JPS59179539A - 樹脂用充填剤 - Google Patents

樹脂用充填剤

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JPS59179539A
JPS59179539A JP5319483A JP5319483A JPS59179539A JP S59179539 A JPS59179539 A JP S59179539A JP 5319483 A JP5319483 A JP 5319483A JP 5319483 A JP5319483 A JP 5319483A JP S59179539 A JPS59179539 A JP S59179539A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
filler
powder
present
product
Prior art date
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Pending
Application number
JP5319483A
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English (en)
Inventor
Akira Kobayashi
晃 小林
Ryoichi Ide
井手 亮一
Kenji Otaguro
大田黒 健次
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Denka Co Ltd
Original Assignee
Denki Kagaku Kogyo KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は樹脂用充填剤特にアルカリ成分の少ない溶融珪
酸の非破砕物粉末からなる樹脂用充填剤に関する。
従来からTC+LSIなど電子部品の封止材料や電気部
品の絶縁材料に使用する充填剤としては、結晶質石英、
溶融珪酸および焼結アルミナ等の無機粉末が知られてい
る。
これらの充填剤はインゴットまたはクリンカーを所定の
大きさに粉砕したもの(以下、粉砕品という)であるが
、例えばエポキシ、シリコーン、フェノールおよびポリ
エステル等の熱硬化性樹脂に配合すると)子牟央イ電気
絶縁性に優れた樹脂組成物?得ることができる。しかし
粉砕品であるためにその表面が滑らかではなく、それ自
体が角ばっていることから樹脂に充填する場合、粘度が
上昇し作業性が悪いこと、また粉砕品暑熱硬化性樹脂に
混合する場合やその樹脂組成物を成形する場合に使用す
る装置等が著しく摩耗することなどの欠点があった。充
填剤の熱硬化性樹脂に対する充填性を向上させる方法と
してガラスピーズ7用いることが提案されているが、こ
れは例えばNa2O%に20等が約15%程度と多針ア
ルカリが含有しているため、樹脂に充填すると、アルカ
リが樹脂中に遊離し絶縁破壊や電子部品の腐蝕を起す。
一方、半導体産業の発達に従って半導体の集積化度の高
いものを志向に伴なってアルカリ含有量が少な(、しか
も電気絶縁性に優れた充填剤が要求されるようKなった
本発明者は、アルカリ含有量が少く、しかも電気絶縁性
にすぐれた充填剤について研究7行った結果本発明の完
成に到達したのである。
すなわち、本発明はアルカリ成分の少ない電気絶縁性に
すぐれ、しかも樹脂中に充填剤を高配合可能な樹脂用充
填剤を提供しようとするものである。
すなわち本発明は、アルカリ成分が0.5重量係才お 以下χ含有する溶融珪酸の非破砕の粉末からなるへ こと乞特徴とする。
以下、本発明の内容?詳細に説明する。
本発明の樹脂用充填剤は、成分的には5102が80%
以上、アルカリ成分例えばに20およびNa2Oが0.
5重量係以下の溶融珪酸であることが好ましい。
溶融珪酸はアルミナ、マグネシアなどに比べ電気絶縁性
に優れてはいるがその中のNa2O、K20含量が0.
5重量%χこえると遊離アルカリも増加し絶縁性は悪(
なり、封止性が不良となる。
また、5102成分は80重量係以上であれば特に絶縁
性が悪くなることもない。
本発明において、非破砕物粉末とは原料珪石粉末を温度
1700°C以上の温度に接触してその表面に粉砕時に
生じた角が丸(なった状態のもの乞いい、本発明品は従
来の粉砕品とは異なり表面が滑らかで本質的に角?有し
ないものである。
充填剤の粒度については、公知の封止材料や絶縁材料に
用いるものと何ら変わることはなく、例えば10μ下2
5%、44μ下75%、149μ下99%以上程度のも
のが一般的であるが、かなり広い範囲で使用できる。
樹脂組成物の熱伝導性向上ゲ目的として、2μ以下の粒
度図2〜20μの粒度(Bl、20μ以上の粒度馨(C
1として容量比でB/A=1〜10、C/(A+B) 
= 0.1〜10となるような粒度分布?有するものが
よい旨報告されている(特公昭54−4985号)。
しかし充填剤の最大粒径は、樹脂に充填した際粒子の沈
降あるいは混合機、成形機等の摩耗χ避けるために50
0μ以下にすることが有利である。
本発明による充填剤wll造するには、珪石、水晶、珪
砂などの500μ以下粉末?可燃性気体お方法で得た充
填剤は、表面が滑らかで、本質的性角を有しない粉末で
あるため樹脂への充填性能乞向上することが可能である
し、従来の粉砕品の場合の様に破砕、粉砕をしないため
それによるF e 203、M2O3その他不純物の混
入を回遊することができるので有利である。
本発明による充填剤は、エポキシ、シリコーン、フェノ
ール、ポリエステル等樹脂に配合しロール、ニーダ−、
パンバリミキサー等で混線後電気絶縁性にすぐれた樹脂
組成物?得ることができる。樹脂への充填割合は組成物
中30〜80重量係含有することが有利である。30重
量%未満では絶縁性が低下する傾向があり、一方80重
量%乞こえると流動性が悪くなる傾向にある。
これχTC,LSI等の封止用あるいはトランジスター
の絶縁用として使用することができる。
次に、本発明を実施例にて説明する。
実施例 第1表に示めす珪石「インド産」の粉末?水素ガス()
T2純度95容量%)および酸素ガス(02純度99%
)を容量比2.5としたガス火炎7竪炉内に噴射しその
温度L1750℃によび1850°Cの温度で熱処理し
第2表の本発明品(Alおよび(Bl ’Y得た。
本発明8囚JB)および比較品についてX線回折、顕微
鏡(x200 )、化学成分、および粒度分析を行った
本発明品(At、(BlOX線回折によれば結晶質シリ
カのピークは認められなかった。
図面の第1図、牙2図および一76図はそれぞれ本発明
8囚、(Bl−Mよび比較品(C1の顕微鏡写真である
図面によれば本発明8囚は表面が溶解し平滑で角がなく
、本発明品(Blは球状粉末であり比較品は角があり、
その表面状態が本発明品と比較品とは相違することは明
かである。
次に、第2表の本発明品fAllBlおよび比較品(C
L+Dl・(Elを充填剤を用い、フレ・戸−ルノボラ
ック型エポキシ樹脂100重量部、フェノールノボラッ
ク、樹脂68重量部、カルナバワックス2重葉部を一定
とし、第2表の充填剤の配合割合のみを変えてこれら?
温度80〜100”Cに加熱し、8インチのミキシング
ロールで均質になるまで約10分間混練し、冷却した後
粉砕した。樹脂組成物中への充填剤の添加量及びその樹
脂組成物中の含有割合を第3表に示めす。
このようにして得た各組成物について流動性、樹脂の応
力を測定するために温度160℃、圧カフ0kg/In
n2でトランスファー成形した結果を第6表に併せて示
す。
同、第1、第2および第4表に記載した化学成分、粒度
組成の測定および樹脂組成物の物性は次の方法によった
(1)化学成分 5i02・・・化学分析法による。(単位重量%)A1
203 、 Fe2O3、Nfl120 、 K2O・
”原子吸光光度法による。(単位ppm ) (2)粒度組成 沈降天秤法によった。(単位重量%) (3)樹脂組成物の物性 回流動性の測定(スパイラルフロー) EMMT規格に準じた金型を使用し成形温度160″C
1成形圧カフ0kP/mm”で測定した。
(Bl樹脂応力 応力により抵抗値の変化するビエン抵抗χ半導体チップ
に成形したもの?14ビンTCフレームにタイピントし
、Au線でワイヤボンPし外部電極に接続した素子の初
期抵抗mt (RO) Y測定し、この素子を160℃
で7Q+<y/mm”成形時間3分の条件で樹脂封止し
た後の抵抗(R) V測定し、(R−Ro)/Roの値
に100?乗じて樹脂応力とし池
【図面の簡単な説明】
図面は顕微鏡写真であって、第1図は本発明品fA)、
第2図は本発明品(B)、第3図は従来品の溶融(() 珪酸粉砕品のものを示す。 △ 特許出願人 電気化学工業株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. アルカリ成分が0.5重量係以下である溶融珪酸の非破
    砕物粉末からなる樹脂用充填剤。
JP5319483A 1983-03-29 1983-03-29 樹脂用充填剤 Pending JPS59179539A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1420035A1 (en) * 2002-11-12 2004-05-19 Nitto Denko Corporation Filled epoxy resin composition for semiconductor encapsulation and semiconductor using same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1420035A1 (en) * 2002-11-12 2004-05-19 Nitto Denko Corporation Filled epoxy resin composition for semiconductor encapsulation and semiconductor using same
US7265167B2 (en) 2002-11-12 2007-09-04 Nitto Denko Corporation Epoxy resin composition for semiconductor encapsulation, and semiconductor device using the same

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