JPS59126949A - 超音波車軸探傷装置 - Google Patents
超音波車軸探傷装置Info
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- JPS59126949A JPS59126949A JP58002469A JP246983A JPS59126949A JP S59126949 A JPS59126949 A JP S59126949A JP 58002469 A JP58002469 A JP 58002469A JP 246983 A JP246983 A JP 246983A JP S59126949 A JPS59126949 A JP S59126949A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、車両用車伽]の湯、ひび割7′L等の有無、
及びその位置等を調べるための超音波車軸探傷方法に関
するものである。
及びその位置等を調べるための超音波車軸探傷方法に関
するものである。
従来技術
従来の超廿阪軍軸探偽装置gは、第1図に示すように送
イ=回路山、送受波焦用探触子(2)、受1旨回路1、
アナログ−デジタル変換器(4)、半得体メモリ(5)
、テジタル−アナログ変侯器(6)、Y 4110増申
晶器(′l)、同期回路(8)、描引回路(9)、X軸
(’) >’ti 1iliu g’a IILII、
陰俊吻骨即ちC九Tu、及び匍j伽回路(121から成
り、探触子(2)で発生させた超音波を車軸−に送り込
み、車軸−から得られる反射波を一度半専体メモリに記
憶させた後に、CWT(11)に描いて車軸−の内部の
湯を非破壊で慣査するようにヤ4成さJ′シている。
イ=回路山、送受波焦用探触子(2)、受1旨回路1、
アナログ−デジタル変換器(4)、半得体メモリ(5)
、テジタル−アナログ変侯器(6)、Y 4110増申
晶器(′l)、同期回路(8)、描引回路(9)、X軸
(’) >’ti 1iliu g’a IILII、
陰俊吻骨即ちC九Tu、及び匍j伽回路(121から成
り、探触子(2)で発生させた超音波を車軸−に送り込
み、車軸−から得られる反射波を一度半専体メモリに記
憶させた後に、CWT(11)に描いて車軸−の内部の
湯を非破壊で慣査するようにヤ4成さJ′シている。
谷部の構成及び検査方法を更に詳しく説明すると、送信
回路11+は超音波パルスを発生させるための市気パル
スを発生するパルス発生番であって、パルスを探触子(
2)に供給する。送受e、前用の探触子(2)は、超音
波を発生する7でめの振動子を呑み、電気パルスに応答
して超廿波パルス?]l−発生すると共に、車軸u4の
中音伝搬した超音波の反射波を受けてこれを電気信号に
変侠する。この′…、気信芳は、支16回路(3)によ
って@阪・瑠1陽される。アナログ−デジタル変侠器即
ちA/IJ変侠器(4)は、受信回路(3)の出力信号
であるアナログのり1ぎ彼γ一定のクロックで順次にサ
ンプリングし、デジタル16号に変侯するものである。
回路11+は超音波パルスを発生させるための市気パル
スを発生するパルス発生番であって、パルスを探触子(
2)に供給する。送受e、前用の探触子(2)は、超音
波を発生する7でめの振動子を呑み、電気パルスに応答
して超廿波パルス?]l−発生すると共に、車軸u4の
中音伝搬した超音波の反射波を受けてこれを電気信号に
変侠する。この′…、気信芳は、支16回路(3)によ
って@阪・瑠1陽される。アナログ−デジタル変侠器即
ちA/IJ変侠器(4)は、受信回路(3)の出力信号
であるアナログのり1ぎ彼γ一定のクロックで順次にサ
ンプリングし、デジタル16号に変侯するものである。
A/、D変換器(4)の次に設けられたメモリ(5)は
波形に対応した検査テークを記憶しておくものである。
波形に対応した検査テークを記憶しておくものである。
(6)はテジタルーアナログ変侠器即ち])/A変侠需
で病ってメモリ(5)から得ら7するイ犬食データ金C
几T旧)で表示1−るためのアナログ16号に変俣する
ものである。(7)はjJ/A亥侠器(6)の出力音0
1もTu1+に表示1−るように増j陥するY ++q
++ jj−幅器である。制御回路(1z)は点腺で曲
んで示す1ぎ芳処坤回路tl:jlkシーグンス制御叶
1−るものである。同期回路(8)は込情回路il+か
ら発生するパルスに応答してトリガ1g号笛発生1−る
。このトリカイど一部に応答して播引回J嗜(田はトリ
ガ1g−号に回期した鋸南状波金蛇生し、こ几が勘1陥
器ulJ]で瑠II届されてCRT(nlの水平偏向板
に加えられる。Cit T ct)垂1〔3−偏向板に
は目「16己IJ/A変侠器(6)の出力が加えられ、
この結果C凡Tunには、第3図に示すよ5に送信波の
一部と反射波とが表示さスト1湯の有無及び湯の位置全
判訂「することが可能になる。
で病ってメモリ(5)から得ら7するイ犬食データ金C
几T旧)で表示1−るためのアナログ16号に変俣する
ものである。(7)はjJ/A亥侠器(6)の出力音0
1もTu1+に表示1−るように増j陥するY ++q
++ jj−幅器である。制御回路(1z)は点腺で曲
んで示す1ぎ芳処坤回路tl:jlkシーグンス制御叶
1−るものである。同期回路(8)は込情回路il+か
ら発生するパルスに応答してトリガ1g号笛発生1−る
。このトリカイど一部に応答して播引回J嗜(田はトリ
ガ1g−号に回期した鋸南状波金蛇生し、こ几が勘1陥
器ulJ]で瑠II届されてCRT(nlの水平偏向板
に加えられる。Cit T ct)垂1〔3−偏向板に
は目「16己IJ/A変侠器(6)の出力が加えられ、
この結果C凡Tunには、第3図に示すよ5に送信波の
一部と反射波とが表示さスト1湯の有無及び湯の位置全
判訂「することが可能になる。
ところが、車両用車軸のように形状が俵雑なうえ、側面
に佳々の部品が裟看さZ’しているような動台には、場
の無い通常の反射エコーが伏雑な形τ :しており、
湯エコーを発見1−ることは非常に困難であり、重度の
熟株良ケ妻する。その上、探触子と車軸との接線状態の
微妙な変化は反射エコーにも影響奮及はす。
に佳々の部品が裟看さZ’しているような動台には、場
の無い通常の反射エコーが伏雑な形τ :しており、
湯エコーを発見1−ることは非常に困難であり、重度の
熟株良ケ妻する。その上、探触子と車軸との接線状態の
微妙な変化は反射エコーにも影響奮及はす。
従来、恢宜データのレベル双正は、標準試験片という較
正器を使用し底面エコー乞親測し、イI]J會目かの底
面エコーが一部レベルになるようにfR鴎装置の感度を
調榮する方法で行わ几でいた。しかし、前記の感度戦正
の方法では、実際に車軸ケ恢iする時に探触子と車軸端
面との接触状態の微妙な変化によるエコー波形の変化?
較正することができなかった。作業者は、実除の車軸エ
コーの波形レベルを適切な値にする時には、過去の車軸
エコーの雪面波形写真又はスケッチなど全参照し、aI
gll!子の車軸との懐触兵合kWえて、目測により1
.1−11i1エコーのレベル合せ全していた。そのた
め、作業者の技量により、エコーの埃わ几かたが犬さく
変化し、安定した波形を得ることは困難でめった。
正器を使用し底面エコー乞親測し、イI]J會目かの底
面エコーが一部レベルになるようにfR鴎装置の感度を
調榮する方法で行わ几でいた。しかし、前記の感度戦正
の方法では、実際に車軸ケ恢iする時に探触子と車軸端
面との接触状態の微妙な変化によるエコー波形の変化?
較正することができなかった。作業者は、実除の車軸エ
コーの波形レベルを適切な値にする時には、過去の車軸
エコーの雪面波形写真又はスケッチなど全参照し、aI
gll!子の車軸との懐触兵合kWえて、目測により1
.1−11i1エコーのレベル合せ全していた。そのた
め、作業者の技量により、エコーの埃わ几かたが犬さく
変化し、安定した波形を得ることは困難でめった。
発明の目的
そこで、本発明の目的は車r+q11jと探触子との関
係の一斃を容易に行って正確に傷?探知することが可能
な超音波車輔探協万伝を提供することにある。
係の一斃を容易に行って正確に傷?探知することが可能
な超音波車輔探協万伝を提供することにある。
発明の構成
上記目的を達成するための本発明は、送受波弾用又は送
波と受波とに分離さノtでいる探触子を1史用して車軸
に超音波パルスケ供脇し、該超音波パルスに対応した受
イぎ波を得ること、前記受1g波をアナログーテジタル
変換器でテジタル化さγした恢食データに順次に変換づ
−ること、削古己アナログーテジタル変侯器から得られ
る目1」記装置チータケメモリに11次に書き込むこと
、前記メモリから削把検査データyt−ri貝次にw′
r、み出し、デジタル−アナログ変換器でアナログ信号
に変換1″ること、前d己アナログ16号を表示装置に
表示して月11目己車軸の湯を探知すること、から成る
超音波車軸深場方法に炭いて、前記メモリから得ら才し
る前記半軸のlツ「定恒酊に対応した横置テータ文は収
載の検査データの平均値と記憶回路に予め配置怠さfし
ている前凸己H[重位置に対応した一ji5準データと
をマイクロプロセッサ又は比較回路等によって比較する
ことによって前記ノブ「定位置に対応した@督データ又
は口1」配子均質と前記基早データとの大小関係を示す
比救出力全得て、該比較出力に基づき前記車軸と前記探
触子との関係を判H)[L、MiJ記関係が所望関係で
ない場合には前記所望関係になるようにAil記探触子
をV@整づ−ること全特徴とづ−る超晋波単軸探湯方伝
に係わるものである。
波と受波とに分離さノtでいる探触子を1史用して車軸
に超音波パルスケ供脇し、該超音波パルスに対応した受
イぎ波を得ること、前記受1g波をアナログーテジタル
変換器でテジタル化さγした恢食データに順次に変換づ
−ること、削古己アナログーテジタル変侯器から得られ
る目1」記装置チータケメモリに11次に書き込むこと
、前記メモリから削把検査データyt−ri貝次にw′
r、み出し、デジタル−アナログ変換器でアナログ信号
に変換1″ること、前d己アナログ16号を表示装置に
表示して月11目己車軸の湯を探知すること、から成る
超音波車軸深場方法に炭いて、前記メモリから得ら才し
る前記半軸のlツ「定恒酊に対応した横置テータ文は収
載の検査データの平均値と記憶回路に予め配置怠さfし
ている前凸己H[重位置に対応した一ji5準データと
をマイクロプロセッサ又は比較回路等によって比較する
ことによって前記ノブ「定位置に対応した@督データ又
は口1」配子均質と前記基早データとの大小関係を示す
比救出力全得て、該比較出力に基づき前記車軸と前記探
触子との関係を判H)[L、MiJ記関係が所望関係で
ない場合には前記所望関係になるようにAil記探触子
をV@整づ−ること全特徴とづ−る超晋波単軸探湯方伝
に係わるものである。
作用効果
上記発明によれば、車軸の所定位置に対応した検査デー
タ又はその平均値と、Miliテータデー比戟し、この
出力で探rg’j!子と車軸との間の関係全判町し、こ
n、VC基づいて探触子會改、M =−q−るσ)で、
作業者の技量の差に殆んど影響されずに、探触子と単1
咄との関係全良好に設定することが可能になり、正確な
探傷全容易に行うことが可能になる。
タ又はその平均値と、Miliテータデー比戟し、この
出力で探rg’j!子と車軸との間の関係全判町し、こ
n、VC基づいて探触子會改、M =−q−るσ)で、
作業者の技量の差に殆んど影響されずに、探触子と単1
咄との関係全良好に設定することが可能になり、正確な
探傷全容易に行うことが可能になる。
実施例
次に1第2図及び第3図を杉照して本発明の実施例に係
わる超晋波単’i’lli探湯装置及び採湯方法につい
て述べる。但し、第2図で符号(1)〜圓でポーづ−も
のは第1図で同一符号で示すものと実負的に同一である
ので、その祝明を省略すめ。
わる超晋波単’i’lli探湯装置及び採湯方法につい
て述べる。但し、第2図で符号(1)〜圓でポーづ−も
のは第1図で同一符号で示すものと実負的に同一である
ので、その祝明を省略すめ。
第2図に示1−超廿彼車輔探勧佐酋ば、鞠たに、受信波
(入力1g号)のレベル金刊定′1−るための頂其回路
((5)と、判定姑来を表7r:、するための表示器1
16)とを具備する。演舞回路(t5)は、車軸u市の
一端からの第1の距離d1と第2の距VitId2との
間の範囲に対応する横置データゲ抽出するデータ抽出回
路fl 11と、このデータ抽出回路u?+で抽出した
データの平均11汀ヲ求める平均値演算回路(18)と
、dl−d2の範囲に於ける蛍侶°阪の第1の筒さhl
に対応する第1の基準データー2予め記憶している第1
の記憶回路時と、d1〜d2の範囲に於ける受信波の$
2の筒さh2に対応づ−る纂2の基準データを予め記憶
している第20dピ憶回路(氾と、平均値演算回路(1
8)から得ろtする模丘データ平均制、と第1の基準デ
ータと全比較し、横畳データ平均値が第1の基準データ
よりも犬ぎい時に尚レベルの比較出力會送出し、小さい
時に低レベルの比軟出力を送出する第1の比較回路(2
υと、前記横置データ平均値と渠2の基準データと全比
較し、抜食データ平均埴が第20基卑テータよりも大き
い時に簡レベルの比軟出力を送出し、小さい時に低レベ
ルの比戟出力全始生1−る第2の比較回路(22)と、
2つの比較回路りυV2)のインビビッドki”4IJ
出力’<’A生jるインヒビツ)ANl)回路(21と
から成る。
(入力1g号)のレベル金刊定′1−るための頂其回路
((5)と、判定姑来を表7r:、するための表示器1
16)とを具備する。演舞回路(t5)は、車軸u市の
一端からの第1の距離d1と第2の距VitId2との
間の範囲に対応する横置データゲ抽出するデータ抽出回
路fl 11と、このデータ抽出回路u?+で抽出した
データの平均11汀ヲ求める平均値演算回路(18)と
、dl−d2の範囲に於ける蛍侶°阪の第1の筒さhl
に対応する第1の基準データー2予め記憶している第1
の記憶回路時と、d1〜d2の範囲に於ける受信波の$
2の筒さh2に対応づ−る纂2の基準データを予め記憶
している第20dピ憶回路(氾と、平均値演算回路(1
8)から得ろtする模丘データ平均制、と第1の基準デ
ータと全比較し、横畳データ平均値が第1の基準データ
よりも犬ぎい時に尚レベルの比較出力會送出し、小さい
時に低レベルの比軟出力を送出する第1の比較回路(2
υと、前記横置データ平均値と渠2の基準データと全比
較し、抜食データ平均埴が第20基卑テータよりも大き
い時に簡レベルの比軟出力を送出し、小さい時に低レベ
ルの比戟出力全始生1−る第2の比較回路(22)と、
2つの比較回路りυV2)のインビビッドki”4IJ
出力’<’A生jるインヒビツ)ANl)回路(21と
から成る。
演算回路([51及び演算方法を第3図ケ参照して史忙
詳しく説明づ−る。車両の車軸(I4)には一般に種々
の部品が取付けられ且つ抜雑なプレ状になっているので
、正常な車軸であっても梱々のエコーが現われる。そこ
で、正常なりi、横骨車軸又は標準車軸の一端dOから
距離dの点に状われる正常エコーを羞率エコーとし、車
軸側に探触子(2)全最適状態に接触させた場合の上記
基準エコーのパルスWの局すhを予め測定し、接触状態
の変化によって簡さが変化しても差支えない許容幅△h
を決定し、h−△h/2 = hlを第1の基準筒さと
し、h+△h/2=h2全第2の基準^さとする。そし
て、第】の基準高さhlに対応する第1の基準データL
etを第1の6記憶回路時に予め眉き込み、第2の基準
高さh2に対応1−る第2の基準データD2を第2の記
憶回路シυ)に予めダYき込む。また1、距離dの許容
幅△dを決定し、d −△d/2=dlを第】の距離と
し、d十△d/2=d2f @’ 2の距離とし、デー
タ抽出回路u7)が距?!”からd2までの区間の@歪
データのみを抽出するように予め設定する。即ち、メモ
リ(5)のd1〜d2に対応1−るアドレスの横歪デー
タのみ全抽出するように設定する。
詳しく説明づ−る。車両の車軸(I4)には一般に種々
の部品が取付けられ且つ抜雑なプレ状になっているので
、正常な車軸であっても梱々のエコーが現われる。そこ
で、正常なりi、横骨車軸又は標準車軸の一端dOから
距離dの点に状われる正常エコーを羞率エコーとし、車
軸側に探触子(2)全最適状態に接触させた場合の上記
基準エコーのパルスWの局すhを予め測定し、接触状態
の変化によって簡さが変化しても差支えない許容幅△h
を決定し、h−△h/2 = hlを第1の基準筒さと
し、h+△h/2=h2全第2の基準^さとする。そし
て、第】の基準高さhlに対応する第1の基準データL
etを第1の6記憶回路時に予め眉き込み、第2の基準
高さh2に対応1−る第2の基準データD2を第2の記
憶回路シυ)に予めダYき込む。また1、距離dの許容
幅△dを決定し、d −△d/2=dlを第】の距離と
し、d十△d/2=d2f @’ 2の距離とし、デー
タ抽出回路u7)が距?!”からd2までの区間の@歪
データのみを抽出するように予め設定する。即ち、メモ
リ(5)のd1〜d2に対応1−るアドレスの横歪デー
タのみ全抽出するように設定する。
被検食卓軸117)恢iを行う除には、車軸t141に
探触子(2)ヲ当てて超晋波パルスを発生させ、この時
の受1g波全A / D変換してメモ1月5ンに書き込
み、しかる後、メモリ(5)からIll (Kに抗み出
し、 L)/A変換した後にCRT (ll)に表示す
る。これにより、CRT[1)の管面上に第3図に示す
ような成形が表示される。ところが、作菓に熟線してい
ないと、この波形により探触子(2)の接触状態全判定
することは極めて困難である。しかし、本方式では顔讃
−回路(15)と表示器(16)會准するので、接触状
態金谷易に確認することが出来る。
探触子(2)ヲ当てて超晋波パルスを発生させ、この時
の受1g波全A / D変換してメモ1月5ンに書き込
み、しかる後、メモリ(5)からIll (Kに抗み出
し、 L)/A変換した後にCRT (ll)に表示す
る。これにより、CRT[1)の管面上に第3図に示す
ような成形が表示される。ところが、作菓に熟線してい
ないと、この波形により探触子(2)の接触状態全判定
することは極めて困難である。しかし、本方式では顔讃
−回路(15)と表示器(16)會准するので、接触状
態金谷易に確認することが出来る。
第2図のメモリ(5)から読み出されたデータの内、距
離d1からd2までの区間のデータが抽出回路ti71
で抽出さ7する。次に、この抽出データが平均値演算回
路(I8)に送られ、ここで、d1〜d2の検査データ
の平均値Dムが求めら7’Lる。即ちd1〜d2のサン
プリング時点のデータを加昇し、これ全サンプル数で除
算することにより、平均′1lIi、D^を求める。平
均値り人は第1及び第2の比軟回路U、71112カに
夫々込ら7し、第1の比J収回路圓では商さhlに対応
する第】の基準データl)1と平均値JJAとがデジタ
ル比軟され、第2の比較回路(22)では茜さh2に対
応する第2の基準データD2と平均値DAとがデジタル
比較さnる。そして、両比較出力がインヒビットANI
)回路(ハ)に送られる。
離d1からd2までの区間のデータが抽出回路ti71
で抽出さ7する。次に、この抽出データが平均値演算回
路(I8)に送られ、ここで、d1〜d2の検査データ
の平均値Dムが求めら7’Lる。即ちd1〜d2のサン
プリング時点のデータを加昇し、これ全サンプル数で除
算することにより、平均′1lIi、D^を求める。平
均値り人は第1及び第2の比軟回路U、71112カに
夫々込ら7し、第1の比J収回路圓では商さhlに対応
する第】の基準データl)1と平均値JJAとがデジタ
ル比軟され、第2の比較回路(22)では茜さh2に対
応する第2の基準データD2と平均値DAとがデジタル
比較さnる。そして、両比較出力がインヒビットANI
)回路(ハ)に送られる。
今、6(I)定受信波の付足パルスWの商さhがhlに
達しない場合には、平均値Dムが第1のhpデデーD1
及び第2の基準データD2より小であるので、第1及び
第2の比較囲路シυ(2々の出力はいす、11も低レベ
ルであり、従って、インヒビタ) A N D 1cJ
路ン5)の出力も低レベルとなり、表示器(161の
表示素子が?1勺釘状態になり、探触子(2)が不適当
な桜触状、四であることが判る。
達しない場合には、平均値Dムが第1のhpデデーD1
及び第2の基準データD2より小であるので、第1及び
第2の比較囲路シυ(2々の出力はいす、11も低レベ
ルであり、従って、インヒビタ) A N D 1cJ
路ン5)の出力も低レベルとなり、表示器(161の
表示素子が?1勺釘状態になり、探触子(2)が不適当
な桜触状、四であることが判る。
一方、測足受1g波の特定パルスWの商さhがh1〜h
2の範囲にある場合には、平均値lJAが第1の基準デ
ータle1以上になるので、第1の比軟回路Uυの出力
が尚レベルとなり、平均匣IJAがg2の基準データD
2よりも小さいので第2の比較回路+ll)の出力は世
レベルとなる。このため、インヒビタ)AiND回路(
23)の出力が尚レベルとなり、表示器(16)の表示
系子が点灯し、探触子(21が澗切な接朋状態であるこ
とが判る。
2の範囲にある場合には、平均値lJAが第1の基準デ
ータle1以上になるので、第1の比軟回路Uυの出力
が尚レベルとなり、平均匣IJAがg2の基準データD
2よりも小さいので第2の比較回路+ll)の出力は世
レベルとなる。このため、インヒビタ)AiND回路(
23)の出力が尚レベルとなり、表示器(16)の表示
系子が点灯し、探触子(21が澗切な接朋状態であるこ
とが判る。
また、市さhが12以上になった場合には、平均(@
D*が第1及び第2の基準データυ1.02以上になる
ので、第1及び第2の比べ回路(24JIIl!21の
出力が共に高レベルとなり、インヒビットA IN D
1m 路1に31の出力は低レベルとなり、衣7F、
器1161の表示系子が罰幻するので、探触子(2)が
不適楢な接触状態であることが判る。
D*が第1及び第2の基準データυ1.02以上になる
ので、第1及び第2の比べ回路(24JIIl!21の
出力が共に高レベルとなり、インヒビットA IN D
1m 路1に31の出力は低レベルとなり、衣7F、
器1161の表示系子が罰幻するので、探触子(2)が
不適楢な接触状態であることが判る。
上述の測定に於いて探触子(2)の接触状、四が適切で
あることを示す表示であれは、このままC丘′1゛旧)
の波形で探傷する。一方、接触状態が不適切であること
を示す表示であれば、探触子(2)の接触状態全fA廠
し、接触状態が適切であることを示す表示状!塵となっ
た段階で探1易1−る。尚榎数回の測に金行う場合には
、接触状態の確認を各測定毎に行ってもよいし、間欠的
に行ってもよい。
あることを示す表示であれは、このままC丘′1゛旧)
の波形で探傷する。一方、接触状態が不適切であること
を示す表示であれば、探触子(2)の接触状態全fA廠
し、接触状態が適切であることを示す表示状!塵となっ
た段階で探1易1−る。尚榎数回の測に金行う場合には
、接触状態の確認を各測定毎に行ってもよいし、間欠的
に行ってもよい。
上述から明らかなように、本S Jk例によれは、探触
子(2)の廣触状! −t tysべる除の待麓エコー
パルスの1藺及びレベルが予め次めら几た])鴇及びレ
ベル以内か台かを吹示器+ib+で知ることがoJ浦に
なり、探触子(2)の接触状態の良告を直ちに14」定
づ−ることか可曲になる。従って、作業に熟線していな
い省でも、痔切な廣触状態會各易に設定し、正確な沫1
易葡イゴうことがIli]能になる。
子(2)の廣触状! −t tysべる除の待麓エコー
パルスの1藺及びレベルが予め次めら几た])鴇及びレ
ベル以内か台かを吹示器+ib+で知ることがoJ浦に
なり、探触子(2)の接触状態の良告を直ちに14」定
づ−ることか可曲になる。従って、作業に熟線していな
い省でも、痔切な廣触状態會各易に設定し、正確な沫1
易葡イゴうことがIli]能になる。
変形例
以上、本発明の実m例について述べたが、本弁明はこれ
に限定されるものでな(、例えば次のような変形例も當
むものである。
に限定されるものでな(、例えば次のような変形例も當
むものである。
ill 渠4図に示1−如く表示器(1G)金弟】、
第2、及び第3の表示系子(16a)(16b)(16
C)にて構成し、第2図と同一の2つの比較回路(zl
) t211と各表示系子(16a) 〜(16C)と
の10」にIN (J it回路(23a)、インヒヒ
ットAL\D回路(23b)、A↓Nl)回路(23c
) 2大々設け、7il!2図の平均1直(Fi、昇回
1硲u8)から借られる平均値JJAか第1及び第2の
4卑テータIJ1、l)2よりも小さい時には第1の吹
示系子(16a)が点灯し、平均値DムがD1〜1)2
の間の時には果2の表示系子(16b)か点灯し、平均
値Dムがl)を及びL)20)いずれよりも犬ぎい時に
は第3の表示系子(16C)が点灯するようにしてもよ
い。
第2、及び第3の表示系子(16a)(16b)(16
C)にて構成し、第2図と同一の2つの比較回路(zl
) t211と各表示系子(16a) 〜(16C)と
の10」にIN (J it回路(23a)、インヒヒ
ットAL\D回路(23b)、A↓Nl)回路(23c
) 2大々設け、7il!2図の平均1直(Fi、昇回
1硲u8)から借られる平均値JJAか第1及び第2の
4卑テータIJ1、l)2よりも小さい時には第1の吹
示系子(16a)が点灯し、平均値DムがD1〜1)2
の間の時には果2の表示系子(16b)か点灯し、平均
値Dムがl)を及びL)20)いずれよりも犬ぎい時に
は第3の表示系子(16C)が点灯するようにしてもよ
い。
(21演算回路(19を所定のプログラムに従って演算
を実行するマイクロプロセッサで構成してもよい。
を実行するマイクロプロセッサで構成してもよい。
(3)デジタル記憶回路(19j (20+及びデジタ
ル比較回路(2+) (22+でデジタル的に信号を処
理して表示する代りに、平均値演算回路08)の後にデ
ジタル−アナログ変換器を設け、且つ記憶回路(19)
(20+及び比較回路CD(22)をアナログ回路と
し、探触子(2)の接触状態の良否をアナログ的に求め
、この結果を表示器(16)に表示するようにしてもよ
い。
ル比較回路(2+) (22+でデジタル的に信号を処
理して表示する代りに、平均値演算回路08)の後にデ
ジタル−アナログ変換器を設け、且つ記憶回路(19)
(20+及び比較回路CD(22)をアナログ回路と
し、探触子(2)の接触状態の良否をアナログ的に求め
、この結果を表示器(16)に表示するようにしてもよ
い。
7(4)基準エコーパルスを1つに限定せずに、異なる
距離に於ける複数個とし、複数の基準エコーパルスとこ
れに対応する検査データとの夫々の比較、又は平均化し
ての比較により、探触子(2)の接触状態を判定しても
よ〜・。
距離に於ける複数個とし、複数の基準エコーパルスとこ
れに対応する検査データとの夫々の比較、又は平均化し
ての比較により、探触子(2)の接触状態を判定しても
よ〜・。
(5)同一状態で複数回の測定を行い、複数回の測定の
平均値全3りめ、これと基準データと比較してもよい。
平均値全3りめ、これと基準データと比較してもよい。
(6)計容幅△d及び−△11 全設定せずに、距離d
の点でパルスの旨さがh以上か否か全判定′1−るよう
にしてもよい。
の点でパルスの旨さがh以上か否か全判定′1−るよう
にしてもよい。
(7) 平PJIIE DAかパルスの一尾の高さh
に対応するデータよりも太ぎいか否かのみ全判定するよ
うにしてもよい。
に対応するデータよりも太ぎいか否かのみ全判定するよ
うにしてもよい。
(8) Ck:LTQIK−測足彼形’t&示する動
作と、探触子(2)の接触状態を刊#rl−る動作とを
独立に行うようにしてもよい。そして独立に動作させる
硼台にはメモリ(5)の特定アドレス即ち距、=IHd
t〜d2の区1…に対応1−るアドレスのデータりみ金
ω仁4出すことによってd1〜d2区間の逆立データの
抽出ケ行うように構成し、抽出回路(171全歪いても
よい。
作と、探触子(2)の接触状態を刊#rl−る動作とを
独立に行うようにしてもよい。そして独立に動作させる
硼台にはメモリ(5)の特定アドレス即ち距、=IHd
t〜d2の区1…に対応1−るアドレスのデータりみ金
ω仁4出すことによってd1〜d2区間の逆立データの
抽出ケ行うように構成し、抽出回路(171全歪いても
よい。
(9) 記憶回路(1’Jlt20]に予め暑き込む
基準データケ被検査車軸の初期の測定データとし、この
仮横置卓軸の社時変化に調べる時に上記暴卆データケ使
用してもよい。
基準データケ被検査車軸の初期の測定データとし、この
仮横置卓軸の社時変化に調べる時に上記暴卆データケ使
用してもよい。
(10) 表示器(16)全ブザー等の報知器として
もよい。
もよい。
(11)探触子(2)全スペーサを介して車軸U・υに
接触させてもよい。
接触させてもよい。
第1図は従来の超音波車軸探傷装置をボすブロック図、
第2図は本発明の央厘例に係わるml音仮車軸沫鵠装置
を示すブロック図、第3図は第1図及び第2図の装置に
於けるCRT上の波形をボづ一波形図、第4図は演算回
路及び表示器の亥形例金示すブロック図である。 fi+・・・込1ぎ回路、(2)・・・探触子、(3)
・・・受1ぎ回路、(4)・・・A/IJ変侯器、(5
)・・・メモリ、(6)・・・D/A変換器、(7)・
・・増幅器、(11)・・・C1も1゛、(14)′−
−Jl!−4力、 リ9 ・ ・ ・ Cぐ 升 H
刀 路 、 ノリレ ・ ・ 衣 示 (3、117
j ・ ・・d1〜d2テータ抽出回路、(+81・
・・平均値演算回路、(’+91t20)・・・記憶回
路、tall囚・・・比軟回路、シ3j・・・ インヒ
ビットA N D 回路。 代理人 高野則仄
第2図は本発明の央厘例に係わるml音仮車軸沫鵠装置
を示すブロック図、第3図は第1図及び第2図の装置に
於けるCRT上の波形をボづ一波形図、第4図は演算回
路及び表示器の亥形例金示すブロック図である。 fi+・・・込1ぎ回路、(2)・・・探触子、(3)
・・・受1ぎ回路、(4)・・・A/IJ変侯器、(5
)・・・メモリ、(6)・・・D/A変換器、(7)・
・・増幅器、(11)・・・C1も1゛、(14)′−
−Jl!−4力、 リ9 ・ ・ ・ Cぐ 升 H
刀 路 、 ノリレ ・ ・ 衣 示 (3、117
j ・ ・・d1〜d2テータ抽出回路、(+81・
・・平均値演算回路、(’+91t20)・・・記憶回
路、tall囚・・・比軟回路、シ3j・・・ インヒ
ビットA N D 回路。 代理人 高野則仄
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 +11 送受波入用又は送波と受波とに分離されてい
る探触子を使用して車軸に超音波パルスを供給し、該超
音波パルスに対応した受信波金優ること、11コ記受イ
、t e xアナログ−デジタル変換器でテジタル化さ
れた横置データIc順次に変侯すること、前記アナログ
−デジタル変換器から得られる別記@貴データ金メモリ
に順次に書き込むこと、前記メモリから崩J紀検査デー
タを11痘次に仇4出し、テジタルーアナログ変侠器で
アナログ信号に変侠すること、 前記アナログ侶号全表示装置に表示して前記車軸の傷全
探知すること、 から成る超音波車軸探傷方法に於いて、前記メモリから
得られる=+I昭軍’IQflのHf足位百に対応した
横歪データ又は裡数の快食データの平均値と記憶回路に
予め記憶されている前記所定位置に対応した基準データ
と全比軟ツーることによって前記所定位置に対応した横
歪データ又は明記平均1直と前記基準データとの大小1
ダJ保をボす比軟出力を得て、該比較出力に基つきMi
J記車軸と削記殊触子との関係を判断し、前把関保が所
望関係でない場合には前記所望関係になるように削記沫
肛子を調蛍することを特許とする超晋阪車軸保溺方伝。 (2) 前記車軸の所望位1σはil」記卑軸の一端
からの第1の距離d1と第2の距l11i、d2との間
の範囲であり、前記所定位置に対応した基環、データは
則d[1受イと波の第1の高さhlから第2の商さh2
までの範囲を示′1″データである特許請求の範囲第1
項記載の超音波車軸探傷方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58002469A JPS59126949A (ja) | 1983-01-11 | 1983-01-11 | 超音波車軸探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58002469A JPS59126949A (ja) | 1983-01-11 | 1983-01-11 | 超音波車軸探傷装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59126949A true JPS59126949A (ja) | 1984-07-21 |
JPH0160778B2 JPH0160778B2 (ja) | 1989-12-25 |
Family
ID=11530171
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58002469A Granted JPS59126949A (ja) | 1983-01-11 | 1983-01-11 | 超音波車軸探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59126949A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5323684A (en) * | 1976-08-18 | 1978-03-04 | Tokyo Keiki Kk | Ultrasonic flaw detector |
JPS5726743A (en) * | 1980-07-25 | 1982-02-12 | Toshiba Corp | Ultrasonic flaw detection device |
-
1983
- 1983-01-11 JP JP58002469A patent/JPS59126949A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5323684A (en) * | 1976-08-18 | 1978-03-04 | Tokyo Keiki Kk | Ultrasonic flaw detector |
JPS5726743A (en) * | 1980-07-25 | 1982-02-12 | Toshiba Corp | Ultrasonic flaw detection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0160778B2 (ja) | 1989-12-25 |
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