JPS5899737A - 直線溝状傷検出装置 - Google Patents
直線溝状傷検出装置Info
- Publication number
- JPS5899737A JPS5899737A JP19892981A JP19892981A JPS5899737A JP S5899737 A JPS5899737 A JP S5899737A JP 19892981 A JP19892981 A JP 19892981A JP 19892981 A JP19892981 A JP 19892981A JP S5899737 A JPS5899737 A JP S5899737A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw
- light
- veneer
- flaw detection
- conveyor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
- G01N21/8986—Wood
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は直線溝状傷検出装置に関するものである。
一般に、突板単板を生成する場合、切削用ナイフに異物
が付着したりナイフに刃こぼれがあると、突板単板上に
ナイフ−マーク傷を発生することになる。そこで、この
ナイフマーク傷を検出するために、従来はつぎのような
装置を用いていた。すなわち、第１図に示すように１突
板単板１をコンベア２により矢符Ａ方向に搬送しながら
、白色光源３から発せられる白色光をシリンドリカルレ
ンズ４でライン光５に変換して突板単板ｌ上のナイフマ
ークＩｉ６に照射し、そのナイフマーク＠６で発生する
乱反射光を、スリット板７のスリット孔７鳳。
が付着したりナイフに刃こぼれがあると、突板単板上に
ナイフ−マーク傷を発生することになる。そこで、この
ナイフマーク傷を検出するために、従来はつぎのような
装置を用いていた。すなわち、第１図に示すように１突
板単板１をコンベア２により矢符Ａ方向に搬送しながら
、白色光源３から発せられる白色光をシリンドリカルレ
ンズ４でライン光５に変換して突板単板ｌ上のナイフマ
ークＩｉ６に照射し、そのナイフマーク＠６で発生する
乱反射光を、スリット板７のスリット孔７鳳。
シリンドリカルレンズ８およびスリット板９の各スリッ
ト孔９ａ、９ｂ、９ｃを通してホトマル１０ａ。
ト孔９ａ、９ｂ、９ｃを通してホトマル１０ａ。
１ｏｂ 、 １０ｃで受光し、その出力信号から傷検出
を行なう。
を行なう。
第２図は、ホトマル１０ｍ（１０ｂ、１０ｃ）の出力信
号波形図を示し友もので、ライン光−５の照射位置にナ
イフマーク＠６がさしかかったときＫｌ検出波形１１を
生じる。この場合、ナイフマーク傷６による光量変化は
微少であるため、第１図に示すように、ナイフマークＩ
Ｉ６の長手方向と、両スリット板７．９およびシリンド
リカルレンズ８の長手方向を正確に一致させた場合にの
みナイフマークＩＩ６の検出が可能となる。ところが、
突板単板１け幅広で厚みが極めて薄いため、コンベア２
との平行度を保つことは極めて困難である。
号波形図を示し友もので、ライン光−５の照射位置にナ
イフマーク＠６がさしかかったときＫｌ検出波形１１を
生じる。この場合、ナイフマーク傷６による光量変化は
微少であるため、第１図に示すように、ナイフマークＩ
Ｉ６の長手方向と、両スリット板７．９およびシリンド
リカルレンズ８の長手方向を正確に一致させた場合にの
みナイフマークＩＩ６の検出が可能となる。ところが、
突板単板１け幅広で厚みが極めて薄いため、コンベア２
との平行度を保つことは極めて困難である。
そこで、搬送誤差によるナイフマーク海検出のＳ−Ｎ北
低下を防止するため、第３図に示すように、スリット板
９の両端スリット孔９ｍ、９ｃを中央スリット孔９ｂに
対し後送後方に向は内向き傾斜させている。これＫより
、突板単板１の長手方向がコンベア２の搬送方向に対し
平行な状態で搬送されてきたときけ（第４図のナイフマ
ーク傷６ｂの状ＩＩ）、ナイフマーク傷６ｂを中央スリ
ット孔９ｂで確％にとらえることができ、したがって中
央ホトマル１０ｂの出力信９（第５図（ｂ）に示す傷検
出主波形１２が現われるとともに、左・右ホトマル１０
ｍ 、 １０ｃの出力信号に第５図（Ｊｌ） 、 （ｅ
）に示す傷検出側波形１３．１４が現われ、これら３個
のホトマル１０ａ、１０ｂ、１０ｃの出力を加算平均し
て得た第６図に示す傷検出信号には、傷検出主波形１２
に対応する主波形１５が現われるため、その主波形１５
から傷検出を行なえる。また、突板単板ｌがコンベア２
の搬送方、向に向・って右側にずれたときでも（第４図
のナイフマークｌｌ−６ｃの状ＩＩＩ）、ナイフマーク
傷６ｃを右側スリリツ・ト孔９ｃでａ！実にとらえるこ
とができ、−シたがって第７図（＄１） 、 （ｂ）
。
低下を防止するため、第３図に示すように、スリット板
９の両端スリット孔９ｍ、９ｃを中央スリット孔９ｂに
対し後送後方に向は内向き傾斜させている。これＫより
、突板単板１の長手方向がコンベア２の搬送方向に対し
平行な状態で搬送されてきたときけ（第４図のナイフマ
ーク傷６ｂの状ＩＩ）、ナイフマーク傷６ｂを中央スリ
ット孔９ｂで確％にとらえることができ、したがって中
央ホトマル１０ｂの出力信９（第５図（ｂ）に示す傷検
出主波形１２が現われるとともに、左・右ホトマル１０
ｍ 、 １０ｃの出力信号に第５図（Ｊｌ） 、 （ｅ
）に示す傷検出側波形１３．１４が現われ、これら３個
のホトマル１０ａ、１０ｂ、１０ｃの出力を加算平均し
て得た第６図に示す傷検出信号には、傷検出主波形１２
に対応する主波形１５が現われるため、その主波形１５
から傷検出を行なえる。また、突板単板ｌがコンベア２
の搬送方、向に向・って右側にずれたときでも（第４図
のナイフマークｌｌ−６ｃの状ＩＩＩ）、ナイフマーク
傷６ｃを右側スリリツ・ト孔９ｃでａ！実にとらえるこ
とができ、−シたがって第７図（＄１） 、 （ｂ）
。
（Ｃ）に示すように右ホトマル１０ｃの出力信号に傷検
出主波形１６が現われて左−中央ホトマル１０ａ。
出主波形１６が現われて左−中央ホトマル１０ａ。
１０ｂの出力信号に傷検出側波形１７．１８がそれぞれ
現われ、これらを加算平均した第８図の傷検出信号Ｖｃ
Ｆｉ傷検出主波形１６に対応する主波形１９が現われる
念め、この主波形１９から傷検出を行ナエル。反対に、
突板単板１がコンベア２の搬送方向に向って左側にずれ
たときでも（第４図のナイフマークｌ１６ｍの状ＩＩ）
、ナイフマーク１１６ｍを左側スリット孔９ｍで確賓に
とらえることができ、し友がって＠９図（ａ） 、 （
ｂ） 、 （ｃ）に示すように左ホトマル１０ｍの出力
信号に傷検出主波形ｚｏ−Ａｔ現われて中央・右ホトマ
ル１０ｂ 、 １０ｃの出力信号には傷検出側波形２１
．２２が現われ、これらを加算平均した第１０図の傷検
出信号には傷検出主波形２０に対応する主波形２３が現
われる念め、その主波形２３から傷検出を行なえる。
現われ、これらを加算平均した第８図の傷検出信号Ｖｃ
Ｆｉ傷検出主波形１６に対応する主波形１９が現われる
念め、この主波形１９から傷検出を行ナエル。反対に、
突板単板１がコンベア２の搬送方向に向って左側にずれ
たときでも（第４図のナイフマークｌ１６ｍの状ＩＩ）
、ナイフマーク１１６ｍを左側スリット孔９ｍで確賓に
とらえることができ、し友がって＠９図（ａ） 、 （
ｂ） 、 （ｃ）に示すように左ホトマル１０ｍの出力
信号に傷検出主波形ｚｏ−Ａｔ現われて中央・右ホトマ
ル１０ｂ 、 １０ｃの出力信号には傷検出側波形２１
．２２が現われ、これらを加算平均した第１０図の傷検
出信号には傷検出主波形２０に対応する主波形２３が現
われる念め、その主波形２３から傷検出を行なえる。
ところが、いずれの場合においても、第５図。
第７図および第９図に示すように、各傷検出側波形１３
１１４ｔ１７．１８・、２１．２２の生じるタイミング
が各傷検出主波形１２＊１６ｓ２０に一致しないため、
第６図、第８図および第１０図に示す傷検出信号中には
、主−波形１５，１９．２３の他に、各傷検出側波形１
３，１４，１７，１８゜２１．２２に対応する側波形２
’ｔ２５ｅ２６が現われて、これら側波形２４，２５．
２６が傷検出に寄与しない几め傷検出を効果的に行なえ
ないという問題を有していた′。
１１４ｔ１７．１８・、２１．２２の生じるタイミング
が各傷検出主波形１２＊１６ｓ２０に一致しないため、
第６図、第８図および第１０図に示す傷検出信号中には
、主−波形１５，１９．２３の他に、各傷検出側波形１
３，１４，１７，１８゜２１．２２に対応する側波形２
’ｔ２５ｅ２６が現われて、これら側波形２４，２５．
２６が傷検出に寄与しない几め傷検出を効果的に行なえ
ないという問題を有していた′。
し友がって、この発明の目的は、搬送精度に影響されず
に、Ｌかも効率良く帯状検査物！７ｃ［ｆｉの直線溝状
優を検出できる直線溝状傷検出装置を提供することであ
る。
に、Ｌかも効率良く帯状検査物！７ｃ［ｆｉの直線溝状
優を検出できる直線溝状傷検出装置を提供することであ
る。
この発明の一実施例を第１１図ないし第２２図を用いて
説明する。すなわち、この直線溝状傷検出装置は、第１
図に示す光学系全体（白色光源３゜シリンドリカルレン
ズ４，８．スリット板７．９゜ホト？ｋ １０ｍ 、
１０ｂ 、 １０ｃ ）を第１１図に示すように傷検出
ヘッド２フとしてコンベア２８の上方に配置し、この傷
検出ヘッド２７の搬送前段に、板端検出センサ２９．レ
ーザー発振器３０．スキャナ３１．ラインセンｆ３２お
よび信号遅延回路３３を配する。この場合、ラインセン
ｆ３２は、複数個の受光素子を直線上に配列して形成す
・る。
説明する。すなわち、この直線溝状傷検出装置は、第１
図に示す光学系全体（白色光源３゜シリンドリカルレン
ズ４，８．スリット板７．９゜ホト？ｋ １０ｍ 、
１０ｂ 、 １０ｃ ）を第１１図に示すように傷検出
ヘッド２フとしてコンベア２８の上方に配置し、この傷
検出ヘッド２７の搬送前段に、板端検出センサ２９．レ
ーザー発振器３０．スキャナ３１．ラインセンｆ３２お
よび信号遅延回路３３を配する。この場合、ラインセン
ｆ３２は、複数個の受光素子を直線上に配列して形成す
・る。
この装置によるナイフマーク傷６の検出けっぎのようＫ
して行なう。すなわち、第１２図に示す突板単板ｌがコ
ンベア３４により矢符Ｂ方向に搬送されてくると、突板
単板ｌの前端１鳳（第１２図）を板端検出センサ２９に
より検出し、レーデ−発振器３０によるレーザー光３５
をスキャナ３１によりラインセンサ３２上にスキャンさ
せ、突板単板１のＣ地点およびＤ地点が通過する際のラ
インセン４Ｉ″３２の出力信号を信号遅延回路３３に送
り込む。
して行なう。すなわち、第１２図に示す突板単板ｌがコ
ンベア３４により矢符Ｂ方向に搬送されてくると、突板
単板ｌの前端１鳳（第１２図）を板端検出センサ２９に
より検出し、レーデ−発振器３０によるレーザー光３５
をスキャナ３１によりラインセンサ３２上にスキャンさ
せ、突板単板１のＣ地点およびＤ地点が通過する際のラ
インセン４Ｉ″３２の出力信号を信号遅延回路３３に送
り込む。
第１３図（ａ）ＨＣ地点通過時におけるラインセンｔ３
２の出力信号波形図を示し、第１３図（ｂ）はＤ地点通
過時におけるラインセンサ３２の出力信号波形図を示す
。これら両波形図において信号立下がりｓ３６＊３’ｙ
＃ｉ、 レーザー光３５が突板単板ＩＫ遮光されるとと
Ｋより生じ友ものである。したがって、第１２図に示す
ように、突板単板１の長手方向がコンベア搬送方向（矢
符Ｂ方向）に対し傾斜゛していると、その傾斜角度に応
じ両信号波形図の遮光開始時間ｔｌ、ｔ２に差が生じる
ため、その差ＫＦ１５じて信号遅延回路３１により傷検
出ヘッド２゛、内の各ホトマル１Ｇｍ、１０ｂ、１０ｃ
の出力信号具体的〈述べると、１１＝１２の場合、すな
わち突板単板ｌの長手方向がコンベア２８の搬送方向く
平行な状態で搬送されてき九ときけ、第１４図（ａ）。
２の出力信号波形図を示し、第１３図（ｂ）はＤ地点通
過時におけるラインセンサ３２の出力信号波形図を示す
。これら両波形図において信号立下がりｓ３６＊３’ｙ
＃ｉ、 レーザー光３５が突板単板ＩＫ遮光されるとと
Ｋより生じ友ものである。したがって、第１２図に示す
ように、突板単板１の長手方向がコンベア搬送方向（矢
符Ｂ方向）に対し傾斜゛していると、その傾斜角度に応
じ両信号波形図の遮光開始時間ｔｌ、ｔ２に差が生じる
ため、その差ＫＦ１５じて信号遅延回路３１により傷検
出ヘッド２゛、内の各ホトマル１Ｇｍ、１０ｂ、１０ｃ
の出力信号具体的〈述べると、１１＝１２の場合、すな
わち突板単板ｌの長手方向がコンベア２８の搬送方向く
平行な状態で搬送されてき九ときけ、第１４図（ａ）。
（ｂ） 、 （Ｃ）に示すように、左・右ホトマル１０
ｉ 、 １０ｃの優検出副波形３８．３９が中央ホトマ
ル１０ｂの傷検出主波形４０よりも早く現われるため、
上記信号遅延回路３３４Ｃより、第１５図（ａ） 、
（ｂ） 、 （ｃ）ＶＣ示すように左・右ホトマル１０
ｍ 、 １０ｃの出力信号をそれぞれ所定量だけ遅延さ
せて傷検出側波形３８′。
ｉ 、 １０ｃの優検出副波形３８．３９が中央ホトマ
ル１０ｂの傷検出主波形４０よりも早く現われるため、
上記信号遅延回路３３４Ｃより、第１５図（ａ） 、
（ｂ） 、 （ｃ）ＶＣ示すように左・右ホトマル１０
ｍ 、 １０ｃの出力信号をそれぞれ所定量だけ遅延さ
せて傷検出側波形３８′。
３９′の発生するタイミングを傷検出主波形４０に一致
させ、これらを傷検出回路（図示省略）で加算平均して
第１６図に示す傷検出信号４１を得てその主波形４１′
ａから傷検出を行なう。
させ、これらを傷検出回路（図示省略）で加算平均して
第１６図に示す傷検出信号４１を得てその主波形４１′
ａから傷検出を行なう。
また、ｔｌ〈ｔ２の場合、すなわち突板単板１がコンベ
ア２８の搬送方向に向って右側にずれたときは１．第１
７図（ｉ） 、 （ｂ） 、 （ｃ） Ｋ示すように左
、中央。
ア２８の搬送方向に向って右側にずれたときは１．第１
７図（ｉ） 、 （ｂ） 、 （ｃ） Ｋ示すように左
、中央。
右ホトマル１０ｍ、１０ｂ、１０ｃの順で傷検出側波形
４２゜４３と傷検出主波形４４が現われるため、遮光開
始時間ｔ１．ｔ２の差に応じ第１８図（ａ） 、 （ｂ
） 、 （ｃ）に示すように左・中央ホトマル１０ａ
、 １０ｂの出力信号 ゛をそれぞれ遅延させて両傷検
出副波形４２’ 、 ４３’の生じるタイミングを傷検
出主波形４４に一致させ、傷検出回路でこれらを加算平
均して得九第１９図の爆検出信９４５の主波形４５ルら
傷検出を行なう。
４２゜４３と傷検出主波形４４が現われるため、遮光開
始時間ｔ１．ｔ２の差に応じ第１８図（ａ） 、 （ｂ
） 、 （ｃ）に示すように左・中央ホトマル１０ａ
、 １０ｂの出力信号 ゛をそれぞれ遅延させて両傷検
出副波形４２’ 、 ４３’の生じるタイミングを傷検
出主波形４４に一致させ、傷検出回路でこれらを加算平
均して得九第１９図の爆検出信９４５の主波形４５ルら
傷検出を行なう。
逆に、ｔｌ＞１２の場合、すなわち突板単板ｌがコンパ
、１２８の搬送方向に向って左側にずれたときけ、ｔ
１＜ｔ ２の場合と全く逆で、第２０図（ａ） 、 （
ｂ） ｅ（ｃ） Ｋ示すように右、中央、左ホトマルｌ
Ｏｃ、１０ｂ。
、１２８の搬送方向に向って左側にずれたときけ、ｔ
１＜ｔ ２の場合と全く逆で、第２０図（ａ） 、 （
ｂ） ｅ（ｃ） Ｋ示すように右、中央、左ホトマルｌ
Ｏｃ、１０ｂ。
１０ｍの順で傷検出側波形４６−．４７と傷検出主波形
４８が現われる友め、第２１図偵） Ｉ （ｂ） 、
（Ｃ） Ｋ示すよらに右・中央ホトマル１０ｃ 、 １
０ｂの出力信号をそれぞれ遅延させて両傷検出副波形４
６’ 、 ４７’の生じるタイミングを傷検出主波形４
８に一致させ、傷検出回路でこれらを加算平均して得た
第２２図の傷検出信４ｊ４９の主波形４９ｍから傷検出
を行なう。
４８が現われる友め、第２１図偵） Ｉ （ｂ） 、
（Ｃ） Ｋ示すよらに右・中央ホトマル１０ｃ 、 １
０ｂの出力信号をそれぞれ遅延させて両傷検出副波形４
６’ 、 ４７’の生じるタイミングを傷検出主波形４
８に一致させ、傷検出回路でこれらを加算平均して得た
第２２図の傷検出信４ｊ４９の主波形４９ｍから傷検出
を行なう。
このように、突板単板１のコンベア２８に対する搬送ず
れに応じ、各ホトマル１０ｍ、１０ｂ、１０ｃ （Ｄ出
力信号を傷検出側波形３８ ｅ ３９ ＊ ４２ ｔ
４３ ｍ４６．４７が傷検出主波形４０，４４．４８に
一致するよう＆でそれぞれ遅延制御して、それらを加算
平均した傷検出信号４１ ｍ ４５ ｅ ４９により傷
検出を行なうようにしたため、言い変えれは傷検出側波
形３８，３９，４２，４３，４６．４７をも傷検出に寄
与させｅａめ、突板単板１の搬送精度に影響されずに効
率良くナイフマークｆａ６を検出することができる。
れに応じ、各ホトマル１０ｍ、１０ｂ、１０ｃ （Ｄ出
力信号を傷検出側波形３８ ｅ ３９ ＊ ４２ ｔ
４３ ｍ４６．４７が傷検出主波形４０，４４．４８に
一致するよう＆でそれぞれ遅延制御して、それらを加算
平均した傷検出信号４１ ｍ ４５ ｅ ４９により傷
検出を行なうようにしたため、言い変えれは傷検出側波
形３８，３９，４２，４３，４６．４７をも傷検出に寄
与させｅａめ、突板単板１の搬送精度に影響されずに効
率良くナイフマークｆａ６を検出することができる。
なお、上記実施例においては、突板単板ｌのコンベア搬
送方向（矢符Ｂ方向）に対する搬送ずれを、レーデ−光
３５°の突板単板１による遮光開始時間ｔｌｅｔｉの差
から求めたが、遮光終了時間ｔ３ｅｔ４（＠１３図）の
差から求めることもできる。また、レーデ−光３５に代
え、コンベア搬送方向（矢符Ｂ方向）に対し直角な方向
を長手方向とする帯状検査光線をラインセンｆ３２上に
照射して、突板単板１の前輪後端通過時における両検査
光線−の遮光位置の相違から突板単板１の搬送ずれを検
出するようＫしてもよい。
送方向（矢符Ｂ方向）に対する搬送ずれを、レーデ−光
３５°の突板単板１による遮光開始時間ｔｌｅｔｉの差
から求めたが、遮光終了時間ｔ３ｅｔ４（＠１３図）の
差から求めることもできる。また、レーデ−光３５に代
え、コンベア搬送方向（矢符Ｂ方向）に対し直角な方向
を長手方向とする帯状検査光線をラインセンｆ３２上に
照射して、突板単板１の前輪後端通過時における両検査
光線−の遮光位置の相違から突板単板１の搬送ずれを検
出するようＫしてもよい。
上記実施例では、突板単板１のナイフマーク傷を検出し
たが、この発明は、帯状検査物の帯緑に対し所定角をも
つ直線溝状傷の検出に広く使用することが可能である。
たが、この発明は、帯状検査物の帯緑に対し所定角をも
つ直線溝状傷の検出に広く使用することが可能である。
以上のように１この発明の直線溝状傷検出装置は、帯緑
に対し所定角の直線溝状傷をもつ帯状検査物を搬送する
コンベアと、このコンベアの搬送方向く対し所定角をも
つライン光を帯状検査物表面へ照射するライン光照射手
段と、両端スリット孔を中央スリット孔の両側に搬送後
方に向は内向き傾斜状態で配置したものでその中央スリ
ッート孔がコンベア搬送方向く対し所定角をもつように
コンベアの上方に平行配置したスリット板と、このスリ
ット板の各スリット孔の上方にそれぞれ対向配置した３
個の受光素子と、前記ライン光照射位置の搬送前段に配
され帯状検査物の前・後端通過時にコンベア搬送方向の
直角線上に検査光線を照射する検査光線照射手段と、前
記両検査光線を受光する受光手段と１、この受光手段で
受光し九両検査光線の帯状検査物による遮光位置の差異
に応じて前記各受光素子の出力信号をそれら信号中の傷
検出波形が相互に一致するように遅延制御する出力信号
遅延回路と、この信号遅延回路による遅延制御後の各出
力信号を加算平均して得た傷検出信号により直線溝状傷
の存在を検出する傷検出回路とを備えたため、搬送精度
に影響されずに、しかも効率良く帯状検査物表面の直線
溝状傷を検出できるという効果がある。
に対し所定角の直線溝状傷をもつ帯状検査物を搬送する
コンベアと、このコンベアの搬送方向く対し所定角をも
つライン光を帯状検査物表面へ照射するライン光照射手
段と、両端スリット孔を中央スリット孔の両側に搬送後
方に向は内向き傾斜状態で配置したものでその中央スリ
ッート孔がコンベア搬送方向く対し所定角をもつように
コンベアの上方に平行配置したスリット板と、このスリ
ット板の各スリット孔の上方にそれぞれ対向配置した３
個の受光素子と、前記ライン光照射位置の搬送前段に配
され帯状検査物の前・後端通過時にコンベア搬送方向の
直角線上に検査光線を照射する検査光線照射手段と、前
記両検査光線を受光する受光手段と１、この受光手段で
受光し九両検査光線の帯状検査物による遮光位置の差異
に応じて前記各受光素子の出力信号をそれら信号中の傷
検出波形が相互に一致するように遅延制御する出力信号
遅延回路と、この信号遅延回路による遅延制御後の各出
力信号を加算平均して得た傷検出信号により直線溝状傷
の存在を検出する傷検出回路とを備えたため、搬送精度
に影響されずに、しかも効率良く帯状検査物表面の直線
溝状傷を検出できるという効果がある。
第１図は従来例の斜視図、＄２図はホトマルからの出力
信号波形図、第３８はスリット板の平゛面図、４！１４
図はスリッ″ト板とナイフマーク傷の位置関係を示す平
面図、第５図、第７図、第９図は各ホトマルからの出力
信号波形図、第６図、第８図。 第１０図はそれらを加算平均した傷検出信号波形図、第
１１図はこの発明の一実施例の斜視図、第１２図は突板
単板へのレーデ−光走査位置を示す平面図、４１３図は
ラインセンサからの出力信号波形図、第１４図、第１７
図、第２０図は各ホ１マルからの出力信号波形図、第１
５図、第１８図。 第２１図は遅延制御後の波形図、第１６図、第１９図、
第２２図はそれらを加算平均した傷検出信号波形図であ
る。 ｌ・・・突板単板（帯状検査物）、３・・・白色光＃（
５ライン光照射手段）、４・・・シリンドリカルレンズ
（ライン光照射手段）、９・・・スリット板、９１゜９
ｂ、９ｃ・・・スリット孔、＝１０ｍ、１０ｂ、１０ｃ
・・・ホトマル（受光素子）、２ｇ・・・コンベア、３
０・・・レーザー発振器（検査光線照射手段）、３１・
・・スキャナ（検査光１線照射手段）、３２・・・ライ
ンセンサ（受光手段）、３３・・・信号遅延回路、４１
、４５゜４９・・・傷検出信号 −時間 第２図 第３図 ３１４図 ４ （ｃ）ニー 第６図 第５図 ７ 第７図 第９図 第１４図 第１５図 第１７図 第１８図゛ 第２０図 第２１図 １ａ 第１６図 ５ 第１９図 第２２図
信号波形図、第３８はスリット板の平゛面図、４！１４
図はスリッ″ト板とナイフマーク傷の位置関係を示す平
面図、第５図、第７図、第９図は各ホトマルからの出力
信号波形図、第６図、第８図。 第１０図はそれらを加算平均した傷検出信号波形図、第
１１図はこの発明の一実施例の斜視図、第１２図は突板
単板へのレーデ−光走査位置を示す平面図、４１３図は
ラインセンサからの出力信号波形図、第１４図、第１７
図、第２０図は各ホ１マルからの出力信号波形図、第１
５図、第１８図。 第２１図は遅延制御後の波形図、第１６図、第１９図、
第２２図はそれらを加算平均した傷検出信号波形図であ
る。 ｌ・・・突板単板（帯状検査物）、３・・・白色光＃（
５ライン光照射手段）、４・・・シリンドリカルレンズ
（ライン光照射手段）、９・・・スリット板、９１゜９
ｂ、９ｃ・・・スリット孔、＝１０ｍ、１０ｂ、１０ｃ
・・・ホトマル（受光素子）、２ｇ・・・コンベア、３
０・・・レーザー発振器（検査光線照射手段）、３１・
・・スキャナ（検査光１線照射手段）、３２・・・ライ
ンセンサ（受光手段）、３３・・・信号遅延回路、４１
、４５゜４９・・・傷検出信号 −時間 第２図 第３図 ３１４図 ４ （ｃ）ニー 第６図 第５図 ７ 第７図 第９図 第１４図 第１５図 第１７図 第１８図゛ 第２０図 第２１図 １ａ 第１６図 ５ 第１９図 第２２図
Claims (1)
- 帯緑に対し所定角の直線溝状傷をもつ帯状検査物を搬送
するコンベアと、このコンベアの搬送方向に対し所定角
をもつライン光を帯状検査物表面へ照射するライン光照
射手段と、両端スリット孔を中央スリット孔の両側に搬
送後方に向は内向き傾斜状患で配置したものでその中央
スリット孔がコンベア搬送方向に対し所定角をもつよう
にコンベアの上方に平行配置したスリット板と、このス
リット板の各スリット孔の上方にそれぞれ対向配置した
３個の受光素子と、前記ライン光照射位置の搬送前段に
配され帯状検査物の前・後端通過時にコンベア搬送方向
の直角線上に検査光線を照射する検査光線照射手段と、
前記両検査光線を受光する受光手段と、この受光手段で
受光した両検査光線の帯状検査物による遮光位置の差異
に応じて前記各受光素子の出力信号をそれら信号中の傷
検出波形が相互に一致するように遅延制御する出力信号
遅延回路と、この゛信号遅延回路による遅延制御後の各
出力信号を加算平均して得た傷検出信号により直線溝状
傷の存在を検出する傷検出回路とを備えた直線溝状傷検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19892981A JPS5899737A (ja) | 1981-12-08 | 1981-12-08 | 直線溝状傷検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19892981A JPS5899737A (ja) | 1981-12-08 | 1981-12-08 | 直線溝状傷検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5899737A true JPS5899737A (ja) | 1983-06-14 |
Family
ID=16399310
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19892981A Pending JPS5899737A (ja) | 1981-12-08 | 1981-12-08 | 直線溝状傷検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5899737A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3508315A1 (en) * | 2018-01-03 | 2019-07-10 | UPM Plywood Oy | A method and a system for manufacturing plywood |
-
1981
- 1981-12-08 JP JP19892981A patent/JPS5899737A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3508315A1 (en) * | 2018-01-03 | 2019-07-10 | UPM Plywood Oy | A method and a system for manufacturing plywood |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4286880A (en) | Scanning light beam lumber defect position system and method of using same | |
| EP0028056B1 (en) | Apparatus and method for detection of overlapping objects | |
| EP0140508B1 (en) | Method of coalescing laser beams | |
| ATE214156T1 (de) | Dichotomisches abtastsystem zur kantenbestimmung von gegenständen mit relativ gleichförmigen oberflächen | |
| GB1150605A (en) | Improvements in or relating to Process and Apparatus for Checking Banknotes and the Like | |
| US5932888A (en) | Web or sheet edge position measurement process and device | |
| JPS5899737A (ja) | 直線溝状傷検出装置 | |
| JP4260001B2 (ja) | 印刷物の検査方法 | |
| JPS56142404A (en) | System for measuring plate width | |
| US3958128A (en) | System for determining a transversal position of any defect in a traveling sheet material | |
| JPH01113639A (ja) | 銅張配線板の外観検査装置 | |
| JPH0129256B2 (ja) | ||
| JPS6351482B2 (ja) | ||
| JPH0961113A (ja) | ラベル位置検出装置 | |
| JPH1063913A (ja) | 良否判別装置 | |
| JPH0694438A (ja) | 光切断法による外観検査装置 | |
| JPS62259044A (ja) | 表面検査方法 | |
| JP2563761B2 (ja) | 単板全面形状検知装置 | |
| EP0182802A1 (en) | Object counting apparatus | |
| JPS6222905Y2 (ja) | ||
| JPS61246609A (ja) | 形状検査装置 | |
| JPS6351481B2 (ja) | ||
| JPS592488Y2 (ja) | 形状判定装置 | |
| JPS5896388A (ja) | 紙葉類の判別装置 | |
| JPH05188004A (ja) | 異物検出装置 |