JPS5839929A - 化学センサ - Google Patents

化学センサ

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JPS5839929A
JPS5839929A JP14255982A JP14255982A JPS5839929A JP S5839929 A JPS5839929 A JP S5839929A JP 14255982 A JP14255982 A JP 14255982A JP 14255982 A JP14255982 A JP 14255982A JP S5839929 A JPS5839929 A JP S5839929A
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JP
Japan
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chemical
senna
beams
sensor
frequency
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JP14255982A
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ジエ−ムズ・マイケル・オコンナ−
ジエス・カ−ル・パツトン
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Bendix Corp
Original Assignee
Bendix Corp
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/02Analysing fluids
    • G01N29/036Analysing fluids by measuring frequency or resonance of acoustic waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/025Change of phase or condition
    • G01N2291/0256Adsorption, desorption, surface mass change, e.g. on biosensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/042Wave modes
    • G01N2291/0427Flexural waves, plate waves, e.g. Lamb waves, tuning fork, cantilever

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は固体化学センナに関し、特にガス・サンプル中
のガス成分の検出に使用するセンナに関するものであっ
て、このセンナは前記ガス成分と選択的に反応する反応
物質が被覆されている少なくとも1つの振動部材を備え
、反応によって被覆物質の質量を変化させ、これKよっ
て振動部材の固有共振周波数を変化させるようにした化
学センナに関するものである。
公知の技術に於て、固体化学センサが特定のガスと反応
及び又はガスを吸収しその物質の導電率が変化すること
が知られている。これらのセンナの代表的なものとして
k・、アメリカ合衆国特許第3.811,432号に開
示の吸収CIり電界効果トランジスタ(ムD)IC?)
、アメリカ合衆国特許第4h161L369号に開示の
薄膜フィルム半導体NOxセンナ、アメリカ合衆国特許
第4.000,435号に開示の酸化チタン・センナ、
及びアメリカ含水素センナがある。他の種類の固体化学
センサとして、紘、アメリカ合衆国特許第3,164,
004号、第3.260,104号、第3.744.2
96号及び第3.828,607号に開示の被覆圧電水
晶センサがある。これらのセンサに於ては、圧電水晶が
、特定のガス成分と選択的に反応する物質で被覆されて
おシ、よってこの被覆物質の質量を変化させ結果的に被
覆されている水晶の固有共振周波数を変化させている。
水晶発振回路により被覆された水晶はその共振周波数で
振動し、被覆(膜)と反応したガス成分の量を表わす周
波数の出力信号を発生する。
本発明の基本的な目的は、公知のセンナよシ優れた感度
を有すゐ被覆振動部材を用いた化学センナを提供するこ
とにある。
この目的は、本発明によれば、上記した化学センナでは
、振動部材は振動できるように支持体に固定されておシ
、少なくともその一表面が反応物質で被覆されているビ
ームを備え、このビームは発振器によシその固有共振周
波数で振動され、更にビームはその振動を検出するため
にビームの振動周波数に等しい周波数成分を有する共振
周波敷金発生するセンナ手段に接続されている。好適に
はこの共振周波数は発振器内で増幅され、発振器は、ビ
ームがその共振周波数で発振を維持できるように、ビー
ム上に力を発生させる友めの手段に供給される出力信号
を発生させる。
本発明の化学センナの特徴の1つは、かた持ちはシされ
た(一端が固定された)ビームの固有共振周波数の変化
は化学的に反応するように処理された表面と反応したガ
ス成分の量に反比例すゐということである。他の特徴は
かえ持ちばりされたビーム構造及びこれと協働する電子
回路は1つの半導体チップ内に収納できるという仁とで
ある。
他の特徴は、構造全体及び協働する電子回路状今日の半
導体及び集積回路技術を用いて製造できるとりうことで
ある0、他の特徴は、センナは複数Oかた持ちばシされ
たビームを備えており、これらビームの各々は異なるガ
ス成分に鯉して・反応する反応物質で感度が付与されて
いるか、又はセンサには基準カンチレバー!ビーム及び
基準信号を発生するための電子回路が備えられている。
他の特徴は、1つの半導体チップ上に製造された協働す
る回路は、ミキサー回路を備えておシ、このミキサー回
路は、化学的反応又は吸収の結果が重責(体積)の増加
として表われる表面を有する各ビームの固有振動数の変
化を表わす周波数を有する信号を発生する。
以下、本発明を実施例に従って詳述する。
館1図及び第2図は化学センナの平面図及び側断藺図で
ある。薄膜シリコンすなわち二酸化シリスン・カンチレ
バー・ビーム10がシリコン基板14内のエツチングさ
れたくほみ12に固定されてvhろ、このシリコン基板
14は導電ベース素子1@に*D付けられている。この
ペース素子は第2図に示し良ようにメタル・プレート又
はシリコン又は水晶プレートから形成されておシ、カン
チレバー・ビーム10に隣接する表面に装置された導電
性メタル電極ITを備えている(第4図参照鬼ピエゾ抵
抗ブリッジ20の様なひずみ(抵抗)センサが片持ちば
シされた又杜ベース端に隣接すゐビーム上に配置されて
いる。ブリッジ20の個々の圧電抵抗素子は、公知の技
術を使用して、シリコン表両上に拡散又はイオン打ち込
みされている。圧電抵抗ブリッジの四隅は端子22,2
4゜26及び28に接続されている。ブリッジ20は、
バッテリー18として図示されている、端子26及び2
8関に電位差を供給する電源によシ付勢されておシ、端
子22及び24間にビーム10の振動周波数に対応する
周波数成分の出力信号を発生する。
ビーム10の上表面は、可逆又は非可逆モードで分析さ
れるガスの特定成分と化学的に反応又は吸収する反応物
質30の層で感度が付与されている。これとは異なシ、
センナの検出感度を増加させるために、ビーム10の全
表面を反応物質で覆って感度を付与することができる。
発振回路340入力にはブリッジ20の出力端子22及
び24、及びバッテリー18からの電源が接続されてい
る0発振器34の出力は出力端子s6及び導電ベース素
子16に隣接するカンチレバー・ビーム10の底側に配
置されている電極32に接続されている。好適な実施例
に於ては、発振回路34は通常の集積回路技術を用いて
、直接基板14の表面に形成されている。
動作時には、圧電抵抗ブリッジ20は振動するカンチレ
バー・ビーム100周波数に対応する周波数を有する発
振信号を発生する。この出力信号は電極s2に供給され
る出力信号を発生する発振回路34により受信される。
電極32に供給される出力信号はカンチレバー書ビーム
10とペース・プレート1@間に振動する電界を発生し
、ビーム10上に静電力を付与する。発振回路34は必
要な位相シフト能力を有していると考えられるので発生
された静電気力はビーム1Qをその固有共振周、波数に
維持する。カンチレバー・ビーム10はハートシー又は
コルピッツ発振器又はピアース盟発振器の圧電水晶と等
価である。
カンチレバー・ビームの基本的共振周波数は;t−0,
16(”/a)  (t/x、リ     (1)で定
まる。但し: Eはシリコンのヤング係数、 Iはシリコンの豐直、 を社ビーム9庫さ、及び Lはビームの長さ、である。
t−36μrn e L −B 50 j’m O代表
的な実施例の場合、ビーム100共振周波数1f′は3
20KHzである。
反応物質300層が反応する特定の成々を含む分析する
ガス・サンプルにセンナなさらすと、特定のガスは層3
0と化学的に反応するか又は層に吸収される。以下に使
用する「反応」という用語は、反応物質と特定成分との
化学的反応又は吸収、及びその両方を意味するものとす
る。この反応したガスはビーム10の質量を増加させる
Phys、 17g、457(104)  のZK於け
るgau@r−br*F O教示によれば、反応したガ
ス成分による質量の増加ノmによみビームの共振周波数
の変化4fは: ノt/lm−Am1tムρ             
(匂で表わされる。但し、ムは被覆された表面積であ、
l)、f、を及びρ嬬等式(1)で定義されたものであ
る。ビームの厚さt−35μm、ビームの長さL=35
0AIms及びビームの幅W”100μmの場合のセン
ナの質量変化に対する感度は反応成分1マイクログツ轟
轟シ約113KHzである。従って反応した成分の量ノ
mはかた持ちばシされたビーム10の共振周波数の変化
から直接決定できる。
第3図及び第4図には化学センナの別の実施例が示され
ている0両方のセンナの実施例で共通する部材に紘同じ
符号を付しである。第8図及び第4図に示した実施例に
於て、ひずみセンサ20は電圧分配器を形成する直列接
続畜れた圧電抵抗素子50及び52から構成されている
。圧電抵抗素子50はかた持ちばシされたビーム1(j
の先端表面に配置されてシシ、一方圧電抵抗素子52は
シリコン基板14の先端表WIf−配置されている。圧
電抵抗ブリッジと共に、素子so及び52は、拡散又は
イオン打ち込み技術を用いてシリコン基板及びビームの
表11KII接形成することができる。
端子S4及びS6間に接続されているバッテリー1$の
様に、電源からの電位差が直列接続された圧電抵抗素子
50及び520両端に供給されている。圧電抵抗素子s
Oo抵抗はビーム1oの振動により変化し、接続点s8
にビーム10の振動周波数に対応する周波数を有する振
動信号を発生する。接続点58に於ける信号は、ビーム
10の底部上に配置された電極32に供給される出力信
号を発生する発振回路34に入力される。上記した様に
1電極32に供給され九出力信号はかた持ちば抄された
ビーム10とペース・プレート16上の薄膜フィルム電
極間に振動する電界を発生し、ビーム10の振動をその
固有共振周波数に維持する静電力を発生する0発振回路
34の出力はまた、出力端子36に接続されている。第
1図及び第2図に示した実施例のように、発振回路34
はシリコン基板上に直接形成することも、又は全く別個
Ki#成することもできる。
第3図及び第4図に示した実施例は更に1ビーム10上
の上II!厘に電電され九ヒータ一部材4゜を備えてい
る0反応物質300層はヒータ一部材40上に配置され
ている。ヒータ一部材を設けたことによシ加熱されるビ
ームが吸収されたガス分子を追い払い、よってセンナを
再生させることができる。これとは異なシ、ヒーターを
反応物質の層を、反応物質と分析するガスの選択された
成分間で反応が容易に行なわれる温度まで加熱するため
に使用することもできる。これは反応物質の反゛♂及び
/又は吸収プロセスの速度が遅い冷い環境下でセンナを
動作させ゛る際に非常に有効である。
ヒータ一部材は、駿化すずの様な、抵抗物質の薄膜層か
ら構成されておシ、第3図に示す様に、−組の並行電極
42及び46間に配置されている。
電源は、それぞれ、電極42及び46に接続されている
端子44及び48を介してヒータ一部材に供給されてい
る。
これとは異なシ、区−タ一部材40は第5図に示すよう
にビーム10の上lI藺に配置されている抵抗素子の組
合わせ60とすることもで龜る。第3図に示した実施例
のように1ヒ一タ一部材IOへの電源は導電電極42及
び46を介して供給される。
第6図には、第1図から第4図までに示した2つのかた
持ちばりされたビームを有する化学センナの他の実施例
が示されている。この2つのビームの寸法は、両方とも
同じ固有共振周波数を有するように選択されている。こ
の実施例に於ては、ビーム110のみが分析するガスの
選択された成分と反応する反応物質300層を有する。
もうlりのビーム112は反応物質の層を備えておらず
基準信号発振器として機能する0両方のビーム110及
び112とも関連するひずみセンサ120及び122を
それぞれ備えておシ、これらのセンtはかた持ちばシさ
れ支持されている端部に隣接する上表面上に配置されて
いる。、これらの9ずみセンナは第1図に示した圧電抵
抗ブリッジ、第3図に示した圧電抵抗電圧分配器、又は
1つの圧電素子である。
第1のビーム110と関連するひずみセンナ120の出
力は第1の発振回路134で受信され、この発振回路は
リード136を介してビーム110の底部上の電極に接
続されている線に出力を供給する。
同様にしてひずみセンサ122の出力は第2の発振回路
144により受信されており、この発−回路の出力はリ
ード146を介してビームの底部上の電極に接続されて
いる。
第1の発振回路134及び第2の発振回路144の出力
はまた通常の構成のミキサー回路150に受信されてい
る7<、キナ−回路15Gはこの2つの受信された出力
信号を混合し、端子162上に第1の発振回路から受信
された信号の周波数と第2の発振回路から受信された信
号の周波数の差信号を発生する。
ビーム110の表面上の反応物質30の層がガス・サン
プル中の選択された成分と反応するにつれてビームの質
量の変化Δmが生ずる。°等式(2)により、ビーム1
10の共振周波数は質量の変化Δmに反比例して変化す
る。そして第1及び第2の発振回路により発生される周
波数は異なるようになり、ミキサ−回路150からの信
号はガス−サンプルの反応成分の量又は質量に比例する
周波数となる。
第6図に示し九セ/すの二重ビーム構成は、温度、ひず
み、又は重力の偏移祉両方のビームに同じように影響を
与えるので、比較的これらの影響を受けにくくなり、ミ
、キサナ回路150により発生される信号の周波数差は
ビーム1100表面上に配置された反応物質と反応した
成分の量に比例したまま維持される。
第6図に示したセ/すの二重ビーム構成はまた、ビーム
110上に配置された反応物質が水又は酸化カーボン等
の第2のガス成分に対して反応する場合に特定のガス成
分を分離することができる。特定のガス成分の反応によ
シ生じた周波数変化のみに対してビーム1100周波数
応答を分離するために、ビーム112は水及び/又は酸
化カーボンに対して反応する反応物質の層を含んでおり
、サンプル中の水及び/又は酸化カーボンによゐビーム
110及び112の共振周波数の変化が等しくなるよう
に構成されている。従って、電キサー回路150からの
周波数差出力は、サンプル中の水又は酸化カーメンとは
独立して、ビーム110の反応層と反応又は吸収されf
#−特定のガス成分の量のみに比例することになる。
第7図には、化学センサのマルチビーム構成の実施例が
示されている。センナはシリコン基板内に形成されたく
ぼみに固定されている複数個のかた持ちばりされたシリ
コン・ビーム110〜118を備えている。傭AOビー
ムの構造は第1図から第41Eltでに示したものと醇
価であり、それぞれ関連するひずみセンナ及び発振回路
を備えている。
図に於て、ビーム112は反応物質の層は示されていな
いが、ひずみセンサ122とは接続されており、発振回
路144は基準信号発生器として機能する。
ビーム11@ aガス成分AIf一応答する第10反応
物質により感度が付与されており、ひずみセンサ120
及び関連する発振回路134を備えている。ビーム1.
14はガス成分BK対して応答する第2の反応物質で感
度が付与されておシ、ひずみセンサ124及び関連する
発11回路1!I4を備えている。ビーム116はガス
成分CK対して反応する第3の反応物質で感度が付与さ
れておシ、ひずみセンサ及び関連する発振回路164を
備えている。ビーム118はガス成分C及びDに反応す
る第4の反応物質により感度が付与されている。
発振回路134及び144の出力はガス成分Aの量に比
例する周波数を有する信号を発生する。発振回路144
及び154の出力はガス成分Bの量に比例する周波数を
有する信号を発生する。同様にして、発振回路144及
び164の出力はミキサー回路170によシ受信され、
発振回路はガス成分Cの量に比例する周波数を有する信
号を発生する。同様の方法により、発振回路164及び
174の出力はミキサー回路1魯2によシ受信され、ミ
キサー回路はガス成分りに比例する周波数を有する信号
を発生する。
jキ?−回路150,11!6,170及び110によ
〉発生された周波数信号は記憶装置110内に入力され
記憶されるか又は関連すゐビーム上の反応物質と反応又
は吸収された選択されたガスA、B、C及びDの量を°
可視的Kll示するように較正されている表示装置20
0に入力される。記憶装置190は受信された信号の周
波数を表示するデジタル信号で記憶する半導体メ417
−か又は周波数を直接記憶する磁気テープである。表示
装置200はブラウン管又はLID又は液晶表示パネル
の様な半導体可視表示パネルである。
分析すべきガスの1つもしくはそれ以上の成分と反応す
ることができる種々の反応物質があることが知られてい
るe J、l11ava7及びG、G、Gullbau
ltによって著わされた〇分析化学への圧電水晶検出器
の応用”分析化学Tel、49.It 134977年
11月。
1’P’189G−4898K報告されているように、
8i(h被覆は水分検出に、トリエタノールアミンは8
020検出に、塩化第2鉄はジイソプリメチール・ホス
ホン塩酸(l!虫剤)を検出するために、銀塩を含むア
スコルビン酸はアンモニアを検出するために用iられる
。この刊行物にはビーム1Gの表面に付着する反応表面
として使用される他の種々の被覆が開示されてiる。他
の種類の反応被覆はアメリカ合衆国特許第3,164,
004号、3,260.104号、3,266.291
号及び第3.744.296 号に開示されている。
これらの被覆(コーティング)は、ビーム1゜の表面に
、噛霧、塗布、浸染、イオン注入、又は蒸気付着等の物
理的手段によシ付着される。しかし、可能ならばコーテ
ィングはビーム表面と化学的に結合したほうが良い。化
学的結合はコーティングをビームの表面上の活性分子又
は原子グループと化学的に反応させることにより行なう
ことができる。前記した様に、反応物質30の層は、第
1図及び第2図に示した様にビーム10の先端表面のみ
に形成されている。しかし、ビームの全表面に層を形成
することによシ感度を向上させることができる。
以上本発明を、特定の物質を用いた、振動するビームを
有する化学センナの構成として説明してきたが、本発明
はこれら図示され説明された範囲に限定されるものでは
ない。
【図面の簡単な説明】
シ、第2WAは第1図に示した化学センサの線2−2の
断面図であり、第3図は本発明に係る化学センナの他の
実施例の平面図であシ、第4図は第3図に示した化学セ
ンナの線4−4の断面図であり、第5図はかた持ちばυ
されたビームの上表面上に配置された組み合わせヒータ
ー素子を有するセンナの部分平面図であり、第6図は本
発明に係る二重ビーム・センサの平面図であシ、第7図
は複数個のビームを有するセンナの平面図である。 10・・・・ビーム、12・拳・・<ホミ、14・・・
・シリコン基板、16・・・・ペース素子、17・・・
・電極、111・・・・バッテリー、20・・・・ブリ
ッジ、22,24,26.211  ・・・・端子、3
0・・・・反応物質、32・・・・電極、34−・・・
発振回路、36・・・・出力端・・・圧電抵抗素子、5
4,58・・・・端子、6041・・・ヒーター素子。 4シ FIG、2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (11一つのガス成分と選択的に反応を起し、この反応
    によってその質量に変化を生ずゐ反応伺質によって被覆
    されえ少なくとも−りの振動部材を有し、前記選択反応
    によって振動部材の固有共振周波数が変化すゐようにし
    九ガス・サンプル中の少なくとも一つのガス成分を検出
    すゐ化学セン?に於いて、前記振動部材は振動できるよ
    うに支持構体(14)に懸垂したビーム(10)からな
    り、このビームの少なくとも1表面は反応物質の層(3
    0)で被覆され、発振s (34)によりその固有共振
    周波数で振動され、更にセンナ手段(20)と協働して
    その振動数を検出し前記ビームの振動濁波数に等しい周
    波数成分を有する共振周波数信号を発生させる、ことを
    特徴とする化学センナ。 (2)共振周波数信号は出力信号を発生するために発振
    l5(34)で増幅され、この出力信号に共振周波数で
    ビーム(10)が振動するのを維持するための力を発生
    させるための手段(11i、$2)に供給されることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の化学センナ。 (3)前記力を発生させるための手段は、ビーム(10
    )の−表面上に配置された第1の電極(32)とこの電
    極に隣接して設けられた支持構体(14)により固定さ
    れている第2の電極から構成されており、前記出力信号
    は前記第1及び第2の電極間に供給されておシそれらの
    間にビーA (10)の振動を維持するためにビーム上
    に振動静電気力を発生することを特徴とする特許請求の
    範囲第2項に記載の化学センナ。 (4)ビーム(10)は支持構体(14)に固定されて
    いるベース端部と自由な他端1.を有するかfC#ちば
    bされたビームであることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項〜第3項のいずれか1項に記載の化学センナ。 (5)前記支持構体(14)及びか九持ちばりされたビ
    ーム(10)は一体構造であることを特徴とする特許請
    求の範囲第4項に記載の化学センサ。 (6)前記一体構造(10,14)は半導体物質から構
    成されていることを特徴とする特許請求の範囲第5項に
    記載の化学センナ。 (7)更に1反応物質の層(30)を加熱するためにビ
    ーム(10)の−表置上にヒータ一手段(4o)が配置
    されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項〜第
    6項のいずれか1項に記載の化学センナ。 (8)前記支持基板(14)の厚みはビーム(1◎)の
    それよシも大きく貫通する開口(12)を有しておシ、
    かた持ちばシされたビームが前記間Qの一端上に支持さ
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第4項〜第7
    項のいずれか1項に記載の化学センナ。 (9)前記第2の電極(1s)は前記開口(12)の他
    端を被覆するメタル・グレートであることを特徴とする
    特許請求の範囲第8項に記載の化学センナ。 舖前記センナ手段(20)及び発振器(84)は前記一
    体構造(10,14)の表面に直接形成されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第5項〜第9項のいずれか
    1項に記載の化学センサ。 (In前記センナ手段(20)は、前記一体構造(14
    )に隣接するビーム(10)のベース端に形成されてい
    る圧電抵抗ブリッジであることを特徴とする特許請求の
    範囲第10項に記載の化学センナ。 (13前記センサ手段(20)a前記一体構造(14)
    に隣接するビーム(10)のベース端に配置されている
    二重素子電圧分配器(sO,52)であることを特徴と
    する特許請求の範囲第1O項に記載の化学センサ。 0センサは同じ初期共振周波数を有する2つのビーム(
    110、112)を備え、このビームの各々は対応する
    発振器(134,144) 、センナ手段(120゜1
    22)及び前記2つのビーム(110,112)の共振
    周波数に応答するミキサー回路(150)と接続されて
    お)、前記ミキサー回路はこれらの共振周波数の差に等
    しい周波数成分を有する出力信号を発生することを特徴
    とする特許請求の範囲第1項〜第12項のいずれか1項
    に記載の化学センサ。 I前記2つのビーム(110,112)は外なる反応物
    質の層が被覆されていることを特徴とする特許請求の範
    囲第13項に記載の化学センナ。 a9前記2ツoビーム(110,112)O1ツに被覆
    されている反応物質の層は分析するガス・サンプルの第
    1及び第2の成分と反応することを特徴とする特許請求
    の範囲第14項に記載の化学センサ。 (teセンサは更に分析するガス−サンプルの異なる成
    分と反応する反応物質の層が被覆されている複数個のビ
    ーム(110,112,114,116,118)を備
    え、各ビームは対応する発振器(134,144,15
    4,114゜174)及びセンサ手段(120,122
    ,124,126,128)と接続されていることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項〜第12項のいずれか1
    項に記載の化学センサ。 αで更に反応物質の層が被覆されていない基準ビーム(
    112)を備え、この基準ビームは基準発振器(144
    )及び基準センサ手段(122)と接続されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第16項に記載の化学セン
    サ。 舖更に前記ビーム(110,114,116,118)
    の各々の共振周波数に応答するミキサー回路(150,
    1110゜170.1110)を備え、前記基準ビーム
    (112)は各ビームの出力信号を発生し、各出力信号
    は接続されているビームの共振周波数と基準ビームの共
    振周波数との差に等しい周波数成分を有する出力信号を
    発生することを特徴とする特許請求の範囲第17項に記
    載の化学センナ。 餞前記ビームの少なくとも1つ(118)は分析するガ
    ス・サンプルの2つの異まる成分と反応する反応物質の
    層が被覆されておシ、前記ビームの第2(116)は前
    記2つの異なる成分の1つのみに反応する反応物質の層
    が被覆されており、セ/すは更に共振周波数間の差に尋
    しい周波数成分を有する前記第1および第2のビーム(
    1ta、11s)の共振周波数に応答する出力信号を′
    発生するためのミキサー回路(180)を備えているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第18項に記載の化学セ
    ンナ。 (至)前記接続されていゐ発振器とセンナ手段、基準発
    振器とセンナ手段の各々゛は接続されているビームの共
    振周波数を表わす出力信号及び基準ビームのそれをそれ
    ぞれ発生し、前記ミキサー回路は前記発振器及びセンナ
    手段によシ発生された出力信号に応答することを特徴と
    する特許請求の範囲第18項又は第19項の記載の化学
    センナ。
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