JPS5894253U - 高温顕微鏡 - Google Patents

高温顕微鏡

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JPS5894253U
JPS5894253U JP14190082U JP14190082U JPS5894253U JP S5894253 U JPS5894253 U JP S5894253U JP 14190082 U JP14190082 U JP 14190082U JP 14190082 U JP14190082 U JP 14190082U JP S5894253 U JPS5894253 U JP S5894253U
Authority
JP
Japan
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temperature
sample
electron beam
microscope
heats
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Pending
Application number
JP14190082U
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English (en)
Inventor
田岡 忠美
中島 文夫
河村 尚
豊 平野
丸 公夫
一敏 有田
吉田 秀将
Original Assignee
ユニオン光学株式会社
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図は本考案に係る高温顕微鏡の一実施例を示すもので、
第1図は全体の構成図、第2図は試料の保持部分を示す
縦断面図、第3図は第2図におけるA−A線断面図であ
る。 1・・・・・・陰極、2・・・・・ゼーム成形電極、3
・・・・・・陽極、4・・・・・・フィラメント加熱電
源、5・・・・・・トランース、6・・・・・・可変高
圧電源、7・・・・・・昇圧トランス、8・・・・・・
整流器、9・・・・・・電子ビーム、14・・・・・・
試料、15・・・・・・温度検出器、16・・・・・・
偏差増幅器、17・・・・・・温度設定器、18・・・
・・・試料保持体、19・・・・・・保持片、20・・
・・・・室、21・・・・・・極細管。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. (1)試料を高温に加熱して観察等を行なう高温顕微鏡
    において、電子ビームを試料の1面に直接照射して加熱
    する加熱装置と、この電子ビームを集束および偏“向さ
    せる集束コイルおよび偏向コイルと、前記試料の他面を
    観察する観察装置と、加熱する温度をあらかじめ設定す
    る温度設定器と、前記試料の温度を直接検出する温度検
    出器と、前記温度設定器の設定温度と前記温度検出器の
    検出温度とを比較し、その差異に基づいて、前記検出温
    度を前記設定温度に一致させるように、前記加熱装置に
    おける前記電子ビームの照射状態を制御する制御装置と
    を具備したことを特徴とする高温顕微鏡。
  2. (2)電子ビームの密度分布が、中央部が粗、周側部が
    密となっている実用新案登録請求の範囲(1)記載の高
    温顕微鏡。
JP14190082U 1982-09-21 1982-09-21 高温顕微鏡 Pending JPS5894253U (ja)

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JP14190082U JPS5894253U (ja) 1982-09-21 1982-09-21 高温顕微鏡

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JPS5894253U true JPS5894253U (ja) 1983-06-25

Family

ID=30101627

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