JPS63181739A - 放射線受像装置 - Google Patents
放射線受像装置Info
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- JPS63181739A JPS63181739A JP62014503A JP1450387A JPS63181739A JP S63181739 A JPS63181739 A JP S63181739A JP 62014503 A JP62014503 A JP 62014503A JP 1450387 A JP1450387 A JP 1450387A JP S63181739 A JPS63181739 A JP S63181739A
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- JP
- Japan
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- radiation
- image receiving
- sensor array
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- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は放射線受像装置に関するものである。
従来の技術
センサアレイを高速で走査し、二次元画像を得る装置に
おいて、被検体に照射される放射線の均２ヘー。
おいて、被検体に照射される放射線の均２ヘー。
一性が、画像を決定する重要な因子となる。従来、照射
放射線の均一性を補正する方法としては、照射放射線量
をモニタ検出器で測定し、モニタ検出器の出力信号、例
えば電流値などの相対変化率を使って補正していく方法
が行なわれている。
放射線の均一性を補正する方法としては、照射放射線量
をモニタ検出器で測定し、モニタ検出器の出力信号、例
えば電流値などの相対変化率を使って補正していく方法
が行なわれている。
発明が解決しようとする問題点
高精度な放射線透過画像を得ようとする場合、従来のよ
うに照射放射線量のみの補正では、照射放射線エネルギ
の補正が出来ないため、管電圧のリフプルに起因する誤
差が画像を悪化させる。
うに照射放射線量のみの補正では、照射放射線エネルギ
の補正が出来ないため、管電圧のリフプルに起因する誤
差が画像を悪化させる。
本発明は、この問題を解決するため各走査における照射
放射線のエネルギの分布を均一ならしめる方法を与える
ことを目的とするものである。
放射線のエネルギの分布を均一ならしめる方法を与える
ことを目的とするものである。
問題点を解決するための手段
この目的を達成するため本発明は放射線を発生する電源
の周波数がセンサアレイを走査する周波数の整数倍にな
るようにするものである。
の周波数がセンサアレイを走査する周波数の整数倍にな
るようにするものである。
作用
被検体を透過する放射線には、電源の昇圧周波数に起因
した電圧リップルが存在している。放射３ｔ１−７ 線発生装置により発生される放射線の量とエネルギは、
この電圧り・ノプルにより大きく変化する。
した電圧リップルが存在している。放射３ｔ１−７ 線発生装置により発生される放射線の量とエネルギは、
この電圧り・ノプルにより大きく変化する。
このため、リップル１周期での多数回のサンプリング走
査を行なうと、各サンプリング走査における放射線の変
化はきわめて大きくなる。一方電圧リップルは各々の放
射線発生装置でほぼ一定の形状の繰返し波形となるため
、電源の周波数をセンサアレイの走査の周波数と同一に
するか、あるいは整数倍にすることにより、各走査にお
いて、きわめて安定し、かつ均一な照射を行なうことが
出来る。
査を行なうと、各サンプリング走査における放射線の変
化はきわめて大きくなる。一方電圧リップルは各々の放
射線発生装置でほぼ一定の形状の繰返し波形となるため
、電源の周波数をセンサアレイの走査の周波数と同一に
するか、あるいは整数倍にすることにより、各走査にお
いて、きわめて安定し、かつ均一な照射を行なうことが
出来る。
実施例
本発明の一実施例を図に示す。Ｘ線管１から出射される
放射線はスリット２で扇状のビームに絞られ、被検体３
に照射される。被検体３を透過した放射線は、センサア
レイ４で検知され、各画素の信号が画像処理装置９に送
られる。−回のサンプリング走査が完了するとセンサア
レイ４は被検体３に対して相対的に移動し、次の測定を
行なう。
放射線はスリット２で扇状のビームに絞られ、被検体３
に照射される。被検体３を透過した放射線は、センサア
レイ４で検知され、各画素の信号が画像処理装置９に送
られる。−回のサンプリング走査が完了するとセンサア
レイ４は被検体３に対して相対的に移動し、次の測定を
行なう。
この動作を繰返して、二次元画像情報を得て、画像処理
装置９にて、断層像や透過像を得る。Ｘ線管１は、高電
圧が供給されること−より、印加電圧に対応したＸ線を
発生する。Ｘ線１に供給される高電圧は、商用電源１１
（単相でも三相でも良い）を整流回路７で整流し、次に
ＤＤコンバパー６で電圧制御を行なう。そして、スイッ
チング方式高電圧発生回路５で昇圧を行ないＸ線管１に
高電圧を供給する。スイ・ソチング方式高電圧発生回路
５のスイヮチング信号１ｏはタイミング発生器８よシ供
給され、画像信号の走査のタイミングと同期されている
。スイッチング方式高電圧発生回路５へは、画像信号の
走査の周波数の整数倍の周波数を入力出来るようになっ
ている。
装置９にて、断層像や透過像を得る。Ｘ線管１は、高電
圧が供給されること−より、印加電圧に対応したＸ線を
発生する。Ｘ線１に供給される高電圧は、商用電源１１
（単相でも三相でも良い）を整流回路７で整流し、次に
ＤＤコンバパー６で電圧制御を行なう。そして、スイッ
チング方式高電圧発生回路５で昇圧を行ないＸ線管１に
高電圧を供給する。スイ・ソチング方式高電圧発生回路
５のスイヮチング信号１ｏはタイミング発生器８よシ供
給され、画像信号の走査のタイミングと同期されている
。スイッチング方式高電圧発生回路５へは、画像信号の
走査の周波数の整数倍の周波数を入力出来るようになっ
ている。
本実施例ではタイミング発生器８により、高電圧発生回
路５と画像処理装置９に信号を送るように設計されてい
るが、画像処理装置９から、直接高電圧発生回路５に信
号を送ることも可能である。
路５と画像処理装置９に信号を送るように設計されてい
るが、画像処理装置９から、直接高電圧発生回路５に信
号を送ることも可能である。
また、センサアレイ４の駆動位置との同期なども本発明
に含まれる。
に含まれる。
さらに、本実施例では、高電圧発生回路５にス５ヘー／
イツチング信号を送ることとしたが、逆に高電圧電源の
リップルを検知する回路を付加し、これよりの信号によ
り、センサアレイの走査を制御することも可能である。
リップルを検知する回路を付加し、これよりの信号によ
り、センサアレイの走査を制御することも可能である。
また、本実施例ではＸ線管についてであったが、放射線
発生器としては、ベータトロンやりニアツクなど、パル
ス状や脈動しつつ放射線を発生する放射線を発生する放
射線発生器を使った装置への適用も可能である。
発生器としては、ベータトロンやりニアツクなど、パル
ス状や脈動しつつ放射線を発生する放射線を発生する放
射線発生器を使った装置への適用も可能である。
本発明は、商用周波数では得にくい５００Ｈ２以上の高
速走査において、特に効果が大きくなる。
速走査において、特に効果が大きくなる。
発明の効果
本発明により、非常に簡単な構造でセンサアレイの各走
査における照射放射線の線量とエネルギ分布の均一化が
図られるため、特にエネルギ・サブトラクション画像な
どの放射線のエネルギ情報を使う高度な放射線受像法に
おいても安価な装置で高精度に実現出来るため、放射線
画像技術の貢献に寄与することが太きい。
査における照射放射線の線量とエネルギ分布の均一化が
図られるため、特にエネルギ・サブトラクション画像な
どの放射線のエネルギ情報を使う高度な放射線受像法に
おいても安価な装置で高精度に実現出来るため、放射線
画像技術の貢献に寄与することが太きい。
ｅｒ”−／
図は本発明の一実施例における放射線受像装置の構成図
である。 １・・・・・・Ｘ線管、２・・・・・・スリ・ノド、３
・・・・・・被検体、４・・・・・・センサアレイ、５
・・・・・スイ・ンチング方式高電圧発生回路、６・・
・・・・ＤＤコンバパー、７・・・・・・整流回路、８
・・・・・・タイミング発生器、９・・・・・画像処理
装置。
である。 １・・・・・・Ｘ線管、２・・・・・・スリ・ノド、３
・・・・・・被検体、４・・・・・・センサアレイ、５
・・・・・スイ・ンチング方式高電圧発生回路、６・・
・・・・ＤＤコンバパー、７・・・・・・整流回路、８
・・・・・・タイミング発生器、９・・・・・画像処理
装置。
Claims (2)
- （１）被検体を透過した放射線を線状または面状配置さ
れたセンサアレイで検知し、前記センサアレイを被検体
に対して相対的に走査して、二次元画像を得る放射線受
像装置であって、放射線を発生する電源の周波数が前記
センサアレイを走査する周波数の整数倍であることを特
徴とする放射線受像装置。 - （２）放射線を発生する電源の周波数が５００Ｈｚ以上
であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の放
射線受像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62014503A JPH0767444B2 (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | 放射線受像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62014503A JPH0767444B2 (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | 放射線受像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63181739A true JPS63181739A (ja) | 1988-07-26 |
| JPH0767444B2 JPH0767444B2 (ja) | 1995-07-26 |
Family
ID=11862863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62014503A Expired - Lifetime JPH0767444B2 (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | 放射線受像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0767444B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009063571A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置及びその方法 |
| JP2009063572A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 |
-
1987
- 1987-01-23 JP JP62014503A patent/JPH0767444B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009063571A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置及びその方法 |
| JP2009063572A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0767444B2 (ja) | 1995-07-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |