JPS5845160B2 - Ｘセンケンサソウチ - Google Patents
ＸセンケンサソウチInfo
- Publication number
- JPS5845160B2 JPS5845160B2 JP50150630A JP15063075A JPS5845160B2 JP S5845160 B2 JPS5845160 B2 JP S5845160B2 JP 50150630 A JP50150630 A JP 50150630A JP 15063075 A JP15063075 A JP 15063075A JP S5845160 B2 JPS5845160 B2 JP S5845160B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- detector
- voltage
- sampling
- scanning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 22
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被検体の横断面を検査するＸ線検査装置、特に
そのＸ線発生系の改良に関するものである。
そのＸ線発生系の改良に関するものである。
Ｘ線を用いて被検体に含まれる一平面内で、多方からそ
の透過Ｘ線を計測してＸ線吸収係数値を求め、これらを
画像演算して該平面の断面像をテレビモニタに映出さる
検査装置が提案されている。
の透過Ｘ線を計測してＸ線吸収係数値を求め、これらを
画像演算して該平面の断面像をテレビモニタに映出さる
検査装置が提案されている。
ビーム状のＸ線を発生するＸ線源とＸ線検出器は被検体
をはさみ対向するようにして配置し、前記平面にそって
平行に移動走査する。
をはさみ対向するようにして配置し、前記平面にそって
平行に移動走査する。
この１走査期間中に例えば１２８個の計測データをサン
プリングするようにしている。
プリングするようにしている。
更にこの１走査が終了すると、走査行程を１度回転して
、再び同様の走査を行う。
、再び同様の走査を行う。
このようにして１８０回（度）繰り返して全計測を終了
する。
する。
上記のような透過Ｘ線をＸ線検出器で検出するとき、特
にその入射Ｘ線量が少い場合は、Ｘ線量子の統計的変動
が無視できなくなる。
にその入射Ｘ線量が少い場合は、Ｘ線量子の統計的変動
が無視できなくなる。
この統計的変動の現象による検出器出力の変動は量子ノ
イズと呼ばれ、計測値の信頼性を低下させる一要因とな
っている。
イズと呼ばれ、計測値の信頼性を低下させる一要因とな
っている。
従来、この量子ノイズの影響を軽減させるためにＣＲ高
周波遮断フィルタが用いられているがサンプリング間隔
との関係で隣接する計測値の相互に影響を与え、分解能
力を低下させるという欠点を有していた。
周波遮断フィルタが用いられているがサンプリング間隔
との関係で隣接する計測値の相互に影響を与え、分解能
力を低下させるという欠点を有していた。
我我はこの問題を解決するために、１サンプリングの期
間ごとに検出器による透過Ｘ線量に比例した電気信号を
積分するようにした積分回路で構成する信号処理回路を
提案した。
間ごとに検出器による透過Ｘ線量に比例した電気信号を
積分するようにした積分回路で構成する信号処理回路を
提案した。
しかしこの検出系は、またＸ線発生系、とくにＸ線リッ
プルと密接な関係を有し、リップルのないＸ線のときに
最もその機能を発揮することが知れた。
プルと密接な関係を有し、リップルのないＸ線のときに
最もその機能を発揮することが知れた。
通常Ｘ線発生装置は、商用交流電源を高圧変圧器で昇圧
し、高圧整流回路、高圧コンデンサ等によって、直流平
滑化した電圧をＸ線管に印加してＸ線を発生するように
しているが、リップルのない直流を得ることは困難であ
る。
し、高圧整流回路、高圧コンデンサ等によって、直流平
滑化した電圧をＸ線管に印加してＸ線を発生するように
しているが、リップルのない直流を得ることは困難であ
る。
強いて得ようとするならば大容量の高圧コンデンサが必
要となり、装置が高価格となる問題が生じる。
要となり、装置が高価格となる問題が生じる。
前記のようなリップルのある印加電圧によって生ずるわ
ずかなＸ線リップルによって第１図に示すごとく、Ｘ線
検出器による検出信号の積分の出力に変動が生じる。
ずかなＸ線リップルによって第１図に示すごとく、Ｘ線
検出器による検出信号の積分の出力に変動が生じる。
従ってこのデータによる画像演算および再生によってテ
レビモニタに映出される新画像は信頼度の低い、かつ雑
音の多い像となる。
レビモニタに映出される新画像は信頼度の低い、かつ雑
音の多い像となる。
本発明の目的とするところは、上記従来装置の問題点を
解決するために、Ｘ線管およびＸ線検出器の平行走査の
移動を位置検出器で検知しながら、サンプリングパルス
を出力し、このパルスにより、サンプリング期間に同期
した方形波状のＸ線管電圧およびＸ線フィラメント電圧
を印加するようにして各サンプリング期間中の発生Ｘ線
量を常に一定となるようにして計測値の信頼性を向−ヒ
させ、画像的にも良好でかつ安価な構成でこれを実現な
らしめるＸ線検査装置を提供することにある。
解決するために、Ｘ線管およびＸ線検出器の平行走査の
移動を位置検出器で検知しながら、サンプリングパルス
を出力し、このパルスにより、サンプリング期間に同期
した方形波状のＸ線管電圧およびＸ線フィラメント電圧
を印加するようにして各サンプリング期間中の発生Ｘ線
量を常に一定となるようにして計測値の信頼性を向−ヒ
させ、画像的にも良好でかつ安価な構成でこれを実現な
らしめるＸ線検査装置を提供することにある。
以下本発明の一実施例を図によって説明する。
第２図において、１は走査機構本体であって、２は基台
、３は基台２に設けたガイドローラなどに支えられて回
転する回転円板、４は回転円板３に設けられ被検体５を
挿入配置する中心孔、６はＸ線管、７はＸ線検出器であ
って、これらは回転円板３に取付けたガイドレール８に
ガイドされ矢印方向に移動可能な走査フレーム９に対向
するように取付けられている。
、３は基台２に設けたガイドローラなどに支えられて回
転する回転円板、４は回転円板３に設けられ被検体５を
挿入配置する中心孔、６はＸ線管、７はＸ線検出器であ
って、これらは回転円板３に取付けたガイドレール８に
ガイドされ矢印方向に移動可能な走査フレーム９に対向
するように取付けられている。
前記回転円板３と走査フレーム９は図では省略しである
駆動装置により、適宜回転並びに移動制御されるように
しである。
駆動装置により、適宜回転並びに移動制御されるように
しである。
１０は参照用Ｘ線検出器、１１は走査フｌ／−ム９の移
動位置を検出する位置検出器である。
動位置を検出する位置検出器である。
また１２は管電圧調整用単巻変圧器、１３は整流回路、
１４はインバータ回路、１５は高圧変圧器、１６は高圧
整流回路、１７は整流回路、１８はインバータ回路、２
０はフィラメント加熱変圧器、２１は位置検出増幅器で
ある。
１４はインバータ回路、１５は高圧変圧器、１６は高圧
整流回路、１７は整流回路、１８はインバータ回路、２
０はフィラメント加熱変圧器、２１は位置検出増幅器で
ある。
以上のような構成において、交流電源電圧を設定した管
電圧に応じ単巻変圧器１２で調整し、その出力を整流回
路１３により直流平滑化してインバータ回路１４に供給
する。
電圧に応じ単巻変圧器１２で調整し、その出力を整流回
路１３により直流平滑化してインバータ回路１４に供給
する。
ここで前記走査フレーム９に取付けたＸ線管６とＸ線検
出器７による走査の１走査行程中に、例えは１２８個の
データを等間隔にサンプリングするとき、このサンプリ
ング間隔に応じた走査フレームの移動を位置検出器１１
で検出し、この第３図に示すようなサンプリング信号ａ
から、位置検出増幅器２１を介してサンプリングパルス
ｂを得る。
出器７による走査の１走査行程中に、例えは１２８個の
データを等間隔にサンプリングするとき、このサンプリ
ング間隔に応じた走査フレームの移動を位置検出器１１
で検出し、この第３図に示すようなサンプリング信号ａ
から、位置検出増幅器２１を介してサンプリングパルス
ｂを得る。
以下同様に各部の出力波形を第３図に示し、対応する符
号を第２図に示す。
号を第２図に示す。
前記サンプリングパルスｂで前記インバータ回路１４を
１駆動して、方形波状の交番電圧Ｃを得、これを高圧変
圧器１５の１次巻線に印加する。
１駆動して、方形波状の交番電圧Ｃを得、これを高圧変
圧器１５の１次巻線に印加する。
そして所定の高電圧に昇圧したのち、高圧整流回路１６
を全波整流した高圧直流重臣（脈流）をＸ線管６に印加
する。
を全波整流した高圧直流重臣（脈流）をＸ線管６に印加
する。
一方このとき、同時に電源電圧を整流回路１７で直流平
滑化し、前記サンプリングパルスｂでインバータ回路１
８を１駆動して方形波状の交番電圧ｄを得る。
滑化し、前記サンプリングパルスｂでインバータ回路１
８を１駆動して方形波状の交番電圧ｄを得る。
これを管電流調整抵抗１９を介してフィラメント変圧器
２０に印加し所定の電圧を得て、Ｘ線管６のフィラメン
トに印加する。
２０に印加し所定の電圧を得て、Ｘ線管６のフィラメン
トに印加する。
このようにして管電圧とともにフォラメン１゛加熱電圧
をサンプリング信号ａに同期させ、同期したＸ線パルス
ｅをＸ線管６からＸ線検出器７に向って発生させる。
をサンプリング信号ａに同期させ、同期したＸ線パルス
ｅをＸ線管６からＸ線検出器７に向って発生させる。
前記Ｘ線パルスはコリメータで絞られペンシルビーム状
にして走査に供される。
にして走査に供される。
上記のようなＸ線発生手段のもとに、被検体５を走査機
構本体１の回転板３に設けた中心孔４に挿入して配置さ
せ、被検体５が含まれる一平面内で走査フレーム９をガ
イドレール８にそって平行に直線移動させる。
構本体１の回転板３に設けた中心孔４に挿入して配置さ
せ、被検体５が含まれる一平面内で走査フレーム９をガ
イドレール８にそって平行に直線移動させる。
この移動距離は被検体を考慮した一定距離にあらかじめ
設定されている。
設定されている。
このようにしてＸ線管６とＸ線検出器７および参照用Ｘ
線検出器１０からなるＸ線走査系によって被検体５を走
査し検査を行う。
線検出器１０からなるＸ線走査系によって被検体５を走
査し検査を行う。
この１走査期間中に１２８個のＸ線データを一定間隔で
サンプリングするようにしている。
サンプリングするようにしている。
そしてこのサンプリングするタイミングは、前記走査フ
レーム９の回転円板３に対する移動を位置検出器１１で
検出しこの検出信号による位置検出増幅器２１からのサ
ンプリングパルスｂで計測するように制御している。
レーム９の回転円板３に対する移動を位置検出器１１で
検出しこの検出信号による位置検出増幅器２１からのサ
ンプリングパルスｂで計測するように制御している。
次に前記のような直線移動の１走査が終了すると、走査
フレーム９が取付けられている回転円板３が１度回転し
、再び前記同様のＸ線走査が行われる。
フレーム９が取付けられている回転円板３が１度回転し
、再び前記同様のＸ線走査が行われる。
このようにして１８０回（度）繰り返して被検体の当該
平面の全計測を終了する。
平面の全計測を終了する。
Ｘ線管６からのＸ線は、参照用Ｘ線検出器１０とＸ線検
出器７によって走査期間中随時計測され、その出力信号
は、対数比増幅器２２に入力しここで対数比変換され積
分回路２３に送られる。
出器７によって走査期間中随時計測され、その出力信号
は、対数比増幅器２２に入力しここで対数比変換され積
分回路２３に送られる。
この積分回路２３は前記のごとくＸ線量子ノイズの影響
を低減させ、各サンプリング計測値の信頼度を向上させ
るために構成するもので、前記サンプリングパルスｂに
よって駆動され、一定時間の積分を行ない、量子ノイズ
を軽減した積分出力信号ｆの出力を得るようにしている
。
を低減させ、各サンプリング計測値の信頼度を向上させ
るために構成するもので、前記サンプリングパルスｂに
よって駆動され、一定時間の積分を行ない、量子ノイズ
を軽減した積分出力信号ｆの出力を得るようにしている
。
これをＡ／Ｄ変換器２４でデジタル信号に変換して、更
にＸ線吸収係数計算回路２５で演算処理する。
にＸ線吸収係数計算回路２５で演算処理する。
そして被検体５の前記一平面にかかる断面の各点のＸ線
吸収係数値を求め、これらを画像再生しテレビモニタ上
に断面像として映出させる。
吸収係数値を求め、これらを画像再生しテレビモニタ上
に断面像として映出させる。
以上説明したように本発明によるとＸ線源とＸ線検出器
による走査の移動を位置検出器で検出し、この信号でサ
ンプリングパルスを得、前記Ｘ線検出器によるＸ線デー
タをサンプ１ｊングするようにするとともに、前記サン
プリングパルスでインバータ回路を駆動し方形波状のＸ
線管電圧およびＸ線管フィラメント電圧を各々印加する
ようにして、サンプリング期間に同期したＸ線・くルス
を発生させ、各サンプリング期間中のＸ線量を一定とな
るようにしてＸ線リップルの影響を軽減し、Ｘ線計測饋
の信頼性を向上させることができ、かつ良好な画像を得
ることができる。
による走査の移動を位置検出器で検出し、この信号でサ
ンプリングパルスを得、前記Ｘ線検出器によるＸ線デー
タをサンプ１ｊングするようにするとともに、前記サン
プリングパルスでインバータ回路を駆動し方形波状のＸ
線管電圧およびＸ線管フィラメント電圧を各々印加する
ようにして、サンプリング期間に同期したＸ線・くルス
を発生させ、各サンプリング期間中のＸ線量を一定とな
るようにしてＸ線リップルの影響を軽減し、Ｘ線計測饋
の信頼性を向上させることができ、かつ良好な画像を得
ることができる。
また安価な構成で上記を実現ならしめることができる。
第１図はＸ線リップルによるＸ線データの変動を説明す
る図、第２図は本発明の一実施例のブロック図、第３図
は第２図で説明される各部の出力波形図である。 符号の説明、３：回転円板、６：Ｘ線管、７：Ｘ線検出
器、９：走査フレーム、１０：参照用Ｘ線検出器、１１
：位置検出器、１２：管電圧調整用単巻変圧器、１３
．１７：整流回路、１４゜１８：インバーク回路、１５
：高圧変圧器、１６：高圧整流回路、２０：フィラメン
ト変圧器、２１：位置検出増幅器、２２：対数比増幅器
、２３：積分回路、２４：Ａ／Ｄ変換器、２５：吸収係
数回路。
る図、第２図は本発明の一実施例のブロック図、第３図
は第２図で説明される各部の出力波形図である。 符号の説明、３：回転円板、６：Ｘ線管、７：Ｘ線検出
器、９：走査フレーム、１０：参照用Ｘ線検出器、１１
：位置検出器、１２：管電圧調整用単巻変圧器、１３
．１７：整流回路、１４゜１８：インバーク回路、１５
：高圧変圧器、１６：高圧整流回路、２０：フィラメン
ト変圧器、２１：位置検出増幅器、２２：対数比増幅器
、２３：積分回路、２４：Ａ／Ｄ変換器、２５：吸収係
数回路。
Claims (1)
- １ Ｘ線源およびＸ線検出器を対向して一平面内にそっ
て移動させる平行走査手段と、Ｘ線源とＸ線検出器の前
記移動に関連して前記手段を回転させる手段とを備え、
被検体に含まれる一平面内で多方向より計測して求めた
Ｘ線吸収係数値から該平面の断面像を得るＸ線検査装置
において、前記Ｘ線源とＸ線検出器の平行移動を検知し
ながらサンプリングパルスを出力する位置検出器と、方
形波状の電圧が高圧変圧器の１次側に加わるように設け
た第１のインバータ回路と、方形波状の電圧がフィラメ
ント加熱変Ｔｆ：、器の１次側に加わるように設けた第
２のインパーク回路とを具備し、前記サンプリングパル
スで前記第１、第２のインバータ回路を１駆動させるよ
うにしてサンプリング期間に同期したＸ線パルスを発生
ずるようにしたことを特徴とするＸ線検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50150630A JPS5845160B2 (ja) | 1975-12-19 | 1975-12-19 | Ｘセンケンサソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50150630A JPS5845160B2 (ja) | 1975-12-19 | 1975-12-19 | Ｘセンケンサソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5275192A JPS5275192A (en) | 1977-06-23 |
| JPS5845160B2 true JPS5845160B2 (ja) | 1983-10-07 |
Family
ID=15501044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50150630A Expired JPS5845160B2 (ja) | 1975-12-19 | 1975-12-19 | Ｘセンケンサソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5845160B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10985772B2 (en) | 2019-09-12 | 2021-04-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit, A/D converter, delta sigma-type A/D converter, incremental delta sigma-type A/D converter, and switched capacitor |
-
1975
- 1975-12-19 JP JP50150630A patent/JPS5845160B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10985772B2 (en) | 2019-09-12 | 2021-04-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit, A/D converter, delta sigma-type A/D converter, incremental delta sigma-type A/D converter, and switched capacitor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5275192A (en) | 1977-06-23 |
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