JPS5894193A - リ−ド・オンリ−・メモリ - Google Patents

リ−ド・オンリ−・メモリ

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Publication number
JPS5894193A
JPS5894193A JP56191235A JP19123581A JPS5894193A JP S5894193 A JPS5894193 A JP S5894193A JP 56191235 A JP56191235 A JP 56191235A JP 19123581 A JP19123581 A JP 19123581A JP S5894193 A JPS5894193 A JP S5894193A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
mos
lines
decoders
rom
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56191235A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Fujii
浩一 藤井
Shigemi Sasada
笹田 茂己
Muneo Nishiomote
西面 宗男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP56191235A priority Critical patent/JPS5894193A/ja
Publication of JPS5894193A publication Critical patent/JPS5894193A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/08Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
    • G11C17/10Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
    • G11C17/12Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Studio Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、漢字ジェネレータや音符ジェネレータの如き
、文字、記号や図形などのパターンの発生装置に用いら
れるパターン発生用リード・オンリー・メモリに関する
パターン発生用リード・オンリー・メモリ(以下リード
・オンリー・メモリ1kROMと称す)としては、従来
、第1図に示す如く、トランジスタT11.”〜TLn
 のセルをパターンの画素に対応させ、各パターンにそ
れぞれ記憶領域を割り当てたものが知られてrる。この
ROMでは、各トランジ7りT 11.、〜TLn  
のゲートにワード線A l、Lz 。
・・・Anが接続セれ、これらワード線AI、、A2.
・・・Anはアトレアデコーダlにより選択されるよう
になっている。各トランジスタ”11.=〜TLn  
のソースにはビット線CI 、 C2、・・・CLが接
続され、これらピッ[線の 、′・一端が出力用に供さ
れると共に、他端が抵抗2t−介して接地されている。
各トランジスタT11’〜TLnの情報の記憶状態は、
ドレインが正電圧電源に接続されていればrlJ、接続
されていなければrOJである。
このようなROMからパターンを発生させるには、アト
レアデコーダlにアドレス信号を入力して所定のワード
線、例えばAoに電圧を印加する。
このとき、ワード線A1に接続されているトランジ7り
Tll、T21.・・・TLl のソー7、ドレイン間
が導通状順になるので、ドレインが正電圧電源に接続さ
れてい名トランジヌタではドレインかラソース及び抵抗
2を経由してアーヌヘ電流が流れ、そのトランジスタが
接続されているビット線に正電位の「1」が出力される
。また、ドレインが正電圧電源に接続されていないトラ
ンジスタでは抵抗2を電流が流れないので、そのトラン
ジスタが接続されているビット線にはアース電位のrO
Jが出力される。このようにして、ワード線A□の選択
によりビット線C1,C2,・・・CLからの出力を得
た後、アドレスデコーダ1に次のアドレス信号を入力し
、例えばワード線A2を選択して、同様にビット線CI
 、 Cz 、・・・CLがら出カ次得る。この操作を
繰り返すことにより、出方「1」又はrOJK 対応す
るドツトを画素とするドツトパターンが得られる。
しかしながら、この従来のパターン発生用ROMにおい
ては、パターンの数だけの記憶領域を必要とし、したが
って、パターンの数が多くなれば、それに比例して記憶
容量も増加してパターン発生装置のコストを引き上げる
だけでなく、1個のアドレスデコーダでワード線の選択
を行なっているために、アクセス時間が長くなる問題が
ある。
本発明は、上記問題に鑑み、小さい記憶容量で済み、し
かもアクセス時間も短かいパターン発生用ROMを提供
することを目的とするものである。
以下、一実施例により本発明の詳細な説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す回路図である。
All  ALN−TBlし MOS)ランノ7りT  、〜T 〜TBLMのセルが行列状に配列され、各列に配列2さ
れたMOS)ランジヌタのゲートにはワード線A1. 
A2.・・・AN、B工、B2.・・・BMが共通に接
続されている。本実施例では八〇〜ANのN本のワード
線がアドレスデコーダ(へ)8により選択され、Bt〜
BMのM木のワード線がアドレスデコーダ(B)4によ
り選択されるよう、に区分されて、ワード線が2個のア
ドレスデコーダ(へ)8又は向4に接続されている。各
MO5)ランジヌタT  、〜TAll   ALN− TB□0.〜TBLMのソースには、第1図と同様にビ
・ツ)線C1,C2,・・・CLが接続され、これらビ
ット線の一端が出力用に供されると共に、他端が抵抗2
を介して接地されている。また、第1図と同様にして、
各MQS)ランジスタT  、〜TAll   ALN
% TBll、〜”BLMのドレインに正電圧電源が接続さ
されておれば「1」、正電圧電源が接続されていなけれ
ば「0」として情報が記憶されている。
本実施例のROMによりパターンを発生させるには、ア
ドレスデコーダ(へ)3へのアドレス信号の入力と、ア
ドレスデコーダの)4へのアドレスB信号の入力とを同
時に行ない、ワード線A0〜ANのいずれかの選択と、
ワード線B□〜BMのいずれかの選択とを同時に行なう
。いま、アドレスデコーダ四3でワード線A1f選択し
、アドレスデコーダの】4でソード線B12選択したと
する。このとき、ワード線A1又はBoにゲートが接続
されているMOS)ランジヌタ”All’〜TAL1、
又はTBll、〜TBLlでは、そのドレインにJEt
正電圧電源続されておれば、ドレイン、ソース、抵抗2
からアースへと電流が流れて、そのMOS)ランジスタ
のソースに接続されているビット線に「1」が発生し、
逆にドレインに正電圧電源が接続されていないMOS)
フンジヌタでは上記の電流が流れず、そのMOS)フン
ジスタのソースに接続されたビット線には「0」が発生
する。したがって、例えばビット線CIでは、ビット線
C1とワード線入〇とに接続されるMOS)ランジスタ
TA1□と、ビット線C□とソー、ド線B1とに接続さ
れるMOS)ランジヌタT131□と、の一方又は双方
に「1」が記憶されておれば、ビット線C1に「l」が
発生し、またMOS)ランノ7りTAllとTB 11
の双方がrOJであればビット線C0に「0」が発生す
る。すなわち、〈ット線には選択されたワード線に接続
されているMOS)ランジスタのオア出力が発生するこ
とになる。
いま、第2図のMOS)フンジスタTAll’〜TA1
6□6からなる1 6X16ビツトの記憶領域に第8図
(1)に示されるパターンが記憶され、MOSトフンジ
ヌタTB11.〜TB1616からなる16X16ビツ
トの記憶領域に第8図(2)に示されるパターンが記憶
されているものとする。ここ、で黒丸は「1」白丸は「
0」を表わすものとする。第8図のアドレスデコーダ四
8でワード線A1を選択し、アドレスデコーダの)4で
ワード線B□を選択すると、ワード線A1に接続されf
iMO8)フンジヌタT     NT A11.ALIの記憶内容「000・・・・・・00」
と、ワード線B1に接続されたMOS)ランジスタTB
1□、〜TBL1の記憶内容「000・・・00」のオ
ア出力として、ビット線CI 、・・・C16には第3
図(8)の00列で示される如く「000・・・・・・
00」の出力が得られる。
次にワード線A2とB2とを選択すると、それぞれに接
続されるMOS)ランジヌタTA12.・・・TA16
□及びTBl。、・・・TB162の記憶内容のオア出
力として、ビット線C0,・・・C16には第3図(3
)のB2列で示される如く「000000111100
0000Jの出力が得られる。以下同様にしてアドレス
デコーダ^3によるワード線の選択と、アドレスデコー
ダ(B)4によるワード線の選択とを同時に順次進める
ことにより、順次第3図(8)に示パターンを得る。
このようにして得られる第8図(8)のパターンは、同
図(1)のパターンと同図(2)のパターンとが重畳さ
レタパターンになっている。すなわち、本実施例は、ア
ドレスデコーダへ)3で選択される記憶領域に記憶され
たパターンと、アドレスデコーダ(B)4で選択される
記憶領域に記憶されたパターンとを合成することができ
るROMであることを示している。
第4図には本実施例で合成されるパターンを示す。例え
ば、第2図において、アドレスデコーダ(5)8により
選択される記憶領域にはa、、a2及び33′の8個の
パターンが記憶されており、アドレスデコーダ(B)4
により選択される記憶領域にはbt。
b 及びB3の3個のパターンが記憶されているものと
すれば、本実施例ではパターンal、a□又はa と、
パターンbb  又はB3の組み合゛せ8      
     11 2 で得られる9種類の合成パターンdl□、d12’・・
・dBBが得られる。すなわち、6個の記憶領域を有す
るROMから9個のパターンを発生させることができる
ことを意味している。仮に、これら9個のパターンd 
 、d  、・・・dBBを従来のハ1it−ン11 
 12 発生用ROMに記憶させるとした場合には、9個の記憶
領域を必要とするので、本実施例は少ない記憶領域、す
なわち小さい記憶容量で必要なパターンを発生すること
ができるROMとなっている。
そして、パターン数が多くなればなるほど、この効果が
顕著になることが明らかである。
また、アクセヌ時間は、本実施例では、アドレスデコー
ダ四3では3個の記憶領域から1個の記憶領域をアクセ
スするのに要する時間であり、アドレスデコーダ(B)
4についても同じ時間を要するが、アドレスデコーダ(
5)3とアドレスデコーダノ)4とは同時にアクセスさ
れるので、結局、3記憶領域から1記憶領域をアクセス
するに要する時間である。これに対して、従来のパター
ン発生用ROMにおいては9記憶領域から1記憶領域を
アクセスする時間を要し、本実施例より長時間を要する
なお、上記実施例において、アドレスデコーダ四8又は
Φ)4の一方のみを作動させるような用い方をすれば、
従来のパターン発生用ROMと全く同じ機能を果す。ま
た、上記実施例のワード線を行線とし、ビット線を列線
とするように配列を替えても全く同じであることはいう
までもない。
また、上記実施例の第2図においては、ビット線C0,
〜CLにそれぞれ抵抗2を接続しているが、この抵抗2
に代えてMOS)ランジスタをそのソースをビット線に
、ドレインを接地するように接続し、メモリの使用時に
はそのMOS)フンジ7りをオン状態として、ソース・
ドレイン間の抵抗によりビット線Cよ、〜CLに出力が
発生するようにし、メモリの不使用時にはそのMOS)
ランジスタをオフ状態にするようにしてもよい。さらに
、第2図ではメモリセルTA11.〜TALN、TB1
1.〜TBLMをP型MOSトランジヌタで構成してい
るが、これらをN型MO8)ランジヌタで構成すると共
に、トランジスタのドレインを接地し、抵抗2を電源に
接続するように構成してもよい。ただしこの場合、アド
レス信号の極性は第2図に示したものとは逆になる。
さらにまた、メモリセルのトランジスタをパイポーラト
ランジヌタに代えても同様に作用する。
本発明においては、3個゛以上のアドレスデコーダを設
けることができる。そして、そのうちの2個のアトレア
デコーダを同時に作動させればそれらのアドレスデコー
ダにより選択される2個の記憶領域に記憶されてrるパ
ターンの合成パターンが得られ、また3個以上のアトレ
アデコーダを同時に作動させればそれらのアドレスデコ
ーダにより選択される3個以上の記憶領域に記憶されて
いる8個以上のパターンの合成パターンが得られ、記憶
容量を一層低減すると共に、アクセス時間も一層短縮す
ることができる。
以上詳述した如く、本発明は1個のROMに2個以上の
アドレスデコーダを設け、少なくとも2個のアトレアデ
コーダを同時に作動させると共に、それらのアドレスデ
コーダにより選択される記憶領域に共通のピット線を設
けて、同時に選択され報のオア情報を取り出すように構
成したもので、従来のパターン発生用ROMに比べて、
同じ機能を果すのに小さい記憶容量で済み、したがって
パターン発生装置のコストを低下させると共に装置を小
型化することができる。さらに本発明によれば、同じパ
ターン数を発生させる従来のパターン発生用ROMより
アク、、+!7一時間の短かいROMを達成することが
できる。
さらにまた、本発明では1個のROMで済むと共に、選
択された記憶領域から共通のビット線によりオア出力を
得ているので、パターン合成のための特別な回路を必要
とせず、したがってパターン作成が容易なパターン発生
装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のパターン発生用ROMI示す回路図、第
2図は本発明の一実施例を示す回路図、第8図はパター
ンの一例を示す図で、同図(1)及び(2)はROMに
記憶されているパターン、同図(3)は出力として得ら
れる合成パターンである。第4図は第2図に示した笑施
例におけるパターン合成の様子を示す図である。 1.3.4・・・アトレアデコーダ、  2・・・抵抗
、T11=  〜TLn−TAll・ 〜TALN −
TB 11−〜TBLM・・・・トランジスタ、  A
 t 、〜A n、 A l、〜AN、B1〜BM・・
・ワード線、C1,〜CL ”’ピット線。 特許出願人 株式会社 リコー 代 理 人 弁理士青白 葆 外2名 50

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数個のトランジスタを行列状に配列し、各列(
    又は行)に配列されたトランジスタをワード線で共通に
    接続し、各行(又は列)に配列されたトランジスタをビ
    ット線で共通に接続してなるリード・オンリー・メモリ
    において、前記ワード線を少なくとも2個のグループに
    区分し、これらのグループ毎に異なるアトレアデコーダ
    を設けて異なるグループの前記ワード線を同時に選択す
    ることにより、前記ビット線から異なるグループに属す
    るトランジスタのオア出力を得るようにしたことを特徴
    とするリード・オンリー・メモリ。
JP56191235A 1981-11-27 1981-11-27 リ−ド・オンリ−・メモリ Pending JPS5894193A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56191235A JPS5894193A (ja) 1981-11-27 1981-11-27 リ−ド・オンリ−・メモリ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56191235A JPS5894193A (ja) 1981-11-27 1981-11-27 リ−ド・オンリ−・メモリ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5894193A true JPS5894193A (ja) 1983-06-04

Family

ID=16271143

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56191235A Pending JPS5894193A (ja) 1981-11-27 1981-11-27 リ−ド・オンリ−・メモリ

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JP (1) JPS5894193A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432496A (en) * 1987-07-27 1989-02-02 Mitsubishi Electric Corp Read-only memory
JPH02189080A (ja) * 1989-01-18 1990-07-25 Mitsubishi Electric Corp メモリデータ合成装置
JP2002074935A (ja) * 2000-08-29 2002-03-15 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

Cited By (4)

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JP4553464B2 (ja) * 2000-08-29 2010-09-29 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置

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