JPS59169956A - ガラス体精製法 - Google Patents
ガラス体精製法Info
- Publication number
- JPS59169956A JPS59169956A JP4522283A JP4522283A JPS59169956A JP S59169956 A JPS59169956 A JP S59169956A JP 4522283 A JP4522283 A JP 4522283A JP 4522283 A JP4522283 A JP 4522283A JP S59169956 A JPS59169956 A JP S59169956A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass substrate
- quartz glass
- electrostatic potential
- glass body
- ions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C23/00—Other surface treatment of glass not in the form of fibres or filaments
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はガラス体の精製法に係り、とりわけ石英基板中
のNa量 イオンの除去法に関する。
のNa量 イオンの除去法に関する。
従来、石英基板には高純度石英においても3 ppm程
度のNaが含有されるのが通例であった。
度のNaが含有されるのが通例であった。
しかし、上記従来石英基板を用いて、その上に薄膜半導
体装置を作成すると、薄膜半導体装置の電気的特性が、
下地石英基板中のNa量に応じて変化するという欠点が
あった。
体装置を作成すると、薄膜半導体装置の電気的特性が、
下地石英基板中のNa量に応じて変化するという欠点が
あった。
本発明はかかる従来技術の欠点をなくシ、電気的特性の
安定した薄膜半導体装置用のNaのない石英基板あるい
はガラス基板を提供することを目的とする。
安定した薄膜半導体装置用のNaのない石英基板あるい
はガラス基板を提供することを目的とする。
上記目的を達成するための本発明の基本的構成は、ガラ
ス体の精製法において、ガラス体には静電位を付与し、
加熱し、そしてガラス体表面をエツチング除去すること
を特徴とする。
ス体の精製法において、ガラス体には静電位を付与し、
加熱し、そしてガラス体表面をエツチング除去すること
を特徴とする。
以下、実施例により本発明を詳述する。
−第1図は本発明の説明のために描いたガラス体精製法
の一例を示す模式図である。いま、ステンレス支持台1
上には石英ガラス基板2がのせられ、該石英ガラス基板
2には、グリッド3.外壁電極4よりなるコロナ放電装
置より負の電荷がふりそそいで、負の静電位が表面から
構成される装置4静電位は1万乃至10万ボルト/α程
度である。静電位を付与しつつ、あるいは静電位を付与
後、ヒーター5により石英ガラス基板を250℃以上に
加熱すると、石英ガラス基板中に散在するNa+ イオ
ンは負電位表面の方へ移動し、表面部にNa イオン
の濃度の高い層が形成される。このNa+ イオン濃度
の高い層をNaイオンを移動させながら、あるいは移動
後に、研摩、あるいはHFによる化学王ツチング、ある
いはプラズマエツチング等により除去することにより、
Naの無い高純度の石英ガラス基板を製造することがで
きる。
の一例を示す模式図である。いま、ステンレス支持台1
上には石英ガラス基板2がのせられ、該石英ガラス基板
2には、グリッド3.外壁電極4よりなるコロナ放電装
置より負の電荷がふりそそいで、負の静電位が表面から
構成される装置4静電位は1万乃至10万ボルト/α程
度である。静電位を付与しつつ、あるいは静電位を付与
後、ヒーター5により石英ガラス基板を250℃以上に
加熱すると、石英ガラス基板中に散在するNa+ イオ
ンは負電位表面の方へ移動し、表面部にNa イオン
の濃度の高い層が形成される。このNa+ イオン濃度
の高い層をNaイオンを移動させながら、あるいは移動
後に、研摩、あるいはHFによる化学王ツチング、ある
いはプラズマエツチング等により除去することにより、
Naの無い高純度の石英ガラス基板を製造することがで
きる。
尚、静電位はコロナ放電による帯電のみならずガラス体
をステンレス等の2電極で挟み、該電極に静電位を付与
しても同等の効果が得られる。
をステンレス等の2電極で挟み、該電極に静電位を付与
しても同等の効果が得られる。
更に、ガラス体は平板である必要はなく、円柱状、角形
等信の形の塊状であっても良い。
等信の形の塊状であっても良い。
第1図は本発明を説明するために描いたガラス体精製法
の一例を示す模式図である。 1・・・・・・電極 2・・・・・・ガラス体 6・・・・・・グリッド 4・・・・・・外壁電極 5・・・・・・ヒーター 以 上 出願人 株式会社諏訪精工舎 代理人 弁理士 最上 務 第1図
の一例を示す模式図である。 1・・・・・・電極 2・・・・・・ガラス体 6・・・・・・グリッド 4・・・・・・外壁電極 5・・・・・・ヒーター 以 上 出願人 株式会社諏訪精工舎 代理人 弁理士 最上 務 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 ガラス体には静電位を付加し、加熱し、そしてガ
ラス体表面をエツチング除去することを特徴とするガラ
ス体内精製法。 2、 ガラス体には電極により静電位を付与することを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のガラス体得精製
法。 3、 ガラス体にはコロナ放電により静電位を付与する
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のガラス体
桑精製法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4522283A JPS59169956A (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | ガラス体精製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4522283A JPS59169956A (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | ガラス体精製法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59169956A true JPS59169956A (ja) | 1984-09-26 |
Family
ID=12713235
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4522283A Pending JPS59169956A (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | ガラス体精製法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59169956A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0237431A2 (fr) * | 1986-03-11 | 1987-09-16 | Saint-Gobain Vitrage International | Désionisation du verre par décharge couronne |
JPS63166791A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 石英ガラスルツボの製造方法 |
US4759787A (en) * | 1984-11-05 | 1988-07-26 | Tsl Group Plc | Method of purifying molten silica |
US5096479A (en) * | 1988-08-18 | 1992-03-17 | Tsl Group Plc | Method of enhancing fused quartz body purity |
US5635410A (en) * | 1994-07-25 | 1997-06-03 | Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd. | Bias temperature treatment method |
EP2881375A4 (en) * | 2012-06-22 | 2016-11-02 | Asahi Glass Co Ltd | METHOD FOR SURFACE TREATMENT OF GLASS SUBSTRATE, AND GLASS SUBSTRATE |
CN110559741A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-12-13 | 天津大学 | 一种表面带电球状玻璃滤料的制备方法 |
-
1983
- 1983-03-17 JP JP4522283A patent/JPS59169956A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4759787A (en) * | 1984-11-05 | 1988-07-26 | Tsl Group Plc | Method of purifying molten silica |
JPH0784328B2 (ja) * | 1984-11-05 | 1995-09-13 | 三菱マテリアル株式会社 | ガラス質シリカ製容器又はパイプの品質改良法 |
EP0237431A2 (fr) * | 1986-03-11 | 1987-09-16 | Saint-Gobain Vitrage International | Désionisation du verre par décharge couronne |
FR2595685A1 (fr) * | 1986-03-11 | 1987-09-18 | Saint Gobain Vitrage | Desionisation du verre par decharge couronne |
JPS63166791A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 石英ガラスルツボの製造方法 |
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