JPS5897637A - 漏えい試験方法 - Google Patents
漏えい試験方法Info
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- JPS5897637A JPS5897637A JP19565881A JP19565881A JPS5897637A JP S5897637 A JPS5897637 A JP S5897637A JP 19565881 A JP19565881 A JP 19565881A JP 19565881 A JP19565881 A JP 19565881A JP S5897637 A JPS5897637 A JP S5897637A
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- leakage
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- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 29
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
- G01M3/202—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
-
- G—PHYSICS
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- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
- G01M3/22—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material for pipes, cables or tubes; for pipe joints or seals; for valves; for welds; for containers, e.g. radiators
- G01M3/226—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material for pipes, cables or tubes; for pipe joints or seals; for valves; for welds; for containers, e.g. radiators for containers, e.g. radiators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は極低温で使用する容器や配管等の漏えい試験方
法に関する。
法に関する。
発明の技術的背景
超電導コイルなどの構成要素を液体窒素や液体ヘリウム
で極低温に冷却する真空容器や配管等は部品段階におい
て漏えい試験を行なっている。従来の試験方法は常温に
おいてヘリウムガスを被試験体に吹き付けて、漏えいが
無ければ被試験体を液体窒素に浸漬し被試験体温度が一
様になってから取シ出し、被試験体に着霜しないうちに
ヘリウムガスを吹き付けて漏えいを検出していた。すな
わち、液体窒素中においては大きな漏えいの発生はヘリ
ウムリークデテクタの真空計の圧力変化で見つけること
ができるが、微小漏えいは液体窒素中にヘリウムガスを
吹き付けることが不可能なので漏えいを検出できず、常
温にもどしていた。
で極低温に冷却する真空容器や配管等は部品段階におい
て漏えい試験を行なっている。従来の試験方法は常温に
おいてヘリウムガスを被試験体に吹き付けて、漏えいが
無ければ被試験体を液体窒素に浸漬し被試験体温度が一
様になってから取シ出し、被試験体に着霜しないうちに
ヘリウムガスを吹き付けて漏えいを検出していた。すな
わち、液体窒素中においては大きな漏えいの発生はヘリ
ウムリークデテクタの真空計の圧力変化で見つけること
ができるが、微小漏えいは液体窒素中にヘリウムガスを
吹き付けることが不可能なので漏えいを検出できず、常
温にもどしていた。
背景技術の問題点
しかしながら、上記試験で漏えいがなくても極低温下で
は漏えいを発生し常温にもどすと漏えいが止まるいわゆ
るコールドリークと言う異常現象が発生するため完全に
漏えいをつかまえることは困離である欠点があった。
は漏えいを発生し常温にもどすと漏えいが止まるいわゆ
るコールドリークと言う異常現象が発生するため完全に
漏えいをつかまえることは困離である欠点があった。
発明の目的
本発明は上記欠点に鑑みなされたもので、コールドリー
ク現象の極微小漏えいを検出することができる漏えい試
験方法を提供することを目的とする０ 発明の械要 すなわち、被試験体を耐極低温用袋状容器で覆い被試験
体と容器との間にヘリウムガスを連続して供給して常温
と液体窒ｌＡＫ浸漬した状態とで被試験体の漏えいを検
出するようＫしたものである。
ク現象の極微小漏えいを検出することができる漏えい試
験方法を提供することを目的とする０ 発明の械要 すなわち、被試験体を耐極低温用袋状容器で覆い被試験
体と容器との間にヘリウムガスを連続して供給して常温
と液体窒ｌＡＫ浸漬した状態とで被試験体の漏えいを検
出するようＫしたものである。
発明の実施例
以Ｆ本考案を図面に示す一実施例について説明する。第
゛１図は第１の工程を示す状態であって、被試験体（１
）の７ランジにメタルガスケット（２）を介してカバー
（３）をボルトおよびナツトの締付部材（４）で締付け
て密封し、テフロンシート等で作る耐極低温用袋状容器
（５）で覆って口を接着テープ（６）で被試験体Ｈ）に
密着させて密封し、容１１（５）に連通するパイプ（７
）からヘリウムガスを被試験体ｚ１）と容器（５）との
間に連続して供給する。そして被試験体ｊｌ）の溶接部
（１ａ）やメタルガスケット（２）の密封部分よりの漏
えいを被試験体（１）Ｋ接続するヘリウムデテクタ（８
）で検出する。第２図は第２の工程を示す状態であって
、第１図における被試験体（１）と容１１（５）とを液
体窒素容器（９）内の液体窒素−に浸漬したもので他は
第１図と同じである。
゛１図は第１の工程を示す状態であって、被試験体（１
）の７ランジにメタルガスケット（２）を介してカバー
（３）をボルトおよびナツトの締付部材（４）で締付け
て密封し、テフロンシート等で作る耐極低温用袋状容器
（５）で覆って口を接着テープ（６）で被試験体Ｈ）に
密着させて密封し、容１１（５）に連通するパイプ（７
）からヘリウムガスを被試験体ｚ１）と容器（５）との
間に連続して供給する。そして被試験体ｊｌ）の溶接部
（１ａ）やメタルガスケット（２）の密封部分よりの漏
えいを被試験体（１）Ｋ接続するヘリウムデテクタ（８
）で検出する。第２図は第２の工程を示す状態であって
、第１図における被試験体（１）と容１１（５）とを液
体窒素容器（９）内の液体窒素−に浸漬したもので他は
第１図と同じである。
次に作用を説明する。最初に第１の工程により常温にお
ける漏えい試験を行う。被試験体（１）をヘリウムデテ
クタ（８）によって排気し、パイプ（７）からヘリウム
ガスを供給する。ヘリウムデテクタ（８）にヘリウムの
漏えいが検出されなければ、第１の工程を続行する状態
で第２図のように被試験体（１）と容器（５）とを液体
窒素容器（９）内の液体窒素α呻に浸漬してヘリウムデ
テクタ（８）でヘリウムの漏えいを検出する。もしコー
ルドリーク現象で極微小でも漏えいが発生すれば直ちに
ヘリウムデテクタ（８）Ｋより発見することができる。
ける漏えい試験を行う。被試験体（１）をヘリウムデテ
クタ（８）によって排気し、パイプ（７）からヘリウム
ガスを供給する。ヘリウムデテクタ（８）にヘリウムの
漏えいが検出されなければ、第１の工程を続行する状態
で第２図のように被試験体（１）と容器（５）とを液体
窒素容器（９）内の液体窒素α呻に浸漬してヘリウムデ
テクタ（８）でヘリウムの漏えいを検出する。もしコー
ルドリーク現象で極微小でも漏えいが発生すれば直ちに
ヘリウムデテクタ（８）Ｋより発見することができる。
なお第１の工程と第２の工程とを往復させながら漏えい
試験をすれば一層よい結果がえられる。
試験をすれば一層よい結果がえられる。
発明の効果
以上のように本発明によれば、極低温における漏えい試
験において被試験体を耐極低温用袋状容器で覆い被試験
体と容器との間にヘリウムガスを連続して供給し、常温
で被試験体の漏えいを検出する第１の工程と液体窒素に
浸漬して極低温で被試験体の漏えいを検出する第２の工
程とを行うようにしたので、被試験体の極低温下で発生
するコールドリークによる極微小漏えいを容易に発見す
ることができ、極微小漏えいを内蔵したまま後工程へ送
られることを未然に防止することができるすぐれた効果
がある。
験において被試験体を耐極低温用袋状容器で覆い被試験
体と容器との間にヘリウムガスを連続して供給し、常温
で被試験体の漏えいを検出する第１の工程と液体窒素に
浸漬して極低温で被試験体の漏えいを検出する第２の工
程とを行うようにしたので、被試験体の極低温下で発生
するコールドリークによる極微小漏えいを容易に発見す
ることができ、極微小漏えいを内蔵したまま後工程へ送
られることを未然に防止することができるすぐれた効果
がある。
第１図は本発明の漏えい試験方法の第１の工程を示す試
験状態の縦断面図、第２図は第２の工程を示す試験状態
の縦断面図である。 （１）・・被試、検体 （２）・・・メタルガ
スケット（３）・・・カバ・・・ （５）・
・・□容器（６）・・接着テープ （７）・・・
パイプ）８）・・・ヘリウムデテクタ （９）・・・液
体ｇ１素容器Ｑ（１−・・液体窒素 （３２５７）代理人弁理士 井 上 −男第 １ 図 第 ２ 図
験状態の縦断面図、第２図は第２の工程を示す試験状態
の縦断面図である。 （１）・・被試、検体 （２）・・・メタルガ
スケット（３）・・・カバ・・・ （５）・
・・□容器（６）・・接着テープ （７）・・・
パイプ）８）・・・ヘリウムデテクタ （９）・・・液
体ｇ１素容器Ｑ（１−・・液体窒素 （３２５７）代理人弁理士 井 上 −男第 １ 図 第 ２ 図
Claims (1)
- 験体の漏えいを検出する第１の１６程と、前記被試験体
を容器で覆いヘリウムガスを連続して供給したまま液体
窒素に浸漬した状態で被試験体の漏えいを検出する第２
の工程とからなる漏えい試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19565881A JPS5897637A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 漏えい試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19565881A JPS5897637A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 漏えい試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5897637A true JPS5897637A (ja) | 1983-06-10 |
Family
ID=16344833
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19565881A Pending JPS5897637A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 漏えい試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5897637A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005007609A1 (de) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Kaltleckprüfung an einer Vakuumeinrichtung |
| DE102007032761A1 (de) * | 2007-07-13 | 2009-01-15 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Prüfvorrichtung und Verfahren zur Prüfung einer für eine Tieftemperaturanwendung vorgesehenen Dichtung |
-
1981
- 1981-12-07 JP JP19565881A patent/JPS5897637A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005007609A1 (de) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Kaltleckprüfung an einer Vakuumeinrichtung |
| DE102007032761A1 (de) * | 2007-07-13 | 2009-01-15 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Prüfvorrichtung und Verfahren zur Prüfung einer für eine Tieftemperaturanwendung vorgesehenen Dichtung |
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