JPS5862574A - 進行波管寿命試験装置 - Google Patents
進行波管寿命試験装置Info
- Publication number
- JPS5862574A JPS5862574A JP16092781A JP16092781A JPS5862574A JP S5862574 A JPS5862574 A JP S5862574A JP 16092781 A JP16092781 A JP 16092781A JP 16092781 A JP16092781 A JP 16092781A JP S5862574 A JPS5862574 A JP S5862574A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wave tube
- current
- spiral
- measured
- cathode current
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/24—Testing of discharge tubes
- G01R31/25—Testing of vacuum tubes
- G01R31/255—Testing of transit-time tubes, e.g. klystrons, magnetrons
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microwave Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は短期間で進行波管の良否を判定できる寿命試験
装置に関するものである。
装置に関するものである。
従来のこの種装置は供試（被測定）進行波管への供給電
圧が常に標準値になるように構成されていたので、測定
される進行波管の各都電流値は進行波管の劣化に対して
あまり敏感でないため、良否を判定するのに長期間の試
験時間を必要とするという欠点があった。
圧が常に標準値になるように構成されていたので、測定
される進行波管の各都電流値は進行波管の劣化に対して
あまり敏感でないため、良否を判定するのに長期間の試
験時間を必要とするという欠点があった。
本発明はこの欠点を除去するため、被測定進行波管のヒ
ータ電圧を所望の時期に切断することにより、ヒータ電
圧切断時から螺旋電流が急激に増加し始めるまでの時間
やカソード電流が急激に低下し始めるまでの時間を測定
し、該測定データから進行波管の劣化傾向を読みとり、
その良否（ＩＪ命）を判定するようにしたことを特徴と
するもので、その目的は短かい試験期間で進行波管の良
否を判定することにある。
ータ電圧を所望の時期に切断することにより、ヒータ電
圧切断時から螺旋電流が急激に増加し始めるまでの時間
やカソード電流が急激に低下し始めるまでの時間を測定
し、該測定データから進行波管の劣化傾向を読みとり、
その良否（ＩＪ命）を判定するようにしたことを特徴と
するもので、その目的は短かい試験期間で進行波管の良
否を判定することにある。
なお、進行波管の劣化の態様は、カソード電流が低下し
てその結果高周波出力が低下する場合と、螺旋電流が増
加して使用不能になる場合がある。
てその結果高周波出力が低下する場合と、螺旋電流が増
加して使用不能になる場合がある。
本発明は、カソードが空間電荷制限領域で正常に動作し
ている時にヒータ電圧を切り、エミノシ二Ｊンが温度制
限領域に入って低下する状態と、それに基つく電子ビー
ム集束条件の乱れから螺旋電流の増加する状態を計測し
て、供試進行波管の良否を判定するものである。
ている時にヒータ電圧を切り、エミノシ二Ｊンが温度制
限領域に入って低下する状態と、それに基つく電子ビー
ム集束条件の乱れから螺旋電流の増加する状態を計測し
て、供試進行波管の良否を判定するものである。
以ＩＪ、本発明を実施例によって詳細に説明ずろ。
第１図は本発明の一実施例の装置構成説明図である。図
において、１はコントローラ、２は被測定進行波管、６
はヒータ、４はカソード、５はアノード、６は螺旋、７
はコレクタ、８はヒータ電源、９はアノード電源、１０
は螺旋電源、１１はニＩレクタ電源、１２ｒ１接続線、
１３はインクツー・、−ス（Ｉｌｏ）、１４はマイクロ
プロセッサ（ＣＩ’ｌｌ）、１５はリードオンリメモリ
（，１？・ＯＭ）、１６はカソード電流検出抵抗、１７
はバッファ増幅器、１８はマルチプレクサ（Ｍ Ｉ）
Ｘ ）、１９は螺旋電流検出抵抗、２０はバッファ増幅
器、２１１′Ｎ はＡ ｌ）変換器、２２はメモリ（ＩＬＡ、Ｍ）、２６
はスイッチ、２４は高周波信号発生器、２５は高周波電
力計である。なお、２６は計測部を示している。
において、１はコントローラ、２は被測定進行波管、６
はヒータ、４はカソード、５はアノード、６は螺旋、７
はコレクタ、８はヒータ電源、９はアノード電源、１０
は螺旋電源、１１はニＩレクタ電源、１２ｒ１接続線、
１３はインクツー・、−ス（Ｉｌｏ）、１４はマイクロ
プロセッサ（ＣＩ’ｌｌ）、１５はリードオンリメモリ
（，１？・ＯＭ）、１６はカソード電流検出抵抗、１７
はバッファ増幅器、１８はマルチプレクサ（Ｍ Ｉ）
Ｘ ）、１９は螺旋電流検出抵抗、２０はバッファ増幅
器、２１１′Ｎ はＡ ｌ）変換器、２２はメモリ（ＩＬＡ、Ｍ）、２６
はスイッチ、２４は高周波信号発生器、２５は高周波電
力計である。なお、２６は計測部を示している。
これを動作するには、まずヒータ電源８．アノード電源
９．螺旋電源１０．コレクタ電源１１を標準電圧に設定
して進行波管２を標準動作させる。
９．螺旋電源１０．コレクタ電源１１を標準電圧に設定
して進行波管２を標準動作させる。
接続線１２はインタフェース１３と外部のコントローラ
１を結ぶものであり、進行波管２の任意部分を接地でき
るように接続線１２は光ファイバで構成する。マイクロ
プロセッサ１４はリードオンリメモリ１５に格納された
プログラムに従って動作する。カソード電流はカソード
電流検出抵抗１６により検出され、その信号はバッファ
増幅器１７を通じてマルチプレクサ１８へ送られる。螺
旋電流は螺旋電流検出抵抗１９により検出され、その信
号はバッファ増幅器２０を通じてマルチプレクサ１８へ
送られる。マルチプレクサ１８はマイクロプロセッサ１
４０指令に従ってこれらの入力を切替えてＡＤ、変換器
２１へ信号を送る。その信号はＡＤ変換されてカソード
電流あるいは螺旋電流の標準動作データがメモリ２２に
蓄えられる。
１を結ぶものであり、進行波管２の任意部分を接地でき
るように接続線１２は光ファイバで構成する。マイクロ
プロセッサ１４はリードオンリメモリ１５に格納された
プログラムに従って動作する。カソード電流はカソード
電流検出抵抗１６により検出され、その信号はバッファ
増幅器１７を通じてマルチプレクサ１８へ送られる。螺
旋電流は螺旋電流検出抵抗１９により検出され、その信
号はバッファ増幅器２０を通じてマルチプレクサ１８へ
送られる。マルチプレクサ１８はマイクロプロセッサ１
４０指令に従ってこれらの入力を切替えてＡＤ、変換器
２１へ信号を送る。その信号はＡＤ変換されてカソード
電流あるいは螺旋電流の標準動作データがメモリ２２に
蓄えられる。
コレ等のデータは定期的に外部のコントローラ１へ送ら
れる。
れる。
次にコントローラ１からヒータ電源切断テスト開始の指
令が送られた場合の動作を説明する。このときマイクロ
プロセッサ１４はまずスイッチ２６を切断し、マルチプ
レクサ１８をカソード電流側と螺旋電流側に切換えて、
ＡＩ）、変換器２１を通じてカソード電流と螺旋電流の
データを得る。
令が送られた場合の動作を説明する。このときマイクロ
プロセッサ１４はまずスイッチ２６を切断し、マルチプ
レクサ１８をカソード電流側と螺旋電流側に切換えて、
ＡＩ）、変換器２１を通じてカソード電流と螺旋電流の
データを得る。
このとき螺旋電流値が定められた値（螺旋が加熱されす
ぎないように定められる）を越えていればスイッチ２３
を投入して切断テストを終了する。
ぎないように定められる）を越えていればスイッチ２３
を投入して切断テストを終了する。
螺旋電流が定められた値を越えていなければ、越える壕
でヒータ電源切断のまま一定の時間（０，１秒程度）毎
にこの測定を繰り返す。この測定データＦｔメモリ２２
に蓄えておき、切断テスト終了後コントローラ１へ送出
される。あるいは測定１σにコントローラ１へ送出され
る。コントローラ１が枚数の進行波管寿命試験装置に接
続されている場合は、測定データをメモリ２２に蓄える
方式が有利である。
でヒータ電源切断のまま一定の時間（０，１秒程度）毎
にこの測定を繰り返す。この測定データＦｔメモリ２２
に蓄えておき、切断テスト終了後コントローラ１へ送出
される。あるいは測定１σにコントローラ１へ送出され
る。コントローラ１が枚数の進行波管寿命試験装置に接
続されている場合は、測定データをメモリ２２に蓄える
方式が有利である。
このようにして得られる切断テストのデータの一例を第
２図に示す。螺旋電流が０．６ｍＡになるまでの間切断
テストが行われている。このようにして得られたデータ
からコントローラ１はスイッチ２３を切断してから螺旋
電流及びカソード電流が定められた値を横切る時間を計
算する。第２図のデータを例にとれば、螺旋電流が［１
，５ｍＡを越えるまでの時間ｔｈは４．８５秒であり、
カソード電流が４５ｍＡ（初期値の９０％）に力る時間
１゜は４．５５秒である。
２図に示す。螺旋電流が０．６ｍＡになるまでの間切断
テストが行われている。このようにして得られたデータ
からコントローラ１はスイッチ２３を切断してから螺旋
電流及びカソード電流が定められた値を横切る時間を計
算する。第２図のデータを例にとれば、螺旋電流が［１
，５ｍＡを越えるまでの時間ｔｈは４．８５秒であり、
カソード電流が４５ｍＡ（初期値の９０％）に力る時間
１゜は４．５５秒である。
進行波管の劣化態様は、前述したように、カソード電流
が低下してその結果高周波出力が低下する場合と、螺旋
電流が増加して使用不能になる場合がある。従って、進
行波管の寿命性能を予測するためには、カソード電流の
低下と螺旋電流の」二昇を予測する必要がある。
が低下してその結果高周波出力が低下する場合と、螺旋
電流が増加して使用不能になる場合がある。従って、進
行波管の寿命性能を予測するためには、カソード電流の
低下と螺旋電流の」二昇を予測する必要がある。
第６図は従来の進行波管寿命試験装置の動作に相当する
標準動作を連続させて、カソード電流と螺旋電流の経時
変化を記録したグラフである。
標準動作を連続させて、カソード電流と螺旋電流の経時
変化を記録したグラフである。
１５０００時間経過しているにもかかわらず、このデー
タからは螺旋電流にわずかな増加を見るのみで、進行波
管の劣化傾向を判断することは置引１であイ１．。
タからは螺旋電流にわずかな増加を見るのみで、進行波
管の劣化傾向を判断することは置引１であイ１．。
第４図は同じｊイＬ行波管（安定かつ長）ｊ ６ｎのも
の）について、上記実施例により定期的に一υ断デスト
を行−）だ場合に得られる’ｈ、’ｌ、を示したグラフ
である。こわら’ｈ、ｔｋの時間は１０００時間セ、“
度て短かくなる傾向をはっきりと示しており、コイ（行
波管の劣化傾向を短時間で知ることがてき、）、ｆ命を
効率よく推定できろようになる０、ｌす、１・ｌ説明し
たように本発明によ才［ば、短い試験１１．１」間て供
試進行波管の劣化傾向を知ることがてき、ぞの）、■命
を推定できるので、高１１．頼ｉ（有性波管の試験１故
を反幅に低減できるので、）、！命試験の効十向十と経
済化がａ１ハろ。
の）について、上記実施例により定期的に一υ断デスト
を行−）だ場合に得られる’ｈ、’ｌ、を示したグラフ
である。こわら’ｈ、ｔｋの時間は１０００時間セ、“
度て短かくなる傾向をはっきりと示しており、コイ（行
波管の劣化傾向を短時間で知ることがてき、）、ｆ命を
効率よく推定できろようになる０、ｌす、１・ｌ説明し
たように本発明によ才［ば、短い試験１１．１」間て供
試進行波管の劣化傾向を知ることがてき、ぞの）、■命
を推定できるので、高１１．頼ｉ（有性波管の試験１故
を反幅に低減できるので、）、！命試験の効十向十と経
済化がａ１ハろ。
第１図は本発明の一実施例の装置構成説明（′イ１、第
２図しｌ： ＵＪ断テスト実施時のカン下ト：゛電流と
螺旋電流の時間変化を示すグラフ、第６図は従来のスｊ
命詠験装置で得られるカソード電流と螺旋電流の経時変
化を示すグラフ、第４図ｒ１本発明の装置により測定で
きろ＋ １ の経時変化を小したグラ１１′１（ 〕である。 １・・コント１」−ラ ２・・被測定進行波管５・
・ヒータ ４・・・カソード６・・螺旋
８・・・ヒータ電源２３・スイッチ
２６・・・ａ１測部特許出願人 １１本電信電話公
社 代理人弁理士 中村純之助 １−３ 図 妊 Ｊｌ ６与 Ｍ 第４凶 条４通Ｂ専聞
２図しｌ： ＵＪ断テスト実施時のカン下ト：゛電流と
螺旋電流の時間変化を示すグラフ、第６図は従来のスｊ
命詠験装置で得られるカソード電流と螺旋電流の経時変
化を示すグラフ、第４図ｒ１本発明の装置により測定で
きろ＋ １ の経時変化を小したグラ１１′１（ 〕である。 １・・コント１」−ラ ２・・被測定進行波管５・
・ヒータ ４・・・カソード６・・螺旋
８・・・ヒータ電源２３・スイッチ
２６・・・ａ１測部特許出願人 １１本電信電話公
社 代理人弁理士 中村純之助 １−３ 図 妊 Ｊｌ ６与 Ｍ 第４凶 条４通Ｂ専聞
Claims (1)
- 被測定進行波管に駆動用の電力を供給する電源及び高周
波信号発生器を備え、被測定進行波管に標準電圧、標準
高周波入力を供給し、連続運転してその特性の経時変化
を測定する進行波管寿命試験装置において、被測定進行
波管のヒータ電源回路にスイッチを設け、さらにカソー
ド電流及び螺旋電流を測定する計測部と、該測定データ
のｌｒＶ、す出しと」二記スイッチ及び計測部に制御信
号を送るコントローラを設け、所望の時期に該゛コント
ローラの指令によってヒータ電源回路のスイッチを螺旋
電流が規定の値を越えるまでの時間切り、その間の螺旋
電流又は螺旋電流とカソード電流の変化を計測部におい
て測定できるように構成したことを特徴とする進行波管
寿命試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16092781A JPS5862574A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 進行波管寿命試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16092781A JPS5862574A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 進行波管寿命試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5862574A true JPS5862574A (ja) | 1983-04-14 |
Family
ID=15725269
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16092781A Pending JPS5862574A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 進行波管寿命試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5862574A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102967812A (zh) * | 2011-09-01 | 2013-03-13 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 评估行波管寿命的方法及其装置 |
| CN112964971A (zh) * | 2021-03-23 | 2021-06-15 | 电子科技大学 | 一种行波管收集极入口电子能量分布曲线的测量方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5414664A (en) * | 1977-07-06 | 1979-02-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Measuring method for cathode activity of travling-wave tube |
-
1981
- 1981-10-12 JP JP16092781A patent/JPS5862574A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5414664A (en) * | 1977-07-06 | 1979-02-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Measuring method for cathode activity of travling-wave tube |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102967812A (zh) * | 2011-09-01 | 2013-03-13 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 评估行波管寿命的方法及其装置 |
| CN112964971A (zh) * | 2021-03-23 | 2021-06-15 | 电子科技大学 | 一种行波管收集极入口电子能量分布曲线的测量方法 |
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