JPS59154028A - ウエハ洗浄装置 - Google Patents

ウエハ洗浄装置

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Publication number
JPS59154028A
JPS59154028A JP2780783A JP2780783A JPS59154028A JP S59154028 A JPS59154028 A JP S59154028A JP 2780783 A JP2780783 A JP 2780783A JP 2780783 A JP2780783 A JP 2780783A JP S59154028 A JPS59154028 A JP S59154028A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
chuck
rotating shaft
gap
cleaning apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2780783A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiji Kan
管 祥次
Noriaki Yamamoto
山本 則明
Kazuhiro Oda
小田 和宏
Norio Kanai
金井 謙雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Sanki Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Hitachi Plant Technologies Ltd
Original Assignee
Hitachi Sanki Engineering Co Ltd
Hitachi Techno Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Sanki Engineering Co Ltd, Hitachi Techno Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Sanki Engineering Co Ltd
Priority to JP2780783A priority Critical patent/JPS59154028A/ja
Publication of JPS59154028A publication Critical patent/JPS59154028A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、ウェハ洗浄装置に係り、特にウェハな回転さ
せ洗浄するのに好適なウェハ洗浄装置に関するものであ
る。
〔従来技術〕
ウェハな回転させて洗浄するのに従来慣用されているウ
ェハ洗浄装置は、排気孔が穿設されたウェハ固定用のチ
ャックと、チャックに設けられ、かつ、排気孔と連通ず
る排気路が形成された回転軸と、樹脂製ブツシュが圧入
されたスピンナーケースと、駆動モータと、真空ポン″
プと、洗浄液供給装置とで構成されている。
回転軸は、ブツシュとの間で排気路と連通ずる隙間を有
し、かつ、ベアリングを介して回転可能にスピンナーケ
ースに挿設されると共に、カップリングを介して駆動モ
ータに連接されている。スピンナーケースには、隙間と
連通して真空ポンプが連結され、又、回転軸とブツシュ
との間には、ベアリングからのリークを防止するため、
0リングやオイルシール等の真空シール手段が設けられ
ている。
ウェハは、チャックに載置された後に、真空ポンプを駆
動することで0リングにより真空シールされチャックに
真空吸着されて固定される。その後、駆動モータを駆動
しチャックをカップリング回転軸を介して回転させるこ
とでウェハは回転させられ、それと共に、回転している
ウェハには。
洗浄液供給装置から洗浄液が供給されウェハは洗浄され
る。その後、洗浄液の供給を停止すると共に、ウェハを
更に高速回転させることでウェハから洗浄液が除去され
、これにより洗浄操作が完了する。
尚、洗浄されたウェハは、駆動モータ、真空ポンプの駆
動を停止した後に、公知の除去手段によりチャックから
除去される。その後、チャックには、別のウェハが載置
され、このウェハは上記操作により洗浄される。
このようなウェハ洗浄装置では、次のよう゛な欠点があ
った。
(1)使用経時と共に真空シール手段の性能が劣化しウ
ェハを固定した状態でチャックを回転させることができ
な曵なるため、定期的にメンテナンスする必要がある。
(2)駆動モータの負荷が、真空シール手段と回転軸と
の摩擦により増大するため、駆動モータが大型化する。
〔発明の目的〕
本発明の主な目的は、真空シー・ル手段を不用にするこ
とでメンテナンスフリーのウェハ洗浄装置を提供するこ
とにある。
〔発明の概要〕
本発明は、排気孔が穿設されたウェハ固定用のチャック
に設けられ、かつ、排気孔と連通して排気路が形成され
た回転軸を、排気路と連通し、かつ、チャックがウェハ
を固定した状態で回転可能な大きさの隙間を有し、該隙
間と連通して真空ポンプが連結されたスピンナーケース
に回転可能に挿設したことを特徴とするもので、ベアリ
ングからのリークをウェハを固定した状態でチャックを
回転させることができる程度に抑制し真空シール手段を
不用にしようとしたものである。
〔発明の実施例〕
本発明の一実施例を第1図により説明する。
第1図で、ウェハ洗浄装置は、排気孔10が穿設された
ウェハ固定用のチャック11と、チャック11に設けら
れ、かつ、排気孔1oと連通ずる排気路認が形成された
回転軸13と、樹脂製ブツシュ14が圧入されたスピン
ナーケースbと、駆動モータ16と、真空ポンプ(図示
省略)と、洗浄液供給装置(図示省略)とで構成されて
いる。
回転軸13は、排気路稔と連通し、かつ、チャック11
がウェハ(図示省略)を固定した状態で回転可能な大き
さの隙間17を有し、かつ、ベアリング18を介して回
転可能にスピンナーケースbに挿設されると共に、カッ
プリング19を介して駆動モータ16に連接されている
。又、スピンナーケース15には、隙間17と連通して
真空ポンプが連結されている。
チャック11にウェハが載置される。その後、チャック
Uとウェハとの間は、真空ポンプを駆動することで、0
リング加により真空シールされ排気孔10.排気路臣、
隙間17を介して真空排気され、これによりウェハはチ
ャック11に真空吸着されて固定される。その後、駆動
モータ16を駆動しチャック11をカップリング19 
、回転軸13を介して回転させることでウェハは回転さ
せられる。それと共に1回転しているウェハ憎は、洗浄
液供給装置から洗浄液が供給されてウェハは洗浄される
。その後、洗浄液の供給を停止すると共に、ウェハを更
に高速回転させることでウェハから洗浄液が除去され、
これにより洗浄操作が完了する。
この場合、回転軸13とブツシュ14との間には真空シ
ール手段を設けていないため、ベアリング18からはリ
ークが生じるが、このリークは、隙間17の大きさによ
りウェハを固定した状態でチャックUを回転させること
ができる程度に抑制されている。
尚、洗浄されたウェハは、駆動モータ16、真空ポンプ
の駆動を停止した後に、公知の除去手段(図示省略)に
よりチャック11から除去される。
その後、チャック11には、別のウェハが載置され、こ
のウェハは上記操作により洗浄される。
本実施例のようなウェハ洗浄装置では、次のような効果
が得られる。
(1)真空シール手段が不用であるので、定期的にメン
テナンスする必要がな4なり、メンテナンスフリーを達
成できる。
(2)真空シール手段が不用であるので、駆動モータの
負荷を軽減でき、従って、駆動モータを小型化できる。
本発明の他の実施例を第2図により説明する。
尚、第2図で第1図と同−装置等は同一符号で示し説明
を省略する。
第2図で、チャック11に設けられたラビリンスバッキ
ング型の回転軸13′は、排気路にと連通し。
かつ、チェック11がウェハ(図示省略)を固定した状
態で回転可能な大きさの隙間17′を有し、かつ、ベア
リング18を介して回転可能にスピンナーケース15に
挿設されると共に、カップリング(図示省略)を介して
駆動モータ(図示省略)に連情されている。
このように、ラビリンスバッキング型の回転軸を用いた
場合は、隙間での圧力降下が生じるため、隙間の大きさ
を更に太き(することめダでき、従って、ウェハ洗浄装
置の組立が更に容易となる。
〔発明の効果〕
本発明は、以上説明したように、排気孔が穿設されたウ
ェハ固定用のチャックに設けられ、かつ、排気孔と連通
して排気路が形成された回転軸を、排気路と連通し、か
つ、チャックがウェハを固定した状態で回転可能な大き
さの隙間を有し、該隙間と連通して真空ポンプが連結さ
れたスピンナーケースに回転可能に挿設したということ
で、回転軸とスピンナーケースとの間の真空シール手段
を不用にできるので、メンテナンスフリーを達成できる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明會こよるウェハ洗浄装置の一実施例を
示す縦断面図、第2図は、本発明によるウェハ洗浄装置
の他の実施例を示す縦断面図である。 10・・・・・・排気孔、11・・・・・・チャック、
12・・・・・・排気路、13、13’・・・・・・回
転軸、15・・・・・・スピンナーケース、16・・・
・・・駆動モータ、17.17’・・・・・・隙間、1
8・・・・・・ペアリオ1図 才2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、排気孔が穿設されたウェハ固定用のチャックに設け
    られ、かつ、前記排気孔と連通して排気路が形成された
    回転軸を、前記排気路と連通し、かつ・前記チャックが
    ウニ/1を固定した状態で回転可能な大きさの隙間を有
    し、該隙間と連通して真空ポンプが連結されたスピンナ
    ーケースに回転可能に挿設したことを特徴とするウェハ
    洗浄装置。 2、前記回転軸を、ラビリンスバッキング型の回転軸と
    した特許請求の範囲第1項記載のウェハ洗浄装置。
JP2780783A 1983-02-23 1983-02-23 ウエハ洗浄装置 Pending JPS59154028A (ja)

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JP2780783A JPS59154028A (ja) 1983-02-23 1983-02-23 ウエハ洗浄装置

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JP2780783A JPS59154028A (ja) 1983-02-23 1983-02-23 ウエハ洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59154028A true JPS59154028A (ja) 1984-09-03

Family

ID=12231245

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2780783A Pending JPS59154028A (ja) 1983-02-23 1983-02-23 ウエハ洗浄装置

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JP (1) JPS59154028A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5884644A (en) * 1997-12-10 1999-03-23 Micron Technology, Inc. Quartz tank for wet semiconductor wafer processing
US8007634B2 (en) * 2007-10-22 2011-08-30 Semes Co., Ltd. Wafer spin chuck and an etcher using the same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5884644A (en) * 1997-12-10 1999-03-23 Micron Technology, Inc. Quartz tank for wet semiconductor wafer processing
US8007634B2 (en) * 2007-10-22 2011-08-30 Semes Co., Ltd. Wafer spin chuck and an etcher using the same
US8211269B2 (en) 2007-10-22 2012-07-03 Semes Co., Ltd. Wafer spin chuck and an etcher using the same

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