JPS59151046A - 内部欠陥検知方法 - Google Patents

内部欠陥検知方法

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Publication number
JPS59151046A
JPS59151046A JP58025875A JP2587583A JPS59151046A JP S59151046 A JPS59151046 A JP S59151046A JP 58025875 A JP58025875 A JP 58025875A JP 2587583 A JP2587583 A JP 2587583A JP S59151046 A JPS59151046 A JP S59151046A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
air
peak
measured
defect
Prior art date
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Pending
Application number
JP58025875A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Yashima
八島 実
Ikuo Wakamoto
郁夫 若元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP58025875A priority Critical patent/JPS59151046A/ja
Publication of JPS59151046A publication Critical patent/JPS59151046A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/72Investigating presence of flaws

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、化学機械、化学プラント等のライニング材の
溶接部などにおける表面近傍の内部欠陥を温度分布にも
とづいて計測する内部欠陥検知方法に関する。
化学グランド等の円筒容器は、第1図に示すように鋼板
1にステンレス鋼板からなるライニング材2を内張すし
ている。従来ライニング材2の溶接部3に対しては、浸
透探傷試験を実施していた。しかしこの方法では内部欠
陥が検知できず、運転中に腐食性の強い内溶液にさらさ
れて減肉を生じた際にブローホール、割れl。
内部欠陥が露出し、この部分から選択的に腐食されて漏
洩事故につながるトラブルがしばしば発生していた。
内部欠陥検査法として、放射線透過法、超音波探傷法が
あるが、放射線透過法は、割れの検出感度が劣るととも
に検査コストが高い欠点がある。
超音波探傷法は、オーステナイトステンレス鋼の溶接部
の場合、超音波の減衰が大きく、通常の手法では適用が
困難である。しかもライニング材が薄肉であるため欠陥
からの反射波とビード表面からの反射波の識別が難しい
問題がある。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、温度変化を与えた際の温度分布を測定
して表面近傍の内部欠陥を検出できる方法を得んとする
ものである。
すなわち本発明は、被測定部材の測定個所近傍に温度変
化を与え、その温度分布を赤外線温度計で計測して温度
ピークを検出することを特徴とする−8 以下本発明を図示する実施例を参照して説明する。第2
図は、容器の鋼板に内張すした耐食材料を継合せ溶接す
る際、その1部欠陥を一検出する方法を示す。厚さ10
調以上の鋼板1に1〜6悶のステンレス鋼、チタニウム
、キュプロニッケル、モネルメタル等の面1食材料から
なるライニング材2を内張すし、その継合せ部を溶接す
る。溶接は、TIG溶接トーチ4からアーク5を発生さ
せ、副食材料からなる溶接用心線6を用いておこなう。
ここで図中3′は第1層目の溶接部、3“は最終層の溶
接部を示す。
アーク5が発生している位置から数十・町後方において
スプレー7を用いて黒色のシリコン樹脂8を塗布する。
この状態(溶接部3“が室温より10℃以上高い温度に
ある状態)で空気吹出し管9から溶接部3“に空気10
を吹きつけて局部的に強制冷却しつつ、赤外線温度計1
/でビード表面の温度分布を計測し、その結果をモニタ
テレビ12に表示する。
ビード表面は、第3図に示すように空気吹きつけ部aの
温度が最も低く、既に空気の吹きつけが終った領域(図
示する左方)は熱伝導により再び温度上昇を生じている
。この場合欠陥が存在すると熱の伝達が明害′され、こ
こにピークdが生じる。このためピークdの位置から欠
陥を検知することができる。なお黒色のシリコン樹脂8
は測定個所の熱の放射率を均一にするために4布する1
、また空気吹出し管9は、溶接速度に合わせで移動させ
ている3゜ この方法によれば、欠陥部においてピークを生じ、るた
め、表面近傍の内部欠陥を容易に検知することができる
。壕だ実施例によれば溶接と同時に検査を行なうので、
加熱手段が不要となり、冷却手段だけ備えていれは検査
できる利点がある。
なお被鈎アーク溶接法のように溶接ビードにスラグが付
着する場合、一旦スラグを回収し7た後、シリコン樹脂
を塗布し、かつガス火炎により溶接部を室温より10−
〜ioo℃高い温度に加熱して、温度分布を検出するの
が良い。
丑だ上述した実施例では、加熱及び冷却をおこない、加
熱、冷却手段を移動して、温度分布のピークを検出する
ようにしたが、これに限らず単に均一に強制冷却する方
法、あるいは均一に強制加熱する方法により温度分布の
ピークを検出するようにしてもよい。この場合、急速な
温度変化を与えれば、ピーク−が顕著にあられれ、好適
である。また加熱の場合欠陥のピークは、下向き(低温
)となるが、冷却の場合欠陥のピーク目上向き(高温)
となる。まだ強制冷却の場合、冷却手段は空気吹き付け
に限らない。
以上説明したように本発明によれば、温度変化を力えた
際の温度分布を計測してピークを休出するので、表面近
傍の内部欠陥を容易に検出でき、とくに他の方法では検
出が難しいライニング材の場合にきわめて有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図はライニング利を内張すした容器の要部断面図、
第2図は本発明方法の一実施例を示す説明図、第3図は
本発明方法で測定した温度分布の模式図である。 1・・・鋼材、2・・ライニング材、3..1’、3“
・・・溶接部、4・・・溶接トーチ、5・・・アーク、
6・・・溶接用心線、7・・・スプレー、8・・シリコ
ンAil 脂、9・・・空気吹出し管、10・・・空気
、11・・・赤外線温度計、12・・モニタテレビ1、 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦JP l 図 3F 2図 舟3図 蕗−疫線考員n樵置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定部材の測定個所近傍に温度変化を与えその温度分
    布を赤外線温度計で計測して温度ピークを検出すること
    を特徴とする内部欠陥検知方法。
JP58025875A 1983-02-18 1983-02-18 内部欠陥検知方法 Pending JPS59151046A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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