JPS5856956U - オージェ定量分析装置 - Google Patents

オージェ定量分析装置

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JPS5856956U
JPS5856956U JP15209981U JP15209981U JPS5856956U JP S5856956 U JPS5856956 U JP S5856956U JP 15209981 U JP15209981 U JP 15209981U JP 15209981 U JP15209981 U JP 15209981U JP S5856956 U JPS5856956 U JP S5856956U
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哲 関根
最上 明矩
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日本電子株式会社
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す斜視図、第2図はその
要部拡大断面図である。 1:試料ホルダ、2a、 2b、  2C:被検試料、
3:薄膜形成用ターゲット、4:斜面部材、4a:傾斜
面、5:合金傾斜面、5:合金ターゲット、6:薄膜。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子線を試料に照射した際、該試料表面から発生するオ
    ージェ電子を分析して試料の定量分析を行う装置等に用
    いられるホルダであって、被検試料と共に標準試料であ
    るターゲットを保持し、該ターゲットをイオン源及び薄
    膜形成基板には対面するが前記被検試料には対面しない
    ように配置してなる試料ホルダ。
JP15209981U 1981-10-13 1981-10-13 オージェ定量分析装置 Granted JPS5856956U (ja)

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JPS5856956U true JPS5856956U (ja) 1983-04-18
JPH0318913Y2 JPH0318913Y2 (ja) 1991-04-22

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS561669U (ja) * 1979-06-19 1981-01-09

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS561669U (ja) * 1979-06-19 1981-01-09

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JPH0318913Y2 (ja) 1991-04-22

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