JPS5870584A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPS5870584A
JPS5870584A JP56168700A JP16870081A JPS5870584A JP S5870584 A JPS5870584 A JP S5870584A JP 56168700 A JP56168700 A JP 56168700A JP 16870081 A JP16870081 A JP 16870081A JP S5870584 A JPS5870584 A JP S5870584A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
stem
wiring layer
cathode
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56168700A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Meguro
目黒 将夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP56168700A priority Critical patent/JPS5870584A/ja
Publication of JPS5870584A publication Critical patent/JPS5870584A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/64Heat extraction or cooling elements
    • H01L33/647Heat extraction or cooling elements the elements conducting electric current to or from the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • H01L2224/48472Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明に半導体装置に関する。
赤外発光ダイオードは第1図に示すように、銅のステム
1の上面中央に取り付けたシリコンからなるサブマウン
ト2の上面に絶縁膜3を介して形成した配髄層4上に光
を発元する素子51!−ダイレクトボンディング(フエ
イスダクン0ボンディング)で嶺軟している。また、ス
テム1には2本のり一ド6が貫通ρλつ絶縁体(ガラス
)7を介して固定されている。2本のリード6はそれぞ
れ7ノードリード8.カソードリード9とな9、上端に
ワイヤlOによって所定の配線層番と接続さnている。
また、ステム1には造光窓(ガラス板)11を有する金
[k’の千ヤッグ12がリングウェルドによって取り付
けられ、素子5等を気密期止するよう罠なっている。こ
のような発光ダイオード13は肉リード6に所定の電圧
を印加すると< 素子5の内部のPM接合からjt、t
−発する。
ところで、発光素子5はill導電型層の表面中央部に
第2導電型層管形成する構造となること、また、PM接
合全域で電流を均一に流したいこと等から、一方の電極
は他方の電極を取り囲むように形成することが望ましく
なる。このため、内−〇電極(たとえばカソード電極1
4)と外lIの電極(たとえばアノード電極15)との
ショート管防止する必要が生じ、従来はサブマウント2
の配線層41に2段にし、胃の高いうy)16で電極と
の接合を図9、低い配置層部分17t−7ノード電極1
5下に這わせている。
しかし、このような構造ではつぎのような欠点がおる。
   ゛ (1入配鹸層4を2段にするため配縁層形成のメッキあ
るいは蒸着作業t2回行なわなければならず、工数が多
い。
(2)、発光時の熱は電極、ラン下、サブマウントを介
して速やかにステム1に伝導路せて放散させる必要がめ
るが、ムu Elnからなるランド16はたとえば2μ
mと薄い配Ii!部分17に対して6μmと厚く、熱抵
抗が高い。また、アノードとカソードのショート防止の
ために、/f+jプマウント20表面Ktl熱抵抗の大
きい絶縁膜3が設けられている。このため、放熱脣性が
低い。
(3)、配置層4を2段としてシ日−ト対策管施してい
るが、カンード用配婦層18上を7ノード電極15が位
置することはクヨートの危険性があり必ずしも好ましく
はないので、実際にはアノード電極15はカソード電極
1番を城9囲む馬蹄形状電極となっている。しかし、馬
蹄形電極では、フェイスダウン・ボンディング時に平面
XY方向以外に回転方向の位置決めも行なわなければな
らず、作業性が悪い。また、アノード電極がない部分に
対応するPNm合部での電流の流れは低くなる。
したがって、本発明の目的に電流効率、放熱効率が良い
特性の優れた半導体装at−安価に提供することにある
このような目的を達成するために本発明は、熱伝導性の
良好なステムと、このステムの上向中央に取り付けられ
たシリコン板からなるサブマウントと、仁のサブマウン
トの上面に絶II&換を介して設けられた配線層と、こ
の配置層に電極を介して取り付けられた素子と、からな
るものである。また、シリコン板上ff1Kt!オーミ
ツク性向上のために高1IIWl不純物拡散層が設けら
れている。そして、素子が発光素子である場合には、ニ
オのtmはスポット電極となり、他方の電極はこのスポ
ット電極tie囲むリング状のリング電極となり、かつ
、ステムには電気的に接続されるリードと、絶縁的に接
続されるリードとを有するものである。
以下実施例により本発Ij11を餉−明する。
第2図は本発明の一実施?IIKよる発光ダイオードの
要Sを示す断面図である。この実施的では、熱伝導性の
度光なOuからなるステムIKに2本のり−ド6が取り
付けられている。一方のリード6はステム1の下面に#
Il接されてステム1と電気的に導通となるカソードリ
ード9となっている。
他方のリード6はアノードリード8となり、従来と同様
にステム1t−貫通しかつ絶縁体7會介して固定されて
いる。
ステム1の上面にはAu−B1の共晶層191i−介し
てサブマウント2が接続されている。サブマウント2鉱
シリコン板22からなり、その上面に扛スポット状のカ
ソード用絶縁膜2oと、カソード用絶縁換20管非接触
で取り囲むアノード用絶縁膜21とからなる絶縁膜3を
有している。この絶IIIk膜3は熱酸化6るいに蒸着
勢によって作られ、その厚さは1μm前後と薄くかつ一
定である。また、絶縁IIa上には2μm前後の犀さの
ムu−snか、らなる配置層4を有している。アノード
用絶縁膜21上のアノード用配酵層23框シリコン板2
4とは電気的に接続されていないが、カソード用絶縁換
20上のカソード用配廖層24はシリコン板22に接触
し、シリコン板22と導通状態となっている。また、絶
縁膜3およびシリコン板22と配、11M114との接
合強!fを高めるために、その界面にrtOr・T1・
MO,ム1等が介在される。なお、カンード弔配姻層2
4とのオーミック性を向上させる危めに、シリコン板2
2の上面にはあらかじめ不純物が高濃度に拡散され、高
濃度不純物拡散層25が設けられている。シリコン板が
N導電型の場合は不純物はたとえばリン、P導電型の場
合はたとえばポロンとなる。
発光素子5は上部がドーム形となり、かつ下面にはカソ
ード電極14および7ノード電極15が設けられている
。カソード電極14はスポット状の電@(スポット電極
)となり、カソード用配縁層24と接合され、ステム1
と導通状静となる。
また、アノード電極15rcカソード電極14を取り囲
むリング状の電極(リング電極)となり、カソード電極
1番に接続される。さらに、アノードリード8とアノー
ド用配題層23はワイヤlOで接続される。なお、図示
はしないが、ステム1には透光窓を有するキャップが取
り付けられて発光ダイオードを形作る。
このような実九例によれはつぎのような効果を奏する。
(す、カソード電極14はシリコン板22と電気的に接
続され、ステム1を介してカンードリード9と導通状I
となる。このため、カソード用配縁層24の一5t−7
ノ一ド弔配縁層23の外棚に引き出す必要はなくなり、
配線層4の高さを一定とすることができ、アノード電極
15を従来の馬蹄形からリング状KR更することができ
る。アノード電極15のリング状化によって、PM接合
全周に均一に電流が流れることから、発光効率が向上す
る。また、フェイスダウン・ボンディング時Kに回転方
向の修正も不要となり、作業性が向上する。
(2)、配耐層r12段構造とすることなく、同一高さ
でよいことから一回の作業でよく工数が低減されるとと
もに、絶縁層3上の配酵層番の厚さは従来と比較して大
幅に薄くでき、配縁層の熱抵抗の低減化が可能となる。
また、素子5の中央に位置するカソード電極14に繋が
るカソード用配縁層24は熱伝導の良好な金からなりか
つシリコン板22に直接接触するため、素子中央部にお
ける熱抵抗は低減できる。したがって、放熱特性の向上
を図れる。
(3)、ワイヤボンディングに7ノード舞だけでよいこ
とから、組立工数の低減も図れる。
なお、本発明は前記実施的に限定されるものではなく、
本発明の技術思想に基いて変形可能である。また、本発
明は他の半導体装置にも適用可能である。
以上のようK、本発明によれば、電流効率、放熱効率が
よく特性の優れ九半導体装alt−安価に提供すること
ができる。
@面の簡単な叡明 第1図は従来の発光ダイオードの断面図、纂2図は本発
明の一実施飼による発光ダイオードO要部を示す#面図
である。
符号の一明 1・・・ステム、2・・・サブマウント、3・・・絶縁
膜、4・・・配置lI鳩、5・・・素子、6・・・リー
ド、14・・・カソード電極、15・・・アノード電極
、23・・・7ノード用配一層、24・・・カソード用
配縁層。
375 第  1  図 第  2  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、熱伝導性の良好なステムと、このステムの上面中央
    に取り付りられたシリコン板からなるサブマウントと、
    このサブマウントの上面に絶縁Jlk’を介して設けら
    れた配線層と、この配一層に電&を介して取り付けられ
    た素子と、からなる半導体装置において、前記サブマウ
    ントの絶縁膜は同一厚さとなるとともに部分的に設けら
    れ、かつ一つの電極に接続式れる配珈層にシリコン板面
    に電気的に接続されていることYt脣倣とする半導体装
    置。 2、°  前記サブマウントのシリコン板上面には配線
    MとrDyt−Sツタ性を向上式せるための高一度不純
    物拡散層が設けられてhることtvr徴とする特許請求
    の範18@1項記載の半導体装置。 3、前記素子は発ft*子からなるとともに、電極は小
    円板状のスポット電極と、このスポット電極tIIRa
    囲むリングからなるリング電極となり、スポット電極は
    シリコン板と電気的にW!続され、かつステムには電気
    的に接続でれるリードと、絶縁的に11!綬されるリー
    ドとt−Wすることt411PgIIとする特許請求の
    範囲第1項記載の発光ダイオード・
JP56168700A 1981-10-23 1981-10-23 半導体装置 Pending JPS5870584A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56168700A JPS5870584A (ja) 1981-10-23 1981-10-23 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56168700A JPS5870584A (ja) 1981-10-23 1981-10-23 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5870584A true JPS5870584A (ja) 1983-04-27

Family

ID=15872832

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56168700A Pending JPS5870584A (ja) 1981-10-23 1981-10-23 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5870584A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003028119A3 (en) * 2001-09-25 2003-12-04 Kelvin Shih Light emitting diode with integrated heat dissipater
JP2004259958A (ja) * 2003-02-26 2004-09-16 Kyocera Corp 発光素子収納用パッケージおよび発光装置
JP2013211579A (ja) * 2007-10-01 2013-10-10 Everlight Electronics Co Ltd 発光ダイオード装置
JP2015156448A (ja) * 2014-02-21 2015-08-27 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置及び実装基板

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003028119A3 (en) * 2001-09-25 2003-12-04 Kelvin Shih Light emitting diode with integrated heat dissipater
JP2004259958A (ja) * 2003-02-26 2004-09-16 Kyocera Corp 発光素子収納用パッケージおよび発光装置
JP2013211579A (ja) * 2007-10-01 2013-10-10 Everlight Electronics Co Ltd 発光ダイオード装置
JP2015156448A (ja) * 2014-02-21 2015-08-27 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置及び実装基板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3601432B2 (ja) 半導体装置
JP3256636B2 (ja) 圧接型半導体装置
US4700273A (en) Circuit assembly with semiconductor expansion matched thermal path
JP5212417B2 (ja) パワー半導体モジュール
JP2000200906A5 (ja)
US10672677B2 (en) Semiconductor package structure
US20190051636A1 (en) Semiconductor device
US5436502A (en) Semiconductor component and method for the manufacturing thereof
JP2000236116A (ja) 光源装置
US9129960B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
US4136351A (en) Photo-coupled semiconductor device
US3370207A (en) Multilayer contact system for semiconductor devices including gold and copper layers
CN116097439A (zh) 半导体装置
JPS5870584A (ja) 半導体装置
US5130784A (en) Semiconductor device including a metallic conductor for preventing arcing upon failure
KR890002811B1 (ko) 히트 싱크를 겸한 과전류 파괴방지용 집적회로를 내장한 발광소자 패키지
US3581166A (en) Gold-aluminum leadout structure of a semiconductor device
JP4085639B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
US20200295246A1 (en) Light-emitting device, light-emitting module and method for manufacturing the same
JP6958210B2 (ja) 半導体装置
JPS5826675B2 (ja) ハンドウタイソウチ
JPH01150379A (ja) 発光装置
JPS6138634B2 (ja)
JP2020038885A (ja) 半導体装置
JPS5858785A (ja) 半導体レ−ザ−装置