JPS5837545A - 分光螢光測定装置 - Google Patents
分光螢光測定装置Info
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- JPS5837545A JPS5837545A JP57098626A JP9862682A JPS5837545A JP S5837545 A JPS5837545 A JP S5837545A JP 57098626 A JP57098626 A JP 57098626A JP 9862682 A JP9862682 A JP 9862682A JP S5837545 A JPS5837545 A JP S5837545A
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- laser beam
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- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
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- G—PHYSICS
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- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
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- G—PHYSICS
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- G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
- G01N2021/6421—Measuring at two or more wavelengths
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、特に試料物質の定性的及び定量的な決定を
行なうルミネセンスの測定に用いる為のレーザ光源を含
む分光螢光装駅に関する。
行なうルミネセンスの測定に用いる為のレーザ光源を含
む分光螢光装駅に関する。
少鎧の試料物質を、ぞの電ｆ的に励起された電゛了及び
分子のぞれぞれの光物理的及び光化学的特性に関して調
査づる時には、ルミネセンス測定は特に右利である。
分子のぞれぞれの光物理的及び光化学的特性に関して調
査づる時には、ルミネセンス測定は特に右利である。
ルミネセンス測定の為には分光螢光計が用いられるが、
この場合、キセノンランプのような相当に広範なスペク
トル連続体をした放射源が励起モノクロメータの人［１
スリツト内へ結像される。出［」スリットに至ることど
なる単色光は、それぞれのレンズを通っ１て試料内に焦
点を合わされ、これによって試料物質が励起され、引き
続いてルミネセンスが′（じる。ルミネセンス光は一般
に更にレンズを軽で、励起光に対しＣ直角を成す放射モ
ノクロメータの入［」スリット内に焦点を合わされる。
この場合、キセノンランプのような相当に広範なスペク
トル連続体をした放射源が励起モノクロメータの人［１
スリツト内へ結像される。出［」スリットに至ることど
なる単色光は、それぞれのレンズを通っ１て試料内に焦
点を合わされ、これによって試料物質が励起され、引き
続いてルミネセンスが′（じる。ルミネセンス光は一般
に更にレンズを軽で、励起光に対しＣ直角を成す放射モ
ノクロメータの入［」スリット内に焦点を合わされる。
装置の入［１スリツトに続いて配置された検出器が放射
を評価する。
を評価する。
更に公知の装置においては、Ｎ２レーザが染料レーザを
起動し、染料レーザがらの光線が試料を直接励起してい
る。ＫＤＰクリスタルを挿入することによつ−Ｃ周波数
を倍加させることも１Ｊ能Ｃある。試料からのルミネセ
ンス光はｂカ起尤に対して直角をなして、レンズを経た
欣１）Ｊ ｔツク１１メータの人［−１スリツト〜内に
結像する。光検出器が引き続い（Ｌノクロメータの出ロ
スリツ１〜に配置されている１、 かかる装置は、相当高い吸収能１１る試料物質を調査す
る時には不利である３、光線の経路は、試料物質の励起
とルミネセンスの測定とが回し側から行なわれなければ
ならないのｒ：異なるしのとされねばならない。ルミネ
センスの測定はまた派生する光の測定とゝして適用され
る。
起動し、染料レーザがらの光線が試料を直接励起してい
る。ＫＤＰクリスタルを挿入することによつ−Ｃ周波数
を倍加させることも１Ｊ能Ｃある。試料からのルミネセ
ンス光はｂカ起尤に対して直角をなして、レンズを経た
欣１）Ｊ ｔツク１１メータの人［−１スリツト〜内に
結像する。光検出器が引き続い（Ｌノクロメータの出ロ
スリツ１〜に配置されている１、 かかる装置は、相当高い吸収能１１る試料物質を調査す
る時には不利である３、光線の経路は、試料物質の励起
とルミネセンスの測定とが回し側から行なわれなければ
ならないのｒ：異なるしのとされねばならない。ルミネ
センスの測定はまた派生する光の測定とゝして適用され
る。
以前の装置は、２つの異なった光源からの光、そして異
なった波長を有する光によ−）てはいずれも時間相関の
ある励起を行なうことがてさない。
なった波長を有する光によ−）てはいずれも時間相関の
ある励起を行なうことがてさない。
更に、試料材料の吸収の同時的測定を行なうことが（・
さない。このように、従来の技術では、述べられた励起
手法においてルミネセンスと吸収分光学を採用すること
ができない。
さない。このように、従来の技術では、述べられた励起
手法においてルミネセンスと吸収分光学を採用すること
ができない。
しかしながら、かかる励起手法は、地上レベル（ｇｒｏ
ｕｎｄ １ｅｖｅｌ ）からでは得ることができない
数多くの物質に関して螢光レベルを作り出すことは別と
して、調べようとする試料物質に関して多種多様の定性
的及び定量的な情報が非常に頓繁に必要となるので、ル
ミネセンスと吸収の分光学は非常に頓繁に必要である。
ｕｎｄ １ｅｖｅｌ ）からでは得ることができない
数多くの物質に関して螢光レベルを作り出すことは別と
して、調べようとする試料物質に関して多種多様の定性
的及び定量的な情報が非常に頓繁に必要となるので、ル
ミネセンスと吸収の分光学は非常に頓繁に必要である。
本発明の目的は、上記の欠点を取り除くことである。
本発明のさらなる目的は、調査しようとする試料物質の
既に述べられたのと時間相関のある励起。
既に述べられたのと時間相関のある励起。
と、付随する光の下でそして直角、即ち励起光と被励起
光との問が直角の下で、吸収とルミネセンスの両方の同
時測定とを行なうことのできる調査試料物資の為の装置
を提供することである。
光との問が直角の下で、吸収とルミネセンスの両方の同
時測定とを行なうことのできる調査試料物資の為の装置
を提供することである。
本発明の更に別の目的は、異なる方向から試料物質に当
たると共に時間相関をしている複数個のレーザ光線によ
って試料物質の励起を行なうことのできる分光螢光装置
を提供することである。
たると共に時間相関をしている複数個のレーザ光線によ
って試料物質の励起を行なうことのできる分光螢光装置
を提供することである。
これらの及び他の目的は、レーザ光源と、該レーザ光源
によって起動される整調可能な染料レーザと、レーザ光
源を試料物質内で焦白合せをする為の光学的方向決め手
段と、前記染料レーザ光線によって励起された前記試料
物質から放たれる放射を回折する為の手段とを含む分光
螢光装置によって達成される。
によって起動される整調可能な染料レーザと、レーザ光
源を試料物質内で焦白合せをする為の光学的方向決め手
段と、前記染料レーザ光線によって励起された前記試料
物質から放たれる放射を回折する為の手段とを含む分光
螢光装置によって達成される。
この装置は更に、前記レーザ光源と前記染料レーザとの
間の光線経路内に挿入された光線分割器を含んでいて、
光線を第１と第２との光線に分割する。
間の光線経路内に挿入された光線分割器を含んでいて、
光線を第１と第２との光線に分割する。
少なくとも一つのレンズ及び少なくとも一つのグレイウ
ェッジ（ｇｒ’ｅｙｗｅｄｇｅ ）とが前記第１及び第
２の光線内に挿入され、更に、前記第１及び前記第２の
光線内において前記試料物質の近傍に光線融合手段が設
けられていて、両光線を励起されるべき試料物質に等し
く位置決めをする。
ェッジ（ｇｒ’ｅｙｗｅｄｇｅ ）とが前記第１及び第
２の光線内に挿入され、更に、前記第１及び前記第２の
光線内において前記試料物質の近傍に光線融合手段が設
けられていて、両光線を励起されるべき試料物質に等し
く位置決めをする。
試料物質を解析する為の手段は、それぞれ放射モノクロ
メータ及び放射分光器である。光線分割手段は平行六面
体（長斜方形体）と直角とのプリズムとから構成するの
が好都合である。前記平行六面体の２つの平行な面は派
生する光線に対して実質的に直角をなしており、前記直
角プリズムの部分的に反射する直角三角形の斜辺相当の
面は前記派生光線に対して実質的に４５°傾斜している
。
メータ及び放射分光器である。光線分割手段は平行六面
体（長斜方形体）と直角とのプリズムとから構成するの
が好都合である。前記平行六面体の２つの平行な面は派
生する光線に対して実質的に直角をなしており、前記直
角プリズムの部分的に反射する直角三角形の斜辺相当の
面は前記派生光線に対して実質的に４５°傾斜している
。
部分的に反射する直角三角形の斜辺相当の面は前記平行
六面体の２つの他の平行な面に対して実質的に平行であ
って、前記２つの他の平行平面の一つと密接に接触して
いる。
六面体の２つの他の平行な面に対して実質的に平行であ
って、前記２つの他の平行平面の一つと密接に接触して
いる。
派生した光線は、前記部分的に反射させる直角三角形の
斜辺相当の面を貫通して伝播されると共に、前記直角三
角形の斜辺相当の面に対して離間した関係にある平行六
面体の面に向って反射され、そこで光線は買通透過され
た光線゛部分と平行になるように反射される。
斜辺相当の面を貫通して伝播されると共に、前記直角三
角形の斜辺相当の面に対して離間した関係にある平行六
面体の面に向って反射され、そこで光線は買通透過され
た光線゛部分と平行になるように反射される。
透過された光線部分を通って励起した後の染料レーザ光
線と、反射した光線部分とは、解析すべき試料領域にお
いて光線融合手段によって重ね合わされる。
線と、反射した光線部分とは、解析すべき試料領域にお
いて光線融合手段によって重ね合わされる。
前記光線融合手段は前記光線分割手段と類似して構成さ
れるが、しかし光線分割手段とは鏡像対称的に離れた関
係にある。
れるが、しかし光線分割手段とは鏡像対称的に離れた関
係にある。
染料レニザ光線は付随する光線に対して約４５゜傾斜し
た前記融合手段の部分的な反射面において反射され、そ
して反射きれた光線部分は前記光線融合手段の前記部分
的な反射面と平行な面において錯行されて更に前記面を
透過して試料上にあたることになる。
た前記融合手段の部分的な反射面において反射され、そ
して反射きれた光線部分は前記光線融合手段の前記部分
的な反射面と平行な面において錯行されて更に前記面を
透過して試料上にあたることになる。
反射の場所に設けられ、そして一方で平行六面体と他方
で直角プリズムの直角二角形斜辺相当の面との中及び間
に含まれることとなる空気間隙として、前記光線融合手
段の部分的に反射する傾斜面を採用するのが都合良く、
この場合前記平行六面体と前記直角三角形の斜辺相当の
面はこの空気間隙を含むところを除いて密接に接触を形
成−している。
で直角プリズムの直角二角形斜辺相当の面との中及び間
に含まれることとなる空気間隙として、前記光線融合手
段の部分的に反射する傾斜面を採用するのが都合良く、
この場合前記平行六面体と前記直角三角形の斜辺相当の
面はこの空気間隙を含むところを除いて密接に接触を形
成−している。
反射された光線部分は空気間隙を含むところと平行な平
行六面体の面で諸行され、密接に接触する面では透過す
る。
行六面体の面で諸行され、密接に接触する面では透過す
る。
Ｎ２レーザと整調可能な染料レーザとの間の時間相関を
制−する為には、光線分割手段と光線融合手段との間で
２つの光線の一方の中に光学的に制御可能な遅れ手段を
挿入すると更に有利である。
制−する為には、光線分割手段と光線融合手段との間で
２つの光線の一方の中に光学的に制御可能な遅れ手段を
挿入すると更に有利である。
試料物質の短波長励起を得るには、光学的な周波数倍加
の為の適当なりリスタルが染料レーザ光線融合手段の間
でそれぞれの光線の中へ挿入される。
の為の適当なりリスタルが染料レーザ光線融合手段の間
でそれぞれの光線の中へ挿入される。
本発明の分光螢光装置によって、ルミネセンスと吸収と
の両方の相当感度の良い測定が簡単且つ既に述べられた
励起の中で実行可能である。時間相関は所望によって調
節可能である。ルミネセンス測定は、直角をなしている
のと同様に付随する光で実行可能であり、これによって
螢光偏位の測定を行なうことができる。測定装置の機械
的な改造は必要によって容易に行なうことができる。
の両方の相当感度の良い測定が簡単且つ既に述べられた
励起の中で実行可能である。時間相関は所望によって調
節可能である。ルミネセンス測定は、直角をなしている
のと同様に付随する光で実行可能であり、これによって
螢光偏位の測定を行なうことができる。測定装置の機械
的な改造は必要によって容易に行なうことができる。
本発明をより容易に理解することができるように、添付
図面を参照することにするが、添付図面は本発明の２つ
の実施例によって、図式的に描いたものである。
図面を参照することにするが、添付図面は本発明の２つ
の実施例によって、図式的に描いたものである。
第１図には、例えばＮ２レーザのようなレーザ光８１１
が光線りを放射しており、この光線の経路には光線分割
手段２２が挿入されていてその次に染料レーザ２、集光
レンズ３、グレイウェッジ１２そして諸行手段６及び１
１がそれぞれ続いており、これらの賭け手段はレーザ光
線Ｒを横方向に変位させて、放射モノクロメータに属す
る凹面回折格子の開１１７′・（第２図）とルミネセン
ス光の為の孔８を通った後に試料物質４０対象点２５に
向けさせている。試料物質２５内で励起されたルミネセ
ンスを測定する為の測定装置は、孔８、ホログラフィ−
の為の凹面回折格子７、組付反躬器１１、孔９、そして
光検出器１０から成っている。
が光線りを放射しており、この光線の経路には光線分割
手段２２が挿入されていてその次に染料レーザ２、集光
レンズ３、グレイウェッジ１２そして諸行手段６及び１
１がそれぞれ続いており、これらの賭け手段はレーザ光
線Ｒを横方向に変位させて、放射モノクロメータに属す
る凹面回折格子の開１１７′・（第２図）とルミネセン
ス光の為の孔８を通った後に試料物質４０対象点２５に
向けさせている。試料物質２５内で励起されたルミネセ
ンスを測定する為の測定装置は、孔８、ホログラフィ−
の為の凹面回折格子７、組付反躬器１１、孔９、そして
光検出器１０から成っている。
１ 作動においては、レーザ光線１が発生させたレーザ
光線しは光線分割器２２に向けられるが、光線分割器２
２はレーザ光線りを第１部分し′と第２部分［とに分割
する。放射の約１０％は光線分割器２２によってレーザ
光線りから分離される。第１部分し′は整調可能な染料
レーザを起動させて、染料レーザ２にレーザ放射Ｒを照
射させる。レーザ放射Ｒは集光レンズ３によって試料２
５に焦点を合わされるが、焦点が合う前に一し−ザ放射
Ｒはグレイウェッジ１２と、レーザ放射Ｒを横方向に疵
位させる諸行手段６及び１７を通り、また放射モノクロ
メータの一部を成す凹面回折格子７のの中心にある開ロ
ア′を通りそして孔８を通過した後に試料物質４の限定
された範囲〈対象点）２５に当たり、試料物質４を励起
してルミネセンスを放射させるが、このルミネセンスは
レーザ放射Ｒとは反対方向に孔８を通過してホログラフ
ィ−回折格子７に当たることになる。孔８及び回折格子
７はルミネセンスの指示の為に１：３の開口比を画定し
ている。付随して生じるルミネセンス放射に対する回折
格子７の傾納の度合に依存して、限定された波長のルミ
ネセンス光が回折格子７のところで反射器１１に向って
反射され、この反射器１１がルミネセンス光を検出器１
０の出口スリットに向けることになる。出口スリット９
における望ましい波長は回転軸Ｘの周りに回折格子７を
回転することによって得ることができ、この回転淳動は
、出口スリット９内の結像点９′の位置に対する回折格
子７の対象点２５のｌ！ｌ、ｉ１！位置によって、両矢
印Ａで示される方向に図示しない手段によって駆動され
るが、こうすることで出口スリット９内での非点収差が
小さくそして広範囲のスペクトル範囲にわたってスペク
トル分回度−を相当高くすることができる。
光線しは光線分割器２２に向けられるが、光線分割器２
２はレーザ光線りを第１部分し′と第２部分［とに分割
する。放射の約１０％は光線分割器２２によってレーザ
光線りから分離される。第１部分し′は整調可能な染料
レーザを起動させて、染料レーザ２にレーザ放射Ｒを照
射させる。レーザ放射Ｒは集光レンズ３によって試料２
５に焦点を合わされるが、焦点が合う前に一し−ザ放射
Ｒはグレイウェッジ１２と、レーザ放射Ｒを横方向に疵
位させる諸行手段６及び１７を通り、また放射モノクロ
メータの一部を成す凹面回折格子７のの中心にある開ロ
ア′を通りそして孔８を通過した後に試料物質４の限定
された範囲〈対象点）２５に当たり、試料物質４を励起
してルミネセンスを放射させるが、このルミネセンスは
レーザ放射Ｒとは反対方向に孔８を通過してホログラフ
ィ−回折格子７に当たることになる。孔８及び回折格子
７はルミネセンスの指示の為に１：３の開口比を画定し
ている。付随して生じるルミネセンス放射に対する回折
格子７の傾納の度合に依存して、限定された波長のルミ
ネセンス光が回折格子７のところで反射器１１に向って
反射され、この反射器１１がルミネセンス光を検出器１
０の出口スリットに向けることになる。出口スリット９
における望ましい波長は回転軸Ｘの周りに回折格子７を
回転することによって得ることができ、この回転淳動は
、出口スリット９内の結像点９′の位置に対する回折格
子７の対象点２５のｌ！ｌ、ｉ１！位置によって、両矢
印Ａで示される方向に図示しない手段によって駆動され
るが、こうすることで出口スリット９内での非点収差が
小さくそして広範囲のスペクトル範囲にわたってスペク
トル分回度−を相当高くすることができる。
ホログラフィ−の回折格子７には、この回折格子７がそ
れぞれ回転している時に波長の変動を許容する層が設け
られている。
れぞれ回転している時に波長の変動を許容する層が設け
られている。
第２図には、第１図の螢光針が上部から見て描かれてい
る。
る。
レーザ光ｌ１１が発生したレーザ光線りは、光線分割手
段２２の部分反射層１５で分割される。光線分割手段２
２は、平行六面体１４と直角プリズム２９とから成って
いて、前記平行六面体１４の２つの平行な表面は、派生
するレーザ光ＩＬに対して実質的に直角をなしており、
光線りに対して実質的に４５°傾斜している部分反射１
１１１５は、直角プリズム２９の直角三角形の斜面であ
ると共に前記平行六面体１４の２つの他の平行面のうち
の一つでもあって、そして前記２つの他の平行な面の他
方の面２６は反射用の面である。
段２２の部分反射層１５で分割される。光線分割手段２
２は、平行六面体１４と直角プリズム２９とから成って
いて、前記平行六面体１４の２つの平行な表面は、派生
するレーザ光ＩＬに対して実質的に直角をなしており、
光線りに対して実質的に４５°傾斜している部分反射１
１１１５は、直角プリズム２９の直角三角形の斜面であ
ると共に前記平行六面体１４の２つの他の平行面のうち
の一つでもあって、そして前記２つの他の平行な面の他
方の面２６は反射用の面である。
レーザ光線しは第１の部分と第２の部分りとに分割され
るが、第１の部分は面１５を貫通して透過されて染料レ
ーザ２を励起させてレーザ放１）ＩＲを生じさせており
、また第２の部分は前記層１５によって進路を曲げられ
て面２６に当たり、そこで再び反射されて光線分割手段
２２を前記第１の部分Ｒと平行であるが横に間隔をもち
ながら離脱し、集光レンズ及びグレイウェッジ１３によ
って収束され、更に光線融合手段２３の反射面２７と組
付反射器６によつ’ＬＭ行されて試料物質４の対象点２
５に結像される。
るが、第１の部分は面１５を貫通して透過されて染料レ
ーザ２を励起させてレーザ放１）ＩＲを生じさせており
、また第２の部分は前記層１５によって進路を曲げられ
て面２６に当たり、そこで再び反射されて光線分割手段
２２を前記第１の部分Ｒと平行であるが横に間隔をもち
ながら離脱し、集光レンズ及びグレイウェッジ１３によ
って収束され、更に光線融合手段２３の反射面２７と組
付反射器６によつ’ＬＭ行されて試料物質４の対象点２
５に結像される。
光線融合手段２３は、光線分割手段２２にならって、平
行六面体１６と直角プリズム３０とから成っているが、
しかしながらこれら平行六面体１６と直角プ１１ズム３
０とは類似はしているものの、レーザ光線の第２の部分
りにおいても染料レーザ放射Ｒにおいても光線分割手段
２２に対して鏡面対称関係となっている。
行六面体１６と直角プリズム３０とから成っているが、
しかしながらこれら平行六面体１６と直角プ１１ズム３
０とは類似はしているものの、レーザ光線の第２の部分
りにおいても染料レーザ放射Ｒにおいても光線分割手段
２２に対して鏡面対称関係となっている。
それゆえ、部分反射層１７は、Ｎ２レーザからの、、′
。
。
レーザ放射りに対しては透過的であるが染料レーザ放射
Ｒに対しては反射的となる。
Ｒに対しては反射的となる。
この為、放射りの第２の部分と放射Ｒとは層１７を通っ
た後は同じ位置にくることになる。光線融合手段２３は
、鎖線で示されているのが光線り及びＲの中へ挿入され
た位置を示すものであって、鎖線。
た後は同じ位置にくることになる。光線融合手段２３は
、鎖線で示されているのが光線り及びＲの中へ挿入され
た位置を示すものであって、鎖線。
で示された位置、から実線で示された位置へと図示しな
い変位手段によって取り出し可能であり、その運動の方
向は両矢印Ｂで示されている。
い変位手段によって取り出し可能であり、その運動の方
向は両矢印Ｂで示されている。
光線融合手段２３が光線し及びＲから除かれると、レー
ザ光線Ｒは、光線融合手段２４に属すると共に光線Ｒに
対して４５°の角度で傾斜した部分反射層１９上にあた
ることになるが、前記光線融合手段２４は光線融合手段
２３と類似して構成されていても試料物質４に隣接して
位置されてい゛る。染料レーザ光線Ｒは前記層１９で約
９０゛折り返されて試料物質４へ向けられることになる
。部分反射１１１９は、染料レーザ２から出された放射
Ｒの波長に対しては反射的であるが、Ｎ２レーザ放射し
に対しては透過的である。Ｎ２レーザ光線りは（光線融
合手段２３の而２７と同様に）光線融合手段２４の反射
面２８にあたって、層１９によって直角に反射されて試
料物質４の対象点２５に染められる。＠１９を通過した
後は、両放射し及びＲは実質的に一致する。
ザ光線Ｒは、光線融合手段２４に属すると共に光線Ｒに
対して４５°の角度で傾斜した部分反射層１９上にあた
ることになるが、前記光線融合手段２４は光線融合手段
２３と類似して構成されていても試料物質４に隣接して
位置されてい゛る。染料レーザ光線Ｒは前記層１９で約
９０゛折り返されて試料物質４へ向けられることになる
。部分反射１１１９は、染料レーザ２から出された放射
Ｒの波長に対しては反射的であるが、Ｎ２レーザ放射し
に対しては透過的である。Ｎ２レーザ光線りは（光線融
合手段２３の而２７と同様に）光線融合手段２４の反射
面２８にあたって、層１９によって直角に反射されて試
料物質４の対象点２５に染められる。＠１９を通過した
後は、両放射し及びＲは実質的に一致する。
試料物質４は、この試料物質４から出てくるルミネセン
ス光め測定方向に対して共に直角から励起されるので、
励起放射Ｒとし、及びルミネセス光は試料物質４の場所
において直角を成している。
ス光め測定方向に対して共に直角から励起されるので、
励起放射Ｒとし、及びルミネセス光は試料物質４の場所
において直角を成している。
Ｎ２レーザはパルス化レーザであるので、２つのレーザ
光線のうち一方に光学的遅れ手段を介装することによっ
てレーザ光線パルスＲ及びＬの間の時間相関を変更する
ことができる。また、レーザ光線Ｒへは染料レーザの後
方にＫＤＰクリスタルを挿入することによって周波数の
倍加を得ることができる。
光線のうち一方に光学的遅れ手段を介装することによっ
てレーザ光線パルスＲ及びＬの間の時間相関を変更する
ことができる。また、レーザ光線Ｒへは染料レーザの後
方にＫＤＰクリスタルを挿入することによって周波数の
倍加を得ることができる。
試料物質４の吸収測定を行なう為には、集光レンズ２０
が試料物質４に引き続いて配置されており、集光レンズ
２０の焦点位置には検出器２１が配置されている。
が試料物質４に引き続いて配置されており、集光レンズ
２０の焦点位置には検出器２１が配置されている。
第３図には、光線融合手段２３及び２４の場合に用いら
れるような高価な層材料を必要としない光線融合手段３
Ｇが示されている。光線融合手段３６は平行内面プリズ
ム３７及び直角プリズム３６とから構成されている。対
向する面３３及び３４は平行ではないが、レーザ光線Ｒ
とＬが試料物質４の対象点２５内で干渉するように選ば
れた鋭角を成している。
れるような高価な層材料を必要としない光線融合手段３
Ｇが示されている。光線融合手段３６は平行内面プリズ
ム３７及び直角プリズム３６とから構成されている。対
向する面３３及び３４は平行ではないが、レーザ光線Ｒ
とＬが試料物質４の対象点２５内で干渉するように選ば
れた鋭角を成している。
直角プリズム３６の三角形の斜辺に当る面と平行六面体
３３の一つの面とは、介在づる空気間隙３５で占る一部
を除いて密接に接触していれる。作動において、染料レ
ーザ光線Ｒは光線融合手段の直角プリズム部分３６に入
って空気間隙３５で反射されて、レーザ光線りとは平行
でない試料物質４にあてられるが、このレーザ光線りは
面３４で反射されて直角三角系の斜辺に当る面３３を一
通して伝達され、試料物質４上にあてられ、この試料物
質のところで光線Ｒと１とが試料物質４の対象点２５で
干渉する。４、図面の簡単な説明 第１図は、分光螢光装置の概略側面図である。
３３の一つの面とは、介在づる空気間隙３５で占る一部
を除いて密接に接触していれる。作動において、染料レ
ーザ光線Ｒは光線融合手段の直角プリズム部分３６に入
って空気間隙３５で反射されて、レーザ光線りとは平行
でない試料物質４にあてられるが、このレーザ光線りは
面３４で反射されて直角三角系の斜辺に当る面３３を一
通して伝達され、試料物質４上にあてられ、この試料物
質のところで光線Ｒと１とが試料物質４の対象点２５で
干渉する。４、図面の簡単な説明 第１図は、分光螢光装置の概略側面図である。
第２図は、第１図の分光螢光装置の概略平面図である。
第３図は、分光螢光装置の光線融合手段の一実施例であ
る。
る。
１・・・・・・レーザ光源 ２・・・・・・染料レ
ーザ、３・・・・・・集光レンズ、 ４・・・・・・
試料物質、７・・・・・・凹面回折格子、 １０．２１・・・・・・検出手段、 １４．１６．１８・・・・・・平行六面体、１５．１７
．１９・・・・・・部分反射層、２２・・・・・・光線
分割器、 ２３・・・・・・第１の光線融合及び諸行手段、２４・
・・・・・第２の光線融合及び諸行手段、９２９．３０
．３１・・・・・・直角プリズム特許出願人 ベブ・カ
ール・ツアイス・イエーナ代 理 人 弁理士
松 １） 省 躬丁絖ン巾正１１ 昭和５７年１０月〜 日 特許庁長官 殿 分光螢光測定８冒 ３、補＋Ｉをする省 ＄１１との関係 特許出馳人
ーザ、３・・・・・・集光レンズ、 ４・・・・・・
試料物質、７・・・・・・凹面回折格子、 １０．２１・・・・・・検出手段、 １４．１６．１８・・・・・・平行六面体、１５．１７
．１９・・・・・・部分反射層、２２・・・・・・光線
分割器、 ２３・・・・・・第１の光線融合及び諸行手段、２４・
・・・・・第２の光線融合及び諸行手段、９２９．３０
．３１・・・・・・直角プリズム特許出願人 ベブ・カ
ール・ツアイス・イエーナ代 理 人 弁理士
松 １） 省 躬丁絖ン巾正１１ 昭和５７年１０月〜 日 特許庁長官 殿 分光螢光測定８冒 ３、補＋Ｉをする省 ＄１１との関係 特許出馳人
Claims (3)
- （１）試料物質から放たれるルミネセンス放射の定性的
及び定量的な測定を行なうための分光螢光測定装置であ
って、 第１のレーザ光線を放射するためのレーザと、内部に設
けられ月つ前記シー１ｊ光線に対して実質的に４５°傾
斜した第１の部分的に反射をし、部分的に透過させる光
線分割面を含む光線分割器とを相Ｎに光学的に心合わせ
して成り、 前記光線分割器は前記第１の光線の分割面にλ・ＪしＣ
実質的に平行に＃１間した関係のさらに別の傾斜した反
射面を有し、 前記光線分割器は前記レーザ光線を第１の光線と第２の
光線部分とに分割するためのものであり、さらに前記装
置は、染料レーザと、 少なくとも一つの第１の光学的光線焦点合わせ手段と、
少なくとも一つの第２の光線焦点合わせ手段と。 第１及び第２の光線強度制御手段と、 第１の光線融合及び諸行手段と、第２の光線融合及び緒
行手段を右し、 前記第１の光線部分は前記染料レーザをパルス起動する
ためのものであり、前記染料レーザは第２のレーザ光線
を作り出まためのものであり、前記光線分割面と前記別
の反射面とは、前記第２の光線部分を前記第２のレーザ
光線と平行に向けさせるためのものであり、 前記第１の光線焦点合わせ手段と前記第２の光線焦点合
わせ手段、そして前記第１及び第２の光線強度制御手段
は、イれぞれ前記第２のレーザ光線の中と、前記第２の
光線部分の中に配置されており、 またさらに前記装置は、 中央間［１と、水平でありｎつ前記第１のレーザ光線に
対して直角を成す回転軸線とを有する波長変更手段と、 解析されるべき試料物質と、 光線／Ｊ向決め手段と、 第１の検出手段と、第２の検出１段と、前記第１の光線
融合及び釦付手段を、前記第２のレーザ光線と前記第２
の光線部分とに刑しでぞ゛れぞれ挿入し且つ引き出す変
位手段とを６し、前記第２の光線融合及び組付手段は、
前記第１の光線融合及び賭け手段の後方に続いて且つ前
記試料物質に隣接して配置されており、 前記第１の光線融合及び錯行手段と組み合わさＰ（、前
記第２のレーザ光線と前記第２の光線部分とを重ね合わ
せて前記波長変更手段の前記開口を経て前記試料物質上
に方向決めていて、前記第２のレーザ光線と前記第２の
光線部分とは前記試料物質の第１及び第２のルミネセン
ス放射を生じさせる為のものであり、 前記第１及び１１１２のルミネセンス敢射は直角を成し
ており、 前記第２の光線融合及び錫行ｆ段のみが、前記第２のレ
ーザ光線と前記第′２の光線部分とを前記試料物質に方
向決めする為のものであり、前記波艮疫史１段と前記光
線り向決め１段とは、前記第１のルミネセンス斂制を前
記第１の検出手段に向けさせる為のものであり、 前記第２の検出手段は前記試料物質の後方に続いて配置
され、 そして前記第２の検出手段は前記試料物質から前記第２
のルミネセンス放射を検出する為のものＣある分光螢光
測定装置。 - （２）前記第２の光線融合及び錯行手段は１．前記第２
のレーザ光線に対して約４５°だけ傾斜した部分的に透
過的且つ反射的な面と、前記部分的に透過的且つ反射的
な面に対して平行に離間した関係の第２の反射面とを有
しており、前記第２の反射面＆ｉ前記第２の光線部分を
実質に９０’緒、行させ、前記部分的に透過的且つ反射
的な面は前記第２のレーザ光線を実質的に９０°錯行さ
せると共に組付された第２の光線部分を透過させており
、前記第２の光線部分と前記第２のレーザ光線とは前記
部分的に反射的且つ透過的な面の後方に続く前記試料物
質内で実質的に一致している特許請求の範囲第１項記載
の分光螢光測定装置。 - （３）前記部分的に反射的且つ透過的な面番、五、該面
の 部に沿って伸びる長方形の空気間隙で部分的に構成
され且つ完全に含んでおり、前記空気間隙は前記第２の
レーザ光線に対して反射的Ｃあり、前記面の他の部分は
前記第２の光線部分に灼して透過的である特許請求の範
囲第２項記載の分光螢光測定装置。 （４＞、、、前記第１の光線融合及び銘（１手段は、前
記第２の光線融合及び組付手段に類似して構成されてい
ると共に、更に゛前記第１の光線融合及び釦付手段と前
記波長変更手段との離間において前記第２のレーザ光線
と前記第２の光線部分との中に配置され、且つ前記第２
のレーザ光線と前記第２の光線部分に対して実質的に４
５°傾斜しＣいる光線折返し１段を含んでいる特許請求
の範囲第２項□記載の分光螢光測定ＩＡ置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD01N/23069 | 1981-06-10 | ||
| DD81230691A DD159566A1 (de) | 1981-06-10 | 1981-06-10 | Spektralfluorometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5837545A true JPS5837545A (ja) | 1983-03-04 |
Family
ID=5531492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57098626A Pending JPS5837545A (ja) | 1981-06-10 | 1982-06-10 | 分光螢光測定装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4461573A (ja) |
| JP (1) | JPS5837545A (ja) |
| DD (1) | DD159566A1 (ja) |
| DE (1) | DE3214051A1 (ja) |
| GB (1) | GB2101738B (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6022649A (ja) * | 1983-04-11 | 1985-02-05 | バイオケム・センサ−ズ，インコ−ポレイテイド | 物質の特性を螢光により測定する光学的装置およびその使用方法 |
| JP2016173265A (ja) * | 2015-03-16 | 2016-09-29 | 国立大学法人九州大学 | 光測定装置及び光測定方法 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD225205A1 (de) * | 1984-05-02 | 1985-07-24 | Zeiss Jena Veb Carl | Laserspektralfluorometer |
| SU1376042A1 (ru) * | 1985-05-12 | 1988-02-23 | Институт физики АН БССР | Лазерный флуориметрический детектор дл микроколоночной хроматографии |
| JPH0692937B2 (ja) * | 1986-01-08 | 1994-11-16 | 株式会社日立製作所 | 固体蛍光測定装置 |
| US4752130A (en) * | 1986-10-24 | 1988-06-21 | The University Of Rochester | Optical systems utilizing a volume transmission diffraction element to provide wavelength tuning |
| US5026159A (en) * | 1989-05-19 | 1991-06-25 | Acrogen, Inc. | Area-modulated luminescence (AML) |
| US5198871A (en) * | 1991-06-18 | 1993-03-30 | Southwest Research Institute | Laser-induced-fluorescence inspection of jet fuels |
| US5293213A (en) * | 1992-08-12 | 1994-03-08 | Klein Uwe K A | Utilization of a modulated laser beam in heterodyne interferometry |
| US5801828A (en) * | 1996-11-14 | 1998-09-01 | Detections Unlimited, Inc. | Apparatus and method for fluorescence spectroscopy of remote sample |
| US6313471B1 (en) * | 1998-08-18 | 2001-11-06 | Molecular Devices Corporation | Scanning fluorometer |
| US6316774B1 (en) * | 1998-08-18 | 2001-11-13 | Molecular Devices Corporation | Optical system for a scanning fluorometer |
| NO321629B1 (no) * | 2000-11-30 | 2006-06-12 | Tomra Systems Asa | Anordning for bruk ved spektroskopi |
| GB2500177A (en) * | 2012-03-07 | 2013-09-18 | Valeport Ltd | Fluorometer with beamsplitter |
| DE102012219387B4 (de) * | 2012-10-24 | 2022-03-24 | Coretronic Corporation | Beleuchtungsvorrichtung mit Pumplichtquelle und Leuchtstoffanordnung und Verfahren zum Betreiben einer solchen Beleuchtungsvorrichtung |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3567322A (en) * | 1967-10-27 | 1971-03-02 | Fisher Scientific Co | Spectrometer |
| US3753618A (en) * | 1972-02-10 | 1973-08-21 | Ultra Violet Products Inc | Monochromator |
| US4351611A (en) * | 1980-09-22 | 1982-09-28 | Coulter Electronics, Inc. | Monitoring of a detection zone utilizing zero order radiation from a concave reflecting grating |
-
1981
- 1981-06-10 DD DD81230691A patent/DD159566A1/de unknown
-
1982
- 1982-04-16 DE DE19823214051 patent/DE3214051A1/de not_active Withdrawn
- 1982-05-18 US US06/378,494 patent/US4461573A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-06-09 GB GB08216674A patent/GB2101738B/en not_active Expired
- 1982-06-10 JP JP57098626A patent/JPS5837545A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6022649A (ja) * | 1983-04-11 | 1985-02-05 | バイオケム・センサ−ズ，インコ−ポレイテイド | 物質の特性を螢光により測定する光学的装置およびその使用方法 |
| JPH0115811B2 (ja) * | 1983-04-11 | 1989-03-20 | Baiokemu Sensaazu Inc | |
| JP2016173265A (ja) * | 2015-03-16 | 2016-09-29 | 国立大学法人九州大学 | 光測定装置及び光測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2101738A (en) | 1983-01-19 |
| US4461573A (en) | 1984-07-24 |
| DE3214051A1 (de) | 1983-01-05 |
| GB2101738B (en) | 1985-03-20 |
| DD159566A1 (de) | 1983-03-16 |
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