JPS6410904B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6410904B2 JPS6410904B2 JP56135860A JP13586081A JPS6410904B2 JP S6410904 B2 JPS6410904 B2 JP S6410904B2 JP 56135860 A JP56135860 A JP 56135860A JP 13586081 A JP13586081 A JP 13586081A JP S6410904 B2 JPS6410904 B2 JP S6410904B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- nozzle
- gas flow
- column
- chromatograph
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 30
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0422—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for gaseous samples
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
- H01J49/044—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for preventing droplets from entering the analyzer; Desolvation of droplets
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はクロマトグラフ質量分析計に関する。
ガスクロマトグラフから流出した試料成分を質量
分析計によつて分析する場合、クロマトグラフ流
出ガスからキヤリヤガスを除去し、試料成分を濃
縮して質量分析計に導入するため、クロマトグラ
フと質量分析計との間のガス流路内に分子セパレ
ータを設ける。分子セパレータとしては一対のノ
ズルを対向させ、一方のノズルから噴出するガス
の噴流の拡り方がガス分子の重さによつて異るこ
とを利用したジエツト型分子セパレータが１段或
は複数段用いられる。一方クロマトグラフ質量分
析計ではクロマトグラフで用いた溶媒のような分
析の必要のないガスが質量分析計に流入しないよ
うに、クロマトグラフから試料成分が流出してい
ない期間中はクロマトグラフから質量分析計に至
るガス流を遮断するため上述したジエツト型分子
セパレータの対向ノズル間にプレートを挿入する
ようにしている。本発明はクロマトグラフ質量分
析計において特にジエツト型分子セパレータに付
設される上述したガス流遮断装置に関するもので
ある。
ガスクロマトグラフから流出した試料成分を質量
分析計によつて分析する場合、クロマトグラフ流
出ガスからキヤリヤガスを除去し、試料成分を濃
縮して質量分析計に導入するため、クロマトグラ
フと質量分析計との間のガス流路内に分子セパレ
ータを設ける。分子セパレータとしては一対のノ
ズルを対向させ、一方のノズルから噴出するガス
の噴流の拡り方がガス分子の重さによつて異るこ
とを利用したジエツト型分子セパレータが１段或
は複数段用いられる。一方クロマトグラフ質量分
析計ではクロマトグラフで用いた溶媒のような分
析の必要のないガスが質量分析計に流入しないよ
うに、クロマトグラフから試料成分が流出してい
ない期間中はクロマトグラフから質量分析計に至
るガス流を遮断するため上述したジエツト型分子
セパレータの対向ノズル間にプレートを挿入する
ようにしている。本発明はクロマトグラフ質量分
析計において特にジエツト型分子セパレータに付
設される上述したガス流遮断装置に関するもので
ある。
クロマトグラフ質量分析計においてカラム交換
時上述したジエツト型分子セパレータのクロマト
グラフ側ノズルがつまり易い。従来これを防止す
るため第１図に示すような方法が用いられてい
た。Ｃはクロマトグラフカラム、Ｉは質量分析計
のイオン源でＳがジエツト型分子セパレータであ
り、Ｎ１，Ｎ２が対向ノズルである。対向ノズル
Ｎ１，Ｎ２の間の空間は排気ポンプＰに接続され
ている。カラム交換時、質量分析計（イオン源も
含む）を真空に保つておくため排気ポンプＰを作
動させた状態でカラムＣを外すと、外気がセパレ
ータＳ中に吸込まれ、外気中の微細な粒子によつ
てクロマトグラフ側ノズルＮ１がつまる。これを
防ぐためカラム接続部とノズルＮ１との途中から
パージガスを送り込むようにしている。このよう
にしてもパージガスがノズルＮ１を経てポンプＰ
へと流れるので管内の微細な粒子がノズルＮ１に
つまる。本発明はカラム交換時等に生ずるジエツ
ト型分子セパレータのノズルのつまりを防ぐ上述
従来方法の欠点を改善することを目的としてなさ
れた。
時上述したジエツト型分子セパレータのクロマト
グラフ側ノズルがつまり易い。従来これを防止す
るため第１図に示すような方法が用いられてい
た。Ｃはクロマトグラフカラム、Ｉは質量分析計
のイオン源でＳがジエツト型分子セパレータであ
り、Ｎ１，Ｎ２が対向ノズルである。対向ノズル
Ｎ１，Ｎ２の間の空間は排気ポンプＰに接続され
ている。カラム交換時、質量分析計（イオン源も
含む）を真空に保つておくため排気ポンプＰを作
動させた状態でカラムＣを外すと、外気がセパレ
ータＳ中に吸込まれ、外気中の微細な粒子によつ
てクロマトグラフ側ノズルＮ１がつまる。これを
防ぐためカラム接続部とノズルＮ１との途中から
パージガスを送り込むようにしている。このよう
にしてもパージガスがノズルＮ１を経てポンプＰ
へと流れるので管内の微細な粒子がノズルＮ１に
つまる。本発明はカラム交換時等に生ずるジエツ
ト型分子セパレータのノズルのつまりを防ぐ上述
従来方法の欠点を改善することを目的としてなさ
れた。
前述したように不要なときに質量分析計にガス
が流入するのを止めるためジエツトセパレータの
対向ノズル間にプレートを出入可能に設けている
が、本発明はこのプレートを利用し、このプレー
トを通してパージガスをノズルの方からカラム接
続部の方へ流すようにした装置を提供する。以下
実施例によつて本発明を説明する。
が流入するのを止めるためジエツトセパレータの
対向ノズル間にプレートを出入可能に設けている
が、本発明はこのプレートを利用し、このプレー
トを通してパージガスをノズルの方からカラム接
続部の方へ流すようにした装置を提供する。以下
実施例によつて本発明を説明する。
第２図は本発明の一実施例を示すものである。
Ｎ１，Ｎ２はジエツト型セパレータの対向ノズル
で右側のＮ２は質量分析計のイオン源Ｉに接続さ
れており、Ｎ１は左方のジヨイントＪに接続され
ている。カラムＣは袋ナツトＵによつてジヨイン
トＪに接続されるようになつている。対向ノズル
Ｎ１，Ｎ２間の空間は排気ポンプＰに接続されて
いる。ＶがノズルＮ１，Ｎ２間に出入せしめられ
るプレートで図で上下方向にスライド可能であ
り、カラムＣから流出した試料成分をイオン源Ｉ
に導入するときはプレートＶは引上げられてお
り、図はＶがノズルＮ１，Ｎ２間に進入せしめら
れてカラムからイオン源に向うガス流を遮断した
場合を示している。プレートＶ内にはガス流路の
孔Ｆが穿設されており、その一端はプレートのク
ロマトグラフ側ノズルＮ１に対向する面に開口し
ており、他端はプレートの柄の部分の上端部側方
に開口している。プレートの柄の部分はジエツト
セパレータの本部Ｂと嵌合しておりＯリングによ
つて気密が保持されている。プレートＶの柄の部
分でガス流路Ｆの開口している部分は本体Ｂの上
方に突出しておりガス流路Ｆの上端開口はバージ
ガス源Ｇに接続されている。パージガスにはクロ
マトグラフのキヤリヤガスと同じヘリウムを用い
ている。プレートＶがガス流路を遮断する第２図
の位置ではガス流路Ｆの下端開口がノズルＮ１の
開口と一致するようになつている。この位置でガ
ス源ＧとプレートＶとの間のバルブｖを開くとパ
ージガスはノズルＮ１からカラムＣの方へと流れ
る。カラム交換等でカラムＣをジヨイントＪから
外す場合はプレートＶを第２図の位置に降下さ
せ、バルブｖを開く。そうするとパージガスが上
述したようにノズルＮ１からジヨイントＪの方へ
流れ、ノズルＮ１からジヨイントＪに至る間にあ
つた微粒子はジヨイントＪから外へ吹き出され、
ノズルＮ１がつまると云うことは全く起らない。
Ｎ１，Ｎ２はジエツト型セパレータの対向ノズル
で右側のＮ２は質量分析計のイオン源Ｉに接続さ
れており、Ｎ１は左方のジヨイントＪに接続され
ている。カラムＣは袋ナツトＵによつてジヨイン
トＪに接続されるようになつている。対向ノズル
Ｎ１，Ｎ２間の空間は排気ポンプＰに接続されて
いる。ＶがノズルＮ１，Ｎ２間に出入せしめられ
るプレートで図で上下方向にスライド可能であ
り、カラムＣから流出した試料成分をイオン源Ｉ
に導入するときはプレートＶは引上げられてお
り、図はＶがノズルＮ１，Ｎ２間に進入せしめら
れてカラムからイオン源に向うガス流を遮断した
場合を示している。プレートＶ内にはガス流路の
孔Ｆが穿設されており、その一端はプレートのク
ロマトグラフ側ノズルＮ１に対向する面に開口し
ており、他端はプレートの柄の部分の上端部側方
に開口している。プレートの柄の部分はジエツト
セパレータの本部Ｂと嵌合しておりＯリングによ
つて気密が保持されている。プレートＶの柄の部
分でガス流路Ｆの開口している部分は本体Ｂの上
方に突出しておりガス流路Ｆの上端開口はバージ
ガス源Ｇに接続されている。パージガスにはクロ
マトグラフのキヤリヤガスと同じヘリウムを用い
ている。プレートＶがガス流路を遮断する第２図
の位置ではガス流路Ｆの下端開口がノズルＮ１の
開口と一致するようになつている。この位置でガ
ス源ＧとプレートＶとの間のバルブｖを開くとパ
ージガスはノズルＮ１からカラムＣの方へと流れ
る。カラム交換等でカラムＣをジヨイントＪから
外す場合はプレートＶを第２図の位置に降下さ
せ、バルブｖを開く。そうするとパージガスが上
述したようにノズルＮ１からジヨイントＪの方へ
流れ、ノズルＮ１からジヨイントＪに至る間にあ
つた微粒子はジヨイントＪから外へ吹き出され、
ノズルＮ１がつまると云うことは全く起らない。
プレートＶの上下は第２図の実施例では手動式
であり、プレートＶの柄部上端がカムＫに枢止さ
れており、カムＫに取付けたハンドルＨを左方へ
倒すとプレートＶが引上げられる。バルブｖも手
動的に開閉するようになつている。もちろんバル
ブｖに電磁バルブを用い、プレートＶの上下に連
動してスイツチを開閉させ、プレートＶを降下さ
せた第２図の位置で上記スイツチが閉成して電磁
バルブｖが開くようにしてもよく、或はプレート
Ｖの上下をも電磁石で行い、バルブｖもプレート
Ｖも共に電気的に操作するようにしてもよい。
であり、プレートＶの柄部上端がカムＫに枢止さ
れており、カムＫに取付けたハンドルＨを左方へ
倒すとプレートＶが引上げられる。バルブｖも手
動的に開閉するようになつている。もちろんバル
ブｖに電磁バルブを用い、プレートＶの上下に連
動してスイツチを開閉させ、プレートＶを降下さ
せた第２図の位置で上記スイツチが閉成して電磁
バルブｖが開くようにしてもよく、或はプレート
Ｖの上下をも電磁石で行い、バルブｖもプレート
Ｖも共に電気的に操作するようにしてもよい。
本発明装置は上述したような構成で、つまりが
生じ易いクロマトグラフ側ノズルにおいて、本来
のガスの流れとは反対方向にパージガスを流して
粉塵の吸入阻止はもちろんカラムジヨイントから
ノズルに至る流路内にあつた微流子の追出しまで
行うので、カラム交換等でカラムを外した場合の
ノズルのつまりが防がれて分析能率が向上するだ
けでなく、分析中にノズルがつまつたような場合
でもプレートを降して高圧でパージガスを送るこ
とによりノズルのつまりを除去することができ
る。
生じ易いクロマトグラフ側ノズルにおいて、本来
のガスの流れとは反対方向にパージガスを流して
粉塵の吸入阻止はもちろんカラムジヨイントから
ノズルに至る流路内にあつた微流子の追出しまで
行うので、カラム交換等でカラムを外した場合の
ノズルのつまりが防がれて分析能率が向上するだ
けでなく、分析中にノズルがつまつたような場合
でもプレートを降して高圧でパージガスを送るこ
とによりノズルのつまりを除去することができ
る。
第１図は従来例の全体を示すブロツク図、第２
図は本発明の一実施例装置の要部縦断面図であ
る。 Ｃ…カラム、Ｓ…ジエツト型分子セパレータ、
Ｉ…質量分析計のイオン源、Ｎ１，Ｎ２…対向ノ
ズル、Ｖ…ガス流遮断用プレート、Ｆ…プレート
Ｐ内に設けたガス流路、Ｂ…ジエツト型分子セパ
レータの本体、Ｇ…パージガスのガス源。
図は本発明の一実施例装置の要部縦断面図であ
る。 Ｃ…カラム、Ｓ…ジエツト型分子セパレータ、
Ｉ…質量分析計のイオン源、Ｎ１，Ｎ２…対向ノ
ズル、Ｖ…ガス流遮断用プレート、Ｆ…プレート
Ｐ内に設けたガス流路、Ｂ…ジエツト型分子セパ
レータの本体、Ｇ…パージガスのガス源。
Claims (1)
- １ クロマトグラフと質量分析計とを接続するガ
ス流路途中に設けたジエツト型分子セパレータの
対向ノズル間に出入可能に設けられたガス流遮断
用プレート内にガス流通路を形成し、その一端を
同プレートのクロマトグラフ側ノズルに対向した
面に開口させ、他端からパージガスを流入せしめ
得るようにしたクロマトグラフ質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56135860A JPS5838444A (ja) | 1981-08-29 | 1981-08-29 | クロマトグラフ質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56135860A JPS5838444A (ja) | 1981-08-29 | 1981-08-29 | クロマトグラフ質量分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5838444A JPS5838444A (ja) | 1983-03-05 |
| JPS6410904B2 true JPS6410904B2 (ja) | 1989-02-22 |
Family
ID=15161451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56135860A Granted JPS5838444A (ja) | 1981-08-29 | 1981-08-29 | クロマトグラフ質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5838444A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0454105U (ja) * | 1990-09-13 | 1992-05-08 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63193454A (ja) * | 1987-02-03 | 1988-08-10 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
| JPS6466217A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-13 | Idemitsu Petrochemical Co | Propylene polymer |
| DE10254872A1 (de) | 2002-11-25 | 2004-06-03 | Symrise Gmbh & Co. Kg | Anthranilsäureamide und deren Derivate als kosmetische und pharmazeutische Wirkstoffe |
-
1981
- 1981-08-29 JP JP56135860A patent/JPS5838444A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0454105U (ja) * | 1990-09-13 | 1992-05-08 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5838444A (ja) | 1983-03-05 |
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