JPS59152666A - 横形トランジスタ - Google Patents
横形トランジスタInfo
- Publication number
- JPS59152666A JPS59152666A JP2738983A JP2738983A JPS59152666A JP S59152666 A JPS59152666 A JP S59152666A JP 2738983 A JP2738983 A JP 2738983A JP 2738983 A JP2738983 A JP 2738983A JP S59152666 A JPS59152666 A JP S59152666A
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- Japan
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- collector
- emitter
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- UNPLRYRWJLTVAE-UHFFFAOYSA-N Cloperastine hydrochloride Chemical compound Cl.C1=CC(Cl)=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)OCCN1CCCCC1 UNPLRYRWJLTVAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
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- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/70—Bipolar devices
- H01L29/72—Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は特にバイポーラ型半導体集積回路の構成素子と
して多く用いられる横形トランジスタに関する。
して多く用いられる横形トランジスタに関する。
トランジスタはその構造により縦形と横形に分けられる
。縦形PNP )ランジスタは第1図に示すようにP形
の基板lをコレクタ領域として用い、その中にN形のベ
ース領域2を形成し、9さらにその中KP形のエミッタ
領域3を4形成して、表面に+ コレクタ電極4、エミッタ電極5、N領域6を介しての
ベース電極7ならびに酸化膜8を設けたもので1、基板
1に電極4が設けられるので用途が限定される。一方横
形PNP )ランジスタは第2図に示すようにP形基板
1の上に形成されたベース領+ 域2の中にP 領域のコレクタ領域91、エミッタ領域
3ならびKN 領域6を形成し、表面にコレクタ電極
4、エミッタ電極5、ベース電極7ならびに酸化膜8を
設けたものである。ところでトランジスタの直流電流増
幅率h□は次式によって表現される。
。縦形PNP )ランジスタは第1図に示すようにP形
の基板lをコレクタ領域として用い、その中にN形のベ
ース領域2を形成し、9さらにその中KP形のエミッタ
領域3を4形成して、表面に+ コレクタ電極4、エミッタ電極5、N領域6を介しての
ベース電極7ならびに酸化膜8を設けたもので1、基板
1に電極4が設けられるので用途が限定される。一方横
形PNP )ランジスタは第2図に示すようにP形基板
1の上に形成されたベース領+ 域2の中にP 領域のコレクタ領域91、エミッタ領域
3ならびKN 領域6を形成し、表面にコレクタ電極
4、エミッタ電極5、ベース電極7ならびに酸化膜8を
設けたものである。ところでトランジスタの直流電流増
幅率h□は次式によって表現される。
h =α/1−α ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・ (11E α=γ・b・δ ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・ (2)ここでγはエミッタ注入効率、
bはペース到達率、δは再結合成分である。近似計算に
よれば次式が得られる。
・・・・・・・・ (11E α=γ・b・δ ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・ (2)ここでγはエミッタ注入効率、
bはペース到達率、δは再結合成分である。近似計算に
よれば次式が得られる。
ここでLは少数キャリヤの拡散距離、Wはベース幅であ
り、この式によればh はほぼベース幅E のみに依存する。一方実験によりh とベース幅E の関係を調べた結果、第3図に示すようにhF□はベー
ス幅Wに関して直線的に減少し、(3)式と一致する。
り、この式によればh はほぼベース幅E のみに依存する。一方実験によりh とベース幅E の関係を調べた結果、第3図に示すようにhF□はベー
ス幅Wに関して直線的に減少し、(3)式と一致する。
従ってhFEを上げるにはベース幅を狭くすればよいが
、ベース幅を狭くすると耐圧(BVc8o。
、ベース幅を狭くすると耐圧(BVc8o。
BvCEO)が低下する。
本発明はこれに対して横形トランジスタの耐圧を低下さ
せることなく hFFを大^くすることを目的とする。
せることなく hFFを大^くすることを目的とする。
第4図に示すように横形トランジスタにおいてコレクタ
、ペース間に逆電圧印加時には空乏層10が生じる。ベ
ース幅Wが狭いときにはこの空乏層がエミッタ領域3に
達しバンチスルーが起こり、それが耐圧を決定する。バ
ンチスルーを起りにくくするにはペース領域2の濃度を
高くすればよいが、ペース領域全体の濃度を高くするに
は他の特性にて影響を及ぼすので第5図に示すようにエ
ミッタ領域3の周囲に高濃度領域(N 層)11を+ 形成する。このN 層11の存在により空乏層10はエ
ミッタ領域3まで広がることなく、同じベース幅におい
て耐圧を高めることができる。この8層11は第6図に
示すようにエミッタ領域3のコレクタ領域9に対向する
側のみを覆ってもよい。
、ペース間に逆電圧印加時には空乏層10が生じる。ベ
ース幅Wが狭いときにはこの空乏層がエミッタ領域3に
達しバンチスルーが起こり、それが耐圧を決定する。バ
ンチスルーを起りにくくするにはペース領域2の濃度を
高くすればよいが、ペース領域全体の濃度を高くするに
は他の特性にて影響を及ぼすので第5図に示すようにエ
ミッタ領域3の周囲に高濃度領域(N 層)11を+ 形成する。このN 層11の存在により空乏層10はエ
ミッタ領域3まで広がることなく、同じベース幅におい
て耐圧を高めることができる。この8層11は第6図に
示すようにエミッタ領域3のコレクタ領域9に対向する
側のみを覆ってもよい。
第7図ではコレクタ領域9のP 層の外側に低濃度のP
一層12を設けることKより、空乏層10がP一層12
の内側にも広がるようにして同じベース幅において耐圧
を高めることができる。すなわち本発明によれば、横形
トランジスタのペース領域のエミッタ領域に隣接する部
分の少なくともコレクタ領域に対向する側に他のペース
領域より高不純物濃度の領域を設けるか、あるいはコレ
クタ領域のペース領域に隣接する部分の少なくともエミ
ッタ領域に対向する側に他のコレクタ領域より低不純物
濃度の領域を設けることにより上記の目的が達成される
。あるいはこの高不純物濃度領域、低不純物濃度領域の
双方を備えることによっても達成される。
一層12を設けることKより、空乏層10がP一層12
の内側にも広がるようにして同じベース幅において耐圧
を高めることができる。すなわち本発明によれば、横形
トランジスタのペース領域のエミッタ領域に隣接する部
分の少なくともコレクタ領域に対向する側に他のペース
領域より高不純物濃度の領域を設けるか、あるいはコレ
クタ領域のペース領域に隣接する部分の少なくともエミ
ッタ領域に対向する側に他のコレクタ領域より低不純物
濃度の領域を設けることにより上記の目的が達成される
。あるいはこの高不純物濃度領域、低不純物濃度領域の
双方を備えることによっても達成される。
以下本発明の他の実施例を図を引用して説明する。第8
図は第7図におけるP 層12をエミッタ領域3と対向
する側のコレクタ領域9にのみ形成した例である。第9
図においては、エミッタ領域3の全体を覆いN 層11
を形成し、コレクタ領域9の全体を覆いP一層12を形
成している。
図は第7図におけるP 層12をエミッタ領域3と対向
する側のコレクタ領域9にのみ形成した例である。第9
図においては、エミッタ領域3の全体を覆いN 層11
を形成し、コレクタ領域9の全体を覆いP一層12を形
成している。
第10図においては、エミッタ領域3の全体を覆+
いN 層11を形成し、エミッタ領域3に対向する側の
コレクタ領域9にのみP 層12の領域を形成している
。第11図においては、コレクタ領+ ゛ 域9と相対するエミッタ領域3のみをN 層】1の領域
で覆い、コレクタ領域9全体を覆って2層12を形成し
ている。第12図においては、コレクタ領域9と相対す
不エミッタ領域3にN 層11の領域を形成し、エミッ
タ領域3に対向する側のコレクタ領域9にのみP 一層
12を形成している。
コレクタ領域9にのみP 層12の領域を形成している
。第11図においては、コレクタ領+ ゛ 域9と相対するエミッタ領域3のみをN 層】1の領域
で覆い、コレクタ領域9全体を覆って2層12を形成し
ている。第12図においては、コレクタ領域9と相対す
不エミッタ領域3にN 層11の領域を形成し、エミッ
タ領域3に対向する側のコレクタ領域9にのみP 一層
12を形成している。
本発明では横形トランジスタのhFEがベース幅に依存
することに着目し、耐圧を低下、させることなくhF□
を上げるため、コレクタ・ベース間接合へあ逆電圧印加
時に生ずる空乏層がエミッタ領域まで広がらないように
ペース領域のエミッタ領域近傍の不純物濃度を高めるか
、コレクタ領域のペース領域近傍の不純物濃度を低める
か、あるいはこの双方を行うものである。これにより、
例えばベース幅を5μm以下にしてBVC5oが20V
以下に低下して問題になる場合に適用して耐圧の維持を
図ることが可能となる。上記の説明では横形PNP )
ランジスタについて述べたが、横形NPN )ランジス
タにも適用でき、得られる効果は極めて大きい。
することに着目し、耐圧を低下、させることなくhF□
を上げるため、コレクタ・ベース間接合へあ逆電圧印加
時に生ずる空乏層がエミッタ領域まで広がらないように
ペース領域のエミッタ領域近傍の不純物濃度を高めるか
、コレクタ領域のペース領域近傍の不純物濃度を低める
か、あるいはこの双方を行うものである。これにより、
例えばベース幅を5μm以下にしてBVC5oが20V
以下に低下して問題になる場合に適用して耐圧の維持を
図ることが可能となる。上記の説明では横形PNP )
ランジスタについて述べたが、横形NPN )ランジス
タにも適用でき、得られる効果は極めて大きい。
第1図は縦形PNP)ランジスタの断面図、第2図は従
来の横形PNPトランジスタの断面図、第3図は横形P
NP )ランジスタのhFEとベース幅との関係線図、
第4図は第2図の構造の横形PNP )う本発明の実施
例の横形PNPトランジスタをそれぞれ示す断面図であ
る。 + 、 2・・・Nペース領域’、3・・・P 工くツタ領域、
+ 9・・・P コレクタ領域、11・・・N ヘース領域
、12・・・P−コレクタ領域。 才1関 第2閃 べ−υ煽■ 第3’r5り 葎40 P \ / 才S図 才す閃 l乙 オフ0 才す喝
来の横形PNPトランジスタの断面図、第3図は横形P
NP )ランジスタのhFEとベース幅との関係線図、
第4図は第2図の構造の横形PNP )う本発明の実施
例の横形PNPトランジスタをそれぞれ示す断面図であ
る。 + 、 2・・・Nペース領域’、3・・・P 工くツタ領域、
+ 9・・・P コレクタ領域、11・・・N ヘース領域
、12・・・P−コレクタ領域。 才1関 第2閃 べ−υ煽■ 第3’r5り 葎40 P \ / 才S図 才す閃 l乙 オフ0 才す喝
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)ベース領域のエミッタ領域に隣接する部分の少なく
ともコレクタ領域に対向する側に他のベース領域より高
不純物濃度の領域を備えたことを特徴とする横形トラン
ジスタ。 2)コレクタ領域のベース領域に隣接する部分の少なく
ともエミッタ領域に対向する側に他のコレクタ領域より
低不純物濃度の領域を備えたことを特徴とする横形トラ
ンジスタ。 3)ベース領域のエミッタ領域に隣接する部分の少なく
ともコレクタ領域に対向する側に他のベース領域より高
不純物濃度の領域を備え、コレクタ領域のベース領域に
隣接する部分の少なくともエミッタ領域に対向する側に
他のコレクタ領域より低不純物濃度の領域を備えたこと
を特徴とする横形トランジスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2738983A JPS59152666A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 横形トランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2738983A JPS59152666A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 横形トランジスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59152666A true JPS59152666A (ja) | 1984-08-31 |
Family
ID=12219699
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2738983A Pending JPS59152666A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 横形トランジスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59152666A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62260367A (ja) * | 1986-05-06 | 1987-11-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US5237198A (en) * | 1989-12-16 | 1993-08-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Lateral PNP transistor using a latch voltage of NPN transistor |
-
1983
- 1983-02-21 JP JP2738983A patent/JPS59152666A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62260367A (ja) * | 1986-05-06 | 1987-11-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US5237198A (en) * | 1989-12-16 | 1993-08-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Lateral PNP transistor using a latch voltage of NPN transistor |
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