JPS5912212B2 - サイリスタの消弧方式 - Google Patents
サイリスタの消弧方式Info
- Publication number
- JPS5912212B2 JPS5912212B2 JP53074676A JP7467678A JPS5912212B2 JP S5912212 B2 JPS5912212 B2 JP S5912212B2 JP 53074676 A JP53074676 A JP 53074676A JP 7467678 A JP7467678 A JP 7467678A JP S5912212 B2 JPS5912212 B2 JP S5912212B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- reverse bias
- thyristor
- reverse
- anode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
- H03K17/0403—Modifications for accelerating switching in thyristor switches
Landscapes
- Thyristor Switches And Gates (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、所要消弧時間の短縮および消弧手段の簡略
化を図つたサイリスタの消弧方式に関する。
化を図つたサイリスタの消弧方式に関する。
従来のサイリスタは周知のように、アノード・カソード
間を所要時間逆バイアスして消弧するものであわ、この
ような消弧方法ではターンオフタイムが充分短か<なく
、たとえば、10ttSec以下にすることは困難であ
つた。
間を所要時間逆バイアスして消弧するものであわ、この
ような消弧方法ではターンオフタイムが充分短か<なく
、たとえば、10ttSec以下にすることは困難であ
つた。
特に、たとえば、50A以上の電流のサイリス5 夕や
高電圧サイリスタ(たとえば、800V以上)では、タ
ーンオフタイムを短縮することが困難であつた。
高電圧サイリスタ(たとえば、800V以上)では、タ
ーンオフタイムを短縮することが困難であつた。
このため、消弧手段が複雑となサ、また、消弧のために
生ずる損失が大きく、特に、高周波スイッチングに対し
て、この問題が大きかつた。10また、従来ゲートタン
オフサイリスタとして周知のように、ゲートに逆バイア
スをかけることにより、ターンオフできるサイリスタが
ある。
生ずる損失が大きく、特に、高周波スイッチングに対し
て、この問題が大きかつた。10また、従来ゲートタン
オフサイリスタとして周知のように、ゲートに逆バイア
スをかけることにより、ターンオフできるサイリスタが
ある。
しかし、このゲートターンオフサイリスタは、たとえば
、IOA以上の大電流素子を得ることが困難で15ある
とともに、たとえば、600Vの高圧素子をも得ること
が困難であつた。一方、トランジスタは30A程度以上
の中電流で300V以上の高圧化を得るのが困難であり
、静耐圧(VoEoやVOBOなど)としては得られて
20も、高速高周波スイッチング用途には、2次降伏の
問題では実用が困難であつた。
、IOA以上の大電流素子を得ることが困難で15ある
とともに、たとえば、600Vの高圧素子をも得ること
が困難であつた。一方、トランジスタは30A程度以上
の中電流で300V以上の高圧化を得るのが困難であり
、静耐圧(VoEoやVOBOなど)としては得られて
20も、高速高周波スイッチング用途には、2次降伏の
問題では実用が困難であつた。
また、トランジスタはサイリスタに比較すると、許容サ
ージ電流耐量が小さいため、電力スイッチング用には不
適である。したがつて、サイリスタの欠点をトラン25
ジスタで補なうことが困難であつた。この発明は、上
記従来の電力用スイッチング素子の欠点にかんがみなさ
れたもので、サイリスタのアノードとカソード間を逆バ
イアスするとともに、ゲートにも逆バイアスするサイリ
スタの消、弧30方式において、そのゲート逆バイアス
に要する損失を軽減することを目的とする。以下、この
発明に係る一実施例について説明すると、第1図はこの
発明のサイリスタ消弧方式の原理構成を説明するための
接続図であわ、同図の351は直流電源を示し、この電
源1の正・負両極間には負荷2およびサイリスタ3が直
列に接続されている。
ージ電流耐量が小さいため、電力スイッチング用には不
適である。したがつて、サイリスタの欠点をトラン25
ジスタで補なうことが困難であつた。この発明は、上
記従来の電力用スイッチング素子の欠点にかんがみなさ
れたもので、サイリスタのアノードとカソード間を逆バ
イアスするとともに、ゲートにも逆バイアスするサイリ
スタの消、弧30方式において、そのゲート逆バイアス
に要する損失を軽減することを目的とする。以下、この
発明に係る一実施例について説明すると、第1図はこの
発明のサイリスタ消弧方式の原理構成を説明するための
接続図であわ、同図の351は直流電源を示し、この電
源1の正・負両極間には負荷2およびサイリスタ3が直
列に接続されている。
サイリスタ3に並列匡、アノード逆バイアス電源4とア
ノード逆バイアススイツチ5との直列回路が接続されて
おり、このアノード逆バイアス電源4とアノード逆バイ
アススイツチ5とからなる第1逆バイアス手段7が形成
されている。
ノード逆バイアススイツチ5との直列回路が接続されて
おり、このアノード逆バイアス電源4とアノード逆バイ
アススイツチ5とからなる第1逆バイアス手段7が形成
されている。
このアノード逆バイアス電源4は点線で示すように、ア
ノード逆バイアスコンデンサ4aに置換することもでき
る。また、8はサイリスタ3のゲートを逆バイアスする
ための第2の逆バイアス手段であり、サイリスタ3のゲ
ートとカソードに接続されている。
ノード逆バイアスコンデンサ4aに置換することもでき
る。また、8はサイリスタ3のゲートを逆バイアスする
ための第2の逆バイアス手段であり、サイリスタ3のゲ
ートとカソードに接続されている。
次に、この発明の原理となる方式の動作について第2図
を併用して説明すると、同図における時間T,の時点で
、サイリスタ3のゲートに第2図Cに示すように、点弧
パルス1gfを与え、サイリスタ3を点弧させると、第
2図bに示す順方向電流Iafがサイリスタ3に流れる
。この間、サイリスタ3電圧V3は第2図aに示すよう
に、順電圧降下のみとなる。さて、次に、サイリスタ3
を消弧するに当D1第1逆バイアス手段7によシ、サイ
リスタ3のアノードに、アノード逆バイアス電圧Var
(第2図a)を時間T7からT4までの間印加するよう
に、アノード逆バイアススイツチ5を閉成する。
を併用して説明すると、同図における時間T,の時点で
、サイリスタ3のゲートに第2図Cに示すように、点弧
パルス1gfを与え、サイリスタ3を点弧させると、第
2図bに示す順方向電流Iafがサイリスタ3に流れる
。この間、サイリスタ3電圧V3は第2図aに示すよう
に、順電圧降下のみとなる。さて、次に、サイリスタ3
を消弧するに当D1第1逆バイアス手段7によシ、サイ
リスタ3のアノードに、アノード逆バイアス電圧Var
(第2図a)を時間T7からT4までの間印加するよう
に、アノード逆バイアススイツチ5を閉成する。
その後、時間T,でサイリスタ電圧V3はほぼ平常順電
圧AfVC達する。な}、時間T4〜T,は過渡再起順
電圧上昇期間である。そして・時間T2〜T4がアノー
ド逆バイアス時間Tarである。一方、上記のように、
サイリスタ3のアノードに逆バイアス電圧を印加するこ
とによジ、サイリスタ3の電流13は時間T2から逆方
向電流1ar(第2図b)が流れ、蓄積キヤリアを放出
する。そして、この蓄積キヤリアの放出がほぼ終了し、
逆電流1arがほぼ零になつた時間T,〜T4からアノ
ード逆バイアスを終了させて順電圧に移行するとともに
、第2逆バイアス手段8によりゲート逆バイアス電流I
grをサイリスタ3のゲートに流し始める。この時間T
3〜T4はアノード逆バイアスとゲート逆バイアスとの
重なシ期間Tu(第2図c)である。
圧AfVC達する。な}、時間T4〜T,は過渡再起順
電圧上昇期間である。そして・時間T2〜T4がアノー
ド逆バイアス時間Tarである。一方、上記のように、
サイリスタ3のアノードに逆バイアス電圧を印加するこ
とによジ、サイリスタ3の電流13は時間T2から逆方
向電流1ar(第2図b)が流れ、蓄積キヤリアを放出
する。そして、この蓄積キヤリアの放出がほぼ終了し、
逆電流1arがほぼ零になつた時間T,〜T4からアノ
ード逆バイアスを終了させて順電圧に移行するとともに
、第2逆バイアス手段8によりゲート逆バイアス電流I
grをサイリスタ3のゲートに流し始める。この時間T
3〜T4はアノード逆バイアスとゲート逆バイアスとの
重なシ期間Tu(第2図c)である。
この重なり期間Tuはある方が望ましいことは云うまで
もないが、必らずしも必要とせず、Tu=oあるいはT
uく0、すなわち、T3〉(であつてもよい。換言すれ
ば、アノード逆バイアスを終ジ、順方向電圧への移行零
点通過時点T4以後、その直後(T3−T4,tu=o
)または弱干の時間(接合J2が充分回復していないた
めに、再点弧するときの遅れ時間で、数μSec〜数1
0μSec)Tdだけ遅れて(T3〉T4,tU<O)
ゲート逆バイアスしても、この発明の第1義的効果を発
揮することができる。
もないが、必らずしも必要とせず、Tu=oあるいはT
uく0、すなわち、T3〉(であつてもよい。換言すれ
ば、アノード逆バイアスを終ジ、順方向電圧への移行零
点通過時点T4以後、その直後(T3−T4,tu=o
)または弱干の時間(接合J2が充分回復していないた
めに、再点弧するときの遅れ時間で、数μSec〜数1
0μSec)Tdだけ遅れて(T3〉T4,tU<O)
ゲート逆バイアスしても、この発明の第1義的効果を発
揮することができる。
この第1義的効果は後に詳述するが、接合J2が完全に
回復しない状態で一担順電圧を阻止して後、上記弱干の
時間だけ遅れて再びブレークオーバーして再点弧し、消
弧失敗に陥いることを防止することである。
回復しない状態で一担順電圧を阻止して後、上記弱干の
時間だけ遅れて再びブレークオーバーして再点弧し、消
弧失敗に陥いることを防止することである。
これらの点を明瞭にするため【、サイリスタ3の電圧V
3の波形を第3図aに示してあジ、ゲート逆バイアスの
時間的関係を第3図b−jに示している。
3の波形を第3図aに示してあジ、ゲート逆バイアスの
時間的関係を第3図b−jに示している。
このうち第3図B,cは順バイアス開始時点T4の前後
に跨つてゲート逆バイアスしたものであシ、第3図D,
eは順バイアス開始時点T4直後からゲート逆バイアス
したものである。
に跨つてゲート逆バイアスしたものであシ、第3図D,
eは順バイアス開始時点T4直後からゲート逆バイアス
したものである。
また、第3図fは時点T4より遅れて時点Tdよ勺ゲー
ト逆バイアスしたものであり、同図のgは前後に分れて
、ゲート逆バイアスしたもの、そして、同図のh−jは
それぞれ上記第3図B,c,fに対応させて、パルス列
でゲート逆バイアスさせたものである。このように、順
電圧再印加後の再点弧(プレークオーバ)は、相当な時
間遅れをもつて生じる場合も多いので、パルス列で逆バ
イアスしても、充分な再点弧防止効果がある。
ト逆バイアスしたものであり、同図のgは前後に分れて
、ゲート逆バイアスしたもの、そして、同図のh−jは
それぞれ上記第3図B,c,fに対応させて、パルス列
でゲート逆バイアスさせたものである。このように、順
電圧再印加後の再点弧(プレークオーバ)は、相当な時
間遅れをもつて生じる場合も多いので、パルス列で逆バ
イアスしても、充分な再点弧防止効果がある。
このパルス列逆バイアス法では、ゲート逆バイアス手段
の主回路との絶縁手段(パルストランス類)を小型化で
きる。これらに共通することは、少なくとも、順電圧印
加開始時点T4以後、少なくとも再点弧遅れ時点Td以
前Kゲート逆バイアスをかける点である。さらに、ここ
で重要なのは、アノード逆バイアスの終了後(再起順電
圧印加開始時T4以後)もゲート逆バイアスを時点T6
までかけ続けることである。以上のように、ゲート逆バ
イアス時間Tgrは時点T2−T6間にある。そして、
この発明の特徴は、順電圧印加後逆バイアス電流を漸減
させることであジ、次にこれらの特徴に関して詳述する
。
の主回路との絶縁手段(パルストランス類)を小型化で
きる。これらに共通することは、少なくとも、順電圧印
加開始時点T4以後、少なくとも再点弧遅れ時点Td以
前Kゲート逆バイアスをかける点である。さらに、ここ
で重要なのは、アノード逆バイアスの終了後(再起順電
圧印加開始時T4以後)もゲート逆バイアスを時点T6
までかけ続けることである。以上のように、ゲート逆バ
イアス時間Tgrは時点T2−T6間にある。そして、
この発明の特徴は、順電圧印加後逆バイアス電流を漸減
させることであジ、次にこれらの特徴に関して詳述する
。
第4図は上記第2図の動作波形に対する各期間の接続状
態を示すモード原理図であり、同図VC.}いて、サイ
リスタ3は少なくともPNPN4層構造をもち、それぞ
れアノード電極A1カソード電極K1ゲート電極Gを有
する。
態を示すモード原理図であり、同図VC.}いて、サイ
リスタ3は少なくともPNPN4層構造をもち、それぞ
れアノード電極A1カソード電極K1ゲート電極Gを有
する。
な訃、同図はカソード側ゲート(Pゲート)の場合を示
し、アノード側ゲート(Nゲート)の場合は、第1のN
層(N1 )にゲート電極を設けるが、以下、Pゲート
のサイリスタについて述べる。
し、アノード側ゲート(Nゲート)の場合は、第1のN
層(N1 )にゲート電極を設けるが、以下、Pゲート
のサイリスタについて述べる。
この第4図に訃いて、まず第4図aの場合は、第2図に
訃ける時間T,〜T3の状態でアノード逆バイアス電圧
Arのみが印加される。そして、この間、接合Jl,J
3のそれぞれの近傍のキヤリアを放出し、逆電流1rと
して現われる。この接合Jl,J3近傍のキヤリアが放
出され Jると、逆電圧を接合Jl,J3で分担し、こ
れを阻止する。Lかし、まだ、接合J2近傍のキヤリア
は残存し、再結合を待たないと、順方向阻止能力を回復
しない。(従来のアノード逆バイアスのみによるターン
オフでは、上記再結合完了までに 二要する時間が長く
、これが所要ターンオフタイムの大部分を決定していた
訳である。)次に、時間T3〜T4の重なり時間Tu中
の接続モードを第4図bに示す。
訃ける時間T,〜T3の状態でアノード逆バイアス電圧
Arのみが印加される。そして、この間、接合Jl,J
3のそれぞれの近傍のキヤリアを放出し、逆電流1rと
して現われる。この接合Jl,J3近傍のキヤリアが放
出され Jると、逆電圧を接合Jl,J3で分担し、こ
れを阻止する。Lかし、まだ、接合J2近傍のキヤリア
は残存し、再結合を待たないと、順方向阻止能力を回復
しない。(従来のアノード逆バイアスのみによるターン
オフでは、上記再結合完了までに 二要する時間が長く
、これが所要ターンオフタイムの大部分を決定していた
訳である。)次に、時間T3〜T4の重なり時間Tu中
の接続モードを第4図bに示す。
この場合、時間T2一T3すなわち、゛アノード逆バイ
アスとゲート逆バイアスとを同時に加えるようにしても
よいことは云うまでもない。いま、この第4図bの状態
に卦いては、アノード逆バイアスVarにて、上記接合
Jl,J3近傍の残存キヤリアの放出を継続している。
アスとゲート逆バイアスとを同時に加えるようにしても
よいことは云うまでもない。いま、この第4図bの状態
に卦いては、アノード逆バイアスVarにて、上記接合
Jl,J3近傍の残存キヤリアの放出を継続している。
少なくとも、第4図aの状態で、まだ残存していた接合
Jl,J3近傍の弱干のキヤリアを放出する。他方、ゲ
ート逆バイアスJgrによつて、上記接合J2近傍の多
量の残存キヤリアを放出させようとする。ところが、も
し、T2−T3とすれば、すなわち、最初からアノード
逆バイアスとゲート逆バイアスとを同時に行なつたよう
な場合、(少なくとも、接合Jl,J3近傍のキヤリア
が多量に残存し、逆電流1arが流れ、逆方向阻止能力
をまだ充分回復していない時点でゲート逆バイアスを開
始した場合)、アノード逆バイアスによるアノード逆電
流1arが接合J2を順バイアスしてしまい、ゲート逆
バイアスの目的たる接合J2のキヤリアの放出(接合J
2の阻止能力回復)は不可能になる。また、ゲート電極
が配置された近傍では、カソード端子K一第2逆バイア
ス手段8−ゲート電極G一第2P層P2一第1N層N1
一第1P層P1−アノード電極A一第1逆バイアス手段
7を通るルーブによつても接合J2が順バイアスされる
。
Jl,J3近傍の弱干のキヤリアを放出する。他方、ゲ
ート逆バイアスJgrによつて、上記接合J2近傍の多
量の残存キヤリアを放出させようとする。ところが、も
し、T2−T3とすれば、すなわち、最初からアノード
逆バイアスとゲート逆バイアスとを同時に行なつたよう
な場合、(少なくとも、接合Jl,J3近傍のキヤリア
が多量に残存し、逆電流1arが流れ、逆方向阻止能力
をまだ充分回復していない時点でゲート逆バイアスを開
始した場合)、アノード逆バイアスによるアノード逆電
流1arが接合J2を順バイアスしてしまい、ゲート逆
バイアスの目的たる接合J2のキヤリアの放出(接合J
2の阻止能力回復)は不可能になる。また、ゲート電極
が配置された近傍では、カソード端子K一第2逆バイア
ス手段8−ゲート電極G一第2P層P2一第1N層N1
一第1P層P1−アノード電極A一第1逆バイアス手段
7を通るルーブによつても接合J2が順バイアスされる
。
そして、第1逆バイアス手段7が第2逆バイアス手段8
1tc.打ち勝つて、ゲート電流1gが順方向となる事
態も生じる。したがつて、接合Jl,J3の回復以前、
すなわち、アノード逆電流1arが充分減少しない以前
にゲート逆バイアスすることは無駄となV1ゲート逆バ
イアス回路装置の損失となる。
1tc.打ち勝つて、ゲート電流1gが順方向となる事
態も生じる。したがつて、接合Jl,J3の回復以前、
すなわち、アノード逆電流1arが充分減少しない以前
にゲート逆バイアスすることは無駄となV1ゲート逆バ
イアス回路装置の損失となる。
換言すれば、最も有効なゲート逆バイアスは、アノード
逆方向電流Jarが十分減少してから印力Dすることで
あり1アノード逆バイアス開始時点T2よ勺もゲート逆
バイアス時点T3を遅らせると良い。次に、同じ第4図
bのモードに訃いて、アノード逆バイアスによるアノー
ド逆電流1arが充分小さくなり、接合Jl,J3が逆
方向阻止能力を充分回復した後について説明する。
逆方向電流Jarが十分減少してから印力Dすることで
あり1アノード逆バイアス開始時点T2よ勺もゲート逆
バイアス時点T3を遅らせると良い。次に、同じ第4図
bのモードに訃いて、アノード逆バイアスによるアノー
ド逆電流1arが充分小さくなり、接合Jl,J3が逆
方向阻止能力を充分回復した後について説明する。
接合Jl,J3が回復した場合には、接合J1での逆電
圧分担がアノード逆電圧Arとゲート逆電圧Grとの差
(Ar−Vgr)以上に達したとき、すなわち、N1層
の接合J2面領域の電位がP2層(ゲート層)の電位よ
りも低下した時に、はじめて接合J2が逆バイアスされ
て、接合J2近傍の多量の残存キヤリアを放出させ、接
合J2の逆方向回復(すなわち、順方向阻止能力の回復
)が行なわれる。
圧分担がアノード逆電圧Arとゲート逆電圧Grとの差
(Ar−Vgr)以上に達したとき、すなわち、N1層
の接合J2面領域の電位がP2層(ゲート層)の電位よ
りも低下した時に、はじめて接合J2が逆バイアスされ
て、接合J2近傍の多量の残存キヤリアを放出させ、接
合J2の逆方向回復(すなわち、順方向阻止能力の回復
)が行なわれる。
以上の説明から明らかなように、ゲート逆バイアスによ
る接合J2層のキヤリア放出とその回復(すなわち、順
方向阻止能力の回復、換言すれば、ターンオフ)は、特
にアノード逆バイアスによる接合J1層の回復に大きく
依存し、少なくともゲート逆バイアスの観点(接合J2
の回復)から見た場合、アノード逆バイアスは接合J2
を常に順バイアスする方向に作用し、接合J2の回復を
妨げる。
る接合J2層のキヤリア放出とその回復(すなわち、順
方向阻止能力の回復、換言すれば、ターンオフ)は、特
にアノード逆バイアスによる接合J1層の回復に大きく
依存し、少なくともゲート逆バイアスの観点(接合J2
の回復)から見た場合、アノード逆バイアスは接合J2
を常に順バイアスする方向に作用し、接合J2の回復を
妨げる。
即ちアノード逆バイアスをせずに、VarOとして、ゲ
ート逆バイアスをする場合に対比すると、アノード逆バ
イアスを併用する場合はそのアノード逆バイアスがゲー
ト逆バイアスによる接合J2の回復に対して障害になつ
ている。したがつて、第2図にあ・いて、逆方向電流I
arが充分小さくなつて後(時点T3以後)、一担アノ
ード逆バイアス電圧をZerO(サイリスタのアノード
・カソード間短絡)とする期間を設け、この間にゲート
逆バイアスをかけて、接合J2を回復させることが最も
理想的である。
ート逆バイアスをする場合に対比すると、アノード逆バ
イアスを併用する場合はそのアノード逆バイアスがゲー
ト逆バイアスによる接合J2の回復に対して障害になつ
ている。したがつて、第2図にあ・いて、逆方向電流I
arが充分小さくなつて後(時点T3以後)、一担アノ
ード逆バイアス電圧をZerO(サイリスタのアノード
・カソード間短絡)とする期間を設け、この間にゲート
逆バイアスをかけて、接合J2を回復させることが最も
理想的である。
あるいは、逆方向電圧から順方向電圧への移行をゆるや
かにし、ゲート逆バイアス電圧Vgrよりもアノード・
カソード間電圧V3(その絶対値)が小さい期間{({
(Gr−1V3:)〉Oの期間}を長くして、この期間
中にゲート逆バイアスすることが望ましい。したがつて
、第1図においてサイリスタ3VC.点線で示すように
逆並列ダイオード3aを設けるのが有効である。特にサ
イリスタ3が逆方向回復するに要する時間Trよ勺も導
通開始が遅れるダイオードまたは弱干のインピーダンス
を外部接続したダイオードあるいは順電圧降下の比較的
大きいダイオード等を接続することが最もよい。次に、
アノード逆バイアスを終了し、ゲート逆バイアスのみの
期間(T4−Ts)のモードを第4図Cに示す。第4図
cにおいては、負荷電源回路電圧Va一第1P層P1一
第1N7i1N1一第2pfap2−ゲート逆電圧8の
回路が形成される。従つて接合J2が完全に回復してい
ない状態であつても、接合J2の回復していないことに
よる漏れ電流をゲートを介してゲート逆バイアス電流と
してゲートへ引き出すことができる。かくして接合J,
へキヤリアが達する量を減少させ、NlP2−N,部分
のトランジスタの電流増幅率α,を低下させ、再び順方
向導通になるのを防ぐことができる。すなわち、従来は
キヤリアが少量になつた後、順方向再点弧を避けるため
には、素子内部での極めて長い再結合時間を要していた
が、順電圧開始後までゲート逆バイアス期間を糞長する
ことによシ、上記長い所要時間を短縮でき、従来のサイ
リスタのターンオフタイムの内の大部分を占めていた再
結合時間を無くすることができる。
かにし、ゲート逆バイアス電圧Vgrよりもアノード・
カソード間電圧V3(その絶対値)が小さい期間{({
(Gr−1V3:)〉Oの期間}を長くして、この期間
中にゲート逆バイアスすることが望ましい。したがつて
、第1図においてサイリスタ3VC.点線で示すように
逆並列ダイオード3aを設けるのが有効である。特にサ
イリスタ3が逆方向回復するに要する時間Trよ勺も導
通開始が遅れるダイオードまたは弱干のインピーダンス
を外部接続したダイオードあるいは順電圧降下の比較的
大きいダイオード等を接続することが最もよい。次に、
アノード逆バイアスを終了し、ゲート逆バイアスのみの
期間(T4−Ts)のモードを第4図Cに示す。第4図
cにおいては、負荷電源回路電圧Va一第1P層P1一
第1N7i1N1一第2pfap2−ゲート逆電圧8の
回路が形成される。従つて接合J2が完全に回復してい
ない状態であつても、接合J2の回復していないことに
よる漏れ電流をゲートを介してゲート逆バイアス電流と
してゲートへ引き出すことができる。かくして接合J,
へキヤリアが達する量を減少させ、NlP2−N,部分
のトランジスタの電流増幅率α,を低下させ、再び順方
向導通になるのを防ぐことができる。すなわち、従来は
キヤリアが少量になつた後、順方向再点弧を避けるため
には、素子内部での極めて長い再結合時間を要していた
が、順電圧開始後までゲート逆バイアス期間を糞長する
ことによシ、上記長い所要時間を短縮でき、従来のサイ
リスタのターンオフタイムの内の大部分を占めていた再
結合時間を無くすることができる。
しかもゲートターンオフサイリスタのようにゲートに逆
バイアスをかけることのみに全てを頼つていた場合に比
較して、多量のキヤリアの大部分を放出した後であるか
ら、所要ゲート逆バイアス電流は小さくて済むことVC
なる。以上のように、順方向電圧印加開始時点T4以後
までゲート逆バイアスをかけたのがこの発明の第1義的
な特徴であ抵最も基本となる骨旨である次に、さらに具
体的な応用例について述べる。
バイアスをかけることのみに全てを頼つていた場合に比
較して、多量のキヤリアの大部分を放出した後であるか
ら、所要ゲート逆バイアス電流は小さくて済むことVC
なる。以上のように、順方向電圧印加開始時点T4以後
までゲート逆バイアスをかけたのがこの発明の第1義的
な特徴であ抵最も基本となる骨旨である次に、さらに具
体的な応用例について述べる。
第5図はこの発明をよシ効果的に実現するのに適したサ
イリスタの構造を示し、ベーシツクエレメントの概念構
造図であシ、第5図aはページジグエレメントのカソー
ド側面図であつて、放射状パターンの斜線部がゲート電
極コンタクト面、その周囲余白部がカソード電極コンタ
クト面である。そして、実線はその境界を示す。また、
第5図bは第5図Af)X−X線に沿つて切断した断面
構造概念図である。
イリスタの構造を示し、ベーシツクエレメントの概念構
造図であシ、第5図aはページジグエレメントのカソー
ド側面図であつて、放射状パターンの斜線部がゲート電
極コンタクト面、その周囲余白部がカソード電極コンタ
クト面である。そして、実線はその境界を示す。また、
第5図bは第5図Af)X−X線に沿つて切断した断面
構造概念図である。
斜線部のEaがアノード電極、Ekはカソード電極、P
bの符号の部分はそれぞれアノード.カソード・ゲート
のメタライズされた電極コンタクト層である。さらに、
アノード側p+とPとが第1P層Pl,Nが第1N層(
ベース層)Nl,次のPが第2P11P2、ゲート側p
+がゲート層、カソード側のN+が第2N層N2である
。このように、全面に広がV1カソード電極に対して入
勺組んだゲート電極のパターンを持たせることにより、
最も重要な第4図cのモードでの順方向漏れ電流のゲー
トへの誘引吸収および電流増幅作用の抑止作用を効果的
に行なうことができる。
bの符号の部分はそれぞれアノード.カソード・ゲート
のメタライズされた電極コンタクト層である。さらに、
アノード側p+とPとが第1P層Pl,Nが第1N層(
ベース層)Nl,次のPが第2P11P2、ゲート側p
+がゲート層、カソード側のN+が第2N層N2である
。このように、全面に広がV1カソード電極に対して入
勺組んだゲート電極のパターンを持たせることにより、
最も重要な第4図cのモードでの順方向漏れ電流のゲー
トへの誘引吸収および電流増幅作用の抑止作用を効果的
に行なうことができる。
さて、第6図はこの発明の方式によるゲート逆バイアス
に関する詳細な一実施例を示す図であシ、直流電源1の
正.負両極間には負荷2とサイリスタ3とが直列に接続
されて}り、サイリスタ3のアノードとカソード間には
第1逆バイアス手段7が接続されている。符号8は第1
図の場合と同様にして、第2逆バイアス手段を示し、こ
の第2逆バイアス手段8はゲート逆バイアスパルス発生
手段10およびゲート逆バイアスゲート回路20で構成
されている。
に関する詳細な一実施例を示す図であシ、直流電源1の
正.負両極間には負荷2とサイリスタ3とが直列に接続
されて}り、サイリスタ3のアノードとカソード間には
第1逆バイアス手段7が接続されている。符号8は第1
図の場合と同様にして、第2逆バイアス手段を示し、こ
の第2逆バイアス手段8はゲート逆バイアスパルス発生
手段10およびゲート逆バイアスゲート回路20で構成
されている。
このうち、前者のゲート逆バイアスパルス発生手段10
はゲート逆バイアス電源41とゲート逆バイアススイツ
チ42とからなつており、またゲート逆バイアスゲート
回路20はサイリスタ3のゲートCに接続された誘導要
素11およびゲート逆電流ダイオード12とから構成さ
れている。第7図は第6図の回路における消弧動作波形
を示す図であ勺、同図Af)V3,vlOOはサイリス
タ3のアノード.カソード間電圧で、時点T2にてアノ
ード逆バイアスを開始し、時点T4で終了すyるものと
する。
はゲート逆バイアス電源41とゲート逆バイアススイツ
チ42とからなつており、またゲート逆バイアスゲート
回路20はサイリスタ3のゲートCに接続された誘導要
素11およびゲート逆電流ダイオード12とから構成さ
れている。第7図は第6図の回路における消弧動作波形
を示す図であ勺、同図Af)V3,vlOOはサイリス
タ3のアノード.カソード間電圧で、時点T2にてアノ
ード逆バイアスを開始し、時点T4で終了すyるものと
する。
これに対して、ゲート逆バイアスパルス発生器10は時
点T2からT5までゲート逆バイアススイツチ42をオ
ンして、第7図BVC.示すようK逆パルス電圧V,O
を発生することに、時点T4とT5とは少々の前後があ
つてもよい。
点T2からT5までゲート逆バイアススイツチ42をオ
ンして、第7図BVC.示すようK逆パルス電圧V,O
を発生することに、時点T4とT5とは少々の前後があ
つてもよい。
さて、上記逆パルス電圧V,Oが印加されている期間中
に、逆ゲート電流1gr1すなわち、誘導要素11の電
流111(第7図c)が増加してゆき、時点T5(逆パ
ルス電圧V5が消滅した時点)で最大値に達する。
に、逆ゲート電流1gr1すなわち、誘導要素11の電
流111(第7図c)が増加してゆき、時点T5(逆パ
ルス電圧V5が消滅した時点)で最大値に達する。
そして、時点T,以後は、ゲート逆電流1gr=Ill
はダイオード12へ転流し、誘導要素11の作用で逆ゲ
ート電流が時点T6まで延長され、それまでゆるやかに
減少して行く。このようにすることによ抵前に詳述した
ごとく、最もゲート逆バイアス効果の大きい、順方向再
印加開始時点T4近傍において、大きい逆電流を確保し
、かつ順方向阻止に最も効果の大きい順方向電圧印加後
までゲート逆バイアスを引き延ばし且つそれを漸減させ
ることができる。また、ゲート逆バイアスゲート回路2
0に直列抵抗がなくても、その逆ゲート電流が誘導要素
11と逆パルス印加電圧10の電圧時間積とで決定され
る。
はダイオード12へ転流し、誘導要素11の作用で逆ゲ
ート電流が時点T6まで延長され、それまでゆるやかに
減少して行く。このようにすることによ抵前に詳述した
ごとく、最もゲート逆バイアス効果の大きい、順方向再
印加開始時点T4近傍において、大きい逆電流を確保し
、かつ順方向阻止に最も効果の大きい順方向電圧印加後
までゲート逆バイアスを引き延ばし且つそれを漸減させ
ることができる。また、ゲート逆バイアスゲート回路2
0に直列抵抗がなくても、その逆ゲート電流が誘導要素
11と逆パルス印加電圧10の電圧時間積とで決定され
る。
そして、点弧ゲート電流に比べて大きいゲート電流を要
するゲート逆バイアスに関し、その問題となる所要ゲー
ト逆バイアス電力消費を極めて小さくすることができる
。さらに、電圧極性が反対の点弧ゲートパルスの印カロ
に対し、誘導要素11が高インピーダンスとして働き、
点弧ゲート電流の分流を阻止できる。
するゲート逆バイアスに関し、その問題となる所要ゲー
ト逆バイアス電力消費を極めて小さくすることができる
。さらに、電圧極性が反対の点弧ゲートパルスの印カロ
に対し、誘導要素11が高インピーダンスとして働き、
点弧ゲート電流の分流を阻止できる。
さて、第8図はアノード逆バイアス手段をも含めたこの
発明の方式の他の実施例を示すもので、この実施例では
第6図に示した実施例におけるゲート逆バイアスパルス
発生手段10をアノード逆バイアス手段7で兼用したも
のである。この第8図において、電源1の正・負両極間
には、負荷2訃よびサイリスタ3が直列に接続されてお
り1負荷2に並列にダイオード9が接続されている。
発明の方式の他の実施例を示すもので、この実施例では
第6図に示した実施例におけるゲート逆バイアスパルス
発生手段10をアノード逆バイアス手段7で兼用したも
のである。この第8図において、電源1の正・負両極間
には、負荷2訃よびサイリスタ3が直列に接続されてお
り1負荷2に並列にダイオード9が接続されている。
また、第1逆バイアス手段7に卦ける4bは第1図で示
したアノード逆バイアス電源4に代る消弧コンデンサで
あジ、5はアノード逆バイアススイツチであり、この実
施例では消弧サイリスタが使用されている。
したアノード逆バイアス電源4に代る消弧コンデンサで
あジ、5はアノード逆バイアススイツチであり、この実
施例では消弧サイリスタが使用されている。
lθ
この消弧コンデンサ4bとアノード逆パイアススイツチ
5との直列回路はサイリスタ3に並列に接続されている
。
5との直列回路はサイリスタ3に並列に接続されている
。
アノード逆バイアススイツチ5に並列に、ダイオード1
3およびリアクトル14との直列回路が接続されて}り
、かくして、全体を符号7で示すように第1逆バイアス
手段が形成されている。サイリスタ31fC.並列にダ
イオード12および12aが逆極性で接続されてお低両
ダイオード12と12aとの接続点より誘導要素11を
経てサイリスタ3のゲートに接続されている。
3およびリアクトル14との直列回路が接続されて}り
、かくして、全体を符号7で示すように第1逆バイアス
手段が形成されている。サイリスタ31fC.並列にダ
イオード12および12aが逆極性で接続されてお低両
ダイオード12と12aとの接続点より誘導要素11を
経てサイリスタ3のゲートに接続されている。
かくして、点線で示すようにゲート逆バイアスゲート回
路20が構成されている。さて、この第8図において、
上記消弧コンデンサ4bはサイリスタ3がオフの時に、
アノード逆バイアススイツチ5を介して図示とは逆極性
に充電され、サイリスタ3をオンした時に、リアクトル
14−ダイオード13一消弧コンデンサ4b一サイリス
タ3を介して図示の極性に反転して充電される。
路20が構成されている。さて、この第8図において、
上記消弧コンデンサ4bはサイリスタ3がオフの時に、
アノード逆バイアススイツチ5を介して図示とは逆極性
に充電され、サイリスタ3をオンした時に、リアクトル
14−ダイオード13一消弧コンデンサ4b一サイリス
タ3を介して図示の極性に反転して充電される。
次Vこ、消弧すべき時に、時点T2で消弧サイリスタ、
すなわち、アノード逆バイアススイツチ5をオンにする
と、消弧コンデンサ4bの図示の極性の電圧がサイリス
タ3のアノードを逆バイアスする。
すなわち、アノード逆バイアススイツチ5をオンにする
と、消弧コンデンサ4bの図示の極性の電圧がサイリス
タ3のアノードを逆バイアスする。
そして、さらに、サイリスタ3のカソードK−ゲートG
一誘導要素11・・・ダイオード12aを介してアノー
ド逆電圧3がゲート逆パルス電圧VlOとして印加され
、その逆ゲート電流1grが増大する。fなわち、第9
図の時点T2〜T4までの波形のごとくである。消弧コ
ンデンサ4bが負荷電流により、図示とは逆極性方向に
充電されてくると、アノード電圧V3は順方向へ移行し
、電源1の電圧E1に達する。
一誘導要素11・・・ダイオード12aを介してアノー
ド逆電圧3がゲート逆パルス電圧VlOとして印加され
、その逆ゲート電流1grが増大する。fなわち、第9
図の時点T2〜T4までの波形のごとくである。消弧コ
ンデンサ4bが負荷電流により、図示とは逆極性方向に
充電されてくると、アノード電圧V3は順方向へ移行し
、電源1の電圧E1に達する。
この順方向電圧印加開始時点T4以後はダイオード12
が通電し、逆ゲート電流1grが漸減時続される。
が通電し、逆ゲート電流1grが漸減時続される。
かくして、第9図bの波形Bのごとき、逆電流を時点T
6まで漸減持続できる。そして、先に詳述したように効
果的にゲート逆バイアスを達成するものであるとともに
、ゲート逆バイアス手段を簡略化できるものである。さ
らに、第8図において、アノード逆バイアス電圧V3が
第9図のaに示すように、ゆるやかに順方向電圧が上昇
するので、ダイオード12を除いても、ほぼ満足な消弧
効果を達成できる。
6まで漸減持続できる。そして、先に詳述したように効
果的にゲート逆バイアスを達成するものであるとともに
、ゲート逆バイアス手段を簡略化できるものである。さ
らに、第8図において、アノード逆バイアス電圧V3が
第9図のaに示すように、ゆるやかに順方向電圧が上昇
するので、ダイオード12を除いても、ほぼ満足な消弧
効果を達成できる。
すなわち、この場合の逆ゲート電流1grは同図bの点
線Aで示すごとく、最大順醒圧到達時点T5まで逆ゲー
ト電流を漸減持続し、期間(T4〜T5)を充分長くで
きる。さて、第10図はこの発明の他の実施例を説明す
るための回路図であり、この実施例も、第8図の実施例
と同様に第1逆バイアス手段7およびゲート逆バイアス
パルス発生手段10をアノード逆バイアス手段で兼用し
ているが、ゲート逆バイアスゲート回路20に訃いて接
続関係が第8図の場合と少々異なつている。
線Aで示すごとく、最大順醒圧到達時点T5まで逆ゲー
ト電流を漸減持続し、期間(T4〜T5)を充分長くで
きる。さて、第10図はこの発明の他の実施例を説明す
るための回路図であり、この実施例も、第8図の実施例
と同様に第1逆バイアス手段7およびゲート逆バイアス
パルス発生手段10をアノード逆バイアス手段で兼用し
ているが、ゲート逆バイアスゲート回路20に訃いて接
続関係が第8図の場合と少々異なつている。
すなわち、サイリスタ3に並列に、ダイオード12a1
充電抵抗15およびコンデンサ16との直列回路が接続
されており、この充電抵抗15とコンデンサ16との接
続点より抵抗17を介してサイリスタ3のゲートに接続
されている。
充電抵抗15およびコンデンサ16との直列回路が接続
されており、この充電抵抗15とコンデンサ16との接
続点より抵抗17を介してサイリスタ3のゲートに接続
されている。
充電抵抗15は上記コンデンサ16をサイリスタ3のア
ノード逆バイアス期間(T2−T4)(第11図)中に
次電させるためのものであり、アノード逆バイアス期間
中に、コンデンサ16が図示の極性に充電され、その電
荷で、アノード順電圧再印加後までゲート逆バイアスを
漸減持続できる。
ノード逆バイアス期間(T2−T4)(第11図)中に
次電させるためのものであり、アノード逆バイアス期間
中に、コンデンサ16が図示の極性に充電され、その電
荷で、アノード順電圧再印加後までゲート逆バイアスを
漸減持続できる。
このようにすることによ抵上記実施例同様の効果を得る
ことができる。上記第8図卦よび第10図の実施例の要
約構成図を第12図に示す。
ことができる。上記第8図卦よび第10図の実施例の要
約構成図を第12図に示す。
この第12図VC.}いて、20はサイリスタ3の端子
電圧の逆方向端子電圧を入力として、エネルギ蓄積(積
分要素である誘導要素11又はコンデンサ15を有する
)し、これをサイリスタ3のゲートに逆バイアスとして
与えるゲート逆バイアス用エネルギ蓄積要素であV1上
記ゲート逆バイアスゲート回路20VC.相当するもの
で、端子1Nは入力端子、0UTは出力端子、COMは
入出力共通端子である。第13図}よび第14図はそれ
ぞれこの発明の他の実施例を示す回路図であり1パルス
電流によるアノード逆バイアス手段7を用いたものVC
.訃いて、そのアノード逆電流パルスをゲート逆バイア
スパルス発生手段10に兼用したものである。
電圧の逆方向端子電圧を入力として、エネルギ蓄積(積
分要素である誘導要素11又はコンデンサ15を有する
)し、これをサイリスタ3のゲートに逆バイアスとして
与えるゲート逆バイアス用エネルギ蓄積要素であV1上
記ゲート逆バイアスゲート回路20VC.相当するもの
で、端子1Nは入力端子、0UTは出力端子、COMは
入出力共通端子である。第13図}よび第14図はそれ
ぞれこの発明の他の実施例を示す回路図であり1パルス
電流によるアノード逆バイアス手段7を用いたものVC
.訃いて、そのアノード逆電流パルスをゲート逆バイア
スパルス発生手段10に兼用したものである。
このうち、まず、第13図の実施例から述べると、サイ
リスタ3に逆並列にダイオード31が接続されており、
第1逆バイアス手段7はコンデンサ4b1リアクトル1
4、アノード逆バイアススイツチ(サイリスタ)5との
直列回路がサイリスタ3に並列に接続されており、アノ
ード逆バイアススイツチ5に逆並列にダイオード13が
接続されている。一方、ゲート逆バイアスゲート回路2
0はパルス変流器18、ダイオード12}よび誘導要素
11から構成されており、パルス変流器18はコンデン
サ4bとサイリスタ3のアノードとの接続点間に配設さ
れ、その一端はサイリスタ3のカソードに直結され、ま
た、他端はダイオード12を介してサイリスタ12のカ
ソードに接続されているダイオード12のアノードとサ
イリスタ3のゲート間には誘導要素11が接続されてい
る。
リスタ3に逆並列にダイオード31が接続されており、
第1逆バイアス手段7はコンデンサ4b1リアクトル1
4、アノード逆バイアススイツチ(サイリスタ)5との
直列回路がサイリスタ3に並列に接続されており、アノ
ード逆バイアススイツチ5に逆並列にダイオード13が
接続されている。一方、ゲート逆バイアスゲート回路2
0はパルス変流器18、ダイオード12}よび誘導要素
11から構成されており、パルス変流器18はコンデン
サ4bとサイリスタ3のアノードとの接続点間に配設さ
れ、その一端はサイリスタ3のカソードに直結され、ま
た、他端はダイオード12を介してサイリスタ12のカ
ソードに接続されているダイオード12のアノードとサ
イリスタ3のゲート間には誘導要素11が接続されてい
る。
いま、この第13図に訃いて、すでに詳述したように、
ダイオード31でゲート逆バイアスの作用効果(アノー
ド逆バイアス期間中のゲート逆バイアスによる接合J2
近傍のキヤリア放出とその阻止能力を回復させる作用効
果)を助け、アノード逆バイアスがゲート逆バイアスに
よる回復を妨げることを抑止する。また、アノード逆バ
イアス手段、すなわち、第1逆バイアス手段7において
も、アノード逆バイアススイツチ6の投入時にも、リア
クトル14とコンデンサ7とが直列に接続され、共振作
用を呈し、その共振パルス電流1pがサイリスタ3と逆
並列のダイオード31をバイアスする。
ダイオード31でゲート逆バイアスの作用効果(アノー
ド逆バイアス期間中のゲート逆バイアスによる接合J2
近傍のキヤリア放出とその阻止能力を回復させる作用効
果)を助け、アノード逆バイアスがゲート逆バイアスに
よる回復を妨げることを抑止する。また、アノード逆バ
イアス手段、すなわち、第1逆バイアス手段7において
も、アノード逆バイアススイツチ6の投入時にも、リア
クトル14とコンデンサ7とが直列に接続され、共振作
用を呈し、その共振パルス電流1pがサイリスタ3と逆
並列のダイオード31をバイアスする。
この時、パルス変流器18が図示極性のパルス電圧Vl
Oをパルス変流器18の出力側に発生し、以下、第8図
の実施例の場合と同様に漸減持続させたゲート逆バイア
ス作用を行なう。
Oをパルス変流器18の出力側に発生し、以下、第8図
の実施例の場合と同様に漸減持続させたゲート逆バイア
ス作用を行なう。
一方、第14図の実施例の場合VC.訃ける、第1逆バ
イアス手段は、サイリスタ3に並列に、リアクトル14
、アノード逆バイアススイツチ(この場合はダイオード
)およびコンデンサ4bとの直列回路が接続されている
とともに、上記第13図におけるダイオード1・3に代
えてサイリスタ13aがアノード逆バイアススイツチ5
に逆並列接続されている。
イアス手段は、サイリスタ3に並列に、リアクトル14
、アノード逆バイアススイツチ(この場合はダイオード
)およびコンデンサ4bとの直列回路が接続されている
とともに、上記第13図におけるダイオード1・3に代
えてサイリスタ13aがアノード逆バイアススイツチ5
に逆並列接続されている。
また、ゲート逆バイアスゲート回路20は、抵抗15,
17,コンデンサ19}よびパルス変流器18からなる
もので、サイリスタ3のゲートとカソード間に、抵抗1
7とコンデンサ19とが直列に接続されておジ、コンデ
ンサ19に並列に抵抗15を介してパルス変流器18の
出力側が接続され、さらに、このパルス変流器18はサ
イリスタ3のカソードとコンデンサ4b間に設けられて
いる。
17,コンデンサ19}よびパルス変流器18からなる
もので、サイリスタ3のゲートとカソード間に、抵抗1
7とコンデンサ19とが直列に接続されておジ、コンデ
ンサ19に並列に抵抗15を介してパルス変流器18の
出力側が接続され、さらに、このパルス変流器18はサ
イリスタ3のカソードとコンデンサ4b間に設けられて
いる。
この第14図に}いて、図より明らかなように、ゲート
逆バイアス用エネルギ蓄積要素として、コンデンサ19
を使用した点が第13図と異なるもので、他は第13図
と同じである。
逆バイアス用エネルギ蓄積要素として、コンデンサ19
を使用した点が第13図と異なるもので、他は第13図
と同じである。
これら第13図および第14図の実施例では、第10図
の実施例におけるダイオード12aに代つてパルス変流
器18が、アノード逆バイアス手段からゲート逆バイア
スエネルギを取出す入力作用を行なう。
の実施例におけるダイオード12aに代つてパルス変流
器18が、アノード逆バイアス手段からゲート逆バイア
スエネルギを取出す入力作用を行なう。
そして、この場合の要約図が第15図に示されている。
この第15図において、INl,IN2は入力端子で、
パルス変流器18を用いると、入出力間の絶縁が可能な
ので、アノード逆バイアスパルス電流ループ中の任意の
電路に挿入できることは云うまでもない。
この第15図において、INl,IN2は入力端子で、
パルス変流器18を用いると、入出力間の絶縁が可能な
ので、アノード逆バイアスパルス電流ループ中の任意の
電路に挿入できることは云うまでもない。
さて、第16図はこの発明のさらに異なる他の実施例で
あり、上記パルス変流器18自体をゲート逆バイアス用
エネルギ蓄積素子として使用したものである。
あり、上記パルス変流器18自体をゲート逆バイアス用
エネルギ蓄積素子として使用したものである。
この第16図の実施例の動作説明を第17図の動作波形
図を併用して述べると、まず、第17図aの電流110
0で示すように、アノード逆バイアスパルス電流が第1
逆バイアス手段7に流れ、これに対するサイリスタ3の
アノード電圧が同図の3であるとすると、パルス変流器
18の磁心をリアクトルのごとく(線形相互インダクタ
のごとく)しておくと、2次巻線の誘起電圧VlOは第
17図bのようになる。
図を併用して述べると、まず、第17図aの電流110
0で示すように、アノード逆バイアスパルス電流が第1
逆バイアス手段7に流れ、これに対するサイリスタ3の
アノード電圧が同図の3であるとすると、パルス変流器
18の磁心をリアクトルのごとく(線形相互インダクタ
のごとく)しておくと、2次巻線の誘起電圧VlOは第
17図bのようになる。
すなわち、アノード逆バイアスパルス電流1,00が増
力仲に、パルス変流器18にエネルギを蓄積し、このア
ノード逆バイアスパルス電流1100が減少中に上記エ
ネルギを放出して、ゲート逆バイアスパルス電圧1′0
を第16図に示す極性とは逆極性に発生する。この電圧
はダイオード12aを介してコンデンサ19にも蓄積さ
れ、アノード逆バイアスパルス電流1100の消滅後も
、ゲート逆バイアス電圧Grが第17図cに示すごとく
維持される。
力仲に、パルス変流器18にエネルギを蓄積し、このア
ノード逆バイアスパルス電流1100が減少中に上記エ
ネルギを放出して、ゲート逆バイアスパルス電圧1′0
を第16図に示す極性とは逆極性に発生する。この電圧
はダイオード12aを介してコンデンサ19にも蓄積さ
れ、アノード逆バイアスパルス電流1100の消滅後も
、ゲート逆バイアス電圧Grが第17図cに示すごとく
維持される。
これより明らかなように、この第16図の場合もこの発
明の主旨の如く、漸減持続してゲート逆バイアスを行う
作用効果を有するものであることがわかる。
明の主旨の如く、漸減持続してゲート逆バイアスを行う
作用効果を有するものであることがわかる。
以上のように、この発明によれば、アノード逆バイアス
後、順バイアス開始時点以後までゲート逆バイアスする
ことにより、キヤリアの残存中の順電圧阻止が可能とな
抵所要消弧時間をきわめて短縮することができる。
後、順バイアス開始時点以後までゲート逆バイアスする
ことにより、キヤリアの残存中の順電圧阻止が可能とな
抵所要消弧時間をきわめて短縮することができる。
また、アノード順バイアス開始時点以後までゲート逆バ
イアスし、かつこのゲート逆バイアスを漸減させること
により、サイリスタのキヤリアの残存量の消滅経過状態
に適合したゲート逆バイアスにすることができ、逆ゲー
ト継続過剰によりかえつてキヤリアの拡散、ひいては、
順方向漏れと順方向損失の発生継続を減じることができ
る。
イアスし、かつこのゲート逆バイアスを漸減させること
により、サイリスタのキヤリアの残存量の消滅経過状態
に適合したゲート逆バイアスにすることができ、逆ゲー
ト継続過剰によりかえつてキヤリアの拡散、ひいては、
順方向漏れと順方向損失の発生継続を減じることができ
る。
そして、点弧ゲートに比してきわめて大きい逆ゲートバ
イアス所要電力とその損失、すなわち、素子内部又は外
部ゲート回路の損失を軽減することができる。
イアス所要電力とその損失、すなわち、素子内部又は外
部ゲート回路の損失を軽減することができる。
第1図はこの発明のサイリスタの消弧方式の原理を示す
結線図、第2図a−cおよび第3図a〜jはそれぞれ同
上原理方式を説明するための動作波形図、第4図a−c
はそれぞれ同上方式の動作を説明するためのサイリスタ
のモード接続図、第5図aはこの発明のサイリスタの消
弧方式に適用する場合に好適なサイリスタ素子の概念構
造を示すカソード側の側面図、第5図bは第5図AO)
X一X線VC.沿つて切断した断面図、第6図はこの発
明のサイリスタの消弧方式の第1の具体的な実施例を示
す結線図、第7図a−cはそれぞれ第6図の方式を説明
するための動作波形図、第8図はこの発明のサイリスタ
の消弧方式の第2の具体的な実施例を示す結線図、第9
図A,bはそれぞれ第8図の方式を説明するための動作
波形図、第10図はこの発明のサイリスタの消弧方式の
第3の具体的な実施例を示す結線図、第11図A,bは
それぞれ第10図の方式を説明するための動作波形図、
第12図は第8図および第10図の結線図を要約して示
したプロツク.ダイヤグラム、第13図}よび第14図
はそれぞれこの発明のサイリスタの消弧方式の第4およ
び第5の具体的な実施例を示す結線図、第15図は第1
3図}よび第14図の結線図を要約して示すプロツク.
ダイヤグラム、第16図はこの発明のサイリスタの消弧
方式の第6の具体的な実施例を示す結線図、第17図a
〜cはそれぞれ第16図の結線図の動作を説明するため
の波形図である。 1,1a,1b・・・電源、2,2a,2b・・・負荷
3・・・サイリスタ、7・・・第1逆バイアス手段、8
・・・第2逆バイアス手段、10・・・ゲート逆バイア
スパルス発生手段、20・・・ゲート逆バイアスゲート
回路。
結線図、第2図a−cおよび第3図a〜jはそれぞれ同
上原理方式を説明するための動作波形図、第4図a−c
はそれぞれ同上方式の動作を説明するためのサイリスタ
のモード接続図、第5図aはこの発明のサイリスタの消
弧方式に適用する場合に好適なサイリスタ素子の概念構
造を示すカソード側の側面図、第5図bは第5図AO)
X一X線VC.沿つて切断した断面図、第6図はこの発
明のサイリスタの消弧方式の第1の具体的な実施例を示
す結線図、第7図a−cはそれぞれ第6図の方式を説明
するための動作波形図、第8図はこの発明のサイリスタ
の消弧方式の第2の具体的な実施例を示す結線図、第9
図A,bはそれぞれ第8図の方式を説明するための動作
波形図、第10図はこの発明のサイリスタの消弧方式の
第3の具体的な実施例を示す結線図、第11図A,bは
それぞれ第10図の方式を説明するための動作波形図、
第12図は第8図および第10図の結線図を要約して示
したプロツク.ダイヤグラム、第13図}よび第14図
はそれぞれこの発明のサイリスタの消弧方式の第4およ
び第5の具体的な実施例を示す結線図、第15図は第1
3図}よび第14図の結線図を要約して示すプロツク.
ダイヤグラム、第16図はこの発明のサイリスタの消弧
方式の第6の具体的な実施例を示す結線図、第17図a
〜cはそれぞれ第16図の結線図の動作を説明するため
の波形図である。 1,1a,1b・・・電源、2,2a,2b・・・負荷
3・・・サイリスタ、7・・・第1逆バイアス手段、8
・・・第2逆バイアス手段、10・・・ゲート逆バイア
スパルス発生手段、20・・・ゲート逆バイアスゲート
回路。
Claims (1)
- 1 少なくともアノード電極とカソード電極とゲート電
極とを有するサイリスタ、このサイリスタのアノード・
カソード間を逆バイアスする第1逆バイアス手段、上記
ゲート電極を逆バイアスする第2逆バイアス手段を備え
、上記サイリスタのアノード・カソード間が逆バイアス
から順バイアスへ移行する順バイアス開始時点の前後に
またがつて、あるいは上記順バイアス開始時点以後に上
記第2逆バイアス手段により上記ゲート電極を逆バイア
スし、少なくとも上記順バイアス開始時点後の上記ゲー
ト逆バイアスにより上記サイリスタの消弧失敗を防止す
ると共に、上記第2逆バイアス手段は少なくとも上記順
バイアス開始時点後に上記ゲート逆バイアス電力を漸減
させるようにしたことを特徴とするサイリスタの消弧方
式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53074676A JPS5912212B2 (ja) | 1978-06-19 | 1978-06-19 | サイリスタの消弧方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53074676A JPS5912212B2 (ja) | 1978-06-19 | 1978-06-19 | サイリスタの消弧方式 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP48043392A Division JPS5237944B2 (ja) | 1973-04-17 | 1973-04-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5439560A JPS5439560A (en) | 1979-03-27 |
JPS5912212B2 true JPS5912212B2 (ja) | 1984-03-21 |
Family
ID=13554062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53074676A Expired JPS5912212B2 (ja) | 1978-06-19 | 1978-06-19 | サイリスタの消弧方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5912212B2 (ja) |
-
1978
- 1978-06-19 JP JP53074676A patent/JPS5912212B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5439560A (en) | 1979-03-27 |
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