JPS59126967A - Ｌｅｄマトリクスデイスプレイの試験装置 - Google Patents
Ｌｅｄマトリクスデイスプレイの試験装置Info
- Publication number
- JPS59126967A JPS59126967A JP58001922A JP192283A JPS59126967A JP S59126967 A JPS59126967 A JP S59126967A JP 58001922 A JP58001922 A JP 58001922A JP 192283 A JP192283 A JP 192283A JP S59126967 A JPS59126967 A JP S59126967A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- led
- optical
- optical sensor
- matrix display
- pellet
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はＬＥＤ （発光ダイオード）を用いたマトリク
スディスプレイの光学的特性および電気的特性の試験を
行なうＬＥＤマトリクスディスプレイの試験装置に関す
る。
スディスプレイの光学的特性および電気的特性の試験を
行なうＬＥＤマトリクスディスプレイの試験装置に関す
る。
従来、ＬＥＤをマトリクス状に配置し、これらのＬＥＤ
を選択的に点灯して表示を行なうマトリクスディスプレ
イが知られている。二のようなもので数字表示装置等の
大型のものでは、評価試験を行なう場合、暗室などで外
形寸法を考慮した点光源として点灯させ、遠方から光度
特性を測定している。また量産用の試験では暗室で行な
うと測定に時間がかかり、設備も大規模になる。このた
めに光学的特性は目視に；る視座検査を行ない電気的特
性は直流特性バラメ−タ試験装置を用いて直流特性を測
定するようにしていた。
を選択的に点灯して表示を行なうマトリクスディスプレ
イが知られている。二のようなもので数字表示装置等の
大型のものでは、評価試験を行なう場合、暗室などで外
形寸法を考慮した点光源として点灯させ、遠方から光度
特性を測定している。また量産用の試験では暗室で行な
うと測定に時間がかかり、設備も大規模になる。このた
めに光学的特性は目視に；る視座検査を行ない電気的特
性は直流特性バラメ−タ試験装置を用いて直流特性を測
定するようにしていた。
しかしながらこのような試験では、光学的特性について
は測定者による個人差があり、また結果を数値化するこ
とも困難であった。一方、電気的特性の試験では測定値
なプリントしたりデータ処理を容易に行なうことかでさ
るＯこのために光学的特性と、電気的特性の試駁結呆を
まとめて得られず、試験の自動化が困難で量産における
試験の問題どンχっていた０ 〔発明の目的〕 本発明は上記の串打ｔに鑑みて７よされたものでＬＥＤ
マトリクスディスプレイの光を０特性および電気的特性
のｉｌ；］定結果を数値化して得られ名測定データの出
カケ行なえ試験の自動化を図り得、量産品の試験を効率
よく行なえるＬＥＤマトリクスデイヌブレイの試駆装置
を提供することを目的と１−るものである。
は測定者による個人差があり、また結果を数値化するこ
とも困難であった。一方、電気的特性の試験では測定値
なプリントしたりデータ処理を容易に行なうことかでさ
るＯこのために光学的特性と、電気的特性の試駁結呆を
まとめて得られず、試験の自動化が困難で量産における
試験の問題どンχっていた０ 〔発明の目的〕 本発明は上記の串打ｔに鑑みて７よされたものでＬＥＤ
マトリクスディスプレイの光を０特性および電気的特性
のｉｌ；］定結果を数値化して得られ名測定データの出
カケ行なえ試験の自動化を図り得、量産品の試験を効率
よく行なえるＬＥＤマトリクスデイヌブレイの試駆装置
を提供することを目的と１−るものである。
〔発明の概要〕
すなわち本発明は、ＬＥＤマトリクスディスプレイの表
示面に対向して光センサを設け、該光センサをＸ 、
Ｙ方向へ移動して各ＬＥＤペレットに対向させ光学的特
性および電気的特性の測定を同時にかつ連続して行なう
ことを特徴とするものである。
示面に対向して光センサを設け、該光センサをＸ 、
Ｙ方向へ移動して各ＬＥＤペレットに対向させ光学的特
性および電気的特性の測定を同時にかつ連続して行なう
ことを特徴とするものである。
以下本発明の一実施例を第１図乃至第４図を参照して詳
却１に説明する。第１図は（、ＥＤマトリクスディスプ
レイの試験時の電気回路を示す図である。このマトリク
スはＭ行Ｎ列のもので一例としてＭ、Ｎはそれぞれ６４
．３２のものを示している。図中り、Ｕ、Ｔは試験を行
なうべきＬＥＤマトリクスディスプレイで、６４本の行
Ｃ，，Ｃ２・・・Ｃ６４と、この行に直角に３２本の列
１．，１２・・・ｔ３□を設け、その各交点にそれぞれ
ＬＥＤペレットを接続している。そして各行Ｃ，，Ｃ２
・・・Ｃ６４の外部導出端子をリレーｘ１．ｘ２・・・
−”ｆｉ４を介して測定部ＭＳの入力端子へ接続してい
る。また各列１．．１２・・・ｔ３２の外部導出端子を
リレーｆｆ＋ｙｙ２・・・ｙ３□を介し゛Ｃ測定部ＭＳ
の入力端子へ接続している０また第２図はＬＥＤマトリ
クスデイヌブレイの光学的特性の試験機構を示す図で１
．ＬＥＤマトリクヌディスプレイＤ、Ｕ、Ｔの表示面に
相対向して゛ノーラセル、ホトダイオード等からンχる
光センサＯｐを配置している。そしてＸモータＭ、ｚ、
ＹモータＭｙＫＬり光センサＯｐをＬ Ｅ Ｄマトリク
ヌディスプレイＤ、Ｕ、Ｔの対向面に沿って任意に移動
させ、ＬＥＤマトリクヌディスプレイＤ 、 ｔｔ 、
Ｔ ｑ構成する全てのＬ Ｅ ｌ）ベレットに対し゛
Ｃ対面することができるようにしている○なお光センサ
Ｏｐとし゛（％／−ラセル、ホトダイオード等を用いる
と出力端子を２本にでき移動時の線材の彼方による断線
を少ンよくでき、また断線しても断線部位を容易に発見
できる利点がある○ 第３図は覧坑気的特性、光学的特性の試１験を行なう制
御部を示すブロック図である。図中１は光学的特性測定
部で光セン−！）Ｏｐをイ１し、測定値に対応する電気
信号を出力する。２は電気的特性測定部でＬＥＤのダイ
オード特性を測定し、順電流ＩＦ 、 順厄圧ＶＦ
、 逆電流ＩＲ、逆電圧ＶＲを測定し、測定値に対応
する電気信号を出力する。そして光学的特性測定部Ｉ、
電気的特性測定部２から出力される測定結果は、比較部
３へ与えられ、予め設定した基準値と比較し、当該測定
値の良否を判定する。そして比較部３の判定結果ｆを記
憶部４へ与えて記憶させる。
却１に説明する。第１図は（、ＥＤマトリクスディスプ
レイの試験時の電気回路を示す図である。このマトリク
スはＭ行Ｎ列のもので一例としてＭ、Ｎはそれぞれ６４
．３２のものを示している。図中り、Ｕ、Ｔは試験を行
なうべきＬＥＤマトリクスディスプレイで、６４本の行
Ｃ，，Ｃ２・・・Ｃ６４と、この行に直角に３２本の列
１．，１２・・・ｔ３□を設け、その各交点にそれぞれ
ＬＥＤペレットを接続している。そして各行Ｃ，，Ｃ２
・・・Ｃ６４の外部導出端子をリレーｘ１．ｘ２・・・
−”ｆｉ４を介して測定部ＭＳの入力端子へ接続してい
る。また各列１．．１２・・・ｔ３２の外部導出端子を
リレーｆｆ＋ｙｙ２・・・ｙ３□を介し゛Ｃ測定部ＭＳ
の入力端子へ接続している０また第２図はＬＥＤマトリ
クスデイヌブレイの光学的特性の試験機構を示す図で１
．ＬＥＤマトリクヌディスプレイＤ、Ｕ、Ｔの表示面に
相対向して゛ノーラセル、ホトダイオード等からンχる
光センサＯｐを配置している。そしてＸモータＭ、ｚ、
ＹモータＭｙＫＬり光センサＯｐをＬ Ｅ Ｄマトリク
ヌディスプレイＤ、Ｕ、Ｔの対向面に沿って任意に移動
させ、ＬＥＤマトリクヌディスプレイＤ 、 ｔｔ 、
Ｔ ｑ構成する全てのＬ Ｅ ｌ）ベレットに対し゛
Ｃ対面することができるようにしている○なお光センサ
Ｏｐとし゛（％／−ラセル、ホトダイオード等を用いる
と出力端子を２本にでき移動時の線材の彼方による断線
を少ンよくでき、また断線しても断線部位を容易に発見
できる利点がある○ 第３図は覧坑気的特性、光学的特性の試１験を行なう制
御部を示すブロック図である。図中１は光学的特性測定
部で光セン−！）Ｏｐをイ１し、測定値に対応する電気
信号を出力する。２は電気的特性測定部でＬＥＤのダイ
オード特性を測定し、順電流ＩＦ 、 順厄圧ＶＦ
、 逆電流ＩＲ、逆電圧ＶＲを測定し、測定値に対応
する電気信号を出力する。そして光学的特性測定部Ｉ、
電気的特性測定部２から出力される測定結果は、比較部
３へ与えられ、予め設定した基準値と比較し、当該測定
値の良否を判定する。そして比較部３の判定結果ｆを記
憶部４へ与えて記憶させる。
の位置に対応する位置制御信号Ｄｘ、Ｄｙを出力する。
この位置制御信号Ｄｘ、Ｄｙは光センサ駆動部１および
Ｘ、Ｙ各シーケンスコントロール８．９へ与えられる。
Ｘ、Ｙ各シーケンスコントロール８．９へ与えられる。
上記光センサ駆動部７は上記位置制御信号Ｄｘ、Ｄｙに
対応する位置へ光センサＯｐを駆動する。すなわち、位
置制卸信号Ｄ３：によりＸモータドライバ７ａを介して
ＸモータＰｂを駆動し、光センｆｏｐをＸ方向へ移動さ
せる０同様に位置制御信号ＤｆによりＹモータドライバ
７ｃを介してＹモータ７ｄを駆動し、光センサＯｐをｙ
方向へ移動させる。またＸシーケンスコントロール８が
ら出力する位置信号Ｘｉを記憶部４へ与えて記憶させ、
行リレードライバ１０を介してＸリレ一群１１から対応
する行のリレーを閉成させる。同様にＹシーケンスコン
トロール９から出力する位置信号Ｙｊを記憶部４へ与え
て記憶させ、列リレードライバ１２を介してＹリレ一群
１３がら対応する行のリレーを閉成させる。
対応する位置へ光センサＯｐを駆動する。すなわち、位
置制卸信号Ｄ３：によりＸモータドライバ７ａを介して
ＸモータＰｂを駆動し、光センｆｏｐをＸ方向へ移動さ
せる０同様に位置制御信号ＤｆによりＹモータドライバ
７ｃを介してＹモータ７ｄを駆動し、光センサＯｐをｙ
方向へ移動させる。またＸシーケンスコントロール８が
ら出力する位置信号Ｘｉを記憶部４へ与えて記憶させ、
行リレードライバ１０を介してＸリレ一群１１から対応
する行のリレーを閉成させる。同様にＹシーケンスコン
トロール９から出力する位置信号Ｙｊを記憶部４へ与え
て記憶させ、列リレードライバ１２を介してＹリレ一群
１３がら対応する行のリレーを閉成させる。
なお上記光センサ駆動部７で選択したＬＥ、Ｄペレット
と、行９列ドライバ１０．１２により選択されるＬＥＤ
ベレットとが一致するように制御する。
と、行９列ドライバ１０．１２により選択されるＬＥＤ
ベレットとが一致するように制御する。
そして、記憶部４に記憶された判定結果ｆを位置信号Ｘ
ｉ、Ｙｊに対応する位置で表示部１４に表示する。
ｉ、Ｙｊに対応する位置で表示部１４に表示する。
このような構成であれば、たとえばＬＥＤマトリクスデ
ィスプレイの外部導出端子をンヶットに挿入することに
よって、各行ＣＩ＋０２・・ＣＩ、４および各列１．．
１．・・・ｔ８２に対する電気的な接続をＴテなうよう
にする。そして、たとえば第４図に示すフローチャート
のように５ＴＥＰ１で「試験開始」すると、５ＴＥＰ２
で「スタートペレット位置にセンナを合せる」を行ない
試験を開始する。このスタートペレット位置は、適宜に
設定すればよく、たとえば移動時間、移動回数を最小に
するように選ぶことが望言しい。そして光センサＯｐの
対面するＬＥＤペレットに対してＸリレ一群１１．Ｙリ
レ一群１３を選択的に駆動して電気的特性測定部に対す
る回路を形成する。モして５ＴＥＰ３で「光学的特性試
験、電気的特性試験」を行なう。試験項目は、光学的特
性試験では明るさとして光度Ｉｖ 、 電気的特性試
験では、順電流工Ｆ、順電圧ＶＦ、逆電流ＩＲ、逆電圧
ＶＲ等である。なオＪ＠電流工ｙ の測定時にＬＥＤ
は発光するので同時に光度Ｉｖ の測定を行なえ試験
時間を短編することができる。そして、各試験によって
得られた測定値を比較部３で基準値と比較して良否を判
定し、５ＴＥＰ４で記憶部４に「試験結果記憶」を行な
う。そして５ＴＥＰ５で「光センサ移ルＩ＋Ｊを行ない
次のＬＥＤベレットに光セン、すＯｐを対面させるとと
もに当該ＬＥＤペレットに対応するＸリレ一群１１．Ｙ
リレ一群１３のリレーを閉成して電気回路を形成する。
ィスプレイの外部導出端子をンヶットに挿入することに
よって、各行ＣＩ＋０２・・ＣＩ、４および各列１．．
１．・・・ｔ８２に対する電気的な接続をＴテなうよう
にする。そして、たとえば第４図に示すフローチャート
のように５ＴＥＰ１で「試験開始」すると、５ＴＥＰ２
で「スタートペレット位置にセンナを合せる」を行ない
試験を開始する。このスタートペレット位置は、適宜に
設定すればよく、たとえば移動時間、移動回数を最小に
するように選ぶことが望言しい。そして光センサＯｐの
対面するＬＥＤペレットに対してＸリレ一群１１．Ｙリ
レ一群１３を選択的に駆動して電気的特性測定部に対す
る回路を形成する。モして５ＴＥＰ３で「光学的特性試
験、電気的特性試験」を行なう。試験項目は、光学的特
性試験では明るさとして光度Ｉｖ 、 電気的特性試
験では、順電流工Ｆ、順電圧ＶＦ、逆電流ＩＲ、逆電圧
ＶＲ等である。なオＪ＠電流工ｙ の測定時にＬＥＤ
は発光するので同時に光度Ｉｖ の測定を行なえ試験
時間を短編することができる。そして、各試験によって
得られた測定値を比較部３で基準値と比較して良否を判
定し、５ＴＥＰ４で記憶部４に「試験結果記憶」を行な
う。そして５ＴＥＰ５で「光センサ移ルＩ＋Ｊを行ない
次のＬＥＤベレットに光セン、すＯｐを対面させるとと
もに当該ＬＥＤペレットに対応するＸリレ一群１１．Ｙ
リレ一群１３のリレーを閉成して電気回路を形成する。
そして５ＴＥＰ６で「最終ペレット終了」の判定を行な
いＹ Ｅ−８であればＳＴＥＭを実行し、Ｎｏであれば
５ＴＥＰ３−＼戻り、再び試験を行なう。
いＹ Ｅ−８であればＳＴＥＭを実行し、Ｎｏであれば
５ＴＥＰ３−＼戻り、再び試験を行なう。
５ＴＥＰ７では［光センサ原点リターンＪを行ない５Ｔ
ＥＰＱで「試験終了」する。そして記憶部４の記憶内容
、所謂マツプデータを表示部１４で、たとえばＬＥＤマ
トリクスディスプレイＤ、Ｕ、Ｔと相似形に各ＬＥＤベ
レットの合否を表示することにより効率工く試ｊＩ！を
行なうことができる。
ＥＰＱで「試験終了」する。そして記憶部４の記憶内容
、所謂マツプデータを表示部１４で、たとえばＬＥＤマ
トリクスディスプレイＤ、Ｕ、Ｔと相似形に各ＬＥＤベ
レットの合否を表示することにより効率工く試ｊＩ！を
行なうことができる。
したがって、試験を自動的に行なうことが可能であり、
測定者の視座によるバラツキもなく、正確かつ客観的な
試ｇＩを行なうことができる。
測定者の視座によるバラツキもなく、正確かつ客観的な
試ｇＩを行なうことができる。
またＬＥＤマトリクスディスプレイＤ、Ｕ、Ｔの特性に
関するマツプデータが得られるのでこのデータを外部の
記録ファイル、たとえばフロッピーディスク等に記憶で
きる。したがってＬＥＤマトリクスディスプレイＤ、Ｕ
、Ｔから不良なＬＥＤペレットを除去して良品に交換す
る工程を設ける場合、この工程で上記７０ツピーデイス
クの記憶データを用いれば、製造工程を著しく合理化す
ることができる。特にＬＥＤマトリクスディスプレイは
、ＬＥＤペレットのコストが一般的な集積回路等に比較
して高価なために、たとえば前面に樹脂カバー、樹脂モ
ールドを施す前工程で試験を行ない不良なＬＥＤペレッ
トを良品に交換すれば最終的な不良品の発生を著しく少
なくでき、高価なＬＥＤペレットを有効に使用すること
ができる〇 なお本発明は上記実施例に限定されるものではなく、た
とえば制御部を第５図に示すブロック図のように構成し
てもよい。すなわち、光学的特性測定部１の測定結果を
測定値記憶部１５へ与えて記憶させる。そしてこの記憶
内容を演算部１６で演算し、たとえば各ＬＥＤペレット
の光度比を得て比較部３で基準値と比較するようにして
もＬい。ｉχお測定値の演算は電気的特性測定部２の測
定１結果について行なうようにしてもよいことは勿論で
ある。
関するマツプデータが得られるのでこのデータを外部の
記録ファイル、たとえばフロッピーディスク等に記憶で
きる。したがってＬＥＤマトリクスディスプレイＤ、Ｕ
、Ｔから不良なＬＥＤペレットを除去して良品に交換す
る工程を設ける場合、この工程で上記７０ツピーデイス
クの記憶データを用いれば、製造工程を著しく合理化す
ることができる。特にＬＥＤマトリクスディスプレイは
、ＬＥＤペレットのコストが一般的な集積回路等に比較
して高価なために、たとえば前面に樹脂カバー、樹脂モ
ールドを施す前工程で試験を行ない不良なＬＥＤペレッ
トを良品に交換すれば最終的な不良品の発生を著しく少
なくでき、高価なＬＥＤペレットを有効に使用すること
ができる〇 なお本発明は上記実施例に限定されるものではなく、た
とえば制御部を第５図に示すブロック図のように構成し
てもよい。すなわち、光学的特性測定部１の測定結果を
測定値記憶部１５へ与えて記憶させる。そしてこの記憶
内容を演算部１６で演算し、たとえば各ＬＥＤペレット
の光度比を得て比較部３で基準値と比較するようにして
もＬい。ｉχお測定値の演算は電気的特性測定部２の測
定１結果について行なうようにしてもよいことは勿論で
ある。
また上記実施例ではリレ一群ＩＩ、１３を用いて試験を
行なうＬＥＤベレットを選択するようにしたが同様の機
能を有する半４体スイッチ等を用いても↓いことは勿論
である。
行なうＬＥＤベレットを選択するようにしたが同様の機
能を有する半４体スイッチ等を用いても↓いことは勿論
である。
以上の工うに本発明によればＬＥＤマトリクスディスプ
レイの光学０特１生お工び電気的り註の測定結果を数値
化して得、表示することができ、試験工程を自動化して
正確な試験を行なえ不良品の発生を著しく／Ｊ？なくで
きるＬＥＤマトリクスディスプレイの試験装置を提供す
ることができる。
レイの光学０特１生お工び電気的り註の測定結果を数値
化して得、表示することができ、試験工程を自動化して
正確な試験を行なえ不良品の発生を著しく／Ｊ？なくで
きるＬＥＤマトリクスディスプレイの試験装置を提供す
ることができる。
第１図乃至第４図は本発明の一実施例を示す図で第１図
は電気回路を示す図、第２図はＬＥＤマトリクスディス
プレイの光学的特性の試験機構を示す図、第３図は電気
的特性および光学的特性の試験を行なう制御部を示すブ
ロック図、第４図は試験時の動作を説明するフローチャ
ート、第５図は本発明の他の実施例の制御部を示すブロ
ック図である。 Ｄ、Ｕ、Ｔ・・・ＬＥＤマトリクスディスプレイ、Ｏｐ
・・・光センチ、１・・光学的特性測定部、２・・・電
気的特性測定部、３・・・比較部、４・・・記憶部、５
・・・Ｘ軸ドライブコントロール、６・・・Ｙ軸ドライ
ブコントロール、７°・光センサ駆動部、１１゜１３・
・リレ一群。
は電気回路を示す図、第２図はＬＥＤマトリクスディス
プレイの光学的特性の試験機構を示す図、第３図は電気
的特性および光学的特性の試験を行なう制御部を示すブ
ロック図、第４図は試験時の動作を説明するフローチャ
ート、第５図は本発明の他の実施例の制御部を示すブロ
ック図である。 Ｄ、Ｕ、Ｔ・・・ＬＥＤマトリクスディスプレイ、Ｏｐ
・・・光センチ、１・・光学的特性測定部、２・・・電
気的特性測定部、３・・・比較部、４・・・記憶部、５
・・・Ｘ軸ドライブコントロール、６・・・Ｙ軸ドライ
ブコントロール、７°・光センサ駆動部、１１゜１３・
・リレ一群。
Claims (1)
- 行と列の交点にＬＥＤベレットを配置したＬＥＤマトリ
クスディスプレイの光学的特性および電気的特性の試験
を行なうものにおいて、試験を行なうＬＥＤペレットの
位置に対応する位置制御信号を発生するＸ軸ドライブコ
ントロールおよびＹ軸ドライブコントロールと、上記Ｌ
ＥＤマ「リクスディスプレイに対向する面に沿って移動
自在に設けた光センサと、上記位置制御信号を与えられ
上記光センサを駆動する光センサ駆動部と、上記光セン
サの田力がら対面するＬＥＤペレットの光学的特性の測
定を行なう光学的特性測定部と、上記位置制御信号によ
り上記光センサの対向するＬＥＤペレットを選択するリ
レ一群と、このリレ一群の選択したＬＥＤペレットの電
気的特性の測定を行なう電気的特性測定部と、光学的特
性測定部および電気的特性測定部の測定結果を表示する
表示部とを具備するＬＥＤマトリクスディスプレイの試
験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58001922A JPS59126967A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | Ｌｅｄマトリクスデイスプレイの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58001922A JPS59126967A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | Ｌｅｄマトリクスデイスプレイの試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59126967A true JPS59126967A (ja) | 1984-07-21 |
Family
ID=11515081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58001922A Pending JPS59126967A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | Ｌｅｄマトリクスデイスプレイの試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59126967A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2018160664A (ja) * | 2017-03-21 | 2018-10-11 | 聚積科技股▲ふん▼有限公司 | 故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法 |
-
1983
- 1983-01-10 JP JP58001922A patent/JPS59126967A/ja active Pending
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