JPS5838443A - クロマトグラフ質量分析計のガス流遮断装置 - Google Patents
クロマトグラフ質量分析計のガス流遮断装置Info
- Publication number
- JPS5838443A JPS5838443A JP56135859A JP13585981A JPS5838443A JP S5838443 A JPS5838443 A JP S5838443A JP 56135859 A JP56135859 A JP 56135859A JP 13585981 A JP13585981 A JP 13585981A JP S5838443 A JPS5838443 A JP S5838443A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- electromagnet
- mass spectrometer
- gas flow
- nozzle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0495—Vacuum locks; Valves
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はクロマトグラフ質量分析計ｆこ３いてクロマト
グラフから質量分析計に流入するガスを遮断する装置に
関する。
グラフから質量分析計に流入するガスを遮断する装置に
関する。
クロマトグラフ質量分析計ではキャリヤガスとか溶媒等
が質量分析計に流入するのを避けるため、クロマトグラ
フから試料成分が流出している期間以外はクロマトグラ
フと質量分析計とを接続するガス流路を閉じるようにし
ている。このためクロマトグラフと質量分析計との間に
設けらね。ているキャリヤガス除去のためのジェット型
分子セパレータの対向ノズル間に出入可能にプレートを
設け、質量分析計へのガスの流入を遮断するときは同プ
レートを対向ノズル間に進出させるようにしたガス流遮
断装置が用いられている。所で従来のこの種の装置はプ
レートを真空外から機構的に操作する構造であったから
気密保持のため構造が複雑番こなり、プレートがプレー
トを保持している棒に固定されているためプレートを対
向ノズルの間に位置させたときでもノズルとプレートと
の間１こは隙間があって質量分析計へのガス流入の遮断
が完全でなく、またプレートがクロマトグラフ側ノズル
から噴出する気流Ｉこ押され、高真空である質量分析計
側のノズルに吸着けられるためプレートと保持棒との間
の取付けに曲りを生じたり時には折損したりする故障が
あった。本発明は従来装置の上述したような問題点を解
消しようとするものである。
が質量分析計に流入するのを避けるため、クロマトグラ
フから試料成分が流出している期間以外はクロマトグラ
フと質量分析計とを接続するガス流路を閉じるようにし
ている。このためクロマトグラフと質量分析計との間に
設けらね。ているキャリヤガス除去のためのジェット型
分子セパレータの対向ノズル間に出入可能にプレートを
設け、質量分析計へのガスの流入を遮断するときは同プ
レートを対向ノズル間に進出させるようにしたガス流遮
断装置が用いられている。所で従来のこの種の装置はプ
レートを真空外から機構的に操作する構造であったから
気密保持のため構造が複雑番こなり、プレートがプレー
トを保持している棒に固定されているためプレートを対
向ノズルの間に位置させたときでもノズルとプレートと
の間１こは隙間があって質量分析計へのガス流入の遮断
が完全でなく、またプレートがクロマトグラフ側ノズル
から噴出する気流Ｉこ押され、高真空である質量分析計
側のノズルに吸着けられるためプレートと保持棒との間
の取付けに曲りを生じたり時には折損したりする故障が
あった。本発明は従来装置の上述したような問題点を解
消しようとするものである。
本発明はプレートを真空内即ち分子セパレータ内空間と
連通した空間内で電磁石によって操作するようにすると
共番こ、プレートと電磁石の可動鉄芯との結合を自由な
結合部こしてプレートに無理な力が作用するのを避けか
つプレートが質量分析計側ノズル端面に自由に浴い得る
ようにしたガス流遮断装置を提供するものである。以下
実施例Ｉこよって本発明を説明する。
連通した空間内で電磁石によって操作するようにすると
共番こ、プレートと電磁石の可動鉄芯との結合を自由な
結合部こしてプレートに無理な力が作用するのを避けか
つプレートが質量分析計側ノズル端面に自由に浴い得る
ようにしたガス流遮断装置を提供するものである。以下
実施例Ｉこよって本発明を説明する。
第１図はガスクロマトグラフ質量分析計の構成の概略を
示す。■はクロマトグラフのカラム、４゜は質量分析計
で両者を接続するガス流路において、２は分子セパレー
タ、３がガス流遮断装置である。
示す。■はクロマトグラフのカラム、４゜は質量分析計
で両者を接続するガス流路において、２は分子セパレー
タ、３がガス流遮断装置である。
分子セパレータ及びガス流遮断装置は夫々図外の排気ポ
ンプに接続されている。第２図は本発明の一実施例装置
を示す。第２図において右側に第１図に示す分子セパレ
ータが接続され、左側に質量分析計が接続される。従っ
てこの図ではガスの流れの方向は右から左へ向っている
。５はクロマトグラフ側ノズル、６はノズル５と対向す
る質量分析計側ノズルであり、これらのノズルを囲む空
間は排気管１２を介して排気ポンプ（不図示）に接続さ
ね、ている。７はガス流遮断用プレートであり、電磁石
の可動鉄芯９に取付けられた保持体８の下端番こ吊下げ
られている。可動鉄芯９は案内筒１５内に収納され、案
内筒１５は電磁石装置本体１６に気密に取付けられてい
る。従って鉄芯９は外気とは遮断されてガス流路と連通
した空間内憂こあり、案内筒１５の外側に電磁石巻線１
０が装着されて真空外から操作される。図は巻線ｌＯに
通電していないガス流遮断時の状態を示しており、プレ
ート７は対向するノズル５．６の間に下降し、ノズル６
の端面を塞いでいる。巻線ｌＯに通電すると鉄芯９が引
上げられ、それによってプレート７がノズル５，６間か
ら上方に引上げられる。
ンプに接続されている。第２図は本発明の一実施例装置
を示す。第２図において右側に第１図に示す分子セパレ
ータが接続され、左側に質量分析計が接続される。従っ
てこの図ではガスの流れの方向は右から左へ向っている
。５はクロマトグラフ側ノズル、６はノズル５と対向す
る質量分析計側ノズルであり、これらのノズルを囲む空
間は排気管１２を介して排気ポンプ（不図示）に接続さ
ね、ている。７はガス流遮断用プレートであり、電磁石
の可動鉄芯９に取付けられた保持体８の下端番こ吊下げ
られている。可動鉄芯９は案内筒１５内に収納され、案
内筒１５は電磁石装置本体１６に気密に取付けられてい
る。従って鉄芯９は外気とは遮断されてガス流路と連通
した空間内憂こあり、案内筒１５の外側に電磁石巻線１
０が装着されて真空外から操作される。図は巻線ｌＯに
通電していないガス流遮断時の状態を示しており、プレ
ート７は対向するノズル５．６の間に下降し、ノズル６
の端面を塞いでいる。巻線ｌＯに通電すると鉄芯９が引
上げられ、それによってプレート７がノズル５，６間か
ら上方に引上げられる。
第３図はプレート７と捧８との結合構造を示す。
捧８の下端はフォーク１３になっており、フォーク１３
の両脚から第２図で左方に水平に腕１４が突出させてあ
り、プレート７は孔１４．’ｌこよりこの腕にゆるく吊
下げられている。このためプレート７は揺動できると共
に腕１４に沿って第２図番こおいて左右方向即ちノズル
５，６の軸線方向に移動できる。従って第２図に示すガ
ス流遮断位置番こおいてはプレート７Ｉこは右側図外の
分子セパレータ流出ガスがノズル５によって再び噴流と
なって衝突し、自身は左方に押されてノズル６の端面に
当り、ノズル６の左方は質量分析計で高真空であるから
、プレート７はノズル６の端面に無理なく吸着されてノ
ズル６の開口を完全に塞ぐ。ノズル５から噴出したガス
はプレート７Ｉこ当って発散し排気管１２を経て図外の
排気ポンプにより排出される。
の両脚から第２図で左方に水平に腕１４が突出させてあ
り、プレート７は孔１４．’ｌこよりこの腕にゆるく吊
下げられている。このためプレート７は揺動できると共
に腕１４に沿って第２図番こおいて左右方向即ちノズル
５，６の軸線方向に移動できる。従って第２図に示すガ
ス流遮断位置番こおいてはプレート７Ｉこは右側図外の
分子セパレータ流出ガスがノズル５によって再び噴流と
なって衝突し、自身は左方に押されてノズル６の端面に
当り、ノズル６の左方は質量分析計で高真空であるから
、プレート７はノズル６の端面に無理なく吸着されてノ
ズル６の開口を完全に塞ぐ。ノズル５から噴出したガス
はプレート７Ｉこ当って発散し排気管１２を経て図外の
排気ポンプにより排出される。
本発明装置は上述したような構成で、プレート７が支持
棒の端１こノズルの軸方向移動可能に吊り下げられた状
態で取付けられているので、ガス流遮断位置においてプ
レートと保持体との間には何等の無理な力も作用せず、
プレートは自由に高真空側ノズル開口端に浦って吸着さ
れるからガスの遮断が完全であり、例えば第１図でカラ
ム■を取外してプレート７の右側（第２図において）が
大気圧になったような場合でも高真空側の真空を維持さ
せることができ、プレートと保持体との間が剛体的な結
合でないからプレートと保持体との間の結合部が曲った
り或は折損すると云った故障がなくて信頼性が高く、真
空内の鉄芯を電磁的に駆動してプレートの操作をするの
で外部から機構的に操作する構造に比し構造が簡単であ
り安価である。
棒の端１こノズルの軸方向移動可能に吊り下げられた状
態で取付けられているので、ガス流遮断位置においてプ
レートと保持体との間には何等の無理な力も作用せず、
プレートは自由に高真空側ノズル開口端に浦って吸着さ
れるからガスの遮断が完全であり、例えば第１図でカラ
ム■を取外してプレート７の右側（第２図において）が
大気圧になったような場合でも高真空側の真空を維持さ
せることができ、プレートと保持体との間が剛体的な結
合でないからプレートと保持体との間の結合部が曲った
り或は折損すると云った故障がなくて信頼性が高く、真
空内の鉄芯を電磁的に駆動してプレートの操作をするの
で外部から機構的に操作する構造に比し構造が簡単であ
り安価である。
第１図はガスクロマトグラフ質量分析計の構成を示す略
図、第２図は本発明の一実施例装置の縦断側面図、第３
図は上記における要部斜視図である０ ５．６・・・対向ノズル、７・・・ガス流遮断用のプレ
ート、８・・・プレート７を保持する棒、９・・・鉄芯
、１０・・電磁石巻線、１５・・・鉄芯９の案内筒。
図、第２図は本発明の一実施例装置の縦断側面図、第３
図は上記における要部斜視図である０ ５．６・・・対向ノズル、７・・・ガス流遮断用のプレ
ート、８・・・プレート７を保持する棒、９・・・鉄芯
、１０・・電磁石巻線、１５・・・鉄芯９の案内筒。
Claims (1)
- クロマトグラフと質量分析計とを接続するガス流路の途
中に設けられた対向ノズルの間にガス流を遮断するため
のプレートを出入自在に設けたクロマトグラフ質量分析
計（こおいて、上記プレートを電磁石の可動鉄芯にノズ
ルの軸線方向番こ移動自在に保持させ、上記電磁石の可
動鉄芯を外気から隔離さ４上記分子セパレータ内空間と
連なる空間内に位置させたクロマトグラフ質量分析計の
ガス流遮断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56135859A JPS5838443A (ja) | 1981-08-29 | 1981-08-29 | クロマトグラフ質量分析計のガス流遮断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56135859A JPS5838443A (ja) | 1981-08-29 | 1981-08-29 | クロマトグラフ質量分析計のガス流遮断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5838443A true JPS5838443A (ja) | 1983-03-05 |
| JPH0228225B2 JPH0228225B2 (ja) | 1990-06-22 |
Family
ID=15161432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56135859A Granted JPS5838443A (ja) | 1981-08-29 | 1981-08-29 | クロマトグラフ質量分析計のガス流遮断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5838443A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4808819A (en) * | 1987-02-03 | 1989-02-28 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometric apparatus |
| GB2574725A (en) * | 2018-06-01 | 2019-12-18 | Micromass Ltd | A GC/MS arrangement and mass spectrometer |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51131286U (ja) * | 1975-04-16 | 1976-10-22 | ||
| JPS5414556U (ja) * | 1977-07-01 | 1979-01-30 |
-
1981
- 1981-08-29 JP JP56135859A patent/JPS5838443A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51131286U (ja) * | 1975-04-16 | 1976-10-22 | ||
| JPS5414556U (ja) * | 1977-07-01 | 1979-01-30 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4808819A (en) * | 1987-02-03 | 1989-02-28 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometric apparatus |
| GB2574725A (en) * | 2018-06-01 | 2019-12-18 | Micromass Ltd | A GC/MS arrangement and mass spectrometer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0228225B2 (ja) | 1990-06-22 |
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