JPS5866844A - クロマトグラフイ−カラムの温度制御装置 - Google Patents

クロマトグラフイ−カラムの温度制御装置

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JPS5866844A
JPS5866844A JP57165188A JP16518882A JPS5866844A JP S5866844 A JPS5866844 A JP S5866844A JP 57165188 A JP57165188 A JP 57165188A JP 16518882 A JP16518882 A JP 16518882A JP S5866844 A JPS5866844 A JP S5866844A
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JP57165188A
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ラルフ・デ−・コンロン
スタンリ−・エフ・マイルズ
ロ−ランド・シ−・パラダイス
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/26Conditioning of the fluid carrier; Flow patterns
    • G01N30/28Control of physical parameters of the fluid carrier
    • G01N30/30Control of physical parameters of the fluid carrier of temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/60Construction of the column
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Treatment Of Liquids With Adsorbents In General (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はクロマトグラフィーカラムとトモに使用する装
置に関し、詳細にはクロマトグラフィーカラムを均一温
度に保持する装置に関する。
クロマトグラフィーの分野ではクロマトグラフィカラム
を通過する試料の正確な分析が多くはカラムの温度に関
係することは公知である。
カラムの温度はこのような分析のほとんどすべ液体クロ
マトグラフィーの場合、溶媒の粘度(およびしたがって
その流動性、流速および背圧);固定相による試料の保
留(したがって試料成分分離の明りよう性);カラム長
さ方向の温度勾配、このような勾配は周知の摩擦熱によ
って生じ、大きく影響しやすい(したがって分離の再現
性および均一性);カラム横断面にわたる温度勾配(し
たがってカラムに沿った流体先端の流れの均一性、これ
は分離の明りよう度に関係する。)ならびにその他の臨
界パラメータがカラムの温度に大きく影響される。しか
し上記はクロマトグラフィー分析をたとえば室温で実施
する場合でも分析中に考慮されるファクタの1部にしか
過ぎないことは明らかである〇これらの困難の大きさは
分析を低温または高温で実施する場合さらに増大する。
一般に液体クロマトグラフィーカラムに関する限シ前記
困難は2つの手段のいずれか1つを使用することによっ
て処理された。1つの公知手段によればカラムは加熱ボ
ックスまたは炉内に配置される。この手段により困難は
減少するけれど、それにもかかわらず大きい温度勾配が
残り、分析に有害に影響する。このような勾配は主とし
て常用の炉がその内部に均一温度を保持できないために
生じ、それゆえこのような炉は加熱要素の連続的循環を
必要とする。さらに常用炉は多くは所望温度より低温の
周囲空気を加熱するために必要であるより多量の熱の導
入が必要である。この形式の装置の1つの大きい欠点は
熱の導入と温度測定装置たとえば熱電対との間の固有の
遅れ時間である。さらに炉内空気とカラムの金属の間の
熱伝達が低いため、カラムの頂部は室温溶媒の流入によ
って迅速に冷却される。したがって15°C以上の激し
い温度勾配が生ずる。このように大きい温度勾配によれ
ばカラムの分離効率は必然的に低下する。その結果この
ような炉内のカラムは均一に加熱されない。
他の常用手段はカラムを配置するためのV形溝を有する
全体的に加熱されるカラムホルダである。このような装
置はホルダがVの2点に沿ってカラムに接触するだけな
ので不満足である0しばしばこのようなホルダの1組が
使用され、その場合接点の数は2倍になる。しかじカラ
ムは均一に接触または保持されないので、温度勾配が長
さ方向にも横断面にわたっても発生する。
それゆえ分析中力シム内の軸方向および半径方向の温度
勾配全両方ともほぼ完全に除去する装置が強く要求され
る0この要求はクロマトグラフィーカラムと直列に配置
する保護カラムまたは第2カラムを使用することが必要
な分析を実施する場合とくに太きい。
したがって本発明の目的はクロマトグラフィーカラムを
均一温度に保持する装置を得ることである。
この目的はカラムの周面がほぼ完全に接触するようにカ
ラムを収容する装置itを備える第1および第2ベース
部材ならびにカラム収容装置の温度を制御する装置を含
む本発明の装置によつて達成される。
他の目的および利点は当業者には以下の説明および図面
から明らかである0 次に本発明を図面により説明する。
第1図に全体的に10で示す代表的液体クロマトグラフ
ィーカラムは固定相材料14を充てんする円筒12を有
する。一般に常用カラムはステンレス鋼、ガラス等から
製造され、長さは10(7)以下から約60crn、外
径は約0.6個から約6.5mにわたって変化する。固
定相材料および特定カラムの寸法は試料およびその分離
すべき成分に応じて選択される。この選択は当業者に周
知なので、詳細な説明は本発明の目的には不用と考えら
れる。第1図に示すようにカラム10はその両端20お
よび22にそれぞれねじを有するコネクタ16および1
8を備える。コネクタ16および18も当業者に周知で
あり、通常市販の際カラム10とともに供給される。
本発明の実施例として第2図に全体的に24で示す装置
は第1ベース部材26および第2ベース部材28t−有
する。有利な実施例によれば第1および第2ベース部材
26および28はそれぞれアルミニウムまたは他の熱伝
導材料から製造される。各ベース部材26および28は
それぞれその大きい表面34および36に溝30および
32を備える。溝30および32は有利な実施例によれ
ば幅約2.5mであり、それぞれ大きい面34および3
6の中へ約2m拡がる。
もちろん溝30および32の寸法はもつと大きい直径の
カラムを収容するため調節することができる。
谷溝30および32はカラム10をほぼ均一に収容する
ためのそれぞれ少なくとも1つのカラ、ム収容装置38
および40を有する。各装置38または40はアルミニ
ウムのような熱伝導材料からなり、それぞれその1つの
大きい面46また、は48に少なくとも1つのキャビテ
ィ42または44を備える。第2図から明らかなように
キャビティ42および44はこの実施例ではそれぞれ各
カラム収容装置38および4゜内にカラム10の深さの
約半分を収容するように形成される。それゆえベース部
材26および28を1つが他の上になるように閉鎖する
と、カラム10の周縁はほぼ完全にキャビティ42およ
び44内に包囲される。有利にカラム収容装置38およ
び40は溝30および32に適する寸法を有するので、
装置38および40を溝内に配置する際、この装置はベ
ース部材の大きい面34および36から突出しない。
付加的に各カラム収容装置38および40はそれぞれ炉
装置50および52を備える。有利な実施例によれば各
炉装置50および52は密閉された抵抗ヒータである。
炉装置50および52は制御回路58に接続する電気的
リード線54および56を備える。
特殊な実施例によれば各ベース部材26および28はそ
れぞれ冷却媒体を通す通路60および62を備える0実
際には冷却したカラムを必要とする多くの液体クロマト
グラフィー分析は水の凝固点より高い温度で実施され、
それゆえ冷却液として通常冷水を使用することができる
詳細に後述する理由により第1および第2ベース部材2
6および28はそれぞれ互いに蝶番64によって結合さ
れ、大きい面34および36の1つを他の上にかぶせて
閉鎖すると、溝30および32は互いに1線に整列する
。ベース部材26および28はこれを閉鎖位置に保持す
るため掛金装置66を備える。掛金装置66はフック−
アイ装置のような公知装置である。
有利にカラム収容装置38−または40はそれぞれ多数
の小板68によってそれぞれ溝30および32内に保持
される。有利な実施例によれば小板68は第4および5
図から明らかなように、ベース部材26.28およびカ
ラム収容装置38.40の両方に整列するスロット70
に配置される。スロット70は小板68に適する寸法を
有するので、小板68は大きい面34および36と1平
面になる。小板68は公知の任意の手段たとえば小板の
孔を通して挿入するスクリューによってその位置に固定
することができ、この孔はスクリューヘッドが大きい面
34および36から突出するのを完全に避けるように設
定することができる。上記小板68の使用によりカラム
収容装置38および40を整列させる手段が得られるだ
けでなく、各装置38または40とそれぞれのベース部
材26または28の間の均一な伝熱接触が保証される。
キャビティ42および44とカラム10の周面の間のほ
ぼ均一な接触を保証するため、カラム収容装置38およ
び40は溝30および32から偏位される。有利な実施
例によれば偏r〜tは溝30および32からベース部材
26および28へ拡がる多数の孔74の底に配置および
固定された多数のコイルばね72によって達成される。
そこでカラム10を1つのキャビティたとえば42へ挿
入し、ベース部材26および28を1つが他の上になる
ように閉鎖すると、整列したキャビティ42および44
は閉鎖し、偏位ばね72によりカラム10はキャビティ
の周面に固く包囲され、それによって均一な熱伝導境界
面がカラム収容装置38および4oを介してカラム10
とベース部材26および28の間に生ずる。装置38お
よび4oの均一な偏移を容易にするため、スペーサ板7
6がとくに炉装置50.52とげね72の間に配置され
る。
カラム10の温度を公知の回路装置によって容易に制御
しうろことは明らかである。多くのこのような回路は制
御装置として温度センサを含む。このような大刀を回路
装置へ・与えるため、\ 熱電対78等を1つのベース部材たとえば26に装置3
8と接触するように備えることができる。その1つの実
施例が第3図に示され、これによれば熱電対78は孔8
o内に装置38と伝熱接触するように配置される。
第4図には82で示すカラム収容装置38−のもう1つ
の実施例が示される。前記装置38と同様カラム収容装
置82はキャビティ84および大きい面88へ拡がる多
数の小板収容スロット86を有する。
この実施例によればキャビティ84は6つの異なる部分
90.92および94を有する。第1部分90は分析カ
ラム、保護カラムまたは前置カラム(図面には示されな
い)をその中に+17容しうる寸法を有する。保護また
は前置カラムの使用はクロマトグラフィーの分野では公
知であり、前記のようにこのよりなカラムは通常分析カ
ラム1oと同じ直径を有する。
第2部分92はカラム1oのような分析カラムを収容す
るための寸法を有する。第6部分94は保護カラムと分
析カラムを直列に結合する1組のコネクタを収容しうる
寸法を有する。
作業の際この収容装置82が2つ、それぞれベース部材
26および28の溝3oおよび32に収容される。
本発明の融通性を示すもう1つの実施例が第5図に示さ
れる。これによればカラム収容装置96は1組のキャビ
ティ98を有する。キャビティ98は第5図には同じ(
で示されるけれど、それぞれ所望により多数の部分を含
むように形成することができる。作業の際この実施例は
試料を直列結合した分析カラムを通して、または2つの
試料を同時に分析する条件の場合きわめて有利に使用さ
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は代表的液体クロマトグラフィーカラムの縦断面
図、第2図は本発明の装置の斜視図、第6図は第2図3
−3線断面図、第4図および第5図は第2図装置に使用
するカラム収容装置の異なる実施例を示す斜視図である
。 12・・・円筒、14・・・固定相材料、16.18・
・・コネクタ、26.28・・・ベース部材、30.3
2・・・溝、38.40・・・カラム収容装置、42.
44・・・キャビティ、50.52・・・炉、58・・
・制御回路、60.62・・・冷却液通路、64・・・
蝶番、66・・・掛金、68・・・小板、70・・・ス
ロット、72・・・コイルばね、76・・・スペーサ板
、781.。 熱電対

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 第1ベース部材、 第1ベース部材と共同してカラムを均一に収容するため
    の第1カラム収容装置、 第2ベース部材、 第2ベース部材と共同してカラムを均一に収容するため
    の第2カラム収容装置 を有し、第1および第2カラム収容装置が共同してカラ
    ムの周面と完全に接触するように形成され、 さらにカラムの温度を制御するため、第1および第2カ
    ラム収容装置の温度制御装置を有することe%徴とする
    クラマドグラフィーカラムの温度制御装置0 2、第1および第2カラム収容装置がそれぞれ第1およ
    び第2ベース部材に取りはずし可能に支持されている特
    許請求の範囲第1項記載の装置。 6、第1および第2カラム収容装置を第1および第2ベ
    ース部材から構成される装置を有する特許請求の範囲第
    1項または第2項記載の装置。 4、偏位装置が各ベース部材の孔内のコイルばねを含む
    特許請求の範囲第6項記載の装置。 5、第1および第2カラム収容装置をそれぞれ第1およ
    び第2ベース部材に接して保持する装置金有する特許請
    求の範囲第1項または第2項記載の装置。 6、 ベース部材が互いに蝶番結合され、これを閉鎖し
    た際第1および第2カラム収容装置が互いに接する特許
    請求の範囲第1項記載の装置0 7 閉鎖位置でベース部材を掛金で止める装置を有す゛
    る特許請求の範囲第6項記載の装置08、 カラム収容
    装置を加熱するためこの装置のそれぞれに接する加熱装
    置を有する特許請求の範囲第1項記載の装置。 9 加熱装置がそれぞれ独立に密閉されている特許請求
    の範囲第8項記載の装置。 10、第1および第2カラム収容装置が温度センサを有
    する特許請求の範囲第1項記載の装置。 且 第1および第2カラム収容装置がそれぞれ多数のキ
    ャビティを有する特許請求の範囲第1項記載の装置。 12、第1および第2ベース部材がその中に冷却装置を
    備える特許請求の範囲第1項記載の装置0 16、冷却装置が冷却液を通す通路を有する特許請求の
    範囲第12項記載の装置。
JP57165188A 1981-09-25 1982-09-24 クロマトグラフイ−カラムの温度制御装置 Pending JPS5866844A (ja)

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