JPS59111001A - 部品リ−ド線曲がり判定装置 - Google Patents
部品リ−ド線曲がり判定装置Info
- Publication number
- JPS59111001A JPS59111001A JP22141982A JP22141982A JPS59111001A JP S59111001 A JPS59111001 A JP S59111001A JP 22141982 A JP22141982 A JP 22141982A JP 22141982 A JP22141982 A JP 22141982A JP S59111001 A JPS59111001 A JP S59111001A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- dip type
- waveform
- parts
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/10—Sorting according to size measured by light-responsive means
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は部品のリード線の曲がりを自動的に判定する部
品リード線面がシ判定装置に関するものである。
品リード線面がシ判定装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来は、直径ｉｎ程度の光電センサーをＤＩＰ型（デュ
アル・インラインパッケージ型、以下ＤＩＰと略す）部
品の全リード線にわたらて配置させることによって判定
する方法があった。しかし、この方法では光電センサー
の直径が小さいため機構的に問題があり、ＤＩＰ型部品
リード線は標準でも４０に及ぶものがあり、４個の光電
センサーを使用することはコスト的に成シ立だず、まだ
、リード線数がかわると機種切替に対して光電センサー
の選択が必要になシ、実用上問題があった。
アル・インラインパッケージ型、以下ＤＩＰと略す）部
品の全リード線にわたらて配置させることによって判定
する方法があった。しかし、この方法では光電センサー
の直径が小さいため機構的に問題があり、ＤＩＰ型部品
リード線は標準でも４０に及ぶものがあり、４個の光電
センサーを使用することはコスト的に成シ立だず、まだ
、リード線数がかわると機種切替に対して光電センサー
の選択が必要になシ、実用上問題があった。
発明の目的
本発明は上述したような従来の問題点を解決することを
目的としたもので、高速でしかも安定した自動判定を行
なうものである。
目的としたもので、高速でしかも安定した自動判定を行
なうものである。
発明の構成
本発明は、ＤＩＰ型部品が搬送されるレール上にＤＩＰ
型部品のリード線の有無を検出する光電センサーを取付
け、その出力信号を検出し、その波形をアナログ処理す
ることで良否の判定をランプ表示及び外部出力信号とし
て発生させることができるものである。
型部品のリード線の有無を検出する光電センサーを取付
け、その出力信号を検出し、その波形をアナログ処理す
ることで良否の判定をランプ表示及び外部出力信号とし
て発生させることができるものである。
実施例の説明
以下、本発明の実施例を第１図〜第６図にょシ説明する
。
。
第１図はＤＩＰ型部品の良品サンプルで、ＤＩＰ型部品
のリード線１は曲がってなく間隔２が全リード線にわた
って同じであり、第２図はＤＩＰ型部品の不良品サンプ
ルでＤＩＰ型部品のリード線１は一部曲がっており、リ
ード線とリード線の間隔２がまちまちになっている。
のリード線１は曲がってなく間隔２が全リード線にわた
って同じであり、第２図はＤＩＰ型部品の不良品サンプ
ルでＤＩＰ型部品のリード線１は一部曲がっており、リ
ード線とリード線の間隔２がまちまちになっている。
第３図は、間隔２の距離を検出判定するブロック図で、
レール４の上をＤＩＰ型部品が一定の速度で搬送される
と７−ル４に設置した光電センサー３の投光器６と受光
器γの間をＤＩＰ型部品のリードａ１が通過すると、光
電アンプ５の出力にはＤＩＰ型部品のリード線１の有無
により、トランジスタ・トランジスタレベル（ＴＴＬ）
の矩形波が検出される。
レール４の上をＤＩＰ型部品が一定の速度で搬送される
と７−ル４に設置した光電センサー３の投光器６と受光
器γの間をＤＩＰ型部品のリードａ１が通過すると、光
電アンプ５の出力にはＤＩＰ型部品のリード線１の有無
により、トランジスタ・トランジスタレベル（ＴＴＬ）
の矩形波が検出される。
次に、第４図、５図、６図の（イ）の良品の波形処理、
（ロ）の不良品の波形処理について説明する。第４図の
光電センサーの出力波形８，９をまず第３図の反転回路
１０に入れて矩形波を反転させ、第６図の反転出力波形
１１．１２にした後、第３図の積分回路１３に入れるこ
とでパルス幅の大きさに比例した第６図の三角波出力波
形１４ 、１５を作る。
（ロ）の不良品の波形処理について説明する。第４図の
光電センサーの出力波形８，９をまず第３図の反転回路
１０に入れて矩形波を反転させ、第６図の反転出力波形
１１．１２にした後、第３図の積分回路１３に入れるこ
とでパルス幅の大きさに比例した第６図の三角波出力波
形１４ 、１５を作る。
従って良品の三角波出力波形１４は、一定周期となり不
良品の三角波出力１５は非周期的な波形となっており、
この相違を判定する為に、トリガー信号１６．１７を入
れる。このため良品の三角波出力波形１４は、トリガー
信号１６に対して第１図のＤＩＰ型部品のリード線の数
量分だけ入るが、トリガー信号１７に対しては全く入ら
ない。
良品の三角波出力１５は非周期的な波形となっており、
この相違を判定する為に、トリガー信号１６．１７を入
れる。このため良品の三角波出力波形１４は、トリガー
信号１６に対して第１図のＤＩＰ型部品のリード線の数
量分だけ入るが、トリガー信号１７に対しては全く入ら
ない。
これに対して不良品の三角波形１５はトリガー信号１６
に対して、第２図のＤＩＰ型部品のリード線１０間隔２
の短いものは入らず、トリガー信号１７に対しては間隔
２の長いものは入ってしまう。そこで、とのトリガー信
号１６．１７に対して、第３図のカウンター回路１８を
入れ、良品のカウント数を判定レベル１９に設定するこ
とで両者を比較させ良否の判定を行ない、表示器２０で
表示させる。トリガー信号１６のみでなくトリガー信号
１７が必要とされるのは、ＤＩＰ型部品のリード線の端
のみが外部へ広がっている場合、不良品の情報として一
個だけ標準より長い三角波が発生し、それを検出するた
めである。
に対して、第２図のＤＩＰ型部品のリード線１０間隔２
の短いものは入らず、トリガー信号１７に対しては間隔
２の長いものは入ってしまう。そこで、とのトリガー信
号１６．１７に対して、第３図のカウンター回路１８を
入れ、良品のカウント数を判定レベル１９に設定するこ
とで両者を比較させ良否の判定を行ない、表示器２０で
表示させる。トリガー信号１６のみでなくトリガー信号
１７が必要とされるのは、ＤＩＰ型部品のリード線の端
のみが外部へ広がっている場合、不良品の情報として一
個だけ標準より長い三角波が発生し、それを検出するた
めである。
発明の効果
以上、本発明は光電センサーで検出したＤＩＰ型部品の
リード線幅を波形処理することにより、無接触でしかも
短時間に判定可能としたもので、従来のようにＤ Ｉ
ｐ型部品の全リードにわたって光電センサーを配置して
いたものを完全に補い、コンピー−ター制御方式ＤＩＰ
型部品挿入機における挿入率を大幅に向上させることが
可能となった。
リード線幅を波形処理することにより、無接触でしかも
短時間に判定可能としたもので、従来のようにＤ Ｉ
ｐ型部品の全リードにわたって光電センサーを配置して
いたものを完全に補い、コンピー−ター制御方式ＤＩＰ
型部品挿入機における挿入率を大幅に向上させることが
可能となった。
第１図（イ）、 （＝）は良品のＤＩＰ型部品の正面図
お（イ〕、（Ｏン よび側面図、第りぼホホ良品のＤＩＰ型部品の正面図お
よび側面図、第３図は検出判定回路のブロック図、第４
図（イ）、（ロ）は光電センサーの出力波形図、第５図
（イ）、（ロ）は反転出力波形図、第６図（イ）。 （ロ）は三角波出力波形図を示すものである。 ２・・・・・・ＤＩＰ型部品リード線、３・・・・・・
光電センサー、４・・・・・・レール、６・・・・・・
光電アンプ、６・・・・・・投光器、７・・・・・・受
光器、８・・・・・・光電センサーの出力波形、９・・
・・・・光電センサーの出力波形。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 （わ （口゛ り 第２図 （４］ （ロ） り 第３図 第４図 第５図 第６図 （Ｔ］）
お（イ〕、（Ｏン よび側面図、第りぼホホ良品のＤＩＰ型部品の正面図お
よび側面図、第３図は検出判定回路のブロック図、第４
図（イ）、（ロ）は光電センサーの出力波形図、第５図
（イ）、（ロ）は反転出力波形図、第６図（イ）。 （ロ）は三角波出力波形図を示すものである。 ２・・・・・・ＤＩＰ型部品リード線、３・・・・・・
光電センサー、４・・・・・・レール、６・・・・・・
光電アンプ、６・・・・・・投光器、７・・・・・・受
光器、８・・・・・・光電センサーの出力波形、９・・
・・・・光電センサーの出力波形。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 （わ （口゛ り 第２図 （４］ （ロ） り 第３図 第４図 第５図 第６図 （Ｔ］）
Claims (1)
- 定速度で搬送された部品の脚部を検出する検出部と、こ
の検出部からの信号により波形処理する波形処理手段と
、この波形処理手段からの信号によシ所定範囲内だけの
信号を読み取る読み取り手線面がり判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22141982A JPS59111001A (ja) | 1982-12-16 | 1982-12-16 | 部品リ−ド線曲がり判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22141982A JPS59111001A (ja) | 1982-12-16 | 1982-12-16 | 部品リ−ド線曲がり判定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59111001A true JPS59111001A (ja) | 1984-06-27 |
Family
ID=16766439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22141982A Pending JPS59111001A (ja) | 1982-12-16 | 1982-12-16 | 部品リ−ド線曲がり判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59111001A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0471104U (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-24 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54150089A (en) * | 1978-05-18 | 1979-11-24 | Nec Corp | Test device for ic lead bend |
| JPS57122557A (en) * | 1981-01-23 | 1982-07-30 | Nec Kyushu Ltd | Inspecting device for lead bent of semiconductor device |
-
1982
- 1982-12-16 JP JP22141982A patent/JPS59111001A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54150089A (en) * | 1978-05-18 | 1979-11-24 | Nec Corp | Test device for ic lead bend |
| JPS57122557A (en) * | 1981-01-23 | 1982-07-30 | Nec Kyushu Ltd | Inspecting device for lead bent of semiconductor device |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0471104U (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ATE240515T1 (de) | Digitale analytische nachweisvorrichtung | |
| DE3778253D1 (de) | Verfahren zum kalibrieren von durchflusszytometriegeraeten. | |
| US5444248A (en) | Method and apparatus for checking the condition of adhesive application in packages | |
| JPS59111001A (ja) | 部品リ−ド線曲がり判定装置 | |
| US4835403A (en) | Clocked optical sensing apparatus | |
| JPS61233304A (ja) | 電子部品リ−ド検査方法 | |
| JPS56165334A (en) | Bonding device | |
| JP2759963B2 (ja) | リード曲り検出方法 | |
| KR920009017B1 (ko) | 에나멜 선재의 표면 결함 검출회로 | |
| JPH05133905A (ja) | 胴割粒検出方法及び装置 | |
| JPS6331155Y2 (ja) | ||
| JPH02138853A (ja) | ガラス管の脈理検出方法 | |
| JPS5918656B2 (ja) | 表面検査方法 | |
| JPS6246803B2 (ja) | ||
| JPS58152740A (ja) | 紙葉重複送り検出装置 | |
| KR880009323A (ko) | 주화 선택 장치 | |
| JPS59134067U (ja) | 溶接ワイヤ等の速度検出装置 | |
| JPS6033077A (ja) | 半透光材の検出装置 | |
| JPH02294959A (ja) | 磁気テープの始端終端検出装置 | |
| JPS6324259B2 (ja) | ||
| JPS6285856A (ja) | 貫通型探傷装置 | |
| KR950000078A (ko) | 복합필터 검사 방법 및 그 검사 장치 | |
| JPS63210650A (ja) | 物体の表面きず検出装置 | |
| AU2612192A (en) | Exciplex-based sensors and methods for sensing | |
| JPH0718814B2 (ja) | 表面検査装置 |