JPS6157840A - 放射線断層検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は放射線を利用して被検査体断面の像を得てこれ
より被検査体の検査を行なう放射線断層検査装置に関す
るものである＠ 〔発明の技術的背景〕 物体の内部欠陥や組成、構造などを非破壊でしかも精度
良く測定できる装置としてコンピュータ・トモグラフィ
・スキャナ（以下、ＣＴスキャナと称する）と呼ばれる
放射線断層検査装置がある。

この装置は例えば放射線源として偏平な扇状に広がるフ
ァンビームＸ線を曝射する放射線源と、被検体を介して
この放射線源に対峙して配され、前記ファンビームＸ線
の拡が多方向に複数の放射線検出素子を配した検出器と
を用い、被検体を中心にこの放射線源と検出器を同方向
に例えば１度刻み１８００〜３６０°にわたって順次回
転操作しながら、被検体断層面の多方向からのＸ線吸収
データを収集したのち、コンピュータ等により画像再構
成処理を施し、断層像を再構成するようにしだもので、
断層面各位置に１　　　　ついて、組成に応じ２０００
段階にもわたる階調で画像再構成できるので、断層面の
状態を詳しく知ることができる◎ このようなＣＴスキャナはいわゆる第３世代と呼ばれる
もので、そのほか、ペンシルビームＸ線を曝射するＸ線
餘とこのＸ線−に対峙して検出器を設け、このＸ線源と
検出器とを被検査体の断面に沿ってトラバーススキャン
させ、１トラバーススキヤン終了毎に所定角度、回転さ
せて凋びトラバーススキャンを行なういわゆる第１世代
、ペンシルビームＸＭを幅狭のファンビームＸ線とし、
検出素子を数素子持たせた検出器を用いてこれらを上記
トラバーススキャン及び回転走査させるようにした第１
世代の改良形とも言うべき、いわゆる第２世代、被検査
体の周囲全周にわたって検出素子を配した検出器と幅広
のファンビームｘ＃ｓを曝射するＸ線源とを用い、Ｘ線
源のみ回転走査させるいわゆる第４世代など種々の方式
ＯＣＴスキャナがある。

ところで、このようなＣＴスキャナにおいてはＸ線吸収
データの収集の際のＸ線源として、一般的にはＸ線管を
用いる。そして、Ｘ線管から放射されるＸ線にはエネル
ギ分布があるため、Ｘ線源と各Ｘ線検出素子とを結ぶ各
Ｘ線経路（これをＸ線パスと云う）中の被検体厚によ）
、各Ｘ　Ｍ検出素子の検出データに線質硬化の影響が生
ずる。

すなわち、Ｘ線管より放射されるＸ線は高いエネルギス
ペクトルから低いエネルギスペクトルまでを含んだいわ
ゆる白色Ｘ線であシ、一方、この各エネルギスペクトル
のＸ線のうち、低いエネルギのものは被検体中で大きく
減衰し、高いエネルギのものは減衰率が低いと云う特性
がある。従って、Ｘ線／４ス中の被検体厚が厚い場合、
低エネルギスペクトルのＸ線は大きく減衰して高エネル
ギスペクトル分のＸ線が残ることになる。これを一般に
線質硬化と云うが、との線質硬化により被検体厚と組成
に応じた減衰を受けたＸ線が検出されるはずのものが、
体厚の厚い部分を通ったＸ線の吸収データは本来の値と
異なったものとなる。

そのため、例えば均質な単一組成の材質の円柱体の断層
面をＣＴスキャナで検査した場合に、均質な濃度の円形
像がＣＴ再構成像として得られるはずのところ、中心領
域側から輪郭部領域へと次第に濃度が変化する像となっ
てしまうなど、不均一な再構成像となる。

これは被検体の検査を行ううえで、誤認を招く原因とな
るので、線質硬化補正（ビームハードニング補正；ＢＨ
補正）を施こして画像再構成を行う。

従来においてはとの線質硬化補正は、まず、放射線検出
素子の検出出力（ｒ／ｒｏ：但し、ＩｏはＸ線パス中に
被検体が存在しない場合の検出出力、ＩはＸ線）４ス中
に被検体が存在する場合の検出出力）から、各Ｘ線・ヤ
ス上でのＸ１１ｇ！の減衰量τｅ　＝　（ｔｎ　Ｔｏ／
ｒ　）を計算し、これに補正を加えて補正済減衰量τを
計算する。これをＢＨ補正と云う。このときの補正量を
示した特性曲線を第７図に示す。

すなわち、図においてＡは単一エネルギスペクトルのＸ
線による補正曲線でアシ、単一エネルギの場合は線質硬
化の影響が無いので、補正■はリニアとなる。Ｂはエネ
ルギ分布のおるＸ線に対する補正曲線であり、減衰量τ
。が大きい、すなわち、被検体透過が大きくなる程、線
質硬化の影響が大きくなるので、この影響分を除くべく
曲線的な特性となる。

この補正曲線は被検体を構成する物質により異なってお
り、通常、被検体の平均的な物質構成により決定される
。

しかしながら、このような従来方式の場合、補正曲線幻
、被検体の平均的な物質構成に近い曲線を用いて補正す
るので、もともと誤差を含んでおシ、被検体透過厚が厚
くなる程、その影響が大きくあられれることから、線質
硬化補正は不完全なもので’ｊｔ＝ｓだ。

従って、均質で円形の被検体を検査した場合、なお、そ
の再構成像は不均一なものとな夛、特にＸ線透過厚が方
向によって大きく異なる細長１′　　　　い断面を持つ
被検体の場合、その傾向はより顕著なものとなる。

これは、物質（元素）により前記補正を表わす曲線が異
なっているため、部分部分で物質の組成（混合率）が異
彦っているような場合、異なる透過経路について同一の
補正曲線を用いること自体に元来、無理があることに起
因している。

また、もう一つの要因としては上記補正特性曲線の選び
方が不適正であることがあげられる。

特に産業用ＣＴスキャナのように様々な被検体を次々に
検をする場合、その都度、各々の被検体に最適な補正曲
線を求めるだめの基礎的測定を行うことが実質的に不可
能であるため、実際には、いくつか用意した補正曲線の
中から最も良さそうな補正曲線を選んで補市するように
していたことがあげられる。

〔発明の目的〕

本発明は上記の事情に鑑みて成されたもので、最適な線
質硬化補正が実施でき、忠実度の高い再構成像を得るこ
とができるようにした放射線断層検査装置を提供するこ
とを目的とする。

〔発明の概要〕

すなわち、本発明は上記目的を達成するためエネルギ分
布に幅を持つ放射線により、被検体の設定した断層面に
ついてその各方向より投影し、その投影後の放射線を空
間分解能をもって検出することにより前記投影方向毎の
放射線吸収データを得、これら放射線吸収データを用い
て画像再構成処理を行って前記断層面各位置の放射線吸
収率に対応した再構成画像を得る装置において、前記投
影方向毎の放射線吸収データより得られる放射線減衰量
分布の積分値を各々前記投影方向毎に、基準とする投影
方向の前記積分値と比較し、その差に応じて各々投影方
向毎に依存する係数を求める機能、各投影方向の前記積
分値をそれぞれ等しくするための予め設定した放射線減
衰量−補正減衰量特性の関数を前記係数で補正して各投
影方向毎の放射線減衰量−補正減衰量特性の関数を得る
機能、この得た関数を用いて対応する投影方向の放射線
吸収データを補正する機能とを備え九線質硬化補正−〇
＋ 手段を設けて成り、との線質硬化補正後の放射線吸収デ
ータにより画像再構成を行うようにしたもので前記投影
方向毎の放射線吸収データより得られる放射線減衰量分
布の積分値を各々前記投影方向においてほぼ等しくする
ための予め設定した放射線減衰量−補正減衰量特性の関
数を用いると共に投影方向毎の前記積分値と基準とする
投影方向の前記積分値との差に応じて各各投影方向毎の
係数を求め、前記関数をこの係数で補正して得た各投影
方向毎の放射線減衰量−補正減衰量特性の関数を用いて
対応する投影方向の放射線吸収データを補正することに
より、投影方向毎に変わる被検体厚による線質硬化の変
化分をその投影方向毎の影響を加味したかたちで補正す
るようにし、これにより最適な線質硬化補正を行りこと
ができるようにして、との線質硬化補正後の放射線吸収
データにより画像再構成を行うことで画質硬化のｔｉ＋
；譬のない良質の画像を得ることができるようにする。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の一実施例について第１図〜第６図を参照
しながら説明する。第１図は本発明による装置の構成を
示すブロック図であシ、とこでは−例として第２世代Ｏ
ＣＴスギャナを例にとって示す。図中１は比較的幅狭の
拡がシ角を有するファンビームＸ線ＦＸを曝射するＸ線
管であシ、２はこのＸ線管１に対峙して配されファンビ
ームＸ線ＦＸの拡がシ幅分にわたシ、複数のＸ線検出素
子を並設して形成したＸ線検出器であシ、空間分解能を
もってＸ線管１からのＸ線強度を検出できる。３はこれ
らＸ線管１およびｘｉ検出器２を固定して保持すると共
にこれらをトラバーススキャンさせるだめの並進フレー
ムである。この並進フレーム３には中央にドラパルスス
キャン方向に伸びる長円の孔３１が設けられておシ、Ｘ
線管１とＸ線検出器２ｔ３１との孔３ａを介して対向し
ている。４は中央に孔４ａを設けた回転フレームであシ
、リング状を呈していて、この回転フレーム４にガイド
４ｂを設けると共にこのガイド４ｂに前記並進フレーム
３を摺動可能に保持させることにより　Ｄ　転７レーム
４上をこの並進フレーム３はトラバーススキャンできる
ようにしてめる・５は回転フレーム４を保持する固定フ
レームでｓｂ、前記回転フレーム４はこの固定７レーム
５上に回転可能に保持されると共に固定フレーム５に設
けた回転駆動部６により回転フレーム４は回転駆動され
る構成としである。また、回転フレーム４には例えばラ
ックとビニオンを利用した並進駆動機構７が設けられて
おり、この並進駆動機構７により、並進フレーム３をト
ラバ−ススキャンさせることができるようにしである。

８は前記回転フレーム４の中央の孔４ｍに配された被検
体載置用のテーブルであシ、９はこのテーブル８上の被
検体である。１０はデータ収集装置であシ、前記放射線
検出器２の各検出素子の出力をＸ線曝射毎に所定時間積
分【２、その積分値からｘｇ透過量（Ｘ線吸収ｉｔ）に
対応するデータを得るものである。１ノは中央処理装Ｒ
（ＣＰＵ　）でアシ、システム全体の制御を司る。

１２は再構成回路であシ、データ収集装置１０により収
集されたデータをもとに前記ＣＰＵ１１の制御下で画像
再構成処理を行うものでおる。この再構成回路１２は第
２図に示す如く構成されている。

すなわち、１２−１は前処理装置でめシ、データ収集装
置１０で収集された各プロジェクション（投影方向）毎
のＸ線吸収データを受けて、とれに対し、対数変換、ｒ
イン補正、オフセット補正等の前処理を施すものである
。１２−２はＢＨ補正装置でおシ、前述した補正曲線に
合わせた補正をこの前処理済みのデータに施こしてＢＨ
補正済みデータを得る。１２−３はＢＨ補助補正装置で
あシ、前記ＢＨ補正装置１２−２により補正されたデー
タに対し、更に目的の補正曲線に対応するように補正を
施こす装置である。

ここでＢＨ補助補正について説明しておく。

一般に放射線が単一エネルギの場合、パラレルビーム（
平行Ｘ線）により各投影方向力・ら被検体を投影した場
合にそれぞれの減衰蓋分布の積分値は投影方向によらず
一定となる。

この様子を第３図に示す。図中ＸＲはノＪ？ラレルビー
ムのＸ線であシ、３０は断面台形状の被検体ｔＤｙｔｊ
：ｙ軸に平行なパラレルビームＸ線で投影して得た被検
体３０の各投影位置ｔでの減衰量である。また、ＤＸは
Ｘ軸に平行なノｆラレルビームＸ線で投影して得た被検
体３ｏの各投影位置ｔでの減衰量であり、ｙ軸方向に投
影した場合と、Ｘ軸方向に投影した場合では被検体３０
の形状、厚みは各々の投影方向で異なるが、Ｄｙの積分
値すなわち、面積ＳＲとＤＸの積分値すなわち、面積ｓ
ｍは等しくなる・とれは同一の断面について投影してい
るからでメジ、単一エネルギＸ線では線質硬化が生じな
いためで、従って、被検体３０の同一断面では投影方向
が異なっても、その断面内でのＸ線の減衰量積分値は皆
等しい。

しかし、実際には使用するＸ線がエネルギ分布を持って
いるために、線質硬化が生じ、Ｓｌと８２は面積が異な
ってしまう。従って、線質硬化補正を行ってその補正を
するが、用いる補正関数が適正でないことからなお、８
１ｐｓｇに面積差が生じる。ＢＴ（補助補正装置１２−
３はこの補正を行うだめのもので、次のような原理によ
る。

第４図は線質硬化補正後の減衰量τのＸ線ビームによる
Ｘ線吸収値の最適補助補正係数ｇ（τ）の特性曲線を示
しておシ、減衰量τに対し、この補助補正係数ｇ（τ）
分を補正することにより適切なＸｍ減衰量とすることが
できて、５ｌｓｓ１１の面積を等しくすることができる
。すなわち、補助補正係数ｇ（τ）と非点対称形状の被
検体断面に対するＸ線の投影方向θに依存する係数にθ
よりなる係数（１＋に０ｇ（τ））を線質硬化補正後の
Ｘ線吸収データに乗じることにより前記ＤＸ、　Ｄ、　
、・・・Ｄｎの各々の積分値である面積８１　　Ｉｓ、
＃・・・Ｓｎがそれぞれ等しくなるようにすることがで
きる。すなわちＴ。を定数として、 が満たされるようににθを求め、 τ’＝（１＋に０ｇ（τ））τ　　　　　　　　・・・
（２）に従って、ある減其電τに対しての補助袖１１ソ
仮の減衰量τ′を求め、以後の再構成用のＸ線吸収デー
タとして用いる。

上記ｇ（τ）は予め定めておく特性曲線で、線質硬化補
正に用いた曲線（関数）から求めることができる。すな
わち、第６図において、曲ｌＩｉ！ＡとＢと差 （τ（τ。）Ｂ−τ（τｏ）Ａ）をｇ（τ。）とするが
、必ずしもこれにこだわる必要は無い。また、Ｔ。

はある任意の投影方向θ。における補助補正なしの減衰
量τの積分値 を使用すれば良く、また、ｋθは で求めることができる。従って、τ′はとのにθを用い
第２式によυ求めることができる。尚、鎖２式は一般式
で表わすと τ’＝ｆ（ｋθ、τ）　　　　　　　　　・・・（５）
で示すことができ、結局、補助補正後減衰量τ′はおる
補正曲線ｇ（τ）を投影方向毎にその投影方向に依存す
る係数、すなわち、その投影方向毎に変わる被検体の透
過厚に依存する係数に応じた曲率変化とする関数に変換
し、これと減衰量ｔとの関係により求められるものであ
る。また、第５式の関係にあれば、第２式に限定される
丸のではなく、実際上、最適な関係ｆ（ｋθ、τ）を選
べば良い。

ＢＨ補助補正装置１２−３はとのような原理に基づき、
ＢＨ補正装置１２−２により求めたＢＨ補正後のＸ線吸
収データを用いて各々にθを求め、このにθを用いてこ
のＢＨ補正後のＸ線吸収データをＢＨ補助補正して、真
のＸ線吸収データを得るものである。

一般的にはＢＨ補助補正は必ずしもＬｏｇ変換後のデー
タτに施こされる必要はなく、ｌｏｇ変換前のデータ”
　ｏ　／Ｉに対して施こしてもよい。

との場合、一般的に補正は式 ％式％（５） 第８図にとの（５′）式に基づく変換曲線（補正曲線）
を示す−との第８図かられかるように、（５′）式で示
した！。／■→τ′の変換を行なうことは各投影方向毎
に異なった変換カーブを用いτＬｏｇ変換を含んだＢＨ
補正を行なうことであると貫うことができる。上記変換
曲線はにθ＝００場合、Ｌｏｇカーブに一致する。

今まで述べた例は１つのパラメータにθを用いる補助Ｂ
ＨＣ補正てあったが、さらに一般的には複数個のノ母う
メータに、θｌｋ２θ・・・等ヲ用いることができる。

補正式はパラメータ２個の場合、 τｌ−！（ｋ、θ、に２θ、τ）　　　　・・・（５“
）で表わせる。

ｋ、θ、に２θの組合せのし方で補正カーブの変位のし
方が異なるように関数ｆを選ぶことができる。この様子
第９図（、）　、　（ｂ）　、　（Ｃ）に示す。

この場合破検体に合せてに１θ、に２θの比率を選択し
、設定しておく。

１２−４はコン前ルパでＩ）Ｆ）、ＢＨ補助補正後のＸ
線吸収データを用いてこれをコンがυａ−シ、ン関数と
コンがリューシ、ン（積和）シ、再構成用の角投影方向
別プロジェクションデータを得るものである。

また、１２−５はこのプロジェクションデータを逆投影
して再構成画像を生成する／？ラックロ１　　　　　ジ
ェクタである。以上の１２−１、〜１２−５で再構成回
路１２が形成される。

再び第１図に戻って説明する。１３は制御コンソールで
アシ、マンマシンインターフェイスとしてＣＰＵ　１１
の制御のもとにシステムに対し各種、駆動制御出力を与
える。１４はＣＲＴディスプレイであシ、−り配回構成
画像の表示やその他必要な情報表示を行うものである。

１５はＸ線制御部でアシ、前記制御コンソール１３より
Ｘ線曝射指令を受けると高圧のパルス電圧を発生してＸ
線管１に与えノ９ルスＸ線を発生させるものである。１
６は機構制御部でおシ、前８６制御コンソール１３より
制御出力を受０て並進駆動部７及び回転、駆動部６の駆
動出力を発生１７、Ｘ線管１とＸ線検出器２とを被検体
９に対ｌ〜、トラバーススキャン及びトラバーススキャ
ン終了毎の所定回転角度単位の回転駆動を行うためのも
のである。

次に上記構成の本装置の作用について説明する。まず、
ＣＰＵ　１１からの指令により、制御コンソール１３は
Ｘ線制御部１５にＸ線曝射指令を与える。するとＸ線制
御部１５は高圧のｉ４ルス電圧を発生し、Ｘ線管１に与
えるので、このＸ線管１からはノ４ルス状で幅狭のファ
ンビームＸ線ＦＸが発生する。

このファンビームＸ線ＦＸは被検体９を介して対向する
Ｘ線検出器２の各Ｘ線検出素子に入射し、各Ｘ線検出素
子からはその入射Ｘ線強度に対応した検出信号が出力て
れ、データ収集装置１０に入力される。すると、このデ
ータ収集装置１０は次のファンビームＸ線が曝射される
までの間に上記検出信号を積分し、その積分値に対応す
るディジタル値に変換する。このディジタル値は検出素
子位置及びトラバース位置に対応付けてそのディジタル
値をＣＰＵ　１１内のメモリに格納される。尚、初期時
においては回転フレーム４及び並進フレーム３は原点位
置にあるものとする。

このようにして１ノ９ルス分のファンビームＸ線ＦＸに
よるＸ線吸収データの収集が終ると次に制御コンソール
１３は機構制御部１６に並進フレーム３の所定ピッチ分
のトラバーススキャンを行わせるべく並進駆動指令を与
え、これによ）機構制御部１６は並進駆動部７に駆動出
力を与えて一上記トラバーススキャンを行わせる。

そして、次に制御コンソール１３はＸ線制御部１５にＸ
線曝射指令を与える。これによりファンビームＸ線ＦＸ
が再び曝射され、上述の如く、データ収集が行われる。

なお、Ｘ線をパルス的に曝射し、トラバーススキャンを
連続的に行なっても同様にデータ収集が実現できる。こ
の動作を繰シ返えして終端側までトラバーススキャンが
行われると、次に制御コンソール１３は回転操作指令を
機構制御部１６に与える。これにより機構制御部１６か
らは所定回転角分、回転フレーム４を回転させるべく駆
動出力を回転駆動部６に与える。従って、回転フレーム
４は被検体９に対し、上記所定回転角度分回転されるの
で、この角度分、ファンビームＸ線ＦＸの投影角度が変
わる。その後、制御コンソール１３よりＸ線制御部１５
にＸ線曝射指令が与えられ、ファンビームＸ１ＦＸの曝
射が行われ、上述のデータ収集が行われる。そして、Ｘ
線曝射毎に今度は逆方向へ順にトラバーススキャンが成
され、末端まで来ると再び、所定回転角度分の回転駆動
が成され、トラバーススキャンが繰り返えきれる。この
ようにして例えば０゜６°刻みで３６０°の方向よりＸ
線吸収データが収集される。

データ収集が終了すると、ＣＰＵ１１は収集したＸ線吸
収データについて、各投影方向別にｚ４ラレルビームを
用いた場合における各検出位置でのＸ線吸収データとな
るよう変換し、このパラレルビーム変換後のＸ線吸収デ
ータを前処理装置１２−１に与えて対数変換、ｒイン補
正、オフセット補正等の前処理が成される。そして、こ
の前処理済みのＸ線吸収データはＢＨ補正装置１２−２
に送られて、ここで線質硬化補正が成される。次にこの
補正後のＸ線吸収データはＢＨ補助補正装ｆ１２−３に
送られ、ここで、これら各投影別の線質硬化補正済みＸ
線吸収データをもとに前記にθが求められ、この求めた
各投影方向別にθを用いて、上述した線質硬化補助補正
をその対応する投影方向の線質硬化補正済みＸ線吸収デ
ータに対して施こし、真のＸｍ吸収データを得る。

このＸ線吸収データはコン日？ルバ１２−４に送られて
コンがリュシロンされた後、パックグロＳ）エクタ１２
−５に送られ、逆投影されて再構成画像が生成される。

この再構成画像のデータはＣＰＵ　１１を介してＣＲＴ
　７”イスルイ１４へと送られ、ここに画像として表示
される。

このように、線質硬化補正後にその補正後のデータより
、補正の誤差分を知）、この誤差分を補正すべく線質硬
化補助補正を加えるようにしたので、従来十分に補正し
きれなかった線質硬化補正を＃？１．は完全なかたぢで
補正できるようになシ、従って、線質硬化による濃度む
らが無くなって、良質の内構成画１象が得られるよりｅ
こなる。

産莱用ＣＴスギ、Ｙすにおいては様々な被検体を次々に
検査する場合が多く、その都度、被検体に最適な線質硬
化補正曲線を選択して用いることは実質的に不可能でお
る。それは、用意しておく線質硬化補正曲線の数が多く
なると云う点と、この補正曲線が最適か選択することが
困難であることによる。

本発明においては、対象とする被検体組成に応じ予め数
種の線質硬化補正曲線を用意して、これより適切と思わ
れる特性曲線を選び、これをもとに線質硬化補正を行っ
て後、その誤差分を除くべく補助補正を加えるので上述
の従来の欠点を補うことができる。

次に本発明の他の実施例について説明する。

画像再構成処理部は実質的にＣＰＵ　１１と再構成回路
１２部分よ構成る。しかも、画像再構成は演算が主体と
なることから、前処理、線質硬化補正、線質硬化補助補
正、コンテリューシ、ン、バックプロジェクションをＣ
ＰＵ　ｆ　１によるソフトウェア処理とすることもでき
る。

もちろん、これらの一部をソフトウェア処理にすること
もできる。また、線質硬化補正装置１２−２を除去して
線質硬化補助補正装置１２−３のみで線質硬化補正を行
うこともできる。

＝９５− この場合の再構成回路１２のブロック図を第５図に示す
。

この場合、線質硬化補助補正装置１２−３は前記第３式
の代シに を用いる。

この方式によれば、線質硬化補正曲線を直接、投影方向
別に最適な特性となるように曲線自体を補正してしまう
ので、先の実施例とほぼ同一の効果を、より簡略化され
た再構成回路で実現することができる。

また、第６図に示すように第２図の構成のうち、ＢＨ補
助補正部分のみをＣＰＵ　１１によりソフトウェア処理
に置き替える構成とすることもできる・この場合、ＢＨ
補助補正部分を除くと従来のシステムの構成であるから
ＢＨ補助補正の処理グロダラムをＣＰＵ　１１に持たせ
、ＢＨ補正後のＸ線吸収データに対してＣＰＵ　１１に
よりＢＨ補助補正を行わせ、コンがルパＪ　Ｊ　−４ニ
与えることで容易に本発明を従来装置に適用することが
可能となる。

同、本発明は上記し、且つ図面に示す実施例に限定する
ことなく、その要旨を変更しない範囲内で適宜変形して
実施し得るものでアシ、例えば上記実施例では第２世代
ＣＴスキャナを例にとって説明したが、第１世代、第３
世代あるいは検出素子を円形に配列してその中心に被検
体を配し、Ｘ線管のみ回転させる第４世代、検出素子を
円形に配列し、その中心に被検体を配すると共に複数の
Ｘ線管を所定間隔で配してＸ線陽射に供するＸ線管を順
次切換えるようにした第５世代ＣＴスキャナなどその他
種々のＣＴスキャナに適用できるものである。（ただし
上記方式の内、扇状ビームでデータ収集するものについ
てはデータはパラレルビームの組にナラびか見られてか
らＢＨ補助が行なわれる。）ま１　　　　た、線質硬化
はエネルギ分布を持つ放射線であれば生ずるのでＸ線に
限らず、エネルギ分布を持つ放射線源を用いたＣＴスキ
ャナ全般にわたって適用可能である。

〔発明の効果〕

以上詳述したように本発明によれば最適な線質硬化補正
が実施でき、良質の再構成ｌ１ｌｉｉ像の得ることので
きる放射線断層検査装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
再構成回路の構成を示すブロック図、第３図は線質硬化
の説明をするための図、第４図及び第８図及び第９図は
線質硬化補助補正用の補正曲線を示す図、第５図、第６
図は本発明の変形例を示す要部構成図、第７図は従来の
線質硬化補正曲線と単一エネルギＸ線による補正曲線を
示す図である・ １・・・Ｘ線管、２・・・Ｘ線検出器、１０・・・デー
タ収集装置、１ノ・・・ＣＰＵ、１１！・・・再構成回
路、１２−１・・・前処理装置、１２−２・・・ＢＨ補
正装置、１２−３・・・ＢＨ補助補正装置、１２−４−
　コンがルパ、１２−５・・・ノ＋、クグロジェＩＩＩ
、１Ｂ・・・制御ｌｌコンソール、１４・・・ＣＲＴデ
ィスプレイ、１５・・・Ｘ線制御部、１６・・・機構制
御部〇出願人代理人　　弁理士　鈴　江　武　彦第１図 第３図 １”Ｉ）ＩＩ ＰＵ 第４図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）エネルギ分布に幅を持つ放射線により、被検体の
   設定した断層面についてその各方向より投影し、その投
   影後の放射線を空間分解能をもって検出することにより
   前記投影方向毎の放射線吸収データを得、これら放射線
   吸収データを用いて画像再構成処理を行って前記断層面
   各位置の放射線吸収率に対応した再構成画像を得る装置
   において、前記投影方向毎の放射線吸収データより得ら
   れる放射線減衰量分布又はその積分値を各々前記投影方
   向毎に基準とする投影方向の放射線減衰量分布又は積分
   値と比較し、その差に応じて各々投影方向毎に依存する
   係数を求める機能、各投影方向の放射線減衰量分布又は
   積分値をそれぞれ等しくするために予め設定した放射線
   減衰量−補正減衰量特性の関数を前記係数で補正して各
   投影方向毎の放射線減衰量−補正減衰量特性の関数を得
   る機能、との得た関数を用いて対応する投影方向の放射
   線吸収データを補正する機能とを備えた線質硬化補正手
   段を設けて成り、この線質硬化補整後の放射線吸収デー
   タにより画像再構成を行うことを特徴とする放射線断層
   検査装置。
2. （２）線質硬化補正は被検体の組成に応じて予め選択し
   た近似の放射線減衰量一補正減衰量特性関数で補正した
   放射線吸収データを用いることを特徴とする特許請求の
   範囲第１項記載の放射線断層検査装置。
3. （３）線質硬化補正は収集した未線質硬化補正の放射線
   吸収データを用いることを特徴とする特許請求の範囲第
   １項記載の放射線断層検査装置。