生じる事が開示てれている。I
BM Technical Disclosure Bu
lletinVol。24、A1 i A’、Apri
l 1982、p。
5368vcは液体ディスブト子照明するために用いら
れろくきび状のアクリル製光ガイドが開示されている。
れろくきび状のアクリル製光ガイドが開示されている。
くざび状のガイドによって多重内面反射が生じ、ディス
プレーの表面に光が集中でれる。
プレーの表面に光が集中でれる。
Applied 0ptics、Vol、10、A9
、p−2179−p、2182(1971)Kは像を複
製するために円錐をなす複数のミラーを用いる事が開示
てれている。この文献は平行な平面鏡のトンネルが直交
パターン状に像を複製し、円錐状ミラーのトンネルが球
状の虚像パターンとして像を複製する事を報告している
。これらの文献はいずれもビームを均一に増幅し、端部
の鮮鋭度をシャープするためにビームの折返しく fo
lding)を用いる技術を開示していない。
、p−2179−p、2182(1971)Kは像を複
製するために円錐をなす複数のミラーを用いる事が開示
てれている。この文献は平行な平面鏡のトンネルが直交
パターン状に像を複製し、円錐状ミラーのトンネルが球
状の虚像パターンとして像を複製する事を報告している
。これらの文献はいずれもビームを均一に増幅し、端部
の鮮鋭度をシャープするためにビームの折返しく fo
lding)を用いる技術を開示していない。
本発明の目的は光ビームを横切る方向にその強度分布を
一様にするための装置を提供する事に、f)る。
一様にするための装置を提供する事に、f)る。
本発明の他の目的はビームの端部鮮鋭度(edgedi
finition)をシャープにするための装置を提供
する事にある。
finition)をシャープにするための装置を提供
する事にある。
これらの及び他の目的は光ビームを横切る方向にその光
強度を均一にするくでび状のミラー・トンネルを構成す
る装置を用いることによって達成σれる。特定点PK於
ける線にビームを無給芒せるために円筒状レンズを介し
て所定の光路に清って光ビームが指向てれる。点Pの近
辺の所定の光路に后って平面ミラーを配置して光ビーム
がそれ自体へ折返でれる様にする。このタイプの複数個
のカスケード状光学手段(各段は無給用レンズ及び反射
表面より成る)が所定の応用技術分野に必要なビームの
均一度をうるために用いられる。カスケード状の複数の
段の各々に於て、反射性の表面はビーム自身に向ってビ
ームを折返すのに適当な角度で配置てれる。第2の実施
例はn回の反射をうるために角度がθ/2n(2θは入
射円錐の頂角)となる様に選んだ角度の2個の反射表面
を含む。更に他の実施例に於ては、角錐体、円錐体及び
例えば中空でない石英の様な材料(その内部で全内面反
射によって反射が行なわれる)を含む。
強度を均一にするくでび状のミラー・トンネルを構成す
る装置を用いることによって達成σれる。特定点PK於
ける線にビームを無給芒せるために円筒状レンズを介し
て所定の光路に清って光ビームが指向てれる。点Pの近
辺の所定の光路に后って平面ミラーを配置して光ビーム
がそれ自体へ折返でれる様にする。このタイプの複数個
のカスケード状光学手段(各段は無給用レンズ及び反射
表面より成る)が所定の応用技術分野に必要なビームの
均一度をうるために用いられる。カスケード状の複数の
段の各々に於て、反射性の表面はビーム自身に向ってビ
ームを折返すのに適当な角度で配置てれる。第2の実施
例はn回の反射をうるために角度がθ/2n(2θは入
射円錐の頂角)となる様に選んだ角度の2個の反射表面
を含む。更に他の実施例に於ては、角錐体、円錐体及び
例えば中空でない石英の様な材料(その内部で全内面反
射によって反射が行なわれる)を含む。
第1A図に示す様に、均一化てれるべきレーザ源からの
ビームの強度分布はプロフィール10を呈する。プロフ
)−ル10は折返し軸12のいずれの側に於てもほぼ同
じである。本発明に従って、光ビームをそれ自体に対し
て数回折返す事によして光ビームの強度分布が均一にな
る。折返しプロセスによって所定のプロフィールf(於
ける短期間のノイズ状の変動が並びに系統的な長期間の
変動が平均化する。
ビームの強度分布はプロフィール10を呈する。プロフ
)−ル10は折返し軸12のいずれの側に於てもほぼ同
じである。本発明に従って、光ビームをそれ自体に対し
て数回折返す事によして光ビームの強度分布が均一にな
る。折返しプロセスによって所定のプロフィールf(於
ける短期間のノイズ状の変動が並びに系統的な長期間の
変動が平均化する。
第2A図に示す様に、強度分布を均一化すべき元ビーム
14の軸付近に置かれた平面ミラー18の端部近辺の点
PK於ける光の線となる様に円筒レンズ16を用いてビ
ーム14を無給芒せる。点PK入射する光の円錐体(も
しくはく芒び体)の頂角は紙面に於て20でるる。ミラ
ーの位置からして、光路1.2及びろで示す光の入射円
錐体の下方半分は反射する事なくミラーから離れるのが
分かる。一方、光路1′、2′及び6′で示す光の入射
円錐体の他の半分は1回反射して未反射の半円錐体と重
なる様に上方へ折れ、ビーム20を形成する。ミラーの
後のビーム20の強度分布のプロフィール22を第1B
図に示す。紙面に於けるダイバージェンス即ち発散角は
θ即ち入射円錐体(もしくはく芒び状体)の頂角の1/
2である。
14の軸付近に置かれた平面ミラー18の端部近辺の点
PK於ける光の線となる様に円筒レンズ16を用いてビ
ーム14を無給芒せる。点PK入射する光の円錐体(も
しくはく芒び体)の頂角は紙面に於て20でるる。ミラ
ーの位置からして、光路1.2及びろで示す光の入射円
錐体の下方半分は反射する事なくミラーから離れるのが
分かる。一方、光路1′、2′及び6′で示す光の入射
円錐体の他の半分は1回反射して未反射の半円錐体と重
なる様に上方へ折れ、ビーム20を形成する。ミラーの
後のビーム20の強度分布のプロフィール22を第1B
図に示す。紙面に於けるダイバージェンス即ち発散角は
θ即ち入射円錐体(もしくはく芒び状体)の頂角の1/
2である。
この折返し動作は変動ノイズを減じるが、プロフィール
は平坦にならない。
は平坦にならない。
第2B図に示す様に第2のミラー24を第1のミラー1
8から角度θ/2のところに配置すると、光ビームはも
う一度折返σれ、そのプロフィールは第1C図に示すタ
イプの形となりsるいは第1D図に示す様に伸びた形と
なる。。
8から角度θ/2のところに配置すると、光ビームはも
う一度折返σれ、そのプロフィールは第1C図に示すタ
イプの形となりsるいは第1D図に示す様に伸びた形と
なる。。
第6の反射によって第1E図のプロフィールのビームが
得られ、その均一度はよシ高度である。
得られ、その均一度はよシ高度である。
第6の反射はいくつかの方法によって得られる。
1つの方法は、第2C図に示す様にミラー18及び24
によって得た光をθ/4の角度に傾けたミラー25の端
gB付近にレンズ26によって無給きせる事である。単
VC第1の2つのミラー18及び24の間の角度を第2
B図のθ/2の代シにθ/4とする事によって第6の反
射をうる事ができる。
によって得た光をθ/4の角度に傾けたミラー25の端
gB付近にレンズ26によって無給きせる事である。単
VC第1の2つのミラー18及び24の間の角度を第2
B図のθ/2の代シにθ/4とする事によって第6の反
射をうる事ができる。
概して、もしもn回の反射が所望でれるならばミラーの
間の角度をθ/2 (2θは入射円錐体の頂角)VCす
ればよい。どのミラーも入射円錐体の軸に平行にすべき
ではない。何故ならば平行にするζ入力強度分布の中心
以外の成る点まわりのビームの折返しが考えられるから
である。更に、ミラーの間VCは有限の入射間隙が必要
とでれるので、折返しによる光ビームの重なりは100
%よシもわずかに小である。結果としてビームの均一な
部分を取シ出すのにわずかなりロソピング(c’rop
ping)即ち端部のカットが必要とでれ、よってスル
ープットは100%よシもわずかに小舌い。第ろ図に示
すように、2つのくでび状トンネルを用いる事によって
直交方向の均一性が達成てれる。第1のくでび状トンネ
ルは円筒レンズ60(第ルンズ32の軸vc対して90
°の角度をなす軸を有する)へビームを指向式せるミラ
ー26及び28よシなる。第2のトンネルはミラー26
及び28VC対して90°の角度をなすミラー3〜4゛
) 及び36からなる。・その代9に、第4
図に示す様に、2組のミラーを角錐体40となる様に組
合わせてもよい。円錐ミラー42よすなる他の態様を第
5図に示す。ミラー40及び42は例えば第2B図のミ
ラー18及び24と同じ位置に配置テれる。これらの錐
体は全内面反射によって反射が行なわれる中空でない石
英で作る事もできる。この場合、適当な錐体の頂角(c
one angle)は石英の屈折率に反比例した係
数だけミ、ラーの場合よシも小さくなる。
間の角度をθ/2 (2θは入射円錐体の頂角)VCす
ればよい。どのミラーも入射円錐体の軸に平行にすべき
ではない。何故ならば平行にするζ入力強度分布の中心
以外の成る点まわりのビームの折返しが考えられるから
である。更に、ミラーの間VCは有限の入射間隙が必要
とでれるので、折返しによる光ビームの重なりは100
%よシもわずかに小である。結果としてビームの均一な
部分を取シ出すのにわずかなりロソピング(c’rop
ping)即ち端部のカットが必要とでれ、よってスル
ープットは100%よシもわずかに小舌い。第ろ図に示
すように、2つのくでび状トンネルを用いる事によって
直交方向の均一性が達成てれる。第1のくでび状トンネ
ルは円筒レンズ60(第ルンズ32の軸vc対して90
°の角度をなす軸を有する)へビームを指向式せるミラ
ー26及び28よシなる。第2のトンネルはミラー26
及び28VC対して90°の角度をなすミラー3〜4゛
) 及び36からなる。・その代9に、第4
図に示す様に、2組のミラーを角錐体40となる様に組
合わせてもよい。円錐ミラー42よすなる他の態様を第
5図に示す。ミラー40及び42は例えば第2B図のミ
ラー18及び24と同じ位置に配置テれる。これらの錐
体は全内面反射によって反射が行なわれる中空でない石
英で作る事もできる。この場合、適当な錐体の頂角(c
one angle)は石英の屈折率に反比例した係
数だけミ、ラーの場合よシも小さくなる。
上述の態様のいずれに於ても、出力光は最終反射の後に
発散光となる。出力光がコリメートテれた状態即ちより
一般的に有用な状態となる様に最終反射点Pに焦点を有
する付加的なレンズを用いる事が望ましい。
発散光となる。出力光がコリメートテれた状態即ちより
一般的に有用な状態となる様に最終反射点Pに焦点を有
する付加的なレンズを用いる事が望ましい。
第6図に示す様万実験装置を作った。入力円筒レンズL
l(焦点距離100mm)及び出力円筒レンズL2(焦
点距離80mm)を用いて光を焦結し、そして光を実質
的に再びコリメートてれた状態にした。θ=8°の角度
に傾けられ、0.51 mmの間隙によって隔てられた
2つの平面ミラー18及び24を焦点のまわシに設けた
。この場合、2回の反射が得られ、強度分布の2つの中
間点に於てビームの折返しが生じた。第6図の装置の入
力及び出力強度分布を夫々第7A図及び第7B図に示す
6.
l(焦点距離100mm)及び出力円筒レンズL2(焦
点距離80mm)を用いて光を焦結し、そして光を実質
的に再びコリメートてれた状態にした。θ=8°の角度
に傾けられ、0.51 mmの間隙によって隔てられた
2つの平面ミラー18及び24を焦点のまわシに設けた
。この場合、2回の反射が得られ、強度分布の2つの中
間点に於てビームの折返しが生じた。第6図の装置の入
力及び出力強度分布を夫々第7A図及び第7B図に示す
6.
第1A図乃至第1E図は入力ビームの強度分布のプロフ
ィール及び強度分布の均一化の効果を説明する図である
。。 第2A図乃至第2C図は夫々1個、2個及び6個のミラ
ーを用いる本発明に従う実施例を説明する図である。。 第3図は本発明の代替的実施例を示す図である。、第4
図及び第5図は夫々角錐状のミラー及び円錆、ミラーを
示す図である。 第6図は本発明の他の実施例を示す図である。。 第7A図及び第7B図は夫々第6図の装置の入力及び出
力の強度分布を示す図である。 1.2、ろ、1′、2′、6′・・・・光路、14□・
・・・強度分布を均一化すべき光ビーム、16・・・・
円筒レンズ、18・・・・平面ミラー、20・・・・折
返しにより重なった光ビーム。 第3図 第2C図 。
ィール及び強度分布の均一化の効果を説明する図である
。。 第2A図乃至第2C図は夫々1個、2個及び6個のミラ
ーを用いる本発明に従う実施例を説明する図である。。 第3図は本発明の代替的実施例を示す図である。、第4
図及び第5図は夫々角錐状のミラー及び円錆、ミラーを
示す図である。 第6図は本発明の他の実施例を示す図である。。 第7A図及び第7B図は夫々第6図の装置の入力及び出
力の強度分布を示す図である。 1.2、ろ、1′、2′、6′・・・・光路、14□・
・・・強度分布を均一化すべき光ビーム、16・・・・
円筒レンズ、18・・・・平面ミラー、20・・・・折
返しにより重なった光ビーム。 第3図 第2C図 。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光ビームを横切る方向の光強度分布の均一化装置であっ
て、 所定の光路vcGう尤の線を呈するように光ビームを無
給させる光学装置と、 折シ返でれた光ビームを生じるように上記線に近接して
上記所定の光路に清って配置した反射光学装置とを有す
る事を特徴とする上記光強度分布の均一化装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/481,011 US4547044A (en) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | Beam-folding wedge tunnel |
US481011 | 1983-03-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59184317A true JPS59184317A (ja) | 1984-10-19 |
Family
ID=23910227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58224566A Pending JPS59184317A (ja) | 1983-03-31 | 1983-11-30 | 光強度分布の均一化装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4547044A (ja) |
EP (1) | EP0121069B1 (ja) |
JP (1) | JPS59184317A (ja) |
DE (1) | DE3476127D1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US5148442A (en) * | 1986-09-30 | 1992-09-15 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Dye lasing arrangement including an optical assembly for altering the cross-section of its pumping beam and method |
JPH02175090A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-06 | Isamu Miyamoto | レーザビーム成形装置 |
US5303084A (en) * | 1991-08-27 | 1994-04-12 | Kaman Aerospace Corporation | Laser light beam homogenizer and imaging lidar system incorporating same |
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JP3372785B2 (ja) * | 1996-10-09 | 2003-02-04 | キヤノン株式会社 | 照明装置及びそれを用いた撮影装置 |
EP0881514A1 (fr) * | 1997-05-30 | 1998-12-02 | Lasag Ag | Elément optique de couplage pour confiner spatialement et homogénéiser un faisceau ayant une grande ouverture |
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JPS5945123B2 (ja) * | 1977-07-08 | 1984-11-05 | 富士写真光機株式会社 | 線状照明法 |
DE2916741A1 (de) * | 1979-04-25 | 1980-11-06 | Doering Geb Thurnhofer Karolin | Spiegelanordnung zum ausrichten und konzentrieren ungerichteter elektromagnetischer strahlung, insbesondere diffusen lichts und verfahren zu ihrer herstellung |
-
1983
- 1983-03-31 US US06/481,011 patent/US4547044A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-11-30 JP JP58224566A patent/JPS59184317A/ja active Pending
-
1984
- 1984-02-20 EP EP84101727A patent/EP0121069B1/en not_active Expired
- 1984-02-20 DE DE8484101727T patent/DE3476127D1/de not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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