JPS5876998A - 診断表示装置 - Google Patents
診断表示装置Info
- Publication number
- JPS5876998A JPS5876998A JP17297981A JP17297981A JPS5876998A JP S5876998 A JPS5876998 A JP S5876998A JP 17297981 A JP17297981 A JP 17297981A JP 17297981 A JP17297981 A JP 17297981A JP S5876998 A JPS5876998 A JP S5876998A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- measured
- output
- objects
- counter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Indicating Measured Values (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は複数個の被測定物を自動的に検査してその検査
結果を表示する診断表示装置に関するものである。
結果を表示する診断表示装置に関するものである。
例えば電気部品あるいは電気機器を量産する場合に於い
て、これらの物品をすべて電気的に測定（検査）した後
に出荷することが一般化されている。この場合、従来一
般に行なわれている被測定物の検査に際しては、物品を
１個ずつ測定装置に装着する工Ｓを繰〕返すことによっ
て行なわれている。
て、これらの物品をすべて電気的に測定（検査）した後
に出荷することが一般化されている。この場合、従来一
般に行なわれている被測定物の検査に際しては、物品を
１個ずつ測定装置に装着する工Ｓを繰〕返すことによっ
て行なわれている。
しかしながら、このような方法を用いた被測定物の検査
に於いては、その検査に多大な工数を必要とするととも
に、検査結果はその都に計鍮しなければならず、極めて
繁雑な作業となってコストアップの要因となってしまう
間融を有している。
に於いては、その検査に多大な工数を必要とするととも
に、検査結果はその都に計鍮しなければならず、極めて
繁雑な作業となってコストアップの要因となってしまう
間融を有している。
従って、本発明による目的は、複数個の被測定物に対す
る検査および検査結果の保持を簡単な構成でありながら
自動的に行なうこと１が出来る診断表示装置を提供する
ことである。
る検査および検査結果の保持を簡単な構成でありながら
自動的に行なうこと１が出来る診断表示装置を提供する
ことである。
このような目的を達成する丸めに本発明は。
複数の被測定物に対して順次測定信号を供給するととも
に、各被測定物の測定結果信号をコンノぐレータに供給
して基準値との比較を行なうことにより良否、の判別を
順次行ない、この判別信号を被測定物に対する測定信号
の選択供給に同期□して取り出すことにより順次保持お
よび表示するものである。以下、図面を用いて本発明に
よる診断表示装置を詳細に説明する。
に、各被測定物の測定結果信号をコンノぐレータに供給
して基準値との比較を行なうことにより良否、の判別を
順次行ない、この判別信号を被測定物に対する測定信号
の選択供給に同期□して取り出すことにより順次保持お
よび表示するものである。以下、図面を用いて本発明に
よる診断表示装置を詳細に説明する。
第１図は本発明による診蛸表示ｆｃＩｉ１の一夾施例を
示す回路図である。同一に於いて１は一足局期のクロッ
クパルスＰｔ−発生するノぞルスジエネレータ、２はク
ロックパルスＰを順次カウントして出力Ｑ１〜Ｑｎ＋ｓ
から順次セレクト信号８１〜Ｓｎ＋ｌを発生するカウン
タ、３ａ〜３ｎはカウンタ２の各出力端Ｑ１〜Ｑｎから
発生されるセレクト信号８１〜８ｍをそれぞれ入力とし
てオンとなるスイッチング回路であって、このスイッチ
ング回路３ ａ 〜３ ｎはオン時に被＃１足”４１１
Ｊ４ａ〜４ｎにそれぞれ測定用の電流を供給する。５は
各被測定物４１〜４ｏから出力される１ｌｌＪ ２結果
信号を入力として、予め足められる基準値とを比較して
良否の判別信号Ａを″０＃、“ｌ＃とじて送出するレベ
ル判足回路、６ａ〜６ｎは各セレクト信号８ｉ”８ｎと
利足信号Ａの一致を求めるアンドゲート、７１〜７ｎは
各アンドゲート６ａ〜６ｎの出力に１つてセットされる
とともに、リセットスイッチ８の出力［ｊつでリセット
されるＲ−Ｓタイプのフリップフロッゾ回路であって、
各アントゲ−）６ａ〜６ｎの出力を保持するために設け
られている。９はリセットスイッチ８の出力に１ってセ
ットされるとともに、リセットスイッチ１０の出力に工
ってリセットされる７リツプフロツプ回路であって、そ
のセット出力はカウンタ２にクリア借料して供給される
。
示す回路図である。同一に於いて１は一足局期のクロッ
クパルスＰｔ−発生するノぞルスジエネレータ、２はク
ロックパルスＰを順次カウントして出力Ｑ１〜Ｑｎ＋ｓ
から順次セレクト信号８１〜Ｓｎ＋ｌを発生するカウン
タ、３ａ〜３ｎはカウンタ２の各出力端Ｑ１〜Ｑｎから
発生されるセレクト信号８１〜８ｍをそれぞれ入力とし
てオンとなるスイッチング回路であって、このスイッチ
ング回路３ ａ 〜３ ｎはオン時に被＃１足”４１１
Ｊ４ａ〜４ｎにそれぞれ測定用の電流を供給する。５は
各被測定物４１〜４ｏから出力される１ｌｌＪ ２結果
信号を入力として、予め足められる基準値とを比較して
良否の判別信号Ａを″０＃、“ｌ＃とじて送出するレベ
ル判足回路、６ａ〜６ｎは各セレクト信号８ｉ”８ｎと
利足信号Ａの一致を求めるアンドゲート、７１〜７ｎは
各アンドゲート６ａ〜６ｎの出力に１つてセットされる
とともに、リセットスイッチ８の出力［ｊつでリセット
されるＲ−Ｓタイプのフリップフロッゾ回路であって、
各アントゲ−）６ａ〜６ｎの出力を保持するために設け
られている。９はリセットスイッチ８の出力に１ってセ
ットされるとともに、リセットスイッチ１０の出力に工
ってリセットされる７リツプフロツプ回路であって、そ
のセット出力はカウンタ２にクリア借料して供給される
。
１１ａ〜ｌｌｎは各フリツプフロツゾ回路７１〜７ｆｌ
のナツト出力とクロックパルスＰの一致を求めるアンド
ゲート、１２は各アンドゲート１．１ ａ〜ｌｌｎの出
力をそれぞれ表示する表示器であって、発光ダイオード
とそのドライブ回路とによって構成されている。１３は
カウンタ２の出力端Ｑ１＋１から発生されるセレクト信
号８ｎ＋１を反転するインノ々−タ、１４は％クリップ
フロップ回路７ａ〜７ａのセット出力およびインノ々−
夕１３・の出力を入力とするノアゲート、１５はノアゲ
ート１４の出力を表示するＯＫ表示器で、ランプとその
ドライブ回路とに１って構成されている。なお、カウン
タ２は最上位出力端Ｑｎ＋ｘに発生される信号８ｎ＋Ｉ
ＫＬってクロックイネーブルが加えられる１５になって
いる。
のナツト出力とクロックパルスＰの一致を求めるアンド
ゲート、１２は各アンドゲート１．１ ａ〜ｌｌｎの出
力をそれぞれ表示する表示器であって、発光ダイオード
とそのドライブ回路とによって構成されている。１３は
カウンタ２の出力端Ｑ１＋１から発生されるセレクト信
号８ｎ＋１を反転するインノ々−タ、１４は％クリップ
フロップ回路７ａ〜７ａのセット出力およびインノ々−
夕１３・の出力を入力とするノアゲート、１５はノアゲ
ート１４の出力を表示するＯＫ表示器で、ランプとその
ドライブ回路とに１って構成されている。なお、カウン
タ２は最上位出力端Ｑｎ＋ｘに発生される信号８ｎ＋Ｉ
ＫＬってクロックイネーブルが加えられる１５になって
いる。
この１５に構成された回路に於いて、ノぞルスジエネレ
ータ１は第２図（膳）に示すクロックツ臂ルスＰを順次
発生している。そして、通常時に於いてはフリップフル
ツブ回路９０セット出力によってカウンタ２はクリアさ
れているためにカウント動作は行なわれない０次に、被
＋１１ｊ足ｍ４ａ〜４１を各スイッチング回路３ｓ〜３
ｎの出力側にセットした後に、スタートスイッチ１０を
一瞬閉じると、ツリツゾフロツプ回路９がリセットされ
てカウンタ２に対するクリアが解除される。この結果、
カウンタ２はクロックツぐルスＰＫ対するカウント動作
を開始し、これに伴なって出力端Ｑ！〜Ｑｎ＋ｔから出
力されるセレクト信号８１〜Ｓｎ＋１が第２図（ｂｌ〜
（ｇ）に示す１うに変化する。ここで、セレクト信号８
１〜８ｎが順次発生すると、各セレクト信号８１〜Ｓ口
をそれぞれ入力とするスイッチング回路３３〜３ｎが順
次オンとなり、これに伴なって被測定物４ａ〜４Ｉ！に
測定信号が順次時分割的に供給されると各被測定物４ａ
〜４ｏから時分割的に測定結果信号が発生されてレベル
判足回路５に供給される。
ータ１は第２図（膳）に示すクロックツ臂ルスＰを順次
発生している。そして、通常時に於いてはフリップフル
ツブ回路９０セット出力によってカウンタ２はクリアさ
れているためにカウント動作は行なわれない０次に、被
＋１１ｊ足ｍ４ａ〜４１を各スイッチング回路３ｓ〜３
ｎの出力側にセットした後に、スタートスイッチ１０を
一瞬閉じると、ツリツゾフロツプ回路９がリセットされ
てカウンタ２に対するクリアが解除される。この結果、
カウンタ２はクロックツぐルスＰＫ対するカウント動作
を開始し、これに伴なって出力端Ｑ！〜Ｑｎ＋ｔから出
力されるセレクト信号８１〜Ｓｎ＋１が第２図（ｂｌ〜
（ｇ）に示す１うに変化する。ここで、セレクト信号８
１〜８ｎが順次発生すると、各セレクト信号８１〜Ｓ口
をそれぞれ入力とするスイッチング回路３３〜３ｎが順
次オンとなり、これに伴なって被測定物４ａ〜４Ｉ！に
測定信号が順次時分割的に供給されると各被測定物４ａ
〜４ｏから時分割的に測定結果信号が発生されてレベル
判足回路５に供給される。
ここで、各被測定物４１〜４ｎから発生される測定結果
信号は、各被測定物４ａ〜４ｆｉの特性または性能等の
各種＃Ｉ足条件がレベル信号として出力されるものであ
り、レベル判足回路５に於−て予め定められている基準
値との比較に於いて判別信号Ａが発生される。そして、
この判別信号ムは被測定物４ａ〜４ｎの測定項目が規定
範囲内であれば″″Ｏｍ１規足範囲外足範囲外＠１１な
る信号が時分割的に出力されることになる。このように
して発生された判別信号Ａは、各アンドゲート６ａ〜６
ｎに於いて各セレクト信号８１〜Ｓｎとの一致が求めら
れてその信号が各７リツプ７０ツゾ回路７ａ〜７ｎＫｌ
ｌｌＩ次保持される。
信号は、各被測定物４ａ〜４ｆｉの特性または性能等の
各種＃Ｉ足条件がレベル信号として出力されるものであ
り、レベル判足回路５に於−て予め定められている基準
値との比較に於いて判別信号Ａが発生される。そして、
この判別信号ムは被測定物４ａ〜４ｎの測定項目が規定
範囲内であれば″″Ｏｍ１規足範囲外足範囲外＠１１な
る信号が時分割的に出力されることになる。このように
して発生された判別信号Ａは、各アンドゲート６ａ〜６
ｎに於いて各セレクト信号８１〜Ｓｎとの一致が求めら
れてその信号が各７リツプ７０ツゾ回路７ａ〜７ｎＫｌ
ｌｌＩ次保持される。
一方、カウンタ２はそのカウント値が）胆次上昇して出
力ｍＱｎ＋ｔからセレクト信号Ｓｎ＋１が発生されると
、その信号に１ってクロックイネーブルが加えられてそ
のカウント動作が停止される。
力ｍＱｎ＋ｔからセレクト信号Ｓｎ＋１が発生されると
、その信号に１ってクロックイネーブルが加えられてそ
のカウント動作が停止される。
また、各７リツプ７０ツゾ７ａ〜７ｎにそれぞれ保持さ
れた各被測定物４ａ〜４ｏの判別信号は、各セット出力
端Ｑから送出されて各アンドゲートｌｌａ〜ｌｌｎに於
いて一致が求められて出力されることに１９、クロック
ツぐルスＰの発生タイミングに於いて表示器１２にそれ
ぞれ供給されることになる。つｉυ、すべての被測定物
４ａ〜４ｆｌが正常である場合には、アンドゲートｌｌ
ｍ＝１１ｎの出力がすべて第２凶（ｈｌに示すように零
となり、表示器１２の各表示ランプは不点灯状Ｉｌｌを
続ける。そして、カウンタ２の出力が出力端Ｑｎ＋−ｔ
にシフトして、セレクト信号Ｓ。＋１が′″Ｈ＃となる
ことにより全被測定物４ａ〜４ｏに対するセレクト動作
が一巡すると、ノアゲー）１４の出力が第２図（１）に
示すようにＨ’となり、この１Ｈ”信号によってＯＫ表
示器１５のランプが点灯されて全被５４１１足物４３〜
４ｎがすべて正常であることを示す。
れた各被測定物４ａ〜４ｏの判別信号は、各セット出力
端Ｑから送出されて各アンドゲートｌｌａ〜ｌｌｎに於
いて一致が求められて出力されることに１９、クロック
ツぐルスＰの発生タイミングに於いて表示器１２にそれ
ぞれ供給されることになる。つｉυ、すべての被測定物
４ａ〜４ｆｌが正常である場合には、アンドゲートｌｌ
ｍ＝１１ｎの出力がすべて第２凶（ｈｌに示すように零
となり、表示器１２の各表示ランプは不点灯状Ｉｌｌを
続ける。そして、カウンタ２の出力が出力端Ｑｎ＋−ｔ
にシフトして、セレクト信号Ｓ。＋１が′″Ｈ＃となる
ことにより全被測定物４ａ〜４ｏに対するセレクト動作
が一巡すると、ノアゲー）１４の出力が第２図（１）に
示すようにＨ’となり、この１Ｈ”信号によってＯＫ表
示器１５のランプが点灯されて全被５４１１足物４３〜
４ｎがすべて正常であることを示す。
次に、４被測足物４Ｘが異常であったとすると、レベル
判足回路５から発生される判別信号Ａがセレクト信号８
ｘの発生タイミングに於いて＠ｌ＃とな）、これに伴な
ってフリツゾ７０ツブ回路７Ｋがセットされることにな
る。そして、このフリツプフロツプ回路７ｘのセット出
力はアントケートＩＩＸに於いてクロックツぞルスＰと
の一致が求められるために、アントゲ＝、ト１１ｘ以外
の出力、つまり被測定物４３〜４ｎの正常晶に対応した
アンドゲート１ｌａ−１１ｆｌの出力は第２図（ｊｌに
示すように＠Ｌ＃状態を保持しているのに対し、アンド
ゲートｌｌｘの出力は第２囚（ｈ）に示すようにクロッ
クパルスＰに同期して＠Ｈ”、＠Ｌ′に反転する周期信
号となる。この結果、表示器１２のアントゲ−）１１ｘ
［＠続され九表示ツンゾは、クロックツぞルスＰの周期
に於いて点滅することにニジ、対応する被測定物４ｘが
規格特性外の不良物品であることを表示する。そして、
この場合に於いては７リツゾ７０゛ツブ回路７ｘのセッ
ト出力が１Ｈ”となることから、ノアゲート１４の出力
が＠Ｌ＃状！！！＋を続けてＯＫ表示器１５のランプは
不点灯となる。
判足回路５から発生される判別信号Ａがセレクト信号８
ｘの発生タイミングに於いて＠ｌ＃とな）、これに伴な
ってフリツゾ７０ツブ回路７Ｋがセットされることにな
る。そして、このフリツプフロツプ回路７ｘのセット出
力はアントケートＩＩＸに於いてクロックツぞルスＰと
の一致が求められるために、アントゲ＝、ト１１ｘ以外
の出力、つまり被測定物４３〜４ｎの正常晶に対応した
アンドゲート１ｌａ−１１ｆｌの出力は第２図（ｊｌに
示すように＠Ｌ＃状態を保持しているのに対し、アンド
ゲートｌｌｘの出力は第２囚（ｈ）に示すようにクロッ
クパルスＰに同期して＠Ｈ”、＠Ｌ′に反転する周期信
号となる。この結果、表示器１２のアントゲ−）１１ｘ
［＠続され九表示ツンゾは、クロックツぞルスＰの周期
に於いて点滅することにニジ、対応する被測定物４ｘが
規格特性外の不良物品であることを表示する。そして、
この場合に於いては７リツゾ７０゛ツブ回路７ｘのセッ
ト出力が１Ｈ”となることから、ノアゲート１４の出力
が＠Ｌ＃状！！！＋を続けてＯＫ表示器１５のランプは
不点灯となる。
一方、カウンタ２はカウントアツプ動作が一巡すると、
その出力信号ｓｎ＋ｔに１ってクロックイネーブルが加
えられてカウント動作を停止している。そして、リセッ
トスイッチ８ｔ−一瞬閉じると、ツリツゾ７０ツブ回路
７ａ〜７ｎがすべ′てリセットされるとともに、フリツ
プフロツプ回路９がセットされる。フリツプフロツプ回
路９がセットされると、そのセット出力ＱＫ工ってカウ
ンタ２がクリアされて次のカウント動作に備える。
その出力信号ｓｎ＋ｔに１ってクロックイネーブルが加
えられてカウント動作を停止している。そして、リセッ
トスイッチ８ｔ−一瞬閉じると、ツリツゾ７０ツブ回路
７ａ〜７ｎがすべ′てリセットされるとともに、フリツ
プフロツプ回路９がセットされる。フリツプフロツプ回
路９がセットされると、そのセット出力ＱＫ工ってカウ
ンタ２がクリアされて次のカウント動作に備える。
この１うに、上記構成にＬる回路に於いては、複数の被
測定物に対する測定を順次自動的にスキャン動作を行な
うことに１って検出し、被測定物のいずれから規格外の
特性を有するものが存在する場合には、これに対応する
ランプをクロックパルスＰの周期にＬつて点滅させるこ
とに１す表示し、全被測定物が正常である場合には表示
ランプ１５を点灯させることになる。従って、複数個の
被測定物に対する検査を自動的にかつ確貢に検査される
ことになる。
測定物に対する測定を順次自動的にスキャン動作を行な
うことに１って検出し、被測定物のいずれから規格外の
特性を有するものが存在する場合には、これに対応する
ランプをクロックパルスＰの周期にＬつて点滅させるこ
とに１す表示し、全被測定物が正常である場合には表示
ランプ１５を点灯させることになる。従って、複数個の
被測定物に対する検査を自動的にかつ確貢に検査される
ことになる。
以上説明したように、本発明による診断表示装置は、複
数個の被測定物を順次スキャンして検査を行ない、その
検査結果を用いて各被測定物に対する検査結果を表示す
るものであるために、簡単な構成であ、りながら複数個
の被測定物に対する検査を自動的に容易に行なうことが
出来、これに伴なって検査工数を大幅に減らすことが出
来′る優れた効果を有する。
数個の被測定物を順次スキャンして検査を行ない、その
検査結果を用いて各被測定物に対する検査結果を表示す
るものであるために、簡単な構成であ、りながら複数個
の被測定物に対する検査を自動的に容易に行なうことが
出来、これに伴なって検査工数を大幅に減らすことが出
来′る優れた効果を有する。
第１図は本全−による診断表示回路の一笑施例を示す回
路図、第２図（１）〜（Ｋ）は第１図に示す回路の％部
動作波形図である。 ｌ・・・／臂ルスジエネレータ、２・・・カウンタ、３
ａ〜３ａ・・・スイッチング回路、４ａ〜４ｎ・・・？
１１測足物、６ ａ〜６ ｍ 、 １１ ａ〜ｌ １
ｎ・＝アントゲー）、７ａ〜、７ ａ 、 ９・・・７
リツプフロツプ回路、８・・・リセットスイッチ、１０
・・・セットスイッチ、１２・・・表示器、１３・・・
インノ々−タ、１５・・・ＯＫ表示器。
路図、第２図（１）〜（Ｋ）は第１図に示す回路の％部
動作波形図である。 ｌ・・・／臂ルスジエネレータ、２・・・カウンタ、３
ａ〜３ａ・・・スイッチング回路、４ａ〜４ｎ・・・？
１１測足物、６ ａ〜６ ｍ 、 １１ ａ〜ｌ １
ｎ・＝アントゲー）、７ａ〜、７ ａ 、 ９・・・７
リツプフロツプ回路、８・・・リセットスイッチ、１０
・・・セットスイッチ、１２・・・表示器、１３・・・
インノ々−タ、１５・・・ＯＫ表示器。
Claims (1)
- （１） クロック、Ａルスを順次カウントして出力端
から順次シフトするセレクト信号を発生して１巡するカ
ウンタと、前記カウンタから発生される各セレクト信号
によルそれぞれ動作して各被測定物にそれぞれ測定信号
を供給するスイッチング回路と、前記各被測定物から発
生される測定結果信号を予め足めである設足値と比較し
て良否の判別信号を発生するレベル判定回路と、前記各
レレクト信号と前記判別信号との一致を求めるアンドゲ
ートと、前記各アンＰゲートの出力に↓ってそれぞれセ
ットされかつリセットスイッチ出力にＬつてリセットさ
れる７リップフロップ回路と、前記各７リツプフロツプ
回路の各出力をそれぞれ表示する表示器とを備えた診断
表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17297981A JPS5876998A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 診断表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17297981A JPS5876998A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 診断表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876998A true JPS5876998A (ja) | 1983-05-10 |
Family
ID=15951909
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17297981A Pending JPS5876998A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 診断表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876998A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6050416A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-20 | Shimadzu Corp | 工業計器自動試験装置 |
| JPS60143717A (ja) * | 1983-08-09 | 1985-07-30 | Nikkiso Co Ltd | 連続測定系における校正方法 |
| JPS6319212U (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-08 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4932659A (ja) * | 1972-07-21 | 1974-03-25 | ||
| JPS52115246A (en) * | 1976-03-24 | 1977-09-27 | Hokushin Electric Works | Alarming device for selffbalancing instrument |
| JPS5318150A (en) * | 1976-07-30 | 1978-02-20 | Hitachi Ltd | Elevator controller |
| JPS56142412A (en) * | 1980-04-08 | 1981-11-06 | Fujitsu General Ltd | Quality test item displayer |
-
1981
- 1981-10-30 JP JP17297981A patent/JPS5876998A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4932659A (ja) * | 1972-07-21 | 1974-03-25 | ||
| JPS52115246A (en) * | 1976-03-24 | 1977-09-27 | Hokushin Electric Works | Alarming device for selffbalancing instrument |
| JPS5318150A (en) * | 1976-07-30 | 1978-02-20 | Hitachi Ltd | Elevator controller |
| JPS56142412A (en) * | 1980-04-08 | 1981-11-06 | Fujitsu General Ltd | Quality test item displayer |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60143717A (ja) * | 1983-08-09 | 1985-07-30 | Nikkiso Co Ltd | 連続測定系における校正方法 |
| JPS6050416A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-20 | Shimadzu Corp | 工業計器自動試験装置 |
| JPS6319212U (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH025272B2 (ja) | ||
| JPS6117080B2 (ja) | ||
| JPS5876998A (ja) | 診断表示装置 | |
| US5068613A (en) | Method and apparatus for generating display waveforms im wasted spark ignition systems | |
| JPS59126967A (ja) | Ｌｅｄマトリクスデイスプレイの試験装置 | |
| US6845480B2 (en) | Test pattern generator and test pattern generation | |
| CN112061919B (zh) | 一种电梯计时计数器测试方法 | |
| JPH1164454A (ja) | 半導体試験装置用同時測定制御回路 | |
| US4503509A (en) | Calibrator for timing meter | |
| KR960008880Y1 (ko) | 자동 커넥터단자 검사기(auto connector tester) | |
| JP3598643B2 (ja) | 半導体集積回路測定装置および半導体集積回路装置 | |
| JP2944307B2 (ja) | Ａ／ｄコンバータの非直線性の検査方法 | |
| JPH0643744Y2 (ja) | 電路導通・短絡検査機 | |
| SU1684753A1 (ru) | Способ определени параметров газоразр дного матричного индикатора | |
| SU1638679A1 (ru) | Устройство дл определени рассто ни до места неисправности в фидерных лини х | |
| SU777873A1 (ru) | Устройство проверки матриц коммутации | |
| SU1562847A1 (ru) | Устройство дл неразрушающего контрол изделий | |
| SU1234841A1 (ru) | Устройство дл контрол логических блоков | |
| JPS61201173A (ja) | 磁気デイスク特性測定装置 | |
| SU951311A1 (ru) | Устройство дл анализа состо ний логических схем | |
| SU1509961A1 (ru) | Устройство дл счета и измерени размеров объектов | |
| JPH0980079A (ja) | ロジックアナライザ | |
| JPS638410B2 (ja) | ||
| SU1608672A1 (ru) | Устройство дл контрол логических блоков | |
| JPH10112264A (ja) | コンバーゼンス検査装置 |