JPS5887449A

JPS5887449A - 紙葉類の破れ検知装置

Info

Publication number: JPS5887449A
Application number: JP56185252A
Authority: JP
Inventors: Tomio Kan; 鑑　富雄
Original assignee: Toshiba Corp; Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1981-11-20
Filing date: 1981-11-20
Publication date: 1983-05-25

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〈発明の技術分野〉本発゛明は、たとえば紙幣などＯ紙ＩＩＩＩ類に対して
真偽鎌査を行う艦査器ＫＴｈいて、搬送され為紙Ｓ＊の
破れ状態を検知する紙票類の破れ検知装置Ｋ１１ｌｔゐ
。

〈従来技術〉従来、この種の破れ検知装置としては第１図に示すよう
なものがある０図において、Ｐは矢印ａ方向に搬送され
る紙葉類、１は搬送される紙ｉｕｇｐにその下面から光
を照射する光源、２゜３はこの光源１と相対向する紙票
類Ｐの上部に設けられ丸棒状のフォトセル、４＃５はこ
の７オトセル２，３の出力信号を増幅する増幅器、σは
この増幅器４，５の出力信号が供給される処理回路であ
る。なお、上記７オトセル２．Ｊは、搬送される紙葉類
ＰＯ幅方向両端部に上記搬送方向ａと直交して配設され
ている。しかして、紙葉類Ｐが搬送されてくると、７オ
トセルＪ　ａ　Ｊへの入射光は搬送されてくる紙葉類Ｐ
によってし中断される。このと自のフォトセル２゜Ｓの
出力信号を増幅器４．５でそれぞれ増幅して処理囲路Ｉ
へ供給し、ここで上記各出力信号を九とえば積分処理す
ることによシ、その各積分値に応じて紙葉類Ｐの破れ部
分ｌ（第１図に破線で示す）を検知するもＯである。

〈従来技術の問題点〉しかしながら、このような従来の破れ検知装置では、九
とえば紙１１１ｍ１ＰＫいわゆる角折れなどが生じてい
ると、それに伴ない７オトセンデ２．１０出力が大きく
装動してその積分値に大きな誤差が生じる（つｔｐ１６
九かも破れ部分があつ九場金と同様な値となる）、ζ〇
九め、本来は破れ部分が無いに％かかわらず破れ部分有
ｐとして誤検知してしまう、オ九、紙１ＩＩｌ１４デが
たとえば紙幣などのようＫｊｌさが薄い場合、あるいは
汚れてきた古い紙幣Ｏ場合には、上記同様に正確な検知
が困−になる、九とえば紙幣が新しい場合には、紙幣を
透過する光量が多いのでその積分値はあえかも破れ部分
があ′）九場合と同様な値とな夛、このため破れ部分有
夛として誤検知してしまう、一方、古い紙幣Ｏ場合には
、逆に透過光量が少なくなるのでその積分値はあえかも
破れ部分が無かった場合と同様な値となシ、このため本
来は破れ部分が有るにもかかわらず破れ部分無しとして
誤検知してしまう。

〈発明の目的〉本発明は上記事情に鑑みてなされ九もので、その目的と
するところは、搬送される紙葉類の搬送方向と直交する
被数箇所の幅を測定し、この４！ｒ＃Ｉ定値を基準値と
それぞれ大小比較することによシ、基準値よｐも小さい
測定値が連続して所定個得られたとき紙葉類に破れ部分
有ヤと判別するように構成することによって、紙葉類の
角折れ、厚さ、汚れなどにかかわらず、紙業類の破れ状
態を常に正確に検知することができ、（１１籟性に優れ
良紙′＃１類の破れ検知装置を提供することＫある。

〈発明の実施例〉以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

第２図において、Ｐは紙幣などの紙葉類で、たとえば長
手方向に沿って図示矢印ａ方向に搬送される。１１は棒
状Ｏ光ＩＩ（九とえば螢党灯）で、上記搬送方向ａと直
交方向に配設されていて、搬送される紙葉類ＰＫ−ｔｏ
下面から光を黒射するものであり、九とえに第３１１１
に示すように設定され九搬送エリアム・を充分カバーで
龜る長さに設定されている。１１は光＠１１による紙ｓ
＠Ｐの射影を九とえば１／Ｉ＠に縮小する光学系、１１
はこの光学系１１で縮小されえ射影が結像される２イン
−ンサ、１．４紘ζＯラインセン−ｖ−ｘｚを駆動す為
駆ｓｗＡ路である。上記ツインセンナＩＪは、多数ＯＩ
Ｉ体撮像素子を直線状に配列してなる１己滝査！＃Ｏ光
電羨換優で、上記搬送方向ａと直交方向く配設されてお
夛、たとえば＃ＩＩ３図に示す搬送エリアム・を矢印す
方向に走査して光電変換し得るようＫなっている。し九
がって、上記搬送エリアム番がラインセンナＩＪの視野
となる。こむに上記搬送エリアＡ・は、九とえば第３図
に示すように第１エリアム１　、第２エリアＡ箇、第３
エリアムｓＫ分割設定されていて、第２エリアム■は搬
送１れろ紙葉類Ｐの幅方向の略中央に位跋するようにな
っている。また、１５株搬送されてくる紙ｓａｐの先端
を検知する検知器で、光源と受光素子とからなシ、２イ
ンセンｔｌＳよりも手前の所定部位に配設されておシ、
その出力は後述する処理回路Ｉ８に供給される。１１は
増幅回路で、２インセンｆ１３の出力信号を増幅する。

１１は量子化回路で、増幅囲路ＩＣで増幅され九ライン
センサ１１の出力備考七′各♂ットごとに量子化する。

この場合、たとえば第４図に１ピット分の信号波形を拡
大して示すように、紙葉類ＰＫよる変化分（ＶＰＰ　）
　Ｏ約’Ａ　（ＶＰＰ／２　）のスライスレベルでスラ
イスすることによｐ量子化するようになっている。ｔた
、１１は処理回路で、量子化回路１１の出力によυ後で
詳述するような種々の処理動作を実行する。

第５図は第２図の処理回路１１１に詳細に示すものであ
る０図において、２１は！イイング発生回路で、ライン
センｔ１１の走査に同期して、その１走査ごとに第３図
の嬉１．第２．第３工リアＡ、ｅム諺　、ム３を指定す
るタイ建ンダ償号Ｔｌ＊　Ｔｚ　　＋　’ｒｓ　（第６
！ＩＩ参照）を順次出力するとともに、タイｔ／ダ儂号
Ｔｓを出力し九のち次Ｏ滝査時のタイ建ンダ償号〒１を
出力する前に割込タイずンダ信号Ｔａ　（縞６図参照）
を出力するようになっている。ｘｌは量子化囲路１１の
出力と上記タインンダ信号〒１とＯアンドを取るアンド
回路、ＸＺは量子化囲路１ｒの出力をインバータ囲路１
４で反転した信号と上記タイ電ンダ信号Ｔ曾と０アンド
を取るアンド回路、１５は量子化−路ＩＦＯ出力と上記
タイ建ンダ信号Ｔ、とのアンドを壜るアンド回路である
。まえ、ｘｉは第３図の第１エリアム１に対応し九第１
カクンタで、アｙＰｗＡ路１１Ｇ出力をカウントするこ
とによ）、第３図に示す長さｖｔ（紙葉類Ｐの上端から
第２エリアム露Ｏ上端までＯ長さ）をカウントする。ｘ
ｒＦｉ第３図の第２エリアＡ、に対応し良路２カウンタ
で、アンドｉｌ路２１の出力をカウントすＪｌことＫよ
り、紙ｍａｐの第２エリアムロ内に大Ｈ（第３図参照）
が存在した場合その大きさｗ４をカウントする。２８は
第３図の第３エリアＡｓに対応した第３カウ／りで、ア
ンド回路２１の出力をカウントすることによシ、第３図
に示す長さｗ３（第２エリアＡＩの下端から紙１ｉ１１
Ｐの下端までの長さ）をカウントする。ｔた、２９は俵
で詳述する種々のデータ処理などを行うＣＰＵ　（中央
処理装置）、３０．３１はとのＣＰＵ　Ｊ　＃に接続さ
れるアドレスバスおよびデータバス、１２゜１３．３４
はこれら各パス１０．１１と上記各カウンタ１ｇ、１Ｆ
、１１との間に接続されたパスドライバ、３５は上記各
ノ量スｓｏ、ｓｒに接続され上記各カウンタｚｔｔ、ｘ
ｒ、ｘａの内容を格納する丸めのＲＡＭ　（ランダム・
アクセス・メモ！Ｊ）、Ｊ＃ｔｌｉ上記各パス３０．１
１と前記検知器１５との間に接続され九ノ櫂スドライパ
である。

次に、このような構成において第８図および第９図に示
すフローチャートを参照しつつ動作を説明する。今、検
知動作がスタートすると、ｃｐｔｒ　ｘ　ｔはまずステ
ラｆ８１にて紙票鎖ＰＯ先端が検知され丸か否かをチェ
ツタする。すなわち、ＣＰＵ　ｊ　＃は、アドレスバス
ｓｅｆ介してΔストライ・４Ｊ＃をアタテイデにするヒ
とによ〉、検知器１ｊの出力を一一タＩすＪｌを介して
取込み、検知器１５の出力信号が暗レベルになつ九か否
かをチェックする。ζＯチェツタの結果、紙葉類ＰＯ先
端が検知されると、つ宜〉紙票−Ｐが矢印ａ方向に搬送
されて自て、その先端が検知器１５で検知され為と、Ｃ
ＰＵ１ｔはステップ８■に進み、ＣＰＵＪｌに内蔵され
九遍延タイマをセットし、ステラ７”８ｓＫ進む、ステ
ップ８、では、上記タイマがタイムアウトし丸か否かを
チェツタし、タイムアウトすればステップ８４に、４拳
、データを取込む取込ツイン数（島現する紙１１１１１
Ｐの大！１に応じてあらかじめ決定される）ｎを設定し
、ラインセンｔｌｌＫよる紙＠ｐａｔ）走査を開始すみ
、すなわち、−紋に紙８ｍＫ）角折れあ為いは損傷など
紘そＯ先端部および後端部に多いＯで、その部分ｏｒ−
ｐは用いない方がよく、よってそれをさけるために、紙
葉類Ｐの先端が検知されると遅延タイマをセットし、一
定時間（１）遅延後に取込ツイン数ａを設定してライン
センサー３の走査を開始するものである。

ラインセンサー１の走査が開始されると、ツインセンサ
ーＪは第７図に示すように、紙葉類ノＰの先端から所定距離ｆ（前記時間ｔに対応）経過し九
時点から第１走査ラインＨ１＋第２走査ラインＨ，・・
・・・・として第ｎ７！！査ツインＨｎｔで矢印す方向
に順次走査し、各２インごとに光電変換する。この場合
、上記各ツイン間の距離はえとえばｌ■に設定されてい
る。なお、第７図におけるＢ部は破れ部分を示している
。しかして、ラインセンサー３の出力信号は増幅回路Ｉ
Ｃで増幅され九のち量子化回路１１へ供給され、ここで
各ピットごとに量子化される。すなわち、たとえばライ
ンセンサーＳの出力信号が暗レベルのとき（紙葉類Ｐが
光源１１からの光をしゃ断しているとき）は“１“信号
に、明レペルのと自（紙１１１＠Ｐが光＠１１からＯ光
をし中断していないとき）は＠　０　＃信号に変換する
もＯであｐｌこれはフイン−ンｆＪ　ｌＯ各ビットごと
に行われる。このようにして量子化され九１１′。

′ｍ０１償号は処鳳闘＠１８へ供給される。

処１１ｍ１１１１においては、タイ建ンダ発生−路２１
から前述し丸ように第６図に示すタイ電ンダ信号Ｔｌ　
　ａ　Ｔｓ　　ｅ　ｔｓが順次出力され、アンドは路１
１．１１．１１ｆＣ供給１れるので、第１カウ／り２ｄ
はタイインダ信号ＴＩＯ期間、量子化回路１ｒの出力（
１１”信号）をカウントすることによ〉第３１１（）−
ＩＩさＷｌを、第２カウンタ２ｒはタイ７ング信号Ｔ■
の期間、第ｓＩｌに示す穴Ｈが存在すれば量子化回路Ｊ
ＦＯ出力（＠″ＯｍＯｍ信号ウントするととＫよシそＯ
大Ｈの大１１１．４を、第３カクンタ１＃はタイインダ
信号Ｔ、ＩＤ期間、量子化回路１１の出力（１１ｍ信号
）會カウントすることによ〉第５ａｉ１ｏ長さｗ！Ｉを
それぞれカウントする。そして、タイミング発生回路２
１から割込タイ建ンダ信号Ｔ４が出力されると、そのタ
イオンダ信号Ｔ４がＣＰＵ２＃に入力されることによｐ
、ＣＰＵＩＩＩはステップ８．に進み、上記各カウンタ
ｘｇ、ｚｒ。

ｚａｔｖ内容（１）イン分の各データｗｆ、ｖ４゜ｖｉ
）を続出して取込む、すなわち、ＣＰＵＪ＃は、アドレ
スバスＳ０を介してパスドライｔ４　Ｊ　Ｊ　＊１１．
３４をアクティブにすることによシ、各カウンタ２ｉｅ
２ｒ＊２１の内容を読出して内部に城込む、上記各デー
タを堆込むと、ＣＰＵＪｊＴはステップＳ・に進み、取
込んだ各データｗｌ。

ｗ４．ｖｓをＲＡＭ　ｌ　ｌにそれぞれ格納し、ステラ
／８、に進む。ステップＳ！では取込ライン数がｎに遂
したか否かをチェックし、ｎＫ適していなければ再びス
テツノ８．に戻って上記同様な処理を繰９返す、このよ
うに、＃１１走査２インＨ１から第１走査ツインＨ１ま
で各ラインごとに、上記３種のデータｗ１．ｗ４．ｖ！
を各カウンタ２σ。

ＩＦ、２１によって求め、その各データが求まつ九時点
で発生する割込タイミング信号Ｔ４によって上記各デー
タをｃｐｔｒ　ｘ　ｓに堆込み、それを腸■１に格納す
為４０′？ある。

こうして＃Ｉ！＆走査ツイｙＨ１壜で走査が終了すると
、りま如ステツｆｔＪマにおいて取込ツイン数がｎＫ達
すると、ＣＰＵ　Ｊりはデータ０＊込みを停止し、ステ
ラｆｉｌに進む、ステラｆＩＩで娘、ＲＡＭ１５に格納
され九番ツインごとＯデータｗｌ、ｖｉを第１走査ツイ
ンＨ１かも順次読出し、この観出しえ各データによ）Ｊ
テツ！８−で番ラインごとの紙票類Ｐａ＠ｖ１．マ！−
−−−Ｗ、１ｌｉＨ求める。すなわち、ある走査ツイン
をＨ１（ｌ　ｘｌ−１）とすると、このｓ！査ツインＨ
ｉＯ＠Ｗｉは次式で与えられ為。

Ｗ　Ｈｍ　ｗ目＋ｖ　２　＋ｖ目・・・・・・・−（１
）ここｇ、ｗｉｔは上記走査ラインＩＩＩＫおけ為長さ
ｙｌ、ｖｌｌは同じく上記走査ツインａｌＫおけ為長さ
ｗ３でああ、壕九、Ｗ２は第３１１に示す第２エリアム
１の長さで、これは資化しない一定値でるに、よってｙｇｓ＋ｍ（（Ｃｘ　ｃｏｎｓｔａｎｔ　）とす為と、
上記（１）式はｗ　１−Ｃ＋ｗ　ｉ　１＋ｗ　＋　ｓ　−・−・−（２
）と変形できる。このＷ　１０値は第１走査フインＨ１
から第１走査ツインＨ１まで各２インごとにＷｌ　。

ＷＳ、Ｗ、・・−・・・Ｗｎと与えられる。したがって
、ＣＰＵ　Ｊ　ｊｌはステラ７’Ｓ−にてなる演算を行
うことにより、各走査ラインごとの幅ｗ、、ｗ、、Ｗ、
・・・−・Ｗｌを求めるものである。このようにして各
ラインごとの幅を求めると、ＣＰＵ　Ｊ　＃はステップ
Ｓ１ｅに進み、上記求め九各値Ｗｌ　　ｖ　ＷＢ　　、
　ＷＢ　・−＝・ＷＢによ〕紙１［＊Ｐの破れ判別を行
う。

第９図は上記ステラｆＳ１・において破れ判別を行う丸
めのフローチャートを示すもので、以下その詳細を説明
する。ＣＰＵ　２　Ｇは、まずステツノ８１１で、後述
する破れ判定を行うために各値Ｗ１　、Ｗ、、ｗ、・・
−・・ＷｎをそれぞれチェックするそＯチェック回数を
カウントする丸めＯカラｙりＣ１にｒｌＪをセットし、
ステップＳ１ｍに進む、ステップＢ會３では、餉記ステ
ツｆＳ会で求め九台値ｗｌ、ｗ嘗　、Ｗｓ・・−・・Ｗ
ｌ、つ壜シＷｉ（１ｇ−１〜ａ）を破れ部分有〉と判定
するか否かＯ×方向（ｌｌＩｉ７図参ＭりＣ）判定基準
電（地層する紙１１１＠Ｐの大１にさに応じてあらかじ
め決定されゐ）ＷＸと順次大小比較（Ｗｓ　：Ｗｘ）を
行う。

この比較（Ｄ＠果、測定値Ｗ１が基準値Ｗｘよｐも大き
いか、あるいは両者が岬しい場合（Ｗｔ≧ＷｘＸＣＰＵ
　ｊ　＃は１番目の走査ラインＨ４に破れ部分無゛しと
判定し、ステツｆ＠ｍｓＫ進む、ステラ！ｓｍｓでは、
破れブラダｒの状層（１１九はＯ）を参照することによ
ｐ％ｌ滝査走査ン１１の走査ツインＩ（ｔ−ｔに破れ部
分が有ったか否かをチェックする・このチェックの緒釆
、破れ部分が無かり九場合（Ｆ−０）、ｃｐｔｙ　ｘ　
＃はステラ１８１４に・進む。ステラｆ　８１４では、
力′ウンタＣｉの内容が！ＩＩｌよ〉も大急いか否か（
つま〉会値Ｗｔ、Ｗ愈　、ｗｌ−・−ＷＩｌｌを食でチ
ェックし友か否か）をチェックし、鳳個よ）も大でなけ
れば（つまＣＣｔ＞１１が成立しなければ）、マだ全て
のチェックが終了していないのでステップａｌｌに進む
、ステップｓｍｓでは、次の走査ラインの値Ｗｉに対す
るチェックを行うために、カウンタＣＩの内容をｒ＋Ｉ
Ｊしてステラ７’　８　、、に戻ｐ１再び上記同様な処
理を繰シ返すことによシ、次の走査ツインの値ＷｉＫ対
するチェックを行う・ところで、前記ステラｆ　８　ａ
ｓ　ｋおける比較の結果、測定値Ｗ１が基準値Ｗｘよυ
も小さい場合（Ｗｔ＜Ｗｘ）、ＣＰＵ　ｊ　＃はｌ番目
の走査ツインＨｉＫ破れ部分有シと判定し、ステラｆ８
．・に進んで前記ステツｆ　８　ａｓと同様なチェック
を行う。

このチェックの結果、破れ部分が無かつえ場合（Ｆ＝０
　）、ＣＰＵ　Ｊ　＃はステツブＳ鵞１に進み、破れフ
ラグＦをセットしてステラｆ　８　ａｓ　ＩＩＣ，４む
。

一方、上記ステラｆ８．・におけるチェックの結果、破
れ部分が有つ九場合（Ｆ−１）、ＣＰＵＪ＃は直接ステ
ップ８．．に進む、ステラｆＢ、−では、第７図に示す
破れ部分Ｂ−Ｏ＠Ｃ搬送方向１と平行方向０幅）をカウ
ントする九めＯ破れカウンタＣ，Ｏ内容をｒ＋ＩＪして
前記ステフグ１１１４に進み、再び前述同様な処ｍｔｍ
ｐａす。

仁のようにして、ステラｆ１１−で求めた各走−査ライ
ンごとの値（幅）ｗｌ、ｗｌ　ｅＷｓ−Ｗｌｌを順次チ
ェックし、基準値Ｗ□よ）を小さい値Ｗ、が得られ九場
合、その得られ危最初Ｏｗ＃点で破れフツダＦｔセット
して破れカウンタＣ，０内ＩＩをｒ＋１」Ｌ、、これ以
後、連続して基準値Ｗ８よ〕も小さい値Ｗｉが得られれ
ば、破れカウンタＣ１を順次「＋１」するものである、
しかし−て、い破れ７ツダｒがセットされ大以後にお−
て、ステラｆｇｓ、にてｗ、≧Ｗ！となった場合、ステ
ラｆａｍ。

−１”ｔ；ｉ　Ｆ　−１トなるので、ＣＰＵＩＩＦｉＸ
テツｆ８１から１．・へ進む、ステラｆ　ｍｉｍ、では
、破れカウンタＣ１０内容とＹ方向（第１１ａ参照）Ｏ
判定基準値（破れ部分と判定するか否かＯ基準値であら
かじめ決定される）Ｗ、とを比較する。こＯ比較Ｏ＃Ｉ
ｌ釆、破れカウンタＣ１の内容が基準値Ｗアよｐ％小１
い場合（Ｃ，＜Ｗ、）、ＣＰＵ２ｇは破れ部分無しと判
定し、ステラ７”ｓｓ、に進む、ステッｆｓ畠・では、
破れフラグＦおよび破れカウンタＣ１をそれぞれリセッ
トしてステップ８曹４に進み、再び前述同様な処理を繰
シ返す、一方、上記ステラｆ８．・における比較の結果
、破れカウンタＣ，の内容が基準値Ｗｙよシも大きいか
、あるいは両者が等しい場合（ＣＪ１≧Ｗ、）、ＣＰＵ
　Ｊ　＃はいオチェック中の紙Ｓ類Ｐに破れ部分有シと
最終判定し、ステップ８１１に進んでその旨を記憶し、
破れ判別処理を終了する。また、前記ステップＬ１４に
おいて、Ｃｔ＞勘が成立した場合、各値Ｗ、、Ｗ、。

Ｗｓ・・・・・・Ｗｎを全てチェックした結果、破れ部
分Ｂが無かったことＫなる。し九がって、この場合、Ｃ
ＰＵ２１は紙葉類Ｐに破れ部分無しと最終判定し、ステ
ラｆ８■に進んでその旨を記憶し、破れ判別処理を終了
する。

このようにして、ステラｆＢ１・において破れ判別処理
が終了すると、ＣＰＵｊ＃はステラ７’８１　（→８１
１→５ｔｓ−＄８０と順次進行し、紙葉類ＰＯ幅判別、
スキュー判別、大判別および位置ずれ判別の各ｌ＆理を
行うことＫより、紙葉類Ｐに対する一連の検知動作を終
了するもＯである。なお、上記ステラｆ　８１１〜１１
４にて行う各旭履は本発明Ｏ要旨ではないのでそＯＩＮ
！明は省略する。

上述し九破れ検知装置によれば、ツインセンサ１３で搬
送されるＪｌｌｌｌｌｌデをそＯ搬送方向と直交方向に
所定回数（ｎ回＞＊査することにより、紙葉類Ｐの搬送
方向と直交す為複数箇所０幅Ｗ１　、Ｗ、、ｗｓ−・−
Ｗ＠を測定し、こ０４）ＩＩ定値Ｗｌ（１＝１〜ｎ）を
基準値Ｗ８と順次大小比較することにより、基準値Ｗ！
よりも小さい測定値Ｗ１が連続して所定ＩＩ（基準値Ｗ
、）得られ九と龜紙業類ＰＫ破れ部分有ｐと判別するこ
とによって、紙ｉＩｆ／ｌＩＰに角折れ、厚さの変動、
汚れなどがあっても１それらにかかわらず常に正確に破
れ状態を検知することが可能となる。しかも、ツインセ
ンサ１３の視野を複Ｉｋのエリアに分割Ｌ、（−０４）
エリアから得られ九Ｆ−７（ｖｌ、ｖｌ）５に所定Ｏ演
算を行うことによ）、上記各値ｗｌ。

ｗ＠ｅｗｓ・・・・・・Ｗ、を測定すゐＯで、一定値の
精度がより一層向上し、ひいてはよυ正確な破れ検知が
可能となる。

さらに、量子化回路１ｒにおける量子化レベルは、常に
紙ｍ類Ｐによる変化分の約Ａに設定されるので、紙葉類
Ｐが新しい場合も古い場合も測定による誤差はほとんど
ない、また、第３図に示す各エリアＡｌ　　＋　Ａｌ　
　＋　ＡＩの合計がたとえばＺｏｏ■で、２インセンサ
１１が１０２４ピツトの場合、１走査ライン方向の解像
度は次２式で与えられる。

１００（：ｍ）÷１０２４中０．１〔■〕・・・・・・
・・・（４）したがって、上記（４）式から明らかなよ
うに、きわめて高い精度を自わめて簡単かつ安価に達成
できるものである。

したがって、上述した破れ検知装置は、特に厚さが薄く
、シかも流通過１ｉにおいて汚れ易い紙幣に対する破れ
検知に顕著な効果を発揮し得る４のである。

〈発明の変形例〉なお、前記実施例では、測定値の精度を上げるためにラ
インセンナの視野を３つのエリアに分割し九場合につい
て説明し九が、とれは必畳に応じて分割数を増加するこ
ともで自る。まえ、ツインセンナの搬送方向Ｏ解像度お
よび走査方向の解一度はそれぞれｌ■、０．１■であつ
九が、これも検知すべ愈紙票類の砿れ測定精１［Ｋ応じ
て任意に設定できる。

〈発明の効果〉以上詳述し友ように本発明によれば、搬送される紙３Ｍ
１類の搬送方向と直交する複数箇所０幅を測定し、この
各測定値を基準値とそれぞれ大小比較することによｐ１
基準値よｐ％小さい測定値が連続して所定個得られ九と
１紙索類に破れ部分有）と判別するように構成すること
によって、紙＊＊０角折れ、厚さ、汚れなどＫかかわら
ず、紙＊＊の破れ状態を常に正確に検知することかで亀
、信頼！に優れ九紙票類の破れ検知装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の破れ検知装置を説明する丸め０概略構成
図、ｗ＆２図ないし第９１１Ｉ杜本発明の一実施例を説
−する丸めのもので、第２因は全体的な概略構成図、第
３図は紙葉類に対するフィンセンナの視野および破れ検
知動作を説明するためｏ　［１ｓ第４図は量子化回路Ｏ
量子化方法をｖｔｉ＊する九めＯ（１号波形図、第８１
）は部層囲路を詳ＪＩＩＫ示すｆロツタ図、第１ＩＩは
タイミング発生開路から出力されるタイオンダ信号の波
形図、第７図はツインセンナの走査状態を説明する九め
ＯＩＣｍｓｍ＊よび第９閣は処理動作を説明すＪａ丸め
０７１ｍ−チャートである。Ｐ−・・紙３１１類、Ｉノ・・・光源、１２・・・光学
系、１１・・・ラインセンナ、１５・・・検知器、１１
・・・量子化回路、１＃・・・部層囲路、２１・・・タ
イミング発生−路、ｚｘ、ｘｘ、ｘｉ・・・アンド回路
、Ｊ　＃　、　Ｊ　Ｔ　、　Ｉ　ｌ　・・・カラｙ　ｆ
ｉ　、ｊ　＃　・”　ＣＰＵ　。ｘｉ・・・ＲＡＭ、ｌ・・・破れ部分、Ｗｘ−基準値・
代？人（ｒＰｌ’　Ｌ　　則近憲１；　ＣＩ　Ｊ　ｌｉ
　・１名）第１図第２図１人第３図第５図第６図第７図ＨｎＨｉ　　Ｈ３Ｈ２ＨＩ第８図（ａ）ｍｓ図

Claims

【特許請求の範囲】

搬送される紙葉類Ｏ破れ状態を検知するもＯにおいて、
搬送される紙ｍ１ｌｌＯ搬送方向と直交する複数箇所の
帳ｔＩＩｌ定する一定手段と、この測定手段によって一
定され九各渕定値をあらかじめ設定畜れる基準値とそれ
でれ大小比較する比較手段と、この比較手段によゐ比較
の結果基準値よｐも小さい測定値が連続して所定個得ら
れ九ことを検出する検出手段と、ζＯ検出手段によって
基準値よりも小さい測定値が連続して所定個得られ九こ
とが検出され九と自前記紙票類に破れ部分有ｐと判別す
ゐ判別手段とを＾備したことを特徴とするｍ’ｘａ＊ｏ
破れ検知装置。