JPS585755B2 - 光ビ−ム加工装置 - Google Patents

光ビ−ム加工装置

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JPS585755B2
JPS585755B2 JP54018220A JP1822079A JPS585755B2 JP S585755 B2 JPS585755 B2 JP S585755B2 JP 54018220 A JP54018220 A JP 54018220A JP 1822079 A JP1822079 A JP 1822079A JP S585755 B2 JPS585755 B2 JP S585755B2
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JP
Japan
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light beam
workpiece
condenser
shutter
time
Prior art date
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JP54018220A
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茨木修
江口信彦
高羽敏男
新宅敏宏
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NEC Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はレーザービーム露光装置およびレーザートリミ
ング装置等のように光ビームにより加工を行なう光ビー
ム加工装置に関する。
従来、この種の光ビーム加工装置において、被加工物に
照射される光ビームは目的の加工パターン位置以外では
光シャツタで遮断されるとともに走査停止状態にある。
そして、目的の加エパターンの始点部で光シャツタが開
放され光ビームの照射および走査を開始し、終点部で光
ビームの走査を停止した後、光シャツタを閉成し被加工
物への光ビーム照射を遮断することにより、パターン加
工が実施される。
このように光ビームの照射を制御するのは前記光シャツ
タとして電磁式シャツタを使用しているためである。
即ち、この電磁式シャツタの開閉速度は2〜15msと
一定していないため、前記のように光ビームの走査を制
御した後光シャツタの開閉制御を行なわなければ、数μ
m単位の高精度加工を実施できない。
しかしながら、このような光ビーム加工装置は光ビーム
の走査開始および停止を迅速に行なうための速度制御手
段を必要とする。
また、加工パターンの始点部および終点部付近において
は低速走査になるため、被加工物への光ビーム照射量が
すべての加工パターンに対して一定でなく不均一な加工
状態になる。
さらに、前記したように常に一定の走査速度で加工を遂
行できないため加工工数の増大をも招いている。
本発明はこれらの問題点を解消するためになされたもの
であり、光ビームを常に一定の速度で連続走査させる上
に、光ビームの照射および遮断を高速度に且つ高精度に
行なう光シャツタを用い、この光シャツタの開閉指示信
号に所定の時間補正を設定することにより、被加工物の
所望の位置に均一な加工パターンを精度良く且つ短時間
で形成できる光ビーム加工装置を提供するものである。
本発明による光ビーム加工装置は、光ビーム発生器から
の光ビームを被加工物に照射させる集光器を一つの軸上
で往復移動させる集光器移動器と被加工物を前記集光器
の移動方向に対して直角に移動させる被加工物移動器と
、これらの移動器により変化する被加工物への光ビーム
照射位置の検出器と、前記集光器と光ビーム発生器間に
配置され且つ前記集光器移動器および前記被加工物移動
器の移動制御情報と前記位置検出器からの位置検出情報
とを比較して開閉制御信号を送出する制御部からの前記
制御信号により駆動仝れ前記集光器への光ビーム入射を
制御する光変調器とを備え、前記集光器移動器および前
記被加工物移動器の少なくとも一方を連続移動させ、前
記制御部が前記情報比較により前起位置検出器および前
記光変調器の動作遅延時間分早く前記開閉制御信号を前
記光変調器に送出することを特徴とする。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は光源にレーザーを用いた杢発明に係わる光ビー
ム加工装置の概略構成図である。
この図に示すように、2台のリニアモータ1、6はそれ
ぞれのモータ軸が互いに直角方向に位置するように配置
されている,第1のモータ(X軸モータ)1の軸1aは
レーザー発振装置2から発射された水平方向のレーザー
ビーム3を直角方向に屈折させる反射鏡4とこのヌ射鏡
4により屈折されたレーザービーム3を集光する集光レ
ンズ5とを有する集光部材12に連結され、この集光部
材12を矢印X方向に移動させる。
一方、第2のモータ(Y軸モータ)6の軸6aは被加工
物8を装着するための加工テーブル7に連結され、この
加工テーブル7を矢印Y方向に移動させる。
また、被加工物8へのレーザービームの照射および遮断
はビーム軸上に配置された光シャツタ9の開閉動作によ
り制御される。
前記第1および第2のモータ1,6のモータ軸1 a.
, 6 aのX,Y方向移動量はデイジタル位置セン
サ10,11(磁気マグネチツクスケール)により検出
される。
このように構成される光ビーム加工装置は第1および第
2のモータ1,6を動作させることによりレーザー発振
装置2から発射されたレーザービーム3を光シャツタ9
で制御し反射鏡4で屈折させた後集光レンズ5を通して
加工テーブルT上に配置された被加工物8にレーザービ
ーム3を照射して所望のパターン加工を行なう。
第2図は第1図に示した光ビーム加工装置の制御を説明
するためのブロック図である。
この図において、ミニコンピュータ20は入出力機器2
1とインターフェース部23を介して操作パネル22と
より動作指定を受ける。
X軸およびY軸モータ1,6への移動情報は入出力機器
21より入力され、ミニコンピュータ20で移動アドレ
ス値に変換された後、インターフェース部23を介して
X軸およびY軸位置レジスタ24および28に送られる
X軸およびY軸位置レジスタ24 ,28にそれぞれ所
定の移動アドレス値が入力されるとD−Aコンバータ2
5,29により直交変換された前記移動情報がサーボア
ンプ26.30を通してX軸およびY軸モータ1,6に
送出される。
これにより、X軸およびY軸モータ1,6はそれぞれ動
作するが、これらのモータの駆動速度は速度トランスジ
ューサ13,14で検出され、タコアンプ27.31に
よりサーボアンプ26,30に負帰還される。
そして、X軸およびY軸モータ1,6はD−Aコンバー
タ25,29の出力に比例した速度で駆動される。
さらに、これらのモータの軸の移動距離はデイジタル位
置センサー10.11で検出され、これらセンサー10
,11からの位置検出情報により位置レジスタ2 4.
, 2 8のアドレス値が減算される。
このアドレス値が所定の値になるとD−Aコンバータ2
5,29からの移動情報は送出されない。
第3図Aないし第3図Eは従来の光ビーム加工装置にお
ける光シャツタの開閉動作と加工パターン形状との関係
を示す図である。
時間t1において第2図におけるデイジタル位置センサ
10.11が所望の加工パターンの始点位置を検出し、
その検出情報をミニコンピュータ20が識別するとイン
ターフェース部23を介駿て光シャツタ9にシャツタ開
放信号を送5出する。
第3図Aに示すようにこのシャツタ開放信号P1は時間
ta遅延した後光シャツタ9に入力される。
この遅延時間taはミニコンピュータ20およびデイジ
タル位置センサ10,11等の電気的、機械的遅れによ
るものである。
第3図Bに示すように、光シャツタ9はシャツタ開放信
号P1の印加により、時間tb遅延した後時間t3で開
放状態になる。
ここで、時間tbは光シャツタ9の応答速度により生じ
る遅延時間であり、電磁式光シャツタにおいては5〜2
0 msとなる。
光シャツタ9の開放により、レーザー発振装置2から発
射されているレーザービーム3が被加工物8に照射され
る。
一方、X軸およびY軸モータ1および6に連動して、第
3図Cに示すようにレーザービーム3の走査が開始され
る。
この走査速度は時間t4で所定の速度に達するが、時間
t5において減速され、加工パターンの終点部に対応す
る時間t7で走査状態となる。
このレーザービーム3の走査速度はデイジタル位置セン
サ10.11および速度トランスジューサ13.14に
より制御される。
また、時間tbにおいて、デイジタル位置センサ10,
11が所望の加工パターンの終点位置を検出すると、こ
の位置検出情報により時間t7においてミニコンピュー
タ20は光シャツタ9にシャツタ閉成信号P2(第3図
A)を入力する。
これにより、第3図Bに示すように、光シャツタ9が時
間tb遅延した後、時間t8で閉成する。
上記のように、被加工物8に照射されるレーザービーム
3の走査速度がt4〜t,間に比べて時間t3〜t4お
よびt,〜t7間で低下する上に、電磁式シャツタを使
用した光シャツタ9はシャツタ開閉信号印加により連動
できないため、被加工物8へのレーザービーム照射量に
差が生じる。
そのため第3図Dに示すような不均一な加工パターンが
形成される。
また、この加工パターソは第3図Eに示す所望の加工パ
ターンより遅延時間t’a+tbに相当する位置分ずれ
て形成される。
上述した従来の光ビーム加工装置により形成反れる加工
パターンの不均一は、光シャツタに超音波光変調器を使
用することにより解消できる。
この超音波光変調器はモリブデン酸4(PbMo04)
などの透明な媒体にニオブ酸リチューム( L r N
b O s )などを接着した圧電素子に電気信号を
印加すると超音波が媒体中を伝搬し、この超音波により
媒体の屈折率が超音波の波長を周期として変動する。
このような媒体に光ビームが入射すると光と超音波の周
波数の関係により異なった屈折が生じると云う原理に基
づいている。
したがって、超音波光変調器に印加する電気信号を制御
して屈折率を変化させるととにより、光ビームの進行方
向を制御し例えば反射鏡に入射できる場合をシャツタ開
放状態、また反射鏡に入射できない場合をシャツタ閉成
状態として使用するならば高精度で且つ高速動作を行な
う光シャツタを実現できる。
また光ビーム加工装置の電気的、機械的遅れのために被
加工物に形成された加工パターン位置が所望の加工パタ
ーン位置よりずれると云う問題点は、前記遅れ時間を補
正するタイミングでシャツタ開閉信号を光シャツタに印
加することにより解消できる。
第4図Aないし第4図Eは本発明による光ビーム加工装
置における光シャツタの開閉動作と加工パターンとの関
係を示す図である。
以下、第2図に示したブロック図を併用して説明する。
デイジタル位置センサ10,11が第3図Eに示す所望
の加工パターンの始点位置Aを検出する時間t13より
時間tc早くミニコンピュータ20からインターフェー
ス部23を介して光シャツタ9にシャツタ開放信号P1
0を送出する。
この時間tcは第3図に示す時間taとこの発明に使用
される光シャツタ(超音波光変調器)9の応答時間tb
とをプラスした値となる。
シャツタ開放信号PIOを時間t11において送出させ
るためには、例えばデイジタル位置センサ10,11の
示す位置情報を加工パターンの始点位置Aより早く読取
り演算処理することにより実現できる。
これにより、時間t において光シャツタ9にシャツタ
開放信号P10′が入力され、応答遅延時間tb(最大
lμS)後に光シャツタ9′が開放状態になる(第4図
B)。
この時間’13はデイジタル位置センサ10,11が加
工パターンの始点位置を実際に検出した時間と一致する
これにより、レーザー発振装置2から発射されているレ
ーザービーム3が被加工物8に照射される。
一方、ミニコンピュータ20の制御によりX軸およびY
軸モータ1および6が連続的に動作しているため、第4
図Cに示すようにレーザービーム3はシャツタ開放時直
ちに所定の速度で走査する。
以後、デイジタル位置センサ10,11が所望の加工パ
ターンの終点位置Bを検出する時間116より時間tc
早くシャツタ閉成信号P11を光シャツタ9に送出する
これにより、時間t15において光シャツタ閉成信号P
11′が入力される。
そして、光シャツタ9が時間tb遅延した後、時間t1
6で閉成状態となる。
なお、この時間tl6はデイジタル位置センサ10,1
1が加工パターンの終点位置を実際に検出した時間と一
致する。
このように被加工物8に照射されるレーザービーム3の
走査速度が時間t13〜16間で一定である上に、超音
波光変調器を使用した光シャツタ9はシャツタ開閉信号
印加により速動できるため、被加工物8へのレーザービ
ーム照射量を一定にできる。
そのため、第4図Dに示すように均一な加工パターンが
所望の加工パターンと等しい位置に形成される。
第5図は本発明による光ビーム加工装置により形成され
た加工パターンの一例を示す平面図である。
被加工物8のX軸方向にレーザービームを走査させるX
軸モータとY軸方向にレーザービームを走査させるY軸
モータとの連続動作/tζともなって光シャツタを開閉
制御することにより、被加工物8の所望の位置にパター
ン加工を施こすことができる。
この図中、Aはパターン形成部を且つBはパターン非形
成部を示す。
以上説明したように本発明によれば、被加工物の所望の
位置に均一な加工パターンを精度良く且つ短時間で形成
できる光ビーム加工装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる光ビーム加工装置の概略構成図
、第2図は第1図に示した光ビーム加工装置の制御を説
明するためのブロック図、第3図人ないし第3図Eは従
来の光ビーム加工装置における光シャツタの開閉動作と
加工パターン形状との関係牽示す図、第4図Aないし第
4図Eは本発明による光ビーム加工装置における光シャ
ツタの開閉動作と加工パターン形状との関係を示す図、
第5図は本発明による光ビーム加工装置により形成され
た加工パターンの一例を示す平面図である。 1・・・・・・X軸モータ、1a・・・・・・X軸モー
タのモータ軸、2・・・・・・レーザー発振装置、3・
・・・・・レーザービーム、4・・・・・・反射鏡、5
・・・・・・集光レンズ、6・・・・・・Y軸モータ、
6a・・・・・・Y軸モータのモータ軸、7・・・・・
・加工テーブル、8・・・・・・被加工物、9・・・・
・・光シャツタ、10・・・・・・X軸デイジタル位置
センサ、11・・・・・・Y軸デイジタル位置センサ、
12・・・・・・集光部材、13,14・・・・・・速
度トランスジューサ、20・・・・・・ミニコンピュー
タ、21・・・・・・入出力機器、22・・・・・・操
作パネル、23・・・・・・インターフェース部、24
,28・・・・・・位置レジスタ、25,29・・・・
・・D−Aコンバータ、26,30・・・・・・サーボ
アンプ、27,31・・・・・・タコアンプ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光ビーム発生器からの光ビームを被加工物に照射さ
    せる集光器を一つの軸上で往復移動させる集光器移動器
    と、被加工物を前記集光器の移動方向に対して直角に移
    動させる被加工物移動器と、これらの移動器により変化
    する被加工物への光ビーム照射位置の検出器と、前記集
    光器と光ビーム発生器間に配置され且つ前記集光器移動
    器および前記被加工物移動器の移動制御情報と前記位置
    検出器からの位置検出情報とを比較して開閉制御信号を
    送出する制御部からの前記制御信号により駆動され前記
    集光器への光ビーム入射を制御する光変調器とを備え、
    前記集光器移動器および前記被加工物移動器の少なくと
    も一方を連続移動させ、前記制御部が前記情報比較によ
    り前記位置検出器および前記光変調器の動作遅延時間分
    早く前記開閉制御信号を前記光変調器に送出することを
    特徴とする光ビーム加工装置。
JP54018220A 1979-02-19 1979-02-19 光ビ−ム加工装置 Expired JPS585755B2 (ja)

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