JP2020038885A - 半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】複数の半導体素子を有する半導体装置の小型化を図る。【解決手段】第1半導体素子及び第2半導体素子の各々は、複数の信号パッドと、複数の信号パッドの一つと電気的に接続された中継パッドとを有する。第1半導体素子及び第2半導体素子は、複数の信号端子の長手方向に沿って配列されているとともに、各々の中継パッドが互いに近接するように第2半導体素子が第1半導体素子に対して回転して配置されている。複数の信号端子は、第1半導体素子の複数の信号パッドにそれぞれ接続されており、第1半導体素子の中継パッドは、第2半導体素子の中継パッドに接続されている。【選択図】図2

Description

本明細書が開示する技術は、半導体装置に関する。
特許文献1に、半導体装置が開示されている。この半導体装置は、並列に接続された複数の半導体素子と、複数の半導体素子を封止する封止体と、封止体の内外に亘って延びる複数の信号端子とを備える。各々の半導体素子は信号パッドを有しており、それぞれの信号バッドに対して一つの信号端子が接続されている。
国際公開2013/179547号
上記した半導体装置では、各々の半導体素子に対して、信号端子が個別に設けられている。このような構成であると、多くの信号端子が必要になるとともに、その信号端子の配列方向に沿って複数の半導体素子を配置する必要があり、半導体装置の大型化を招いてしまう。そこで、半導体装置の小型化を図るために、二以上の半導体素子で信号端子を共通化して、必要とされる信号端子の数を削減するとともに、当該二以上の半導体素子を、信号端子の長手方向に沿って配列させることが考えられる。しかしながら、このような構成であると、一つの半導体素子は信号端子に近接して配置されるが、他の半導体素子は信号端子から離れて配置されることになる。それらの半導体素子と信号端子とを接続するためには、例えば信号端子を封止体の内部で延長することも考えられるが、構造の複雑化を招いてしまう。このような問題を鑑み、本明細書は、複数の半導体素子を有する半導体装置を小型化するための技術を提供する。
本明細書が開示する半導体装置は、第1半導体素子及び第2半導体素子と、第1半導体素子及び第2半導体素子を封止する封止体と、封止体の内外に亘って延びる複数の信号端子とを備える。第1半導体素子及び第2半導体素子の各々は、複数の信号パッドと、複数の信号パッドの一つと電気的に接続された中継パッドとを有する。第1半導体素子及び第2半導体素子は、複数の信号端子の長手方向に沿って配列されているとともに、各々の中継パッドが互いに近接するように、第2半導体素子が第1半導体素子に対して回転して配置されている。複数の信号端子は、第1半導体素子の複数の信号パッドにそれぞれ接続されており、第1半導体素子の中継パッドは、第2半導体素子の中継パッドに接続されている。
上記した半導体素子では、各々の半導体素子が、複数の信号パッドに加えて、複数の信号パッドの一つに接続された中継パッドを有している。各々の半導体素子の中継パッドは互いに接続されており、第2半導体素子は、第1半導体素子を介して信号端子に接続されている。このような構成によると、二つの半導体素子を信号端子の長手方向に沿って配列した場合でも、例えば信号端子を封止体の内部で延長することなく、信号端子の共通化を図ることができる。ここで、第2半導体素子は、第1半導体素子に対して回転して配置されており、二つの半導体素子の中継パッドは互いに近接している。従って、それらの中継パッドの接続も簡素な構造で行うことができる。このように、上記した構成によると、構造の複雑化を招くことなく、複数の半導体素子を有する半導体装置の小型化を図ることができる。
実施例1の半導体装置10の平面図を示す。 下側導体板22、24に対して垂直な方向から、実施例1の半導体装置10の内部構造を示す。 実施例1の半導体装置10の回路構造を示す。 図1中のIV−IV線における断面図。 図1中のV−V線における断面図。
図面を参照して、実施例の半導体装置10について説明する。本実施例の半導体装置10は、パワー半導体装置であって、例えば電気自動車、ハイブリッド車、燃料電池車といった電動自動車において、コンバータやインバータといった電力変換回路に用いることができる。但し、半導体装置10の用途は特に限定されない。半導体装置10は、様々な装置や回路に広く採用することができる。
図1−図5に示すように、半導体装置10は、第1半導体素子12と、第2半導体素子14と、第3半導体素子16と、第4半導体素子18と、これらの半導体素子12、14、16、18を封止する封止体50とを備える。封止体50は、絶縁性材料で構成されている。特に限定されないが、本実施例における封止体50は、例えばエポキシ樹脂といった熱硬化性樹脂をモールド成形したものである。
四つの半導体素子12、14、16、18は、パワー半導体素子であり、互いに同一の構成を有する。第1半導体素子12は、下面電極12a、上面電極12b、複数の信号パッド12c及び中継パッド12dを有する。下面電極12aは、第1半導体素子12の下面に位置しており、上面電極12b、複数の信号パッド12c及び中継パッド12dは、第1半導体素子12の上面に位置している。複数の信号パッド12cには、ゲート信号パッド12gが含まれている。そして、中継パッド12dは、第1半導体素子12の内部において、ゲート信号パッド12gに接続されている。
同様に、第2半導体素子14は、下面電極14a、上面電極14b、ゲート信号パッド14gを含む複数の信号パッド14c、及び、ゲート信号パッド14gに接続された中継パッド14dを有する。第3半導体素子16は、下面電極16a、上面電極16b、ゲート信号パッド16gを含む複数の信号パッド16c、及び、ゲート信号パッド16gに接続された中継パッド16dを有する。第4半導体素子18は、下面電極18a、上面電極18b、ゲート信号パッド18gを含む複数の信号パッド18c、及び、ゲート信号パッド18gに接続された中継パッド18dを有する。
一例ではあるが、各々の半導体素子12、14、16、18は、RC(Reverse Conducting)−IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)であり、単一の半導体基板にIGBTとダイオードとが一体に形成されている。IGBTのコレクタ及びダイオードのカソードは、下面電極12a、14a、16a、18aに接続されており、IGBTのエミッタ及びダイオードのアノードは、上面電極12b、14b、16b、18bに接続されている。そして、ゲート信号パッド12g、14g、16g、18gは、IGBTのゲートに接続されている。なお、各々の半導体素子12、14、16、18は、RC−IGBTに限定されず、単なるIGBTやMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)といった、他の種類のパワー半導体素子であってもよい。また、半導体基板の材料についても特に限定されず、例えば、シリコン(Si)、炭化シリコン(SiC)又は窒化物半導体であってもよい。
半導体装置10は、第1下側導体板22と、第1上側導体板24と、第2下側導体板26と、第2上側導体板28とをさらに備える。各々の導体板22、24、26、28は、銅又はその他の金属といった導体で構成されている。なお、各々の導体板22、24、26、28は、絶縁体の基板上に導体層が形成された積層基板(絶縁基板とも称される)であってもよい。第1下側導体板22と第1上側導体板24は互いに対向しており、それらの間に第1半導体素子12及び第2半導体素子14が配置されている。第1半導体素子12及び第2半導体素子14の下面電極12a、14aは共に、第1下側導体板22へはんだ付けされており、第1半導体素子12及び第2半導体素子14の上面電極12b、14bは共に、導体スペーサ13、15を介して第1上側導体板24にはんだ付けされている。これにより、第1半導体素子12及び第2半導体素子14は、第1下側導体板22と第1上側導体板24との間で、電気的に並列に接続されている。
同様に、第2下側導体板26と第2上側導体板28は互いに対向しており、それらの間に第3半導体素子16及び第4半導体素子18が配置されている。第3半導体素子16及び第4半導体素子18の下面電極16a、18aは共に、第2下側導体板26へはんだ付けされており、第3半導体素子16及び第4半導体素子18の上面電極16b、18bは共に、導体スペーサ17、19を介して第1上側導体板24にはんだ付けされている。これにより、第3半導体素子16及び第4半導体素子18は、第2下側導体板26と第2上側導体板28との間で、電気的に並列に接続されている。また、第2下側導体板26は、封止体50の内部に位置する継手部38において、第1上側導体板24と電気的に接続されている。これにより、第1半導体素子12と第2半導体素子14との並列回路に、第3半導体素子16と第4半導体素子18との並列回路が直列に接続されている。
第1下側導体板22は、封止体50の下面で外部に露出しており、第1上側導体板24は、封止体50の上面で外部に露出している。これにより、第1下側導体板22及び第1上側導体板24は、半導体装置10において導電経路の一部を構成するだけでなく、第1半導体素子12及び第2半導体素子14を外部へ放出する放熱板としても機能する。同様に、第2下側導体板26は、封止体50の下面で外部に露出しており、第2上側導体板28は、封止体50の上面で外部に露出している。これにより、第2下側導体板26及び第2上側導体板28についても、半導体装置10において導電経路の一部を構成するだけでなく、第3半導体素子16及び第4半導体素子18を外部へ放出する放熱板としても機能する。
半導体装置10は、第1電力端子(P端子)32、第2電力端子34(N端子)及び第3電力端子(O端子)36をさらに備える。各々の電力端子32、34、36は、封止体50の内外に亘って延びている。一例ではあるが、三つの電力端子32、34、36は、互いに平行であって、封止体50から同じ方向に突出している。第1電力端子32は、封止体50の内部で第1下側導体板22に接続されており、詳しくは、第1下側導体板22と一体に形成されている。第2電力端子34は、封止体50の内部で第2上側導体板28に接続されており、詳しくは、継手部40において第2上側導体板28にはんだ付けされている。そして、第3電力端子36は、封止体50の内部で第2下側導体板26に接続されており、詳しくは、第2下側導体板26と一体に形成されている。
以上の構成により、本実施例の半導体装置10では、第1電力端子32と第3電力端子36との間に、第1半導体素子12と第2半導体素子14との並列回路が構成されている。そして、第3電力端子36と第2電力端子34との間に、第3半導体素子16と第4半導体素子18との並列回路が直列に接続されている。このような回路構造を有することから、本実施例の半導体装置10は、コンバータやインバータといった電力変換回路において、上下一対のアームを構成することができる。
半導体装置10はさらに、複数の第1信号端子42と、複数の第2信号端子44とを備える。各々の信号端子42、44は、封止体50の内外に亘って延びている。複数の第1信号端子42は、互いに平行であって、封止体50から同じ方向に突出している。複数の第1信号端子42は、封止体50の内部において、第1半導体素子12の複数の信号パッド12cにそれぞれ接続されている。なお、複数の第1信号端子42には、第1ゲート信号端子42gが含まれており、第1ゲート信号端子42gは第1半導体素子12のゲート信号パッド12gに接続されている。なお、本実施例では、複数の第1信号端子42と複数の信号パッド12cとの間が、ボンディングワイヤ46を介して接続されている。但し、他の実施形態として、複数の第1信号端子42と複数の信号パッド12cとの間は、例えばはんだ付けやろう付け等によって、直接的に接続されてもよい。
同様に、複数の第2信号端子44は、互いに平行であって、封止体50から同じ方向に突出している。複数の第2信号端子44は、封止体50の内部において、第3半導体素子16の複数の信号パッド16cにそれぞれ接続されている。なお、複数の第2信号端子44には、第2ゲート信号端子44gが含まれており、第2ゲート信号端子44gは第3半導体素子16のゲート信号パッド16gに接続されている。なお、複数の第2信号端子44は、ボンディングワイヤ48を介して、複数の信号パッド16cに接続されている。但し、他の実施形態として、複数の第2信号端子44は、はんだ付け等により、複数の信号パッド16cへ直接的に接続されてもよい。
本実施例の半導体装置10では、第1半導体素子12と第2半導体素子14が、第1信号端子42の長手方向に沿って配列されている。言い換えると、図2に示す平面視において、第1半導体素子12と第2半導体素子14は、第1信号端子42の延長線に沿って配列されている。従って、第2半導体素子14は、第1信号端子42から離れて配置されており、両者の間に第1半導体素子12が介在している。そのことから、第2半導体素子14の複数の信号パッド14cは、第1信号端子42へ接続されていない。その代わりに、第1半導体素子12の中継パッド12dが、ボンディングワイヤ47を介して、第2半導体素子14の中継パッド14dに接続されている。
前述したように、各々の半導体素子12、14において、中継パッド12d、14dは、ゲート信号パッド12g、14gに接続されている。従って、複数の第1信号端子42のうち、第1ゲート信号端子42gについては、第1半導体素子12を介して第2半導体素子14に接続されている。これにより、第1ゲート信号端子42gは、二つの半導体素子12、14の間で共通化されている。このような構造によると、必要とされる第1信号端子42の数を削減することができ、半導体装置10の小型化(特に、複数の第1信号端子42の配列方向における寸法の削減)を図ることができる。
ここで、第2半導体素子14は、第1半導体素子12に対して90度回転して配置されており、二つの半導体素子12、14の中継パッド12d、14dは互いに近接している。従って、それらの中継パッド12d、14dの接続は、例えばワイヤボンディングのように、簡素な構造で行うことができる。このように、二つの半導体素子12、14を互いに異なる姿勢(向き)で配置することにより、二つの半導体素子12、14が同じ構成を有する場合でも(即ち、使用部品を共通化しても)、それらの中継パッド12d、14dを互いに近接させることができる。なお、第1半導体素子12に対して第2半導体素子14を回転させる角度は、90度に限定されない。その角度は、二つの中継パッド12d、14dが互いに近接するように、半導体素子12、14の構造(特に、中継パッド12d、14dの配置)に応じて適宜定めることができる。
本実施例の半導体装置10では、第1ゲート信号端子42gが、二つの半導体素子12、14に接続されているので、単一の第1ゲート信号端子42gに所定のゲート駆動信号を与えることで、並列に接続された二つの半導体素子12、14をそれぞれ駆動することができる。その一方で、第1ゲート信号端子42gを除く、他の第1信号端子42については、第2半導体素子14への接続が省略されている。これらの他の信号端子42は、第1半導体素子12の信号パッド12cに接続されており、第1半導体素子12の電流、温度、電圧といった動作状態を示す信号を出力する。そのことから、本実施例の半導体装置10では、第1半導体素子12の動作状態(電流、温度、電圧等)を外部から検出し得る一方で、第2半導体素子14の動作状態については、外部から検出し得ない構成となっている。しかしながら、二つの半導体素子12、14は互いに並列接続されており、その動作も同期して制御される。従って、二つの半導体素子12、14の間において、電流、温度、電圧といった動作状態に大きな差異が生じることは、通常想定されない。そのことから、第1半導体素子12の動作状態のみを検出し、それに基づいて二つの半導体素子12、14の動作を制御しても(即ち、第1ゲート信号端子42gへ共通のゲート駆動信号を与えても)、二つの半導体素子12、14の過熱や過電流をそれぞれ避けることができる。
同様に、第3半導体素子16と第4半導体素子18についても、第2信号端子44の長手方向に沿って配列されている。即ち、図2に示す平面視において、第3半導体素子16と第4半導体素子18は、第2信号端子44の延長線に沿って配列されている。そして、第3半導体素子16の中継パッド16dが、ボンディングワイヤ49を介して、第4半導体素子18の中継パッド18dに接続されている。これにより、複数の第2信号端子44のなかで、第2ゲート信号端子44gについては、第3半導体素子16を介して第4半導体素子18に接続されており、二つの半導体素子16、18の間で共通化されている。このように、第2信号端子44の数についても削減されており、半導体装置10の小型化(特に、複数の第1信号端子42の配列方向における寸法の削減)が図られている。ここで、第4半導体素子18は、第3半導体素子16に対して90度回転して配置されている。この理由は前述と同様であり、二つの半導体素子16、18の中継パッド16d、18dを互いに近接させて、それらの間を接続する構造(例えばワイヤボンディング)の簡素化が図られている。
以上、いくつかの具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書又は図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものである。
10:半導体装置
12、14、16、18:半導体素子
12c、14c、16c、18c:信号パッド
12d、14d、16d、18d:中継パッド
12g、14g、16g、18g:ゲート信号パッド
22:第1下側導体板
24:第1上側導体板
26:第2下側導体板
28:第2上側導体板
32、34、36:電力端子
42:第1信号端子
42g:第1ゲート信号端子
44:第2信号端子
44g:第2ゲート信号端子
50:封止体

Claims (1)

  1. 第1半導体素子及び第2半導体素子と、
    前記第1半導体素子及び前記第2半導体素子を封止する封止体と、
    前記封止体の内外に亘って延びる複数の信号端子と、を備え、
    前記第1半導体素子及び前記第2半導体素子の各々は、複数の信号パッドと、前記複数の信号パッドの一つと電気的に接続された中継パッドとを有し、
    前記第1半導体素子及び前記第2半導体素子は、前記複数の信号端子の長手方向に沿って配列されているとともに、各々の前記中継パッドが互いに近接するように、前記第2半導体素子が前記第1半導体素子に対して回転して配置されており、
    前記複数の信号端子は、前記第1半導体素子の前記複数の信号パッドにそれぞれ接続されており、
    前記第1半導体素子の前記中継パッドは、前記第2半導体素子の前記中継パッドに接続されている、
    半導体装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022264733A1 (ja) * 2021-06-16 2022-12-22 株式会社デンソー 半導体装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004363339A (ja) * 2003-06-05 2004-12-24 Toyota Industries Corp 半導体装置
JP2009141083A (ja) * 2007-12-05 2009-06-25 Denso Corp 半導体装置
WO2013140928A1 (ja) * 2012-03-21 2013-09-26 住友電気工業株式会社 半導体デバイス
JP2014130909A (ja) * 2012-12-28 2014-07-10 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
WO2017056176A1 (ja) * 2015-09-29 2017-04-06 三菱電機株式会社 半導体装置およびそれを備える半導体モジュール

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004363339A (ja) * 2003-06-05 2004-12-24 Toyota Industries Corp 半導体装置
JP2009141083A (ja) * 2007-12-05 2009-06-25 Denso Corp 半導体装置
WO2013140928A1 (ja) * 2012-03-21 2013-09-26 住友電気工業株式会社 半導体デバイス
JP2014130909A (ja) * 2012-12-28 2014-07-10 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
WO2017056176A1 (ja) * 2015-09-29 2017-04-06 三菱電機株式会社 半導体装置およびそれを備える半導体モジュール

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022264733A1 (ja) * 2021-06-16 2022-12-22 株式会社デンソー 半導体装置

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