JPS59113622A - ステツプアンドリピ−ト方式露光方法 - Google Patents

ステツプアンドリピ−ト方式露光方法

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Publication number
JPS59113622A
JPS59113622A JP57223039A JP22303982A JPS59113622A JP S59113622 A JPS59113622 A JP S59113622A JP 57223039 A JP57223039 A JP 57223039A JP 22303982 A JP22303982 A JP 22303982A JP S59113622 A JPS59113622 A JP S59113622A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
pads
conductor
prepared
connection
Prior art date
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Granted
Application number
JP57223039A
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English (en)
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JPS6253938B2 (ja
Inventor
Niwaji Majima
庭司 間島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57223039A priority Critical patent/JPS59113622A/ja
Publication of JPS59113622A publication Critical patent/JPS59113622A/ja
Publication of JPS6253938B2 publication Critical patent/JPS6253938B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70425Imaging strategies, e.g. for increasing throughput or resolution, printing product fields larger than the image field or compensating lithography- or non-lithography errors, e.g. proximity correction, mix-and-match, stitching or double patterning
    • G03F7/70475Stitching, i.e. connecting image fields to produce a device field, the field occupied by a device such as a memory chip, processor chip, CCD, flat panel display

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の技術分野 本発明は半導体装置、バブルメモリ等の微細ノやターン
をステップアンドリピート方式投影型露光方式を用いて
作成する方法に係シ、特に露光間において電気的接続を
計る露光方法に関するものである。
(2)技術の背景 半導体装置、バブルメモリ等を作成するときにホトリソ
グラフィ工程で使用される投影型露光機は分解能が高く
、微細ノ’?ターンが得られるが、1回の露光領域が小
さく、現在10mm角程度となっている・しかしメモリ
eでは大容量化が進み10篤角では不充分となって来て
いる。このため多数回の露光を行なって1チ、′fとす
ることが考えられるがこの場合露光間での電気的接続が
問題となる。特に4ジレジストを用いた場合、この露光
方式では接続が困難であった。
(3)従来技術と問題点 第1図及び第2図は従来の方式でチッfを作成する場合
を説明するための図でおり、第1図はチ、プ、第2図は
レチクルをそれぞれ示す。第1図において、AH、k2
はそれぞれ1回目の露光領域B1tB2はそれぞれ2回
目の領域、CI+02はそれぞれ1回目、2回目の露光
中心、aは1回目の露光によりて作成されるコンダクタ
/4ターン、bは2回目の露光によって作成されるコン
ダクタパターン、al  #に’l  ea2  mb
Bはパッドをそれぞれ示し、第2図において、Aは第1
回目の露光に使用するレチクル、Bは第2回目の露光に
使用するレチクルを示す。
この場合ノ臂ツドal  ea2  ebl  ebl
等を外部基板とビンy”イングで接続するか、又はal
−bl  e C2−b2 を直接デンディングする方
法がとられている。このビンディングを除くことができ
れば製造工程を合理化することができる。
従って、そのような方法の開発が求められている。
(4)発明の目的 本発明は上記従来の要求に基づき、ステップアンドリピ
ート方式投影型露光方式で半導体装置、バブルメモリ等
を作成する場合に、デンディングによる電気的接続を必
要としない露光方法を提供することを目的とするもので
ある。
(5)発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば、基板上にコンダクタ
薄膜を形成し、その上にホトレジストを塗布後、ステッ
プアンドリピート方式投影型露光装置を用いて第1のレ
ジストノ臂ターンを作成し、次いでエツチングして第1
のコンダクタノやターンを作成し、次いで全面に絶縁膜
を作成し、該絶縁膜にスルーホールを作成後、さらに全
面にコンダクタ薄膜を作成し、ステップアンドリピート
方式投影型露光装置を用い第1のコンダクタ/4ターン
と同様にして第2のコンダクタノやターンを作成するチ
ップ作成方法にンいて、第1のコンダクタ/4ターンと
第2のコンダクタパターンの露光中心をずらすことを特
徴とするステップアンドリピート方式露光方法を提供す
ることによりて達成される。
(6)発明の実施例 以下本発明実施例を図面によって詳述する。
第3図は本発明によるステップアンドリピート方式露光
方法を説明するだめの図であシ、aはレチクル、bは第
1のコンダクタ/4ターンを作成したチップ、Cは第2
のコンダクタパターン作成後のチッ7°をそれぞれ示す
a図において、Aは第1のコンダクタ)4ターンを作成
するためのレチクルでらシ1及び1′はコンダクタノや
ターン、2.2′はそのノf、ド、3は第2のコンダク
タノぐターンを接続するためのノ臂ツドをそれぞれ作成
するだめのパターンでbるOまたBは第2のコンダクタ
、−9ターンを作成するためのレチクルでらυ、4は第
2のコンダクタ/4ターン、5はそのパッド、6及び6
′は第1のコンダクタ/4ターンを接続するためのノ臂
ツドをそれぞれ作成するだめの/′4′ターンである。
b図は第1のコンダクタノぐターン作成したチップであ
り、その作成手順は先ずチップ上にコンダクタ薄膜を形
成し、その上にホトレジストを塗布後、a図のレチクル
Aを用いてステップアンドリピート方式にてA1  t
 As領域に露光し、現像、エツチングして第1のコン
ダクタ/4ターン1,1′(符号は便宜上レチクルと同
一としだ。)とパッド2,2′及び接続用ノ9ツド3を
作成する。この場合露光中心はそれぞれC1とする。
0図は第1及び第2のコンダクタ/4ターンを作成した
チップであり、その作成手順は、第1のフンダクタノリ
ーン1,1′を作成したチップの全面に絶縁膜を作成し
、各/?yド2,2′及び3にスルー*−vk作成した
後、全面にコンダクタ薄aを作成し、その上にホトレジ
ストを塗布し、a図のレチクルBを用い、その中心CI
を前記レチクルAの露光中心C1よシ所定の寸法tだけ
ずらしてBi、n2領域にステップアンドリピート方式
で露光し、現像、エツチングして第2のコンダクタ/4
ターン4、パッド5 、5’及ヒ接M用ノfツド6゜6
′を作成するのである。
このように形成されたチップは、A1領域のノ臂ッド2
′とA3領域のパッド2が2回目の露光によって作成さ
れた接続用ノ臂ツド6,6′によりて接続されるため%
A1領域とA、領域の第1のコンダクタパターン1及び
11は電気的に接続される。またB1領域のi’? y
ド5′とB2領域のパッド5が1回目の露光で既に作成
されている接続用ノ9ツド3によって接続されるためB
、、B2領域のそれぞれの第2のコンダクタパターン4
同士も電気的に接続される。なおこの後チップ端にゲン
ディングーすることによシ全回路を駆動することができ
る。
(7)発明の効果 以上、詳細に説明したように、本発明のステップアンド
リピート方式露光方法は、従来露光領域の端部において
、電気的接続が切断される投影型露光方式において、第
1の露光と第2の露光の中心をずらすことによシミ気的
切断部を変え、第1、第2の露光間で電気的接続を可能
としたものであって、大型の半導体装置あるいはバブル
メモリ等に応用し得るといった効果大なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のチップ作成方式を説明するための図、第
2図はそのレチクルを示す図、第3図は本発明によるス
テップアンドリピート方式露光方法を説明するための図
である。 第 1671 図面において、Aは1回目の露光に使用するレチクル、
Bは2回目の露光に使用するレチクル、1.1′及び4
はコンダクタΔターン、2.2’及び5.5′はそのパ
ッド、3及び6,6′は接続用パッドをそれぞれ示す。 特許出願人 富士通株式会社 特許出願代理人 弁理士 青 木   朗 弁理士西舘和之 弁理士 内 1)幸 男 弁理士 山 口 昭 之

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、基板上にコンダクタ薄膜を形成し、その上にホトレ
    ジストを塗布後、ステップアンドリヒート方式投影型露
    光装置を用いて第1のレジストパターンを作成し、次い
    でエツチングして第1のコンダクタパターンを作成し、
    次いで全面に絶縁膜を作成し、該絶縁膜にスルーホール
    を作成後、さらに全面にコンダクタ薄膜を作成し、ステ
    ップアンドリヒート方式投影型露光装置を用い第1のコ
    ンダクタパターンと同様にして第2のコンダクタパター
    ンを作成するチップ作成法において、第1のコンダクタ
    パターンと第2のコンダクタパターンの露光中心をずら
    すことを特徴とするステップアンドリピート方式露光方
    法。
JP57223039A 1982-12-21 1982-12-21 ステツプアンドリピ−ト方式露光方法 Granted JPS59113622A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57223039A JPS59113622A (ja) 1982-12-21 1982-12-21 ステツプアンドリピ−ト方式露光方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57223039A JPS59113622A (ja) 1982-12-21 1982-12-21 ステツプアンドリピ−ト方式露光方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59113622A true JPS59113622A (ja) 1984-06-30
JPS6253938B2 JPS6253938B2 (ja) 1987-11-12

Family

ID=16791881

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57223039A Granted JPS59113622A (ja) 1982-12-21 1982-12-21 ステツプアンドリピ−ト方式露光方法

Country Status (1)

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JP (1) JPS59113622A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6247129A (ja) * 1985-08-26 1987-02-28 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法
JPS62147728A (ja) * 1985-12-23 1987-07-01 Fujitsu Ltd 露光方法
JPH03116714A (ja) * 1989-09-28 1991-05-17 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路素子の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6247129A (ja) * 1985-08-26 1987-02-28 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法
JPS62147728A (ja) * 1985-12-23 1987-07-01 Fujitsu Ltd 露光方法
JPH03116714A (ja) * 1989-09-28 1991-05-17 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路素子の製造方法

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JPS6253938B2 (ja) 1987-11-12

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