JPS59103260U - 放射線応用測定装置 - Google Patents
放射線応用測定装置Info
- Publication number
- JPS59103260U JPS59103260U JP19924782U JP19924782U JPS59103260U JP S59103260 U JPS59103260 U JP S59103260U JP 19924782 U JP19924782 U JP 19924782U JP 19924782 U JP19924782 U JP 19924782U JP S59103260 U JPS59103260 U JP S59103260U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- film
- thin plate
- radiation applied
- applied measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
図面は本考案の一実施例を説明するためのＸ線応用測定
装置の模式図である。 １・・・試料台、２・・・開口部、３・・・フランジ部
、４・・・試料ベース、４ａ・・・試料、５・・・試料
押えブロック、７・・・Ｘ線検出器、８・・・演算器、
９・・・照射Ｘ線、１０・・・螢光Ｘ線。
装置の模式図である。 １・・・試料台、２・・・開口部、３・・・フランジ部
、４・・・試料ベース、４ａ・・・試料、５・・・試料
押えブロック、７・・・Ｘ線検出器、８・・・演算器、
９・・・照射Ｘ線、１０・・・螢光Ｘ線。
Claims (1)
- 測定試料がコーティングされたフィルム又は薄板を試料
台に装若し、前記試料に対し放射線を照射して当該試料
が発する螢光Ｘ線により、前記試料の所要成分を測定す
る放射線応用測定装置において、上記フィルム又は薄板
の背面に重畳される試料押えブロックを、このフィルム
又は薄板と同材質で、且つフィルム又は薄板の厚みに対
しブロック厚が充分に大きくとられたものから構成して
なる放射線応用測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19924782U JPS59103260U (ja) | 1982-12-25 | 1982-12-25 | 放射線応用測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19924782U JPS59103260U (ja) | 1982-12-25 | 1982-12-25 | 放射線応用測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59103260U true JPS59103260U (ja) | 1984-07-11 |
| JPH0422283Y2 JPH0422283Y2 (ja) | 1992-05-21 |
Family
ID=30424791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19924782U Granted JPS59103260U (ja) | 1982-12-25 | 1982-12-25 | 放射線応用測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59103260U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014202620A (ja) * | 2013-04-05 | 2014-10-27 | 学校法人福岡大学 | 表面分析用フィルム試料およびフィルム試料サンプリング治具とサンプリング方法 |
-
1982
- 1982-12-25 JP JP19924782U patent/JPS59103260U/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014202620A (ja) * | 2013-04-05 | 2014-10-27 | 学校法人福岡大学 | 表面分析用フィルム試料およびフィルム試料サンプリング治具とサンプリング方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0422283Y2 (ja) | 1992-05-21 |
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