JPS5837572A - 小型電子部品の検査選別方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は小蓋電子部品の電気的特性の測定およびその
ｉ［Ｋよる部品の選別に関する。これらの部品はコンデ
ンサーや抵抗器であり、静電容量値。

散逸率および抵抗値等に関し検査される。

この種の電子部品は無数の電子組立体に広く使用されて
お動、そのＷ畳が高まっている。φ蓋コンデンサー中抵
抗器の製造技術および擬造速度が近ヰ向上しているため
、これらの部品を従来に比べより速くより経済的に検査
する必要性が生じた・φ蓋コンデンナー中抵抗器の製造
にはグーな工程が伴うため、常に所望の特性が連成され
ていると燻隈らず、製造後すべての部品を検査する必要
がある。靜電袢量Ｏ検ｆＫは市販の装置も利用できるが
、これらの装置では今日の製造および組立ての＾連化（
合っ九速さで運転できない。この市販装置は振動供給器
、真空ピックアップ装置および振動容器口という九機構
を使って１１ｍずつ検査する。この市販品は１度に１４
ａの部品しか検査できないという限界がある。

この発明の目的は電子部品を検査および分類して容器に
選別することである。実１１Ｋ、この発明の試作品では
１時間に５ｔｓｏｏｏ優もの部品を検査して分類し九が
、これは従来の装置の約５倍の速さである。

この発明の別の目的は簡便で信頼性が高く、動く部品が
少なく、さらに精度が高くしかも大きさ＋ｓ性の異る部
品にも容易に適合で自るようを電子部品の検査および選
別の方法を開発することである。

この発明のさらに優れ死点および目的も、図（３）を参
照して読めばよく理解できるであろう。

次にこの発明の一実施例を図面に従って説明する。検査
に供する部品１０は主にコンデンサ中抵抗体である。こ
れらは、単結晶チップコンデンサ等のｔＪ−ｍ電子パー
ツまたはチップである。これらの部品１０蝶、対向する
導電面１２に導電性のコーティングを施して製造場れる
。

プレート状の平面支持体２０について説明すると、この
支持体２０は、電子部品１０を収容するための多数の開
口部を具備し、この−口部は縦列２４および横列２６に
配列されている。

支持体２０は樹脂注入ガラス繊維の層５０．３２で丈ン
ドイフチ状にしてあり、部分的にボルト２８で締めつけ
である。ガラス繊維層３０．！１２の間の支持体２０の
背面に、ロジウムメッキを施し丸鋼の金属層５４．３６
を有する。ガラス繊維層５０゜６２は支持体２００基本
的な構造上の特性を決定するもので、非導電体である。

中間の金属層６４は各電子部品１０の背後の導電面１２
との電気的接触をａ実にする。１１！地した背後の層３
６の目的は、漂遊電磁波のピックアップに対するシール
ド用である。１２用時には支持体２０は斜めに支持され
るので、支持体２０の面を表現するには上面・下向また
は前面・背面が適切であろう。支持体２０の最上ｓＫ位
置する中間金属層５４の露出部５８は、プローブによっ
て電気的に接触する。支持体２０の底部にある凹部４０
Ｆｉ後述する支持機構でグリップされている。

開口部２２の断面を第８図および第１０図に部分的に示
した。前面から背面に通じる開口部２２は外側に広がっ
た入口部分４２を有し、その中間部分４４には電子部品
１０がゆるめにはｔＳ、小孔４６は金属層に通じ、この
金属層５４の背後の部分４８は外側に広がった入口を有
し、壕九後述するように、この入口は開口部２２から部
品を吹）し き出すために小孔４６に空気を集中さする。小骨４６は
ｌトさいので電子部品１０は通過で舞ない。

孔 小會４６ＪＩＩ辺の金属層３４Ｆｉそれと近接し走電子
部品の導電面１２と電気的に接触する。すなわち、電流
は開口部２２内の電子１ｌＡ１０の後部の４電ンＬ 面１２から牛骨４６周辺の金属層５４へ流れ、さらに第
７図および第８図で示したようにプローグを接触させ友
金属層３４の最上部の４出部６８へと流れる。

プローブ９０は＄８図に示したように開口部２２内の電
子部品１０と接触し、開口部２２のほぼ中間に位置する
ことが判る。これは第８図に示し丸ようにグローブ９０
および開口部２２が共に中心関距＊”ｘ”に設定されて
いることを意味する。

大ｉ−さや形状の異る電子部品１０用に別の支持体２０
も使用できるが、この場合別の支持体の開口部２２の中
心間距離“Ｘ”をプローブ９０の間隔と同一にするか、
まえは支持体２０とプローブ９０を共に取り換える必要
がある。第１１．１２および１６図に形状や大１！さの
異る電子部品１０用に開口部の中心間距離を同一にする
方法を示した。

第１１図の支持体２０は断面が円形で中心間距離が′Ｘ
″の開口部２２を有する。瀉１２図の支持体２０の開口
部２２は長方形で断面積も広いが中心間距離＠Ｘ″は変
らない、第１２図に示す長方形の開口１１２２は縦横ど
ちらかに整列して配置できるほぼ最大の大きさであるこ
とが判る。第１５図は断面の長軸がさらに長ｉ長方形ｖ
Ｈ口部２２を斜めに配置して適合させる方法を示す。第
１５図から支持体２０の開口部２２の中心間距離＠Ｘ”
は変っていないことが判る。

支持体２０の開口部２２に振動または真空装置によって
電子部品１０が装填される。振動を利用して開口部に対
象部品を装填することは発明者にとっても歯業界でも周
知のことであや、それが可能な塩山も理解できるであろ
う、振動ま九は真空装置（よる同様な支持体への１［＆
装填については、１９８０年２月２１日に「電気用／ｒ
−蓋パーツ端部のコーティング方法とその装置」とｉう
名称で出願（出願番号０６／１２３，２０１　）した同
時係属出願が参照できる。支持体２０は検査時および仕
分は時には斜めに位置する。この場合、電子部品１゜は
重力の作用でその場を移動するととはない。

グローブ９０．９２はバネ内蔵形の伸縮自在のプランジ
ャがｊｉｔ　ＬＭ＠こういうプランジャ形のグローブは
市販されており、例えばオストパイ・バートンのナイク
ロ・ン〜ダート（Ｏｍｔｂｙ　ａｎｄＢａｒｔｏｎ　Ｃ
Ｆｅ１ｏ−８ｏｌｄｅｒ＠ｄ）検査グローブＳ６，６゜
グローブ９０，９２０面および支持板２０は、操作中の
漂遊容量のピックアップ防止の丸めに被覆しである。

支持台５０は支持体２０を斜めに支持する。支持体２０
は取りはずし可能でありかつ交換可能である。支持台５
０につけ九凹部５１に支持体２０を差し込み、凹みの背
後の壁（３）と一対のバネクリップ５４でグリップする
。支持体２０の凹み部分の最下端に設けた指示ノツチは
ビン５８と対になって、支持体２Ωを支持台に対し正確
に縦方向に１Ｎｆｆる。ビン５８は７ｓ）フジ６０によ
ってそＯ前端部に支持されている。

支持台５０はトラベラ６２に取り付けられてお夛、トツ
ペ９６２に取り付けられ適当な軸受６６で支持され九一
対の案内棒６４によって案内される。スクリューロッド
６８は軸受を備えかつプーリー７２に連結され九支持体
７０を有し、このプーリー７２はべ〜トによってモータ
ー７６０プーリー（図示せず）に連結されているので、
こＯ毫−ターによってスクリューロフト６８が回転する
。

トラベラ６２は循環ボールレース軸受７８を有する部材
によってスクリューロフト６８に連結されこれによって
トラベ２６２は検萱時および選別時に各場所で休止しな
がら段階的に進むことになる。

この移動の後半部分で支持体２０は第１，２図に示した
バラ中ングプレート８０の＠に進む、バッキングプレー
ト８０は支持体２０に近接（Ｏｊ）２０インチ）してい
るのが望ましめ、もちろんバッキングプレート８０の面
は支持体２０が移動する斜面に平行に配設されている。

支持体２０の一部は□ さらに部品検査および部品排出場所を過ぎ九ｓｍ行程上
の一部に追加のガイドロー２−サポートが設けられてい
る。この位ｔ／ＩＦｉプローブ？０Ｏ１１ＩＲおよび部
品排出場所１２１〜１２６の１後が可能である。このガ
イドは１対のローラー８２の形をと抄支持体２０の最上
部の反対−に接している。ローラー８２はパフキングプ
レート８０に固定し九り字形支持アーム８４に掛ってい
る。

電気検査位ｔｌｉ１１１９での電気慎食用部材は一列に
配列し九グローブ９０である。試作段階では、支持体２
０は縦４０列横２０列で構成され合計８００の開口部２
２を設は九、すなわち、′・査および選別位置を支持体
２０が−ｖＡると８００１１ｍの電子部品１０を処理で
きる。これはグローブ９０の数が２０本、つまり各列の
首付につき１本であることを意味する。プローブ９０が
縦列の電子部品１０の作問導電面１２と１気的ＶＣ接触
する他に、上部に゛ちる２本のプローブ９２は金属？ｔ
ｈ５４の最上部の露出部６８と電気的に接触する。プロ
ーブ９０が電子部品の外面と接触し、かつ上部のグロー
ブ９２が金属面５４と接触していれば、この金属面は縦
列２４の電子部品１０の内部導側１２とＷ＝しているの
で、プローブ９０および９２の閣での電気的測定つまり
コンデンサーの静電容量、減衰率および抵抗器の抵抗の
検査が可能である。

検査前に開口部２２内の導電面５４に電子部品１０が十
分に接していなくても、ブロー・プの動作で電子部品１
０は導電面６４に押しつけられる。

列をなすプローブ９０＃ｉ第１，２図に示すように支持
体２０が右から左へ移動する際の最初の検査位置１１９
に設定しである。開口部２２の１列がステップモーター
７６によって率動するスクリューロッド６８の作用で検
査位置１１９に達し、プローブ９０および９２の列が押
し込まれてその列の電子部品１０および金属面５４と電
気的に接触した時、電気検査回路内に２０個のブリッジ
があればその列の２０個の部品全部を同時（検査できる
ことが理解できよう、もう一つは、ブリフジ回路は部品
１０の各横列で重複する必要はなく、率あるいは抵抗値
の測定である。　　　　゛この装置の制御器は°プロー
ブ９０，９２での検査中にドウウェルを制御するので、
測定は４００ミリ＄楊ｔｏタイムスパンでできることが
判るであろう。

グローブ９０．９２はホルダー９４に取り付けである０
回路板９６はホルダー９４に取り付けてあり、プローブ
９０，９２間は導線で接続してブリッジ回路等と接続し
である。

ホルダー９４は１対の棒で支持されている。フレーム１
００は基台１０２によって装置に固定されており、伸縮
する棒９８を案内する軸受１０４を有する。２本の棒９
８に取り付けた共通の真１０６によって棒９８に力が加
えられる。エアシリンダ１０８はピストンすなわち隔！
１１０を有する。棒１１２をピストンすなわち隔１１１
１０に取り付は共通の腕１０６に連結しである。空気路
１１４はピストンすなわち隔壁１１００反対−にあり、
棒１１２を伸縮させる。エアシリンダ１０８に圧力を加
えると棒１１２が押し出され、プ臣−プ９０，９２はそ
れぞれ支持板２０内の電子部品１０および導電面３８に
接触する。逆に減圧によっで棒１１２が引っ込むとプロ
ーブ９０．９２は支持板２０から離れる。７レーム１０
０には２つのスイッチ１１６，１１８が取り付けである
。スイッチ１ｊ６．ｊｌＢはアー１１０６またはその他
の可動部品によって操作される。スイッチ１１６はプロ
ーブ９０，９２が移動して支持体２０と接触し測定が行
なわれるブリッジ回路に信号が出されると作動する。ス
イッチ１１８はグローブ９０゜９２Ｏ引っ込みを感知し
、支持体２０に指示して次の列２４に進める。棒１１２
は共通腕１０６に通してその両側をナツト１２０で締め
であるので、棒１１２に対するプローブ９０．９２の列
の位置を調整できる。

グローブ９０．９２のバンク部分は、空気シリンダ１０
８以外にソレノイド、ステップモーターまたは他の機械
的、電気的機構等によって出走ル入うたやさせることが
できる。腕１０７は線形軸受によって棒９８に支持され
、その分割端は棒１１２と係合し、クランプネジ１０９
で棒１１２に固定されている。

支持体２０の開口部２２の各列２４が電気検査位置１１
９を通過すると、部品選別すなわち排出位置に違する。

この装置の試作品では６偵の選別位置１２１，１２２，
１２３，１２４，１２５および１２６をＭする。各位置
は容器１３１，１５２，１３３，１３４゜１５５および
１３６に対する開口部１４８のほぼ中央にある。ステッ
プモーター７６が進みスクリエーロッド６８が所定の量
九は回転するたびに、支持体２０は各列の間隔だけ進み
最初の列２４を電気検査位置１１９に合せることができ
る。その後葛らに進んで各列は選別位置に達し以下１２
２゜１２３．１２４，１２５および１２６と進む。この
装置は゛うまく制御されて−て、次の列２４を試験して
いる関に試験済の列の部品１０は選別位置１２１−１２
６の容器すなわちレシーバ−１３１−１５６に吹き落さ
れる。

容器１５８のバンクはこの装置の前面に堆り付けである
。容器１５８のパンクに並列して設は九容６１３１−１
５６は金属製のディバイダすなわち共通壁１４０で分割
しである。容器１３１−１３６の前面のガラスまたは透
明プラスチックのストリップによって各容器内の電子部
品の敵が擺られる。

金属ディバイダ１４０には溝を設けて容器１５１−１３
６の底部のスライドドア１４６を案内しているので、選
別した部品１０を除去できる。容器１り１−１３６は１
２１−１２６０各位電に支持板２０の移動経路に面した
開口部端１４８を有するので支持体２０内の開口部２２
に納まっ走電子部品１０は、開口部２２から吹き出され
て答１！１３１−１５６に入シ込む、この場合容器１３
１−１３６の中のどの容器に正しく部品が選別されるか
は、検査位置１１９で得られた電気的測定値に依うてい
る。

バッキングプレー）８０は選別位置１２１−１２．６の
範囲内に凹みを有する。開口部２２の縦列２４が１２１
−１２６の位置にあるとき、この列はノズル１５２の列
に面している。１つの列の各開口にノズル１個の割合で
ある。この例のように各列の開口部が２０１１の場合は
、ノズル１５２４２０個でああ・６１１の選別位置１２
１−１２６があれば、合計１２０個のノズルがあること
を意味し、壱遺−別位置に２（Ｈａのノズμを有する。

開口部２２の縦列が選別位置にあれば、ノズ〜１５２は
開口部２２背後の張り開口部４８の中心に導入され、こ
れによってノズ／＆／１５２から噴出された空気が張シ
開き部４８および小孔４６を逼って開口部中央゛４４の
電子部品１０を押し出し、容器開口部端１４８を通って
容器１３１−１３６へ排出する・バッキングプレート８
０は光通した開口部すなわち通路１５４を有し、その前
部端にノズ＊１５２ネジによって係合してらる０通路１
５４の後部燗には空気管１５８の端部において金具１５
６がネジによって係合しである。この＊４例では、１２
０個ＯノズＡ／１５２があるにもかかわらず空気管１５
８．１６０は１０１本である。

位置１２６は′＃器１３１−１３５へ選別されなかっ九
すべての電子部品１０を楊出してしまうためのものであ
り、そしてこの場合の排出は制御装置によって−くぶん
別の壜り扱いを受け、位置１２６において開口部２２に
残っている部品１０ｔすべて排出してし壕ｉ、部品１０
の残っている開口部２２を遁択するものではない。大き
めの空気管ち、位置１２６では２０１ａｌ）通路１５４
と２０本のノズｆｉ／１５２が合体して１つのハウジン
グとなって−る。

ノズ〜１５２から近隣の開口［２２に対し過剰の空気圧
を与えるという問題を避ける丸めに、パフ中ングプレー
ト８０の各ノズＡ’１５２列にそってノズＡ’１５２の
列の長さと間延の貫通孔１６４が設けである・ 支持体２０内の開口部２２にあるコンデンサ等の電子部
品１０をノズ、Ａ／１５２から噴出する空気によって排
出する代りに超ｔＪｚｍのエアｌリンダ−ｉ九は機械的
排出機構によって動作するプッシャー等の装置を用ｉて
もよｉ・ １例を示す、と、所望の静電容量が９５０．−１０５０
ｐｆ（ビニｆ７アツツド）のコンデンｔの場合には次の
ような比較測定器１８６および制御回路１８８を設定す
る。

−）位置１２１ではノズ＊１５２によって測定値が９５
０−１０５０ｐ　ｆ内の部品１０（公称群）を排出する
。

（ｂ）　　位置１２２ではノズＡ’１５２によって測定
値が１０５０−１１ｏｏｐ　ｆの部品１０（公称以上）
を排出する。

（Ｃ）　　位置１２５ではノズＡ’１５２によって測定
値が９００−９５０Ｐｆの部品１０（公称以下）を排出
する。

（ｄ）　　位置１２４ではノズ／Ｉ／１５２によって測
定値が１１　ＤＯｐ　ｆ以上の部品１０（公称をはるか
に超える）を排出する。

（ｅ）　　位置１２５ではノズ〃１５２によって測定値
が９００ｐｆ以下の部品１０（公称をはるか（下回る）
を排出する。

げ）位置１２６ではノズ〜１５２によって減衰率不合格
部品１０まえは測定位置で接触不要だつ九部品１０をす
べて排出するｅ セツティング１６６によって比較測定器１８６の測定範
囲を変えることができる。第１図におして、各位置１２
１−１２６Ｃ）＃定値を決めるセツティング１６６が示
されて―る。もちろんコンデンサの容量はピコ７１ラフ
ト（Ｐｆ）、ナノファラッド（ｎｆ）およびマイクロフ
ァラッド（ｐｆ）の範囲で変化する。減衰率を例にとる
と、その値が２．５％を超えるコンデンサは廃棄される
。減衰率の範囲は０−９．９？％に設定しである。この
設定値を超えると、部品が故障する原因となる。

空気供給装置の一部を第１４図に詳しく示しである。図
示した一連プレナム１７０には一連のソレノイド制御弁
が取り付けてあり、プレナム１７０から出る空気および
空気管１５８に入る空気を制御する。ソレノイド制御弁
は市販品が利用できる。

位置１２１−１２５の各ノズ〜に１個の割で制御弁１′
７２を有する。プレナム１７０への共通の空気供給装置
は図示していない。制御弁１７２はプレナム１７０から
ノズｙ１５２と連結し丸缶空気管１５８へ流れる空気を
制御する。この実施例における支持体２０の列２４の開
口部２２が２０［Ｏ場合、１列のノズ〜１５２に対し２
０偵の制御弁を有する。第１４図では２何に分けた２０
１１１１組の？１ＩＪＩｌ弁１７２を支持する１７４０
１対のプレナム１７０が選別位置１２４と連結されてい
ると考えられる。１７６として一部示されている１１１
１Ｉｌ１４１弁１７２の組は位置１２５と連結されて−
ると考えられる・右１１１７８に一部示されている制御
弁１７２０組は位１１１２５と連結されて−ると考えら
れる。大きい制御弁１８０は太い空気’１ｔ１８２と連
結され、さらに最終選別位置１２６で／Ｓクジング１６
２に空気を供給する太い空気管１６０と連結されている
拳 リード線１８４．が制御弁１７２，１８０に接続されて
お松、ノズｙ１５２へ供給する空気量の制御（作を支配
する。

第１５図はこの装置の制＃回路を説明するブロック図で
ある。この図は検査中の部品１０が支持体２０に納まっ
ているところを示し、検査が終了してすでに排出された
部品１０も示しである。

この装置の操作の第１段階は、セツティング１６６によ
って比較測定器１８６に検査値を書舞込み、この各ブリ
ッジ（ロ）路に書き込まれた予め設定した値と各部品の
測定値との比較ができるようにすることである。この装
置が自動的作動しているとき、各部品はプａ−グ９０，
９２によって読み取られその測定値は比ＩＩＩＺ測定器
１８６へ送られる。プローブ位置感知器およびスイッチ
１１６゜１１８が自動的にプローブ９０．？２の位置を
感知する。ｔた、グローブ９０．９２による読み取り時
間と部品１０の排出時間の間にずれがあるため、制御回
路１８８には記憶装置１９０が取り付けられており、比
較される測定値を記憶し排出位置に遍した時はじめてソ
レノイド制御弁１７２゜１８０によって部品が所定の容
器１．５１−１５６に排出される。制（１１１回路１８
８はシステムクロック１９２を有し、機能としては、検
査グローブの位置と支持体を移動させるステップモータ
ーのタイミング合わせＯ制御比較測定器と記憶装置の操
作制御、記憶装置からの情報の測定制御、検査ずみの部
品を各容器に排出するためのソレノイドの操作制御があ
る。制御回路、比較測定器、ステップモーターおよび記
憶装置はソレノイド制御弁等の部品同様に轟業省なら容
易にλ手できるので、これ以上の説明は必畳ないであろ
う。

コンテンツ−の特定範囲の検査に供するこの装置の試作
に使った仕様を以下に示す。

コンデンナ検萱仕様 静電容量検査 検量信号：　周波数　ＩＫＨ！±１％ 増幅ｏ、ｓｖ、　ｏ旧ｖ、　１．ｏｖ 容量範囲：　範−１１０−１９９，９？ｐｆ２　０．１
０−１．９？９９ｎｆ ３　１．０　−１？、？？９ｎｆ ４　１０　−１９９．９９ｎｆ ５　０．１０−１．９９？９Ｆｆ 靜を容量 分　類＝　　５谷器：および不合格品用公称ｄ皿内 公称以上 公称以下 高　　　い 低　　　い 不合格 静電容量検査　　設定限界値に対し±０．２％±１　デ
ィジット ±１　ｐｆ 減衰率（ＤＦ） 滅１１皐ｎｉＫ　　　Ｏ，００−９，９９％ＤＦ設定限
界値に対し±１％ ±２　ディジット ±１５０／Ｃディジット（Ｃは静電容ｘｔｐｔ＞装置取
扱方法 供給力法　　部品支持体、支Ｒ体一枚につき８００１ｉ
ｌＯｉ品 部品装置　　振ｍ／真空妓礪部 Ｓ品質め　　支持板用の大量装置容器 ｔ＆礪板　　大きさの異る各部品について１枚重　　具
　　なし 選別容器　　５＋減衰率不合格品用 この装置は１人のオペレータが１時間に最高４８．００
０個の部品を検査することが可能で、約３０インチ×９
６インチ（７２，２Ｘ２４４Ｑｌｌ）ｏコふソール内に
収容しである・ この位置の操作は支持体２０を支持台５０に取シ付けて
からモーメンタリスイッチを入れて開始される。支持体
２０はモーター７６によって一段ずつ自動的に進められ
、支持体２０が最後の選別位置１２６を通過すると移動
は終了し、支持体２０を取りはずす前にもとの位置にも
どる。支持体２０が検査位［１１９から選別位置１２１
−１２６の間を移動する関に支持体２０の開口部内の電
子部品１０はすべて検査され谷対象測定値開に選別され
て容４１５１１５６に入れられる。

【図面の簡単な説明】

第１図は小型電子部品の検査および選別に用−るこの発
明の装置の桿細な実施態様を示す斜視図である。第２図
は一部を破断してその機構を示し九第１図の装置の正面
図である。第５図はＪＩ１１図の機構を一部拡大して示
し九側面図。第４図は検査される電子部品のバンクを支
持する支持体の斜視図で、支持体の支持および案内用の
部材を部分的に示した図、′ｓ５図は大部分を第４図の
纏５−５についての断面で示し九拡大図、ＪＩＩ（Ｓ図
は一部を第２図の纏６−６についての断面で示したＩＩ
面図、＠７図は別の位置に７’四−プの列を示しただけ
の第６図と＠似し丸第２図の線７−７についての断面図
・第８図は１ｇ７図と同じ位置の断面図であるが、検査
プローブ部分だけの拡大図。′ｓ９図は８２図の纏９−
９についての部分断面図で、籍に選別した部品を入れる
容器を示した図。第１０図は第９図のｌ５１０〜１ｏに
ついての部分拡大断ＷＪ図。１１，１２．ｊ３図は５４
の異っ丸形伏の部品装填用の開口部を有する支持体の部
分平面図、第１４図はこの装置の空気供給系の部分平向
図、第１５図はこの装置の検査および′ｆＰＪＪｎ系の
プーフク図。 １０・・・電子部品　　　　１２・・・導電面２０・・
・支持体　　　　　２２・・・開口部２４・・・縦　列
　　　　　２６・・・横　列３０、５２・・・ガラス繊
維層　３４．３６・・・金属層４０・・・凹　み　　　
　　　４２・・・入口フレア一部４４・・・開口中間部
分　　　　４６・・・／Ｊ〜　孔４８・・・背後フレア
一部　　　　８ｏ・・・バッキングプレート９０、９２
−・・プローグ　　　　−

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１ン靜寛容量値、散逸率、抵抗値寺に関して検１を必
   費とするコンデンサーや抵抗器等のように、その対同面
   が導電面をなす／Ｊ％型電子電子部品ｆ：、ｌｉｌ別方
   法で６って、 （ａ）　　前配電子部品を傾斜板上に縦横列に読べ、１
   ｇ１の検査位置から後続の選別位置に向けて、繭・起硬
   横列のうち縦列を順次合せながら、かつ谷前６己部品の
   縦列が前記検査位置に米た際に動作が休止するように、
   段階を追って前記傾斜板を＃遺させること、 （ｂ）　　前記第１の検査位置において、電子部品をそ
   の測定値に従って電気的に慎資し、かつ測定値開にいく
   つかに分類し、またＭｆＪ記電子電子部品査するに際し
   ては、縦に並べたグローブを前記電子部品の縦列の一端
   に同時に押し付けることによって接触させ、かつ前記電
   子部品の縦列の他端は共通の導電面と接触させること、 （ｃ）　　後続する各選別位置に合せて配設した容器を
   つきとめ、この各選別位置において前記測定値内に入る
   電子部品を、前記容器に吹き込むことによって集め、前
   記検査位置において、別の縦列の電子部品を電気的に検
   査すると同時に、検査済みの別の縦列の電子部品を前記
   選別位置において容器に果めることとから成ることを特
   徴とする小型電子部品の検査選別方法。 （２）　（ａ）　　前記電子部品を傾斜板上に縦横列に
   並べ、第１の検査位置から後続の選別位置に向けて、前
   記縦横列のうち縦列を順次合せながら前進させること、 伽）前記第１の検査位置において、電子部品をその一定
   値に従って電気的に検査し、かつ測定値開にいくつかに
   分類すること、 （ｃ）　　後続の各選別位置において、前記測定値内に
   入る電子部品を果めることとから成ることを特徴とする
   小型電子部品の検査選別方法。 （３）後続の選別位置に合せて容器を設は吹き込むこと
   によって前記部品を容器内に集めることを特徴とする特
   許請求の範囲第２項記載の生型電子部品の検査選別方法
   。 （４）前６己第１の検査位置での前記部品の検ｆにおい
   て、前記部品の縦列の一端に縦に並べたグローブを四階
   に押しつけることによって接触させ、かつ前記部品の縦
   列の他端を共通の導電面に接触させることを特徴とする
   請求 ／お型電子部品の検査選別方法。 （５）前記傾斜板を御所的に進め、創６ピ部品各縦列が
   検査位置に来九際に動作が停止するようにし、停止と同
   時に前起電子部品の縦列を電気的に検査し。 かつ前記検査位置において電子部品の縦列を電気的に検
   査すると同時に検査済みの別の縦列の電子部品を前記選
   別位置において容器に集めることを特徴とするｑ＃許祷
   求の範囲第４項記載の／Ｊ％型電子電子部品査選別方法
   。 （６）靜に容量値、散逸率、抵抗器等に関して検査を必
   要とするコンデンサーや抵抗器等のように、その対同面
   が導電ｖＩｉをなす生型電子部品を、その測定値に従っ
   て検査選別する方法であって、（＆）　　対向面に一前
   記電気的導電向を有する傾斜板に前記電子部品を縦横に
   配列すること、伽）ｗｉ記電電子部品縦列を同時に検査
   し、かつ前記傾斜板の一方の糊か他方の糊へ臘次継絖す
   ること、 （ｃ）　　検査済の測定値を一連の１ｉｉＫ囲に選別し
   、この選別され丸缶範囲別に前記縦列の端から端までに
   わたる大きさの容器を設けたこと、 ′（ｄ）　　各容器が、前記傾斜板の一端から他端にか
   けて配列した各縦列に鵬仄整合するように、前記容器と
   前記傾斜板間に相対的運動を与えること、（●）各部品
   がその部品の測定値を含む画定値範囲に対応する容器と
   整合し九時、この部品が容器内に納められることとから
   成ることを特徴とするｌＪ＼型電子電子部品査選別方法
   。 （７）前記電子部品に空気圧をかけて、整合させ九番器
   内に吹き込んで．納めることを特徴とする特許請求の範
   囲第６項記載のＩＪＸＷｉ＊子部品の検査選別方法Ｏ （８）電子部品の各縦列の電気的検査において、一組の
   電子部品の導電ｌと共通の導′ｌｔ′ｌ１［ｌと接触名
   せ、同時に他の一組の電子部品の導ｗＬ面に、縦に並べ
   九グローブを押しつけることを持家とする特許請求の範
   囲Ｗ！Ｊ６項記載の生型電子部品の検査選別方法● （９）靜竃袢量、散逸率、抵抗値等に関して検査を必要
   とする、コンデンサーや抵抗６尋の様に、その対向（３
   ）が導電面をなすｔＪ％ａ１ｉｔＪ％品をその測定値に
   従って検査選別する装置であって、コンベヤと、このコ
   ンベヤ上を水平に移動可能でかつこのコンベヤに斜めに
   載置されることによって、上面と下面を有する平坦な支
   持体と、前記コンベヤ上の前記支持体の移動工程内に設
   は九第１の検査位置に配設され、縦一列に電気グローブ
   を有する電気的検査装置と、前記検査位置の次に位置す
   る選別位置で前記支持体の上面近くで、前記支持体の移
   動工程に沿って配役逼れた一連の容器とから成ヤ、前記
   支持体は前記部品を収納する一連の縦横列の開口部を有
   し、前記支持体の前記上向に面する圓Ｏ＃記開口部の第
   １端部は、前記部品を前記開口部に納めた）除去し九や
   できるよう、前記部品が通過できる内径であり、前記支
   持体は前記開口部第２靖部側に金属層を有し、前記開口
   部に連結され九小元を有し、この小孔は前記部品を通さ
   ないようφさくしてめるので、＃記部品は前記支持体の
   下面からこぼれーもないように保持され、前記検査装置
   は前記開口部の縦列に整合すると共に、前記コンベヤは
   前記開口部の縦列のうち一列が、前記検査位置とこの検
   査位置に設けられて前記グローブを前記開口部に押し込
   む装置に達するごとに休止しながら段階的に移動し、ま
   え前記電気的検査装置は前記金属層に接続してあるので
   、前記部品の一端は前記プロー／と接触し、他端は前記
   金属層と接触することによ・シ、前記各部品は前記を気
   的検査位置で検査され、一方前記各谷器は前記支持体が
   前記選別位置を通過するにつれて順次前記開口部の縦列
   と同一の場所に来て、前記開口部の第一端側から排出さ
   れる部品を捕集する入口開口部と、前記容器と整合した
   各選別位置の開口部の横列と関連して作動するエアノズ
   ルとを有し、前記部品が前記エアノズμに加えられた窒
   気圧によって、前記開口部から前記容器に排出されるこ
   とを特徴とする小型電子部品の検査選別装置。 （６）靜鑞容量、散逸率、抵抗値等に関して検査を必要
   とするコンデンサーや抵抗６咎の様に、その対回内が導
   電向をなす小型電子部品をその測定値に従って検査選別
   する装置であって、傾斜板に配列された部品を、この部
   品の導電向を傾斜板のうら−に向けて収納する複数の開
   口部を有する支持体と、前記支持体に納まっ九前記部品
   の対向面と導通可能に接触し、かつ前記部品の測定値を
   検査する電気的検査装置と、複数個の容器と、搬送装置
   と、収納装置とから成シ、前記鵠厨板内の各部品が各容
   器と整合するように前記支持体と前記容器を相対移動さ
   せ、前記収納装置は前記部品を前記支持体から前記容器
   に対して選択的に搬送させるので、前記部品は前記検査
   装置で得られ九検査結果に従って前記容器に収納される
   ことを特徴とする小型電子部品の検査選別装置。 （ロ）前記開口部が縦横列に配列され、前記支持体が平
   板であることを特徴とする特許請求の範囲第１０項記載
   の小型電子部品の検査選別装置。 （６）前記支持体が斜めに配設されることによって上面
   と下面を形成し、前記支持体の上面に設けた１記開口部
   の第一端部は、前記部品が前記開口部へ収納され、また
   同開口部から除去されるに足る内径であり、前記開口部
   の第２端部は、前記部品が前に２開口部を通過して、前
   記支持体の下（３）からこぼれ洛ちないようにブロック
   する装置を有し、また前記容器が！ＩｔＩ記支持体の上
   面に向し、同支持体から出る部品を収納する開口部を有
   することを特徴とする％Ｉｆｆ請求の範囲第１０項記載
   の小型電子部品の検査選別装置。 （至）前記部品をブロックする装置が、前記開口部の第
   ２端部貴に設けた金属層を有し、この金属層が前記頑斜
   板内の部品の導電面の−りに導通可能に接触することに
   よって前記検査装置の一部となることを特徴とする特許
   請求の範囲第１２項記載の小製電子部品の検査選別装置
   。 （Ｌ４削配合属層が各開口部の位置で開口し、かつ前記
   収ｆ１装置が前記収納部に対向する前記支持体−口部の
   各位置にエアノズルをイし、このノズルは前記支持体の
   下面から前記金属層の小孔を通って吹き出すように〜向
   けられ、前記部品を前記開口部に吹き込む機能を果すこ
   とを特徴とする特許ｒｌｌ求の範囲第１５項記載の小型
   電子部品の検査選別装置Ｏ （至）前記搬送装置がコンベヤを有し、＃記文神体がこ
   のコンベヤに載置され、かつこのコンベヤは前記支持体
   を水平軌道上に搬送回部であり、前記検査装置は前記軌
   道上の検１位置に位置し、前記容器は前記軌道上の選別
   位置に位置し、前記支持体の開口部は縦列および横列に
   配列され、前記コンベヤは開口部の各列が＃ｉ起検倉位
   置と前記選別位置に適するごとに、前記支持体の移動が
   休止するように段階を踏んで操作されることを特徴とす
   る特許祷求の範囲第１０項記載の７ｐ型電子部品の検査
   選別装置。 （至）前記検査装置が、この検査装置に位置する縦列の
   開口部の各開口部に一つずつ合い、かつ全数が一部に動
   くように連結され九複ｌ＆個の電気グローブと、前記部
   品を検査する際、前記検査装置における前記開口部の各
   縦列に対して前記プローブを押し込めて前記部品の近接
   する導電面に通電可能に接触する装置を有することを！
   ！Ｉｌ徽と＋る特許請求の＠囲第１５項紀賊のｔＪ％ｆ
   ｆｉ′を子部品の検査選別装置。 仏η前記支持体が、前記部品を検査する際、部品の他方
   の側の導電面と接触する中間金属層を有し、かつ前記支
   持体に凹みを設けて前記金属層が前記グローブの少なく
   とも一つと接触できるようにし検査時に部品の両導電面
   がＩＩＩ紀電子電子プローブ列によって前記検査装置と
   接続されることを特徴とする特許請求の範囲第１６ＪＪ
   記載の少戯電子部続され九空気シリンダーであり、前記
   搬送装置と前記検査装置とを操作すると共に、更Ｋｍ記
   部品に接触して前記プローブが着座したことを感知する
   第１のスイッチと、前記プローブが後退し九ことを感」
   する第２のスイッチとを具備する制御装置を更にイする
   ことを特徴とする請求 第１６項記載の小型電子部品の検査選別装置。 Ｑ４前記収納装置が、各選別位置において各開口部の縦
   列と整合するノズμを肩し、このノズルは支持板を隔て
   て前記容器と反対四に縦一列に配列されている′ので、
   このノズルから前記開口部に空気を吹き込むことによっ
   て、前記部品を前記開口部から容器内に排出できること
   を特徴とする特許請求の範囲第１５項記載の小型電子Ｓ
   品の検査選別装置。 曽前記検査装置が％測定値範囲に対応する容器に前記部
   品を分類し、制御装置が前記収納装置を自動的に操作し
   、前記部品がその容器に対する選別位置に遅し走時、そ
   の部品の測定値に対応する容器内に各部品を吹き出すこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１９項記載のｔＪＳ型
   電子電子部品査選別装置。 （自）各開口部がフレアー状であり、前記支持体の向に
   前記ノズμが近づーた場合、前記ノズ％〜から出た空気
   が前記開口部にうまく導入されることを特徴とする特許
   請求の範囲第１９項記載の小型電子部品の検査選別装置
   。 ＠前記ノズルがバｙｑングプレートによって支持され、
   このパッキングプレートのノズル設置部分は凹部となっ
   ているため、前記支持体とこのパッキングプレートは離
   間され、かつ、ノズルの各縦列間には貫通孔が設けてろ
   り、空気圧を減ずるため、ノズルから前記支持体内の１
   つの開口部に導入され九空気が、他の開口部内の部品に
   影参を及ぼすことがないことを峙値とする特許請求の範
   囲第１９項記載の小型電子部品の検査選別装置。 ［株］各ノズｙに連結された空気管と、共通の空気源と
   、前記空気源から谷空気管に流れる・空気量を制御する
   ソレノイド制御弁とを有する特許請求の範囲第１９項記
   載の小型電子部品の検査選別装置。 ｃＩ４前記検査装置、前記搬送装置およびｌＩｌｒ記選
   別装置を制御する制御装置を有し、前記検査装置は前記
   部品をその測定値範囲に対応する各容器に分類し、前記
   制御装置は前記ソレノイド制御弁を操作し、ｌｌｌｌ記
   部晶がその容器に対する選別位置に達し走時、＃紀ノズ
   〜に空気を供帽し、その部品の測定値に対応する容器内
   κ各部品を吹き出すことを特徴とする％軒請求の範囲第
   ２６項記載の少量１子部品の検査選別装置。 （ニ）前記容器が部品を収納するハウジングを有し、こ
   のハウジングに透明の窓を設けて内部の部品の量を見ら
   れるようにし、ま九このハウジングの〜底部にスライド
   式ドアを設けて部品を取り出せるようにし、さらにこの
   ハウジングには支持体の参勤経路にそって、前記支持体
   の縦列と同じ幅の開口部を設け、！ＩＩ記支持体の部品
   を受は入れることができるようにしたことを特徴とする
   特許請求の範囲第１９項記載の小型電子部品の検査選別
   装置。 （至）前記容器が傾斜板と並置され、かつ隣接する各容
   器間には共通の側壁を有することを特徴とする＊ｆｆ鯖
   求０範囲第２５項記載の小型電子部品の検査選別装置。 （財）検査を必要とする多数の／Ｊ％型電子電子部品持
   する装置であって、前記部品を支持できる大きさの一連
   の縦横列開口部を有する支持体と、前記開口部の第２端
   部に設けた金属層とから成り、前記支持体の第１面の前
   記開口部の第１端部は、前記部品が前記開口部へ収納さ
   れ、を走間開口部から除去されるに是る内径であり、前
   記金属層は前記開口部に連結された部品を通し得ない大
   きさのｔＪ＼孔を有し、これによって前記部品は前記支
   持体の第２面側からこぼれ落ちることはなく、前記部品
   は前記小孔に選択的に付与される装置によって前記支持
   体の第１面から前記開口部の外側に選択的に排出され、
   ま之前記部品は、同部品を前記金属層に押しつけて同部
   品の第１端部と電気的に接触させ、かつ同部品の第２端
   部を前記支持体の第１面側から電気的に接触させること
   によって選択的に検査できることを特徴とする／Ｊ１ｍ
   電子部品の支持装置。 （ハ）前記支持体が多層体であり、その第１面は不導電
   層であり、前記部品を保持する開口部を有し、その内部
   に前記金属層を有し、その第２面は不導電層であり、さ
   らにその第２（３）には金属層を設けて前６己州ロ部内
   の部品を保線して必ることを脅做とする時ＩＩｆ−求の
   範囲第２７項記載の／Ｊ％戯電子電子部品持装置。 翰ＡｉＪ＜開口部がフレアー状であり、前記交付体の４
   ２囲−に広げであるので、この開口部の第２端部に導入
   され九空気によって同一口部から部品全容品に排出でき
   ることをｑ！ｆ値とする特許請求の範囲第２８項記載の
   ／Ｊ％型電子電子部品持装置。 （１）ＡｉＪ記開口開口部レアー状であり、前１叉待体
   の第１曲側に広げであるので、振動による同開口部内へ
   の部品を容易に装填できることを特徴とする＊　ｔＦ請
   求の範囲第２９項記載の生滅電子部品の支持装置。 （３すｓｔｒ、ｅ開口部断面が長円形であり、その主軸
   が前６己縦横列に対して斜めに配置して、これによって
   長円の主軸が長すぎて、１１１Ｊｔ４已のような縦横の
   配置υの仕方では開口部内に装填できないような部品を
   、前記支持体に装填できるようにしたことを特徴とする
   特ｌＷ−蹟求の範囲第２７項記載の小型電子部品の支持
   ａｍ。 （Ｓ２）対向ｍ部に導電向を有する小蓋電子部品の検査
   装置および選別装置であって、前記部品を縦横列に装填
   し、斜めに配設した支持体と、電気的検査位置に設け、
   １ｍ！紀−ロ部内ＯＭＩＡ品の対向端部に導通可能にｗ
   ！触名せ九検ｆ装瞳と、＊記文神体を前記検査位置から
   複数の選別位置へと移動させる装置と、＃紀選別位置に
   設けた容器と、餉記支神体の嬉２面の開口部に適用され
   、前記支持体のへ１面の関口部から前記選別位置の容優
   内へ前記部品を排出する装置とから成り、前記開口部は
   前記支持体の第１面に設けられ、部品の装置中排出に供
   妊れ、ま九前記開口部は前記支持体の１１２面で狭めら
   れているので、＃記聞口部から部品がこぼれ落ちること
   がないことを特徴とする小蓋電子部品の検査選別ｆ！置
   。 （５５）支持体内に電子部品を集めること、各集団のそ
   れぞれの部品に電源を接続すること、前記部品を電気的
   に測定し、予め定め九値からの偏差を測定するために、
   予め設定し丸値と測定値を比較すること、予め設定し丸
   値からの偏差に従って１１ｒｋ。 部品を選別すること、予め設定した値から０４ＪＡ差に
   従って前記部品を分離することから成ることを４Ｉ像と
   する多数の小蓋電子部品の検査方法。 （５り電子部品を予め設定し九群に取り付ける装置と、
   ｆ４ｒＪ記群の各部品と電源に接続して各部品を電気的
   に検査する装置と、前記群の各部品−・電気的媚定値を
   予め設定した値と比較して偏差を測定する装置と、前記
   群の各部品を予めｒｅ定した値からの偏差に従って分離
   する装置とから成ることを特徴とする多数の小塵電子部
   品の検査装置。