JPS5873334A

JPS5873334A - オ−トレフラクトメ−タ

Info

Publication number: JPS5873334A
Application number: JP56173526A
Authority: JP
Inventors: 田巻　弘
Original assignee: Tokyo Optical Co Ltd
Current assignee: Tokyo Optical Co Ltd
Priority date: 1981-10-28
Filing date: 1981-10-28
Publication date: 1983-05-02
Also published as: JPH0238212B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、被検眼の屈折特性、主に球面屈折力、円柱屈
折力及びその軸角度を自動的に測定するオートレフラク
トメータに―する。

近年、被検眼の屈折特性を自動的に測定する言わゆるオ
ートレフラクトメータが種々実用化されている。

例えばモールマン（Ｍｏｈｒｍａｎ　）らの「オプティ
カル・エンジニアリングＪ　　（Ｏｐｔｌｃａｌ　Ｅｎ
ｇｉｎｅｅｒ　）結構１５巻第４号ｇ２９２〜２９５ペ
ージの論文’　Ｐｕｔｔｌｎｇ　ｔｈｅにｎ目＠　Ｅｄ
ｇｅ　ｔｏ　ｔｈ＠Ｅｙ＠’とマナリー（Ｍｕｎｎ＊ｒ
ｌｙ　）らの米国特許第５８８８５６９号明細書には、
被検ＷＬ＠底に一方向にスキャンニングするスリット儂
ヲ結儂させ、これｔ−測定用指標として使用し、この指
標ｔ−測定用光学系で限外に結像させ、この指標の動き
が停止する位置まで測定用光学系を動かし、その停止位
置を遠点としてもとめ、その遠点距離から被検眼の屈折
特性をもとめる■従来の横形法を自動化したものが開示
されている。

また、コーンスウイー）　（Ｃｏｒｎｓｗ・・ｔ）もの
ジャーナル・オプ・デ・オプティカル・ソナエテイ・オ
プ・アメリカ（Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏずｔｈ＠０ｐｔｌｃ
ａｌＳｏｃｉｅｔｙ　ｏｆ　Ａｍｅｒｌｃｓ　）ＩＬ第
６０巻、第４号、第５４８〜５５４ページの論文　’　
５ｅｒｖｏ−Ｃｏｎｔｒｏｌ　１ｅｄＩｎｆｒａｒｅｄ
　Ｏｐｔｏｍ＠ｔ＠ｒ　’　　及び米国特許第５５５６
３８５号明細書には、少なくとも２つの交互に点滅する
光源からの光を１つの被検眼網膜と共役な開口を通して
被検眼光軸と平行Ｋｌｌ底に投影し、その投影儂を網膜
と共役な位置におかれ九少なくとも２つの光検出器で検
出する構成とし、その検出器の差動出力に応じて測定光
学系管光軸内で移動させ、２つの検出器の差動出力がゼ
ロになったとき、すなわち２つの光源からの光が網膜上
で一致し九ときの測定光学系の位置から被検眼屈折力ｔ
＠定するものが示されている。

これら従来のオートレフラクトメータは、すべて被検眼
眼底に測定用指標を投影し、この指標から限外に射出さ
れる光束を結像光学系で検出器上に結儂させ、その検出
状態に応じて結像光学系を駆動し、その位置関係から被
検眼屈折力ｔ−測測定るものであル、結儂状態で測定す
る光学系となっている。

さらに、測定光学系は、多くの可動部材から構成される
ため、装置は複雑化し、光学系の駆動系の調整がむずか
しいという欠点があった。

これら結像光学系を使用するかわシに非結儂系をもちい
て屈折力を測定する方法が米国特許第３８８０’５２５
号明細書に示されている。これは、被検眼の屈折特性測
定用でなく、主に眼鏡用レンズの屈折特性ｔ−測測定る
もので、被検レンズに平行光束を入射させ被検し／ズの
屈折作用によシ偏向され九光束を少なくとも３点の点開
口を有するマスク手段で選択し、このマスク手段の点開
口を通過した光線を平面型の２イテクタで検出し、マス
ク手段の点間口位置とディテクタ面での光線の投影検出
位置の差から被検レンズの屈折特性を測定するものであ
る。

この装置に＄Ｐいては、その被測定対象である被検し７
）ｅの屈折特性の定義付け、及び測定上の制約から、平
行光束を被検し／ズに入射させる必要がある。すなわち
、ｌｌｌ！鏡レンズにあっては、その屈折力の定義は、
第１図（Ａ）Ｋ示すように平行光束を入射させ九ときく
出来る焦点Ｆまでの距１１１１を眼鏡レンズの後側頂点
から測った後側頂点距離ｆの逆数（）＝１／ｆｔもって
眼鏡Ｖ　７　！　０屈折力を定義している。従って、眼
鏡し／ズの屈折力を測定するためには、焦点Ｆの位＃を
知る必要があシ、そのために被検レンズには平行光束を
入射させる必要がある。

これに対し、レフラクトメータで測定される被検眼屈折
力は、第１図（８）Ｋ示すようＫ例えば遠点ＦＰが眼前
有限距離にある近視眼ＥＫついては、中心窩Ａに光源を
おい九と仮定し大場合、限外に射出する光束を平行光束
とするＫは、眼前１２１１１Ｋ眼眼底に指標光を投影し
、この指標光の網膜における拡散反射光による発散光束
が被検眼光学系を通過して限外に射出してくる光束をも
ちいて測定するものでらシ、上述の眼鏡レンズとは、屈
折力の定義が大きく異なっている。

また、上記米国特許第３８８０５２５号の装置は、マス
ク上の開口と検出面上の到達点との間の点対点の対応、
関係を正確に検出する必要があり、かつ各開口は必ず平
面的配置にして、かつ射出光束が非共面光束となるよう
にせねばならない。この九めに、２次平面の走査を行な
わねばならず、装置が全体として高価にならざるを得な
い。また、最低５点の座標情報によ）５元連立方程式を
解く必要があり、演算機構も複雑かつ高価となる。まえ
、被検レンズにボン、ホコリ等があると、点開口を通過
すべき光束が欠落するため測定不能となるおそれもある
という欠点ｔＶしている。

同様の非結儂形式の屈折力測定装置として米国特許４２
７５９６４号明細書に、マスク手段の開口を円形開口と
し、かつ検出手段ｔ’装装置細軸回転軸として回転する
り霜アセンサアレイを利用したレンズメーターが開示さ
れているが、これもリーアセンナアレイの回転駆動及び
その回転角検出の必要があ）、装置の複雑化はまぬがれ
得ない。

更に、被検レンズの屈折作用によ〕楕円となった円形開
口通過光束の楕円像の最低５点の位置座標を検出、演算
して、被検レンズの屈折力をもとめる必要があシ、その
情報処理）量も膨大であシ、大きな欠点となってい喪。

そこで本発明の第一の目的は、上述の欠点を解決した非
結像形式のオートレアラクトメータを提供するととＫＴ
ｏる。

本発明の第二の目的は、可動光学系を有せず、簡単な光
学系の構成からなシ、しかも高精度、高速度の測定がで
きるオートレフラクトメータを提供することにある。

本発明の第三の目的は、検出系の検出演算処理が比較的
簡単でかつ、高速演算処理が可能なオートレフラクトメ
ータを提供することＫある。

係る目的を達成する九めに、本発明の−っの特徴による
ならば、被検眼眼底に略点状の二次光源を形成する＃Ｗ
Ｎ明手段と、この二次光源からの発散光束で被検ｒＲｔ
−射出してくる光束を選択するマスク手段と、該マスク
手段により選択された光束を被検ｌｕｌ！底と非共役位
置で検出する検出手段と、この検出手段からの検出情報
をもとに被検眼の屈折特性をもとめるための演算手段か
らなるオートレフラクトメータが提供される。

以上の如く本発明のオートレフラクトメータは非結像形
式であるため、結偉元学系、特に従来のように可動光学
系を必要としないため、装置の構成が簡単でかつ組立て
調整が簡単である。また、測定速度が早くなるため、被
検眼の測定中の調節力の介入がなく正確な測定結果が得
られる。

本発明のオートレフラクトメータの実施Ｎにおいては、
前記マスク手段には直線間ロバターンが形成されてな夛
、この開ロバターンで選択された被検眼射出光束を互い
に実質的もしくは仮想的に交差する２本のりニアセンナ
アレイで検出し、゛この検出座標値から前記開口Ｉヤタ
ーンに対応した直線ノ中ターン偉の方程式をもとめ、こ
の直線方程式をもとに仮想交差点座標を演算でもとめ、
この仮想交差点の座標から被検眼レンズの屈折特性ｔも
とめる。従って、検出できる情報量は、従来の装置に比
して多くとれ、かつ演算処理は、簡単、高精度、高速度
のオートンフラクトメータとすることができる。

本発明の利点または効果は非結像形式であるため、結儂
光学系特に従来のように可動光学系を必要としないため
装置の構成が簡単でかつ組立て調整が簡単になる点にあ
る。ｉ九欄定速度が早いため被検眼の測定中の調節力の
介入が碌〈正確な測定結果が得られる。

以下本発明の詳細な説明する。

第２図は、点開口を形成してな不マスクを使用した本発
明の第１の原理を説明するための斜視図である。

被検眼Ｅの中心窩に仮想光源１があるものと仮１ｉ１Ｌ
は、屈折力０１をもつ主径線と、屈折力Ｄ２をもつ第２
主径線とからなり、かつ第１主径線はｘ（１−ｙｌ）座
標系のｘＯ軸と角度−で交差しているものとする。この
被検眼Ｅの眼前Δｄ　の距離に点開口ｕ、ｖ％Ｗを有す
るマスクＭが配置されている。またマスクＭから距離ｄ
離れて検出面りが配置されている。

今、仮想光源１を射出した光束は、被検眼の屈折１１Ｌ
の屈折作用をうけ偏向され、その内の一部はマスクＭＯ
点開口Ｕ％Ｖ％Ｗを通過して横面り上に投影点ｕ’、ｖ
’１ｗ’を作る。この点開口と投影点を結ぶ光束の方向
は、被検眼Ｅの第１主径線０１０つくる第１遠点Ｆ１、
及び第２主径線の作シ第２遠点Ｆ２　Ｋ：向う方向にあ
ることは言うまでもない。

今、マスクＭ上の点開口Ｕ％ｖ１及びＷの座標ヲソれぞ
れＵ（×１、Ｙｌ）、Ｖ（Ｘ２、Ｙ２）、Ｗ（ＸｉＳ、
Ｙｓ）とし、また検出面０上の検出点ｕ’、ｖ’、ｗ’
の座ＩＩ　ｔ　ツレツレｕ’　（ｘ′１７、Ｙ、／）、
ｖ’　（ｘ２’、Ｙ２’）、Ｗ’　（ｘ！！’　、Ｙｓ
”とし、さらに＾１２＝（Ｘｌ−Ｘ１’　）−（Ｘ２−
Ｘ２’　）＾１ｇ＝（Ｘｌ−）Ｎ’　）−（Ｘｓ−ｘｓ
’　）８１２＝（Ｙｌ−Ｙ１’　）・−（Ｙ２−Ｙ２’
　）８１ｇ−（Ｙｌ−Ｙ１’　）−（Ｙｓ−Ｙｓ’　）
Ｃ１２−Ｘｌ−Ｘ２０１３”Ｘｌ−ＸｉＳＣ１２−Ｙｌ−Ｙ２Ｄ１３＝Ｙ１−”Ｙｓと定義すると、被検眼Ｅの２つの主極ＩＩＯ屈折力は（Ｃ１ｓＤ１２−Ｃ１２Ｄ１ｇ）（ｇ）”　　＋　（Ａ
１２Ｄ１ｓ＋Ｉｈ５Ｄｑｔχ 一＾１３Ｄ１２−８１２０１３）　（−）　＋　（Ａ１
３８１２−＾１２Ｂ１ｇ）＝０・・−・・・・　（２）の２久方機式で表現される。

さらに１上紀係数のカッコ式を以下のもので再定義する
。

〔ｐ％Ｑ）　Ｅ　ｐ１２ｑ１ｓ−ｑ１２ｐ１ｓ〔ｐ％ｑ
）　ｗ−［ｑ％ｐ〕ここでｐ％ＱＦｉそれぞれ＾、８％Ｃ１Ｏのいずれかを
とるものとすると、（２）式は＋〔＾、Ｂ〕＝０　　・・・・・・・・・　（３）とし
て表わされる。

この（３）弐においてｄは第２図で示すようにマスクＭ
と検出面Ｏとの距離を、２はマスクＭから遠点までの距
離をいう。

主径線Ｏ屈折力Ｄ２は（ここでＣは被検眼とその屈折力補正用の眼鏡レンｔと
の距離を表わし通常日本では１２■である。）で求められる。また−１乱視軸■は第１主径線の傾き角
θとＯ＋９０°の関係があるので一＊　ｔｏｗ−・　（
５）と表わされる。

第３ａ図及び第３ｂ図は、マスク手段に交差する直線パ
ターンを形成したときの被検眼屈折力を測定する本発明
の第２の原理を示す図である。上記の第２図の原理で使
用したと同等の構成要素には同一〇符号を付して説明を
省略する。

マスクＭにはＸ軸と角度０１　　で交差する直線開−Ｄ
／譬ターン＾とＸ軸と角度＃２　で交差する直線間ロバ
ターンＢとが交点Ｕで、交差角ｒで交差している。

被検眼の仮想光源茸から発散光束が射出され、上記マス
クの直線間ロバターン＾、Ｂで選択された光束は、検出
面り上で直線偉＾′、Ｂ′をそれぞれ作る。ここで、被
検眼Ｅの屈折力は、マスクＭＯ直線開口Δターン＾の長
さをｌＡ％傾きをｍ＾、直線間ロバターンＢの長さを’
Ｂｓ傾きをｍＢ、検出面上の直線Ａ′の長さをｔ＾′、
傾きをｍ＾′、直、ｌｉ　ｅ　／の長さをｔ　ｅ／、傾
きをｍ　ｅ／とそれぞれすると、 ψ＾・ψａ（ｍ＾−ｍｓ）　（−＋　１）２一〔ψＡ　
（ｍ＊　＃　ｍｅ’　）＋ψｅ　（ｍ＾’　−ｍｅ）　
〕（−＋　１）＋（ｒｎ硫−ｓ’）＝Ｏ°−−−−＝−
（６）但しとして表わされるので、この方程式の２根ｚ１、ｚ２　
、すなわち被検眼の第１遠点Ｆ１．第２遠・点Ｆ２とマ
スクＭとの距離をもとめ、これよ）被検眼の第１主径線
の屈折力０１及び第２主径線の屈折力０２はそれぞれ一。

で求められ、乱視軸■は ■　＝　　　＃＋９０゜として得られる。

測定にあたっては検出面０を走査して直線Ａ′、Ｂ′を
もとめてもよいし、第３ｂ図に示すようにマスクＭＫ直
線開ロバターン＾、Ｂの両方に交差する直ＩＩＣを形成
し、これら直線開口Ｉリーン＾、Ｂ％Ｃの検出面Ｏの座
標系ｚ　／　−ｙ　／の投影像を＾／　、Ｂ／　、Ｃ／
とするときＸ′軸とＹ′軸を走査して検出点ｘ　１／、
Ｘ　２／、ｘ　ｓ／及びＹ１’％Ｙ２’、ｙｓ’を求め
て、買１′とｙ２’とから直線ＡＩの方程式を、ｘ　３
／とｙ１’とから直線８′の方程式を、Ｘ　２　／とｙ
　３／とから直線Ｃ′の方程式をそれぞれもとめて、こ
れら三つの直線＾′、Ｂ′、Ｃ′の交点υ、ｖｌＷの座
標を決定し１．／とＶ′間の長さを前述のｔ＾／　、ｕ
ｌ　、とＷ′間の長さを前述のｔｅｌ　　またそれぞれ
の傾きをｍ＾’　、ｍＢ’　とすれば前述の第（６）〜
（８）式を使って被検眼の屈折力等をもとめることがで
きる。

あるいは交点υ′、Ｖ′及びＷ′のそれぞれの座標ｕ’
（ｘ１’、Ｙ１′）、ｖ／　（Ｘ　２／　、　Ｙ　２　
／　）及びＷ’　（Ｘ！Ｉ’　、　Ｙ３’）。

から前述の原理でのべた第（１）〜（５）式を適用して
。

被検眼の屈折特性をもとめて屯よい。

第４図は本発明のマスクＭＫ２組の平行直線群を形成し
九ときの被検眼の屈折特性を４とめる本発明の第３の原
理を示す斜視図である。マスクＭにはピッチＰ１でＸ軸
からの傾きｍ１ｔ）平行直線群Ｌ１が形成されている。

被検眼Ｅから射出した光束は、この平行直線群Ｌ１で選
択透過され九のち、検出面０上にＸ′軸との傾１１ｍ１
’　　、♂ツチＰ１′の平行直線群Ｌ　１　／を形成す
る。この平行直線群Ｌ　１　／の傾きｍ　、　／は・−一・−・　（９）で表わされ、またピッチＰ１　　は、として表わされる。

ここで、この方程式（９）、αＱの未知数はｚｌ、ｚ２
．００３つであるため、１つの平行直線群の変化からだ
けではこれらの未知数はもとめられないので、第４図に
示すように、もう−組の平行直線群Ｌ２をマスクＭに形
成する。ここで平行直線群Ｌ２　ＦｉそのピッチをＰ２
、Ｘ軸に対する傾きをｍ２としており、検出面り上の投
影像の平行直線群Ｌ　２／はそのピッチをＰ２′、傾き
を、２　／に変化されているものとする。

この平行直線群Ｌ２とその投影像Ｌ　２／との間にも上
記（９）、αＱが成立するので、合計４つの方程式が出
来るので未知数χ１ｓ”２、θを解くことができる。

上記（９）、（２）式の解法が演算時間の増加をまねく
のであれば、以下第５・図、第５ｂ図にもとすいて説明
するように仮想平行四辺形を作シ、この４頂点の座標位
置費化から被検眼の屈折特性をもとめて本よい。

第５−図は第４図のマスクＭＫ形成されたパターン開口
Ｌｌ、Ｌ２を示しているｍ　　Ｌｌの傾きは町でピッチ
はＰ、、Ｌ２の傾きはｍ２でピッチはＰ２であることは
＠４図と同様である。今、平行直線評し１のうちの１本
り目からピッチＰＩの０倍の距離・Ｐ箇へだてて平行線
面と、距離ｆｉｌの平行線ＱＷを考える。

また平行直線群Ｌ２のうちの１本Ｌ２１から距離ｇＰ２
の平行線ＶＷと距離ｈＰ２の平行線υＱを考え平行四辺
形ＵＶＷＱが形成され、これら４頂点のｘ　−ｙ座標系
の仮想座標を、υ”＋５ｙｌ）ｓｖ（”　２ｓ　Ｖ　２
　）　ｓ　Ｗ（ｙ　ｓ　、ソＩｓ）％　Ｑ（Ｘ４　ｓ　
’１４’）とする。

第５ｂ図は、第５１図の開ロバターンである平行直線群
り、、Ｌ２を通過した光線束による検出面Ｏ上への投影
平行直線群り、１％　Ｌ２１を示す図で。

仁のＬ　１　／は傾きｍ１′　ビ”）　ｆ　ｐ２／に、
Ｌ１２は傾きｍ２’　、ピッチｐ　２　／に変化してい
ることは第４図と同様である。この投影平行直線群を　
ｘ　／　−ｙ／座標の原点０′からｘ′軸方向にξ、ｙ
′軸方向にηだけ平行移動された点に原点Ｏ“を有する
交差角ｒで交差するＸ’−Ｙ“座標系のそれぞれの軸上
を走査して検出するものとすると、ｘ＃４１１の走査に
より検出点イ、口、ハ、−で投影平行直線群を検出し、
Ｙ′軸の走査により検出点ホ、へ、ト、チで投影平行直
線群を検出する。そして検出点口、へから投影平行直線
群のうちの１本し１１′　　の方程式を演算し、また検
出点ハ、トからＬ２１′　　の方程式を演算する。１＋
同様に検出点イ、ホから投影平行直線群のうちの他の１
本Ｌ１２′の、検出点二、チからＬ２２′　　のそれぞ
れの方程式が演算できＬ１１′、Ｌ１２′のピッチ２１
′も、Ｌ２１′、Ｌ２２′のピッチＰ２／も演算できる
。そしてＬ１１′からピッチＰｊ　／に第５ａ図でかけ
た倍率と同じ倍率・をかけてｅＰ１’のピッチの平行線
ｇｌ　ｙ／を考えることができ、同様にｆＰ１’　ピッ
チの平行線Ｑ’　Ｗ’　　を、Ｌ２１′からｇＰ２’　
ピッチの平行線ｖ’　ｗ’　　をｈＰ２’　ピッチの平
行線７７を考えることができ、これら平行線Ｕ’Ｖ’　
、Ｑ’Ｗ’　、　　Ｖ’Ｗ’　、Ｕ’Ｑ’　カら仮想平
行四辺形Ｕ’ｙ’Ｗ’Ｑ’　　をもとめることができる
。この仮想平行四辺形の四頂点６’ｘ’−ｙ’座標系に
おける仮想座標をｕ’　（ｘ’１、ｙ′１）、ｖ’　（
Ｘ’２、ｙ′２）、Ｗ／　（Ｘ／　！Ｓ、ｙ’ｓ）、　
　Ｑ’　（Ｘ’　４、ｙ′４）とすると、第５−図の仮
想平行四辺形ＵＶＷＱと第５ｂ図の仮想平行四辺形ｊＪ
’　Ｖ’　Ｗ’　Ｑ’は対応しており、これら８点の座
標から上述の第（１）〜（５）式を適用して被検眼の屈
折特性をもとめることができる。

上述した第５ａ図、第５ｂ図では、仮想平行四辺形をも
とめるのに、ピッチＰ１、’ｌ’１’及びＰ　２／に任
意の倍率・、ｆ、ｇ％ｈをそれぞれ掛は九が実際には・
−１，ｇｘｌとして仮想平行四辺形ＵｏＶｏＷｏＱ、　
７１Ｆ　Ｕｏ’　Ｖｏ’　Ｗｅ’　Ｑ’　を使ッテ演算
１゜た方が、処理はその分簡略化できる。

また、仮想平行四辺形の各頂点の座標をｘ−ｙ直交座標
系、ｘ　／　　ｙ　／直交座標系を使って説明したが、
斜交座標系Ｘ“−ｙ＃座標系の各軸上の走査を考えると
、×Ｉ％ｙ　／直交座標系と、〃−９メｌ斜交座−系間
の座標変換は第６図に示すように×′軸とＸ“軸が角度
αで交差し、ｙ′軸とｙ“軸が角度βで交差し、かつＸ
“−ｙ“座標系の原点０２はｘ′−ｙ′座標系の原点０
１からｘ　／軸方向にξ、ｙ′軸方向（ηずれている。

このときＸ“−ｙ″座標系から、／−、／座標系への座
標変換は前記（１）式の一般式から＾１３　＝　（ＸＩ　−Ｘ’ｌ）　−（Ｘｌ　−Ｘ’　
ｌ）−・−（１’）これにもυ式を代入して＾１３　＝　（ｘ’　１　ｓｉｎα＋ｙ’１ｓｌｎβ＋
ξ）−（Ｘ“ｌ５ｌｎ　α＋ｙ’ｓｌｎ　β＋ξ））−
（（ｘ’ｙｓｌｎα＋ｙ’３ｓｌｎβ＋ξ）−（Ｘ’　
３５ｌｎ（！　−ｙ＃　３５ｌｎｌ＋ξ））＝ｓｌｎα
（（ｘ’　　ｌ−Ｘ’ｌ）　　−（ｘ’　）−買“１）
）十ｓｉｎβ（ｙ’ｔ　−ｙ’＋）　−（ｙ’ｌ−ｙ“
１））・＝・・　　＾’　　１１　５ｌｎｃ！　　−１
−Ｂ’　　１ｊｓｌｎ　β　　　　−−−−−・　−−
−−−（１２ｍ）ま九Ｂ量１　＝ｘ　（ｙｌ−ｙ’　＋
）　−（ｙ３−　ｙ’３）で上記同様の計算でＢｌｊ＝ＣＯ１β（（ｙ’　ｒ　−ｙ’　＋）　−（ｙ
’　３−　ｙ’　１））　−ｃｏｓα（（ｘ’ｌ　−Ｘ
“＋）　−ＣＸ’１−Ｘ’１））＝　”　　ｌｊ　　ｃ
ｏｓ　　β　−＾’１ＪｅｏＩ　　α　　−−−−−・
−・　　、（１２ｂ）以下同様にＣ１３Ｗ　Ｃ’　ＩＩ　ｓｉｎα＋Ｄ’　１１　ｓｉｎ
β−・−・・・（１２ｃ）Ｄｌｊ　＝　Ｄ’　ｌｊ　Ｃ
ｏ！β−Ｃ’　ｌｊ　０６＠α　・−−−−−−・（１
２ｄ）となる。

ここでＥＣ，Ｄ〕、〔８、Ｃ〕、（Ａ、Ｄ］、〔＾、８
〕を求めると、（１２ｍ　）　〜（１２ｄ　）式から〔０％　　ｏ　　）　　＝　　Ｃ＋　　ＩＯ＋ｈ　　−
Ｄ＋　　ＩＣ＋ｂ＝（σ１１１ｎα＋”　ＩＩ　Ｓｉｎ
　／）　（Ｄ’　ｎｅｅｓ　／−Ｃ’　１　ｋｃｏｓα
）　　　（”　＋３　ｃｏｓβ−Ｃ’　１１　ｃｏｓα
）（Ｃ’　１１（ｓｉｎα＋Ｄ’　１１　ｓｌｎβ）＝
（１ｎα１ｎβ＋ｃｏｓα１ｎβ）（Ｃ′、ｏ／）同様
Ｋ　［８，Ｃ）　＝　（ｓｉｎα１ｎβ＋１ｎβｃｏｓ
α）（＾′、Ｂ１１〔＾、　Ｄ）　　＝　　（ｓｉｎα
ｃｏｓβ〔＾’　　、Ｄ’）−ｓｌｎαｃｏｓα〔＾′
、Ｃ’）＋ｓｌｎβｃｏｓβ（Ｓ／、Ｄ’　）　−５ｉ
ｎβｃｏｓα（Ｂ’　、Ｃ’　）〔＾、Ｂ）　＝　（ｓ
ｌｎｃＬｃｏｓβ＋ｃｏｓα１ｎβ）〔八′、Ｂ′〕′
を走（ｅ％ｃ）　−Ｃ＾、Ｑ〕ｙ＝　（１１ｎαｃｏｓβ＋
ｃｏｓα１ｎβ）（（Ｂ’、Ｃ’〕−（＾′、０１月従って（３）式はｓｉｎ　（α十β）× ＋〔Ａ′、ａ’））＝。

となり、（）内は（３）式と同一形式の二次方程式とな
り、このことから（３）式の二次方程式は、座標系の取
り方に無関係な不変方程式であることがわかる。このこ
とは、検出面の走査方向、Ｉｌ／＃にリニアセンサ等を
使用する場合、そのセンナの配置の自由度が非常に大き
いことを示す、すなわち、２本のリニアセンサを、ｔ−
、Ｉ座標系の直交：座標軸上におく必要はなく、翼“−
ｙ′座標系においてもよいことを意味するもので、リニ
アセンナの直交精度及び光軸合せはまったく考えカくと
も、測定精度に無関係にすることができる。そして測定
に際しては被検眼を測定しない状態の平行直線群パター
ンＬ１、Ｌ２を斜交座標系ｘ　／　　ｙ　／座標のＸ／
軸、ｙ′軸に配したリニアセンナ”１、’２で検出して
おき、この検出からつくられる仮想平行四辺形υ、Ｖ、
Ｗ％Ｑを基準仮想平行四辺形とし、つぎに測定し良い被
検眼を測定光学系で測定し、このときの投影仮想平行四
辺形ｕ’　ｖ’　ｗ’Ｑ′をつくり、基準仮想平行四辺
形と投影仮想平行四辺形とから被検眼の屈折特性を求め
るものである。そしてこのとき両平行四辺形は任意に選
択できる斜交座標系Ｘ　＃　＋＋＋　ｙ　Ｉ座標系に対
してのみ座標系を考えていることとなり、かつこの斜交
座標系Ｘ′−ｙ′は、上述したようにその選択は被検眼
の屈折特性演算の内屈折力計算のための二次方程式に対
し、無関係な不変式であり、本発明によればリニアセン
サ３１．８２の配置に対して、何ら組立上も、メンテナ
ンス上も調整を必要としないという非常に有利な効果を
もつ。

被検眼の乱視軸即ち円柱軸方向は、（５）式で与えられ
る。（５）式は直交座標系時の式であるが、斜交座標系
×“−ｙ“（センサがある場合は、以下の式を使って斜
交座標系で求めた結果を直交座標系を使用したときの円
柱軸として計算することができる。

となり、円柱軸ｏ＃ｉ。

Ｏ＝　　−＋？Ｏ’ として屯とめられる。

第７図は、マスクＭに半径ｊの円周開口ΔターンＳを形
成したときの本発明の測定原理を示す斜視図である。

被検眼Ｅを射出した光束は、この円周間ロバターンＳで
選択透過されると、検出面＞Ｘは被検眼Ｅの屈折特性に
応じた楕円に変形されて投影される。この楕円は・・・・−・・・０但しの方椙式で表わすことができる。

ここで口１は第１主径線のＩＩＡ折力、０２は第２主径
線の屈折力、−は＠１主ｌＩＴ線のマスクＭのＸ−Ｙ座
標系のＸ軸と交わる角度であることは上述の填１から第
３の原理と同様である。なお、α、βはそれぞれ楕円中
心の水平、ｒｉ直力方向ズレ量であゐ、このように上記
方１式ａｍ（Ｌ４には、５つの未知数があるため、この
楕円上の５点を検出すれば上記方程式を解くことができ
、これよシ被検眼の屈折力は測定できる。

実際ＯＩＩ定にあたっては、検出面Ｏに平面型センナを
利用し走査した〕、あるいはリニアセンナを装量光軸を
回転軸として検出面Ｏ内で回転して楕円投影倫中０５点
を検出してもよいが、よシ構成を簡単にするためＫは、
第８図に示すようにマスク−の円周開ロノ々ターンＳＫ
臂わる少なくとも一本のＷ線開口Ａターンを形成するき
よい、この構成によシ、第９図に示す如く、検出面０に
は２本のりニアセンｆ　８１．３２を交差させて配電す
石だけで、楕円投影偉Ｓ＃０４点と、直線投影像の２点
が検出できるので、構成を非常に簡単にできる。第８図
では直線−ロバターンをｔＨ，ｔ２の互いに平行な二本
の直線Ａターンとしたのは、リニアセンサＳ１％Ｓ２の
交点に直線投影像のうちの１本が重なっても他の１本の
投影像の２点が検出できるようＫしたためである。なお
、Ｘ軸との轢き角αの直線間ロバターン投影像の傾きを
α′とすると、直線／脅ターンと直線投影像の聞には、
（Ｈ−α−ｖ・α’　）ｔａｎ　＃＋（Ｈ−Ｖ）（１−
α・α’　）ｔａｒ＋＃＋（Ｖ・αｔ−Ｈ・α）＝０　
　　　　　　　　・・・・・・（至）の関係がある、但
し、ここでＨ，Ｖは第一式を表わしている。そして、第
９図に示すように検出点（Ｘ％　ｓ　Ｙ＋”）　〜（Ｘ
４’　％　Ｙ４’　）を＊ＯＫ代入し。

検出点（Ｘ５’　ｓ　Ｙ４’　）　（Ｘ６’　、Ｙ４’
　）を第−弐に代入して、これら２つのオ一式を解決す
れば被検眼の屈折特性は測定できる。

以下本発明の詳細な説明する。

第１０図は上述の第１〜＃！４の測定原理を通用できる
オートレフラクトメータの光学系配置を示す概略図及び
検出演算処理装置のブロック図である。

本実施例のオートレフラクトメータの光学系は、大きく
測定光学系１、固視標光学系２、照準用光学系３ｍ、３
ｂ及び光源投影用光学系４とから構成される。

測定光学系１０光軸０１　　に画、直な平面内には、上
述の第１〜第４の原理で説明したいずれかのマスク開ロ
バターンを形成して成るマスクＭが配置されている。ｔ
たその後方に１■一光軸０１　　にそって離れた位置に
平面型センサアレイＯが配置されてｉる。仁の平面形セ
ンｌアレイ０は、光電子倍増用Ｏマルチチャネルプレー
ト層Ｄ１　　と、蓄積効果型センナ素子を平面状に多数
配列してなるＣＣＯ層０２　　と、ペルチェ効果を利用
して上記ＣＣＯサアレイ０は、すＶ−レンズ５によシ、
その共役ｅｒａ’　％　Ｄ’　ｔそれぞれ被検１１１１
１前に形成される。

ここでマスクＭの共役ｐ　Ｍ　／は、被検眼眼前から距
離ΔｄｌｌＩ！ｉれた位置に配置されることは上述の原
理と同様である。

光源投影光学系４は、Ｇ−＾ａ半導体Ｖ−デからなる光
源６と、コリメーターレンズ７、アパーチャー８、ミラ
ー９ａ、９ｂよシ構成され、光源６からの９００ｎｍの
近赤外光が装置光軸０１　　Ｋそって被検眼Ｅに細いビ
ーム党として照射され、被検眼εの網膜上にスポット光
を投影する。この投影され九ス４ット光が二次元源諺と
して働く。

ま九、被検眼の視線を装置光軸０１　　と一致させるた
めに利用される固視目標光学系３は、光源１０で照明さ
れる。第１２図（Ｃ）　Ｋ示すような固視目標１１及び
、この固視目標を被検眼に投影するレンズ１２と、この
レンズ１２から光束を装置光軸０１　　方向に反射させ
るための光軸０１　　Ｋ対し、斜設され九１１−フミラ
ー１３から構成されている。

ここでハーフミラ−１３は党１１［６からの９００　ｎ
ｍの近赤外光を透過し、レン、ｅ１２からの可視光を反
射する町視光反射赤外党透過型のミラーである。

照準用光学系は、照準ターゲット投影系３ｍと照準受光
系３ｂとからな夛、照準ターゲット投影系３１は、装置
光軸０．ｔ−含む垂直面内に配置され、その光軸０２　
　は光軸０１　　と交点Ｐで交わるように配置される。

この照準ターグツト投影系３ａは、光源１３と、この光
源１３から光束の内赤外光成分のみを透過させる赤外フ
ィルター１４と、この赤外光によシ照明されるターゲツ
ト板１５と、ターゲットを交差点ｐｌ含む面内に投影す
る投影レンズ１６．１７及び、し／ズ１６と１７の間に
配置され、光源１３から光を光軸ｏ３　Ｋそって反射す
るきラー１８とから構成されている。ここでターゲツト
板１５には、第１２図（＾）に示すように水平な２本の
平行スリット線１５畠、１５ｂが形成されている。

一方、照準受光系３ｂは、第１１図に示すようにその光
軸０３が装置光軸０１を含む水平面内にあ夛、かつ光軸
Ｏ１と点Ｐで交差するようになっている。受光系３ｂは
、対物レンズ１９とその焦点面におかれるスプリットプ
リズム２０、リレーレン−ｅ２１、絞シ２２、結儂レン
ズ２３及び撮儂管２４とから構成されている。ことで撮
偉管２４はＣＲＴディスグレイ１００Ｋ接続されてｉ？
〕、またスプリットプリズム２００後面絋第１２（ａ）
図に示すような垂直な２本の平行なスリット線２０ａ１
２０ｂが形成されている。

また平面型センサアレイＯはマイクロノロセッサ１０１
のクロックパルス２０１の制御を受けてセンナ素子ｔ−
順次走査駆動する駆動回路１０２に接続されている。ま
た、センナアレイＯは、その出力端をアナログスイッチ
１０３に接続しておシ、このアナログスイッチはＡ　／
　Ｄ変換器１０４に接続されている。＾１０変換器１０
４はマイクロノロセッサ１０１に接続される。

マイクロノロセッサｌ０ＩＫは、ま＊　ＲＡ　Ｍ　（ラ
ンＩム・アクセス・メモリー）等からなる記憶回路１０
５と、インターフェース回路１０６が接続されている。

インタ−１シ４回路１０６は〇−丁デイスプレー１００
に接続されている。そして史に、！イクログロセツナ１
０１は、プログラムメモリ１０８に記憶されたプログラ
ムに従って処理を行う。

次に本実施例の作用を説明する。まず光源１ｓｔ点燈し
、被検眼Ｅの前眼部を照明する、この被検眼前眼部′／
ＩＩ′ｆ：照準受光系で照準受光子の像をＣＲＴディス
グレーＫｕｉｉ儂表示する。

ここで受光系３１）Ｋはスプリットプリズム２０が配置
されているので、被検眼と装置との距離が予め定められ
た距離Δｄと異っているとＣＲＴディスプレイ１００の
前眼部画ｇＩはスゲリットプリズム２００作用によシ第
１３図（〜に示すように左右にズレを生じた１儂として
受像される。そこで、装置を前後方向に微少移動させ、
スゲリットイメージが合致するようにワー中／グデイス
タンスを調整する。Ｉま九ＣＲＴディスプレイの前眼部
画像には、スリット１１１５１．１５ｔ）及び２０ａ。

２０１）も同時に撮されておシ、上記のワーキングディ
スタンス謂整をすると第１！１（８）図に示すようにス
リット線は、視野中央で交差し、四辺形を形成する。こ
の四辺形内に被検眼の瞳孔がくるように装置を上下、左
右に微少移動しアライメントをする。次に光源１Ｇを点
燈し被検ＩＮＫ固視標１１を固視させる。以上の準備操
作が完了しえら光源６を点燈しスポット元を被検風網膜
に照射する。

網膜からの反射発散光束は被検眼瞳孔を通して、限外に
射出され、このとき射出光末拡被検眼の屈折特性によシ
偏向されて射出される。この射出光束は、マスクＭＯ開
口で選択透過され、センサアレイ０に入射する。センサ
アレイ０は、マスクの開口／ｆターンに対応しかつ被検
眼の屈折特性に応じて変形された投影像を検出する。そ
して、！ログラムメモリ１０８の！ロダラムに従って、
センサアレ（ｌ）ｔｉ％マイクロｆａセッサ１０１のク
ロックパルスに周期して駆動回路１０２ｅ’Ｃよシ順次
セ／す素子が走査され、各センサ素子出力はクロックパ
ルスに同期してアナログスイッチ１０３に入力される。

アナログスイッチ１０３紘マイクログロセツナの制御で
センサアレイからの検出出力を＾１０変換器１０４に入
力する。Ａ　／　Ｄ変換器１０４は入力された各センナ
素子の検出アナログ出力ｔ−デジタル値に変換し、１イ
クロ７′″ロセツサ１０５の制御によシ記憶回路１０５
のあらかじめ定められた番地Ｋｌ［次書込まれる。この
記録され九データをもとに、マイクロ７”ａセッサ１０
１の演算部で前述の原理説明でのべた検出点座標をもと
め、この座標値をもとく上記の方程式をもとに被検眼の
屈折特性を計算する。この計算結果はインターフェース
回路を介してＣＲＴディスプレイ１００に表示される。

また必要に応じてプリンター１０７で印字出力される。

第１４図は、上述の第１の原理を利用する場合のマ不夕
一の開ロア１ターンを示す図であ）、点開口２０１が複
数十字型に配列し九マスクを用いるとよい。

また、検出器としては第１５図に示すような多数のセン
サ素子を直線状に配列してなるリニアセンサアレイＬ口
を使用し、これを光軸０１ｔ−回転中心トしてΔシスモ
ータ２１０で回転してもよい。

この７４ルスモー！２１Ｇはマイクロプロセッサの制御
を受けるノ譬ルスモーター駆動回路２１１で駆動制御さ
れる。

第１６図は本発明の第２の原理を利用した場合のマスク
Ｍの開ロノ母ターンの一例を示すものである。

マスクＭには、太い直線開口Δターン２２０ａと２２０
ｂとからなる第１平行直線評２２０と、これに直交する
細い３本の直線から成る平行直線群２２１・と２２１ｂ
からなる第２平行直線群２２１とが形成されている。

ま九、測定光学系の検出器としては第１７図に示すよう
に２本のりニアセンサアレイＬＤ１　、ＬＤ！を使用さ
れる。マスク鯖の後方には、はね上はミラー２３０が配
置されている。はね上げミラー２３０の反射光軸０１′
上には、図面に対して直角な方向に延在するリニアアレ
イＬｔ）ｊが配置され、まえ、はね上げミラーがはね上
げられ九ときの光軸０１　　の延長上にはリニアセンサ
アレイＬＤ１がそれぞれ集積検出面０１上で直交するよ
うに配置されている。共役検出面σ上での投影像は第１
８図に示すように被検眼の屈折特性により変形される。

測定に際しては、まずはね上げミラー２３０を第１７図
に実線で示す位置におき、リニアセンサアレイＬＤｆを
走査し、マイクロプロセッサで検出点×１’、”２’　
、）（ｓｌ　、Ｘ４’を決定する。次にはね上げミラー
２３０を破線で示す位置にはね上げ、リニアセンナＬＤ
１を走査して、検出点Ｙ１’　、Ｙ２’　％Ｙ３’　、
Ｙ４’を決定する。そしてＸ′とｙ　ｚｔで投影直線２
２１１・の方程式を、ｘ２′　と５（４１で投影直線２
２Ｇ’　・の方程式を、×５１　とｙｌＦで投影直線２
２０’ｂの方程式を、ｘ４′　とｙ　ｓｌで投影直線２
２１’ｂの方程式をそれぞれ演算し、これら４つの直線
の方程式のから、４直線の交点Ｕｌ　、ｙｔ　、Ｖ、Ｑ
′　の座標を算出し、この座標値と、あらかじめ設計値
としてメモリーされているマスク上の直線開口Δターン
の交点ｕ、ｖ、Ｗ、Ｑの座標値とをもとに、上述の第（
１）式から第（５）式を利用して、被検眼の屈折特性か
もとめられる。

第３の原理を第１０図あるいは第１７図の実施例に適用
する場合のマスクＭの開口Δターンは第１９図に示すよ
うな開口Δターンにすればよい。

第１９図においてマスクＭＫは、♂ツチＰで傾きｍｌ　
　の平行直線群３００・と、ピッチは同一で傾きｍｌ　
の平行直線群ａｏｏｂとが形成されている。

また、それぞれの平行直線群には、他の直線開口／＃タ
ーンと区別するための太さ、あるいは透過率の異なる直
線／ぐターン３０１ｍ、３０１ｂが形成しである。この
様に多数の平行直線からなる平行直線群をマスクノダタ
ーンとして使用すると、リニアセンサアレイでの投影像
検出点数が多くとれ投影直線の方程式の傾き、及びピッ
チが平均化でき、よシ測定精度をあげることができる。

ｔた直線Ｉ４り、−ン３０１ｍ、３０１ｂを形成し九の
は、検出点の２点を結び投影直線の方程式を４とめると
き、どの検出点を結ぶかを決定する基準とするためであ
る。このマスクイターンを通過した検出面Ｏ上での投影
ノ量ターンを上述と同様の平面蓋センナアレイ０やりエ
アセンサアレイＬＯ１、Ｕ）１で検出し、以下同様の演
算処理をはどこして被検眼の屈折特性を算出する。同、
第１７図の実施例を適用させる場合はリニアセンサアレ
イしＤｌ、ＬＤ！はそれぞれ共役検出面Ｄ′で角［ｒで
交差するように配置する必要がある。

第２０１１ｔｌｉ、第３の原理を適用する他の実施例を
示す部分光学配置図である。第１０図、第１７図と同様
の構成要素には同一の符号を附して説明は省略する。

はね上げミラ・−の反射光軸上にはミラー３１０”が配
置され、このきツー３１０て反射された光束はマスクＭ
１を通過後、ハーフミラー３１２の半透過１！１３１２
−で２分割され、２分割され走光束のそれぞれがリニア
センサアレイＬＤ１、ＬＤ２に入射する。ｔた、はね上
げミラー２３０をはね上げ九ときの装置光軸０１　の延
長上にはミラー３１１が配置されてお夛、その反射光束
は！スクＭ２を通過後＾−）ミラー３１２の半透過１１
３１２　ｍで２分割され、それぞれリニアセンチアレイ
ｔｏ１、ＬＤ！に入射する。なお、本與施例のマスクＭ
１には、第１９図に示しえ第１平行直線群３００−のみ
がマスクＭ２　には、第２平行直線群３００ｂのみがそ
れぞれ全面に形成されておシ、且つこれら平行直線群３
００・、３００ｋｌはりレーレンｆ５によシその共役マ
スク面Ｍ′で互の配列方向が異なるようにｉスクＭｌ−
Ｍｔは配置されている。測定に際しては、まずはね上げ
ンツ−２３０を実線の位置に保持し、リレーレンｊｅ５
１通る被検ｌ［Ｅからの射出光束をマスクＭ１で選択さ
せる。マスクＭ１で選択された光束はりニアセンサアレ
イＬＤ１、山。

の両方に投影され、リニアセンサアレイＬＤ１　ｆ　４
ず走査し、検出点をもとめる。つぎに、リニアセンナア
レイＬＤｊ　ｔ−走査し、検出点をもとめ、これら検出
点によりマスクＭ１に形成された第１平行直纏５ｓｏｏ
―に対応し先投影像の方程式を決定する。

次に、はね上げミラーｚｓｏｔはね上げ、被検眼Ｅから
の射出光束をｉスタＭ！で選択させ、リニアセンサアレ
イＬＤ１、ＬＤＩに入射させろ、以下Ｍｌｌｌにリニア
センサアレイｕ）１、ＬＤ２で検出点を得たのちマスク
Ｍ２　Ｋ形成された第２平行直線詳３００ｂｌ（対応し
九投影僚の直線の方程式をもとめる。これら２回の測定
で得られた直線儂の方程式から、ピッチＰ′と傾きＭ１
’　、Ｍ２’をもとめ、以下、前述の第５−図、第５ｂ
図の方法にしたがって第（１）式から第（５）式を使っ
て被検眼の屈折特性をもとめる。

第２１図は、第２ａ図の実施例では２枚のマスクＭ１、
Ｍ２を使用したかわシに、１７２Ｍ１　　を一枚のみ使
用し、マスク町　をΔシスモータ２１０で回転させ、第
２０図の実施例と同様の作用効果をも九せた実施例であ
る。

また、第２２図は、！スクＭ１　　を固定して、そのか
わ夛にマスクＭ１　　で選択された光束自身をΔにヌモ
ー！で回転されるイメージｐテータ４００で回転し、同
様の作用・効果を４たせた実施例である。

このイメージロテーメ４００ｔ−使用する方法は、第１
５図のりエアセンｔＬＤを回転する方法のかわ）Ｋ使用
することも出来る。

なお、第４の原理である円形−ロノメーンを使用する実
施例は、記載しないが、第１Ｑ図、第７！図の実施例を
その重重利用でき、また、円形開口・−ターンと直線開
口／ｆターンの両方を有するマスクの場合は第１を図板
下の他の実施例が利用できることは理解出来るであろう
。また、以上述べた原理翫実施例が開口・譬ターンを使
用しているが、これに限定されずに一マスクのｌ−ター
ンは反射型／＃ターンでもよいことも当業者であれば理
解されよう。また、リニア七ンサアレイあるいは平面型
センサアレイを検出子役としてもちいたが、これに限定
されずに、すでに公知の直線内あるいは平面内を走査し
、光検知できる走査子役を利用してもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図（＾）、―）は、レンズ屈折力と眼の屈折力の定
義を説明するための図、第２図は、本発明の第１の原理
を説明すゐ光学系の斜視図、第３１図は、本発明の第２
の原理を説明する光学系の斜視図、第３ｂｌｌは、第２
の原理のマスクパターンの他の例を示す図、第４図は、
本発明の第５の原理を説明するための光学系の斜視図、
第５ａ図及び第５ｂ図は、本発明の第３の原理の他の方
法を示す図、第６図は、直交座標系と斜交座標系の関係
を示す図、第７図は、本発明の第４の原理を説明する光
学系の斜視図、第８図及び第９図は、第４の原理の他の
例を示す図、第１０図は、本発明の第１の実施例を示す
光学配置図、第１１図は、第１集施例の光学配置を示す
部分平面図、第１２図（＾）及び伸）は、ターゲツト板
を示す図、第１２図仲）は固視標を示す図、第１５図か
）及び−）は、照準方法を説明するための図、第１４図
は、マスク／臂ターンの第１の実施例を示す図、第１５
図は１本発明の第２の実施例な示す部分図９ｍ１６図は
、ｆｆスクノ譬ターンの第２の実施例を示す図、第１７
図は、本発明の第３の実施例を示す部分図、ＩＪ／ｌ１
ｌｔ図は、検出方法を説明するための図１第１り図は、
マスク／中ターンの第３の実施例を示す図、第２０図は
本発明の第グの実施例を示す光学系配置の部分図、第２
７図は本発明の第！の実施例を示す光学配置の部分図、
干して１第、２２図は本発明の第４の実施例を示す光学
配置の部分図である。ＭＯ・・・拳マスク、Ｄ・・・・一平面ｍセンナアレイ
、ＬＤ、　ＬＤ　　、　ＬＤ　　・・・・・リニア竜ン
サアレイ、ＩＪ！Ｅ・・・・・被検眼、ｌ・・・・・測定光学系、２・・
・・・固視標光学系、３ａ＃３ｂ・・・・・照準光学系
、４・・・・・光源投影光学系、２１０・・・・・−ｆ
ルスモーター、４００・・・・・イメージロテータ。篤１６図第１８図馬１９図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被検隈眼底に略点状の二次光源を形成する照明手
段と、該二次光源からの発散光束で該被検眼を射出してくる光
束を選択するマスク手段と、該マスク手段により選択さ
れ九光束を前記被検ＩＩＩ！底と非共役位置で検出する
検出手段と。該検出手段の検出情報（基づいて被検眼の屈折特性を演
算■閣する演算手段とから構成されてなることを特徴とすゐオートレフラクト
メータ。
（２）、前記−ｆ’Ｘり手段と被検眼の間には前記マス
ク手段及び前記検出手段のそれぞれの光学的共役偉を前
記被検眼眼前に形成するためのリレー光学手段が配置さ
れている仁とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
オートレアラクトメータ。
（３）前記マスク手段は前記光束を選択的に透過する開
口／４ターンが形成されていることを特徴とする特許請
求の範囲第１項または第２項記載のオートレフラクトメ
ータ。
（４）前記開口Δターンは少なくとも３点の点状開口で
あることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載のオー
トレフラクトメータ。
（５）前記開口Δターンは少なくとも２本で少々くとも
１点で実質約４しくは仮想的に交差する直線部ロバター
ンであることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の
オートレフラクトメータ。
（６）　　前記直纏開ロノｆターンのうち少なくとも１
本は他の直線部ロバターンとその太さもしくけ透過率を
異にしていることを特徴とする特許請求の範囲第５項記
載のオートレフラクトメータ。
（７）前記直線部ロバターンは少なくとも２本の平行か
直線部ロバターンからなる第１の平行直線群と、・該第
１の平行直線群に交差しかつ該直線開口Ｉ譬ターンとそ
の本数を異にする少なくとも２組の平行直線・ｆターン
から成る第２０平行直線群とから構成されていることを
特徴とする特許請求の範囲第５項記載のオートレフラク
トメータ。
（８）前記マスク手段は、少なくとも２本の平行な直線
開ロバターンからなる第１の平行直線群と、該第１の平
行直線群の配列方向と異なる方向に配列された複数の平
行な直線開ロバターンからなる第２の平行直線群とを有
することを特徴とする特許請求の範囲第３項記載のオー
トレフラクトメータ。
（９）前記マスク手段は第１と第２のマスク手段からな
シ、第１のマスク手段ＫＦｉ前記第１の平行直線群が、
第２のマスク手段Ｋｔｆ第２の平行直線群がそれぞれ形
成され、前記リレー光学手段による共役面内で該第１及
び第２の平行直線群が交差することを特徴とする特許請
求の範囲第８項記載のオートレフラクトメータ。（至）前記開ロバターンは円形開口／ｆターンであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第３項記載のる少なくと
も１本の直線開ロバターンを有してなることを特徴とす
る特許請求の範囲第１０項記載のオートレフラクトメー
タ。ｔｌｚ　　前記光源は赤外光を照射する半導体レーザで
あることを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第１
１項のいずれかに記載のオートレフラクトメータａ３　　前記検出手段は多数の受光素子を平面状に配列
してなる平面型センサーアレイであることを特徴とする
特許請求の範囲第１項ないし第１２項いずれかに記載の
オートレフラクトメータ。ａ４　　前記検出手段は多数の受光素子を直線状に配列
してなりかつ実質的もしくは前記共役面内で仮想的に互
いに交差する少なくとも２本のリニアセンナアレイから
なることを特徴とする特許請求の範囲第５項ないし第１
３項いずれがに記載のオートレフラクトメータ。ａ９　　前記検出手段は実質的もしくは前記共役面内で
仮想的に平行な少なくとも２本のリニアセンサアレイで
あることを特徴とする特許請求の範囲第５項ないし第１
３項いずれかに記載のオートレフラクトメータ〇