JPS59125058A - 磁気探傷方法 - Google Patents

磁気探傷方法

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Publication number
JPS59125058A
JPS59125058A JP23424382A JP23424382A JPS59125058A JP S59125058 A JPS59125058 A JP S59125058A JP 23424382 A JP23424382 A JP 23424382A JP 23424382 A JP23424382 A JP 23424382A JP S59125058 A JPS59125058 A JP S59125058A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
magnetic
orthogonal
magnetic sensor
inspected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23424382A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshikazu Toda
戸田 義和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP23424382A priority Critical patent/JPS59125058A/ja
Publication of JPS59125058A publication Critical patent/JPS59125058A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 λ、技術分野 この発明は磁気探傷方法に関する。
b、従来技術及びその欠点 一般に、磁気センサとしてコイルを用いた場合、被検査
材ρ欠陥を効率よ(検出するために、欠陥の長手方向と
直交する方向に被検査材を磁化し、この磁化方向に沿っ
て磁気センサを走査する。
従って、鋼管や鋼棒の軸方向及び周方向に生じた欠陥を
それぞれ検出しようとすれは、各欠陥に応じて被検査材
を磁化し、かつ、磁気センサを走置するという個別の作
業を必要とするという欠点がある。
C0発明の目的 この発明は、軸一方向欠陥と周方向欠陥とを同時に検出
できる磁気探傷方法を提供することを目的としている。
d6発明の特徴 この発明は被検査材の探傷面にX方向とY方向の磁界を
与えるとともに、強磁性金属薄膜よりなる磁気抵抗体が
直交するように配設された感磁部を有する磁気センサを
そのバイアス磁界が前記被検査材に与える磁界のいずれ
かの方向と一致し、かつ、薄膜面が被検査材に直交する
よう配置し、前記磁気センサと被検査材を相対的に変位
させてそのときの磁気センサの中点電位の変動を検出す
ることにより探傷するようにしたことを特徴としている
C8実施例の説明 第1図はこの発明の実施例の概略を示した説明図である
。第1図において、1は被検査材たる鋼棒であり、2は
鋼棒1を軸に沿った方向であるX方向にいわゆるDC磁
界を与える貫通コイル、3はコイル4か巻回された鉄心
、5は強磁性金属薄膜よりなる磁気抵抗体が直交するよ
うに配設された感磁部を有する磁気センサである。
第2図は磁気センサ5の説明図である。ずなわち、磁気
センサ5は強磁性金属簿膜を折線状に形成した2個の磁
気抵抗体A及びBを、長手方向が互いにnζ交するよう
に配設して接続された感磁部を有する。そして、前記接
続された磁気抵抗体A、Bの両端及びその中点は導出さ
れて電極51.52,53にそれぞれ接続し一〇いる。
この磁気センサ5は例えば、シリコン基板上にN1−c
、などの強磁性金属を蒸着した後に、第2図に示した如
きパターンにホトエツチングされることにより形成され
る、。
前記感磁部の実寸法は例えば、]、 11822.36
層に設計されている。
次にこの磁気センサ5の特性を説明する。磁気センサ5
は、磁気抵抗体の磁化方向と、これに流れる電流方向の
なす角度によって抵抗が異方的変化する。この変化は電
流と磁化方向が平行に/、jったときに磁気抵抗体の抵
抗値が最大となる一方、これらが直交した時に抵抗値が
最小となるものである。それ故、電極51.52間に直
流電流を流した状態において、磁界Hを磁気センサ5の
長手方向に沿う方向(θ=0)から順次その向きを変化
させて行くと、電極51の電位、すなわち磁気抵抗体A
、Bの中点電位は第2図(0)に示すように磁界の向き
θに対してCO52θの変化となる。
また、例えばθ−0の状態において磁界I(の強度が増
していくと、磁気センサ5の出力電圧も増化してい(か
、一定磁界強度(可逆磁界強度)内においてはいわゆる
履歴を示すが、前記磁界強度以上では可逆的となる。そ
して、磁界がさらに強くなると出力電圧Vは飽和する。
従って、磁場の反転や小さい強度の磁界を検出するには
、履歴の影響をさけるため磁気センサ5にバイアス磁界
カ加えられる。バイアス磁界の方向は、第2図に示した
θ=09の方向であり、その強さは前記可逆磁界強度と
信号磁界の強さに応じて決定される。
さらに、この磁気センサ5は強磁性簿膜によって形成さ
れるから、感磁部面内の磁界成分の感度に比べて感磁部
面に垂直な磁界成分の感度は約2桁悪いという面指向性
を有している。
上述[7た如き磁気センサ5は、感磁部を例えば貫通コ
イル2によって形成される磁界の方向に一致させ、かつ
、コイル4によって与えられ、前記磁界の方向と直交す
るY方向の磁界と直交さぜるように鋼棒1に近接して設
けられる。その結果、磁気センサ5には鋼棒1に与えら
れるDC磁界と方向が一致したバイアス磁界が与えられ
るとともに、感磁部に直交する磁界(直交磁界)が与え
らオ] る 、 そして、磁気センサ5の電極51.52の間lこ直流電
流を流し、電極53を介j7て中点電位を測定しつつ、
fjA棒1を螺旋状に走査する。
第3図は実施例の動作説明図である。
例えば、被検査材たる鋼棒1に欠陥かない場合、バイア
ス磁界及び直交磁界の方向は変わらないから、磁気セン
サ5は感磁部面に沿うバイアス磁界HIJのみの影響に
基づく電圧VOを出力する。
一方、鋼棒1の軸方向に沿った欠陥がある場合、鋼棒1
を周方向に磁化している直交磁界Hvが前記欠陥によっ
て乱され、この欠陥部には第3図(イ)に示すような漏
洩磁束を生ずる。その結果、磁気センサ5の感磁部面に
は同図(ロ)に示すようなバイアス磁界Hu =!:直
交する信号磁界Hsが作用する。これigより合成磁界
H【は、バイアス磁界Hnよりその方向を01だり変化
させる。従って、磁気センサ5の中点電位は同図KGこ
示すようにvOからVlへと変動する。この中点電位の
変動量は、信号磁界Hsの大きさ、すなわち欠陥の大き
さによって異なるから、結局、中点電位の変動を検出す
ることによって、欠陥の大きさを判別することができる
次に、M杯Iの周方向に沿った欠陥がある場合、貫通コ
イル2によって鋼棒1を軸方r′IJlこ磁化している
DC磁界は、前記欠陥部によって乱され、漏洩磁束を発
生させる。その結果、前述したと同様に、磁気センサ5
の感磁部面に沿った磁界の方向が変化することにより、
中点電位も変動する。この変動量は欠陥の大きさに対応
するものであるから、中点電位の変動を検出することに
より鋼棒1の周方向の欠陥をも判別することができる。
尚、上述の実施例では、鋼棒の探傷について説明したが
、この発明は鋼管、鋼板等のその他の被検材にも熱論適
用し得るものである。
また、実施例では貫通コイルを2個1組として使用して
いるが、この発明は単体の貫通コイルを使用するもので
あ息てもよい。
さらに、実施例ではX方向の磁界を貫通コイル2によっ
て与えているが、この発明はこれに限られるものではな
く、例えば第4図に示したように、X方向に磁界を与え
るコイル7はY方向に磁界を与えるコイル4とともに走
査架台6に取り付けられるものであってもよい。
さらに、磁気センサ5は第2図に示したものに限られず
、例えは磁気抵抗体A又はBのみで構成されるものであ
ってもよい。
また、実施例では、バイアス磁界は方向の液化しない、
いわゆるDC磁界であるとして説明したが、これは交番
(AC)磁界であってもよい。
f。発明の効果 この発明によれは、被検査材の軸方向の欠陥及び周方向
の欠陥を同時〔こ検出することができるので、個別作業
を行っていた従来方法に比較して作業能率をたいへん向
上させることができる、。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例の概略を示した説明図、第2
図は磁気センサの説明図、第3図は実が(1例の動作説
明図、第4図は他の実施例を示す説明図である。 1・・・鋼棒、2・・・貫通コイル、3・・・鉄心、4
・・コイル、5・・・磁気センサ、6・・・走査架台。 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人弁理士大西孝治 第2図 (イ) (ロ) 第′、3図 (イ) (ロ)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査材の探傷面にX方向とY方向の磁界を与え
    るとともに、強磁性金属薄膜よりなる磁気抵抗体か直交
    するように配設された感磁部を有する磁気センサをその
    バイアス磁界が前記被検査材に与える磁界のいずれかの
    方向と一致し、かつ、薄膜面が被検査材に直交するよう
    配置し、前記磁気センサと被検査材を相対的に変位させ
    てそのときの磁気センサの中点電位の変動を検出するこ
    とにより探傷するようにしたことを特徴とする磁気探傷
    方法。
  2. (2)  前記バイアス磁界と一致する磁界はDC磁界
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の磁
    気探傷方法。
JP23424382A 1982-12-31 1982-12-31 磁気探傷方法 Pending JPS59125058A (ja)

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JP23424382A JPS59125058A (ja) 1982-12-31 1982-12-31 磁気探傷方法

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ID=16967920

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JP23424382A Pending JPS59125058A (ja) 1982-12-31 1982-12-31 磁気探傷方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011002409A (ja) * 2009-06-22 2011-01-06 Hara Denshi Sokki Kk 漏洩磁束探傷装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011002409A (ja) * 2009-06-22 2011-01-06 Hara Denshi Sokki Kk 漏洩磁束探傷装置

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