JPS5834008B2 - 光学的再生装置 - Google Patents
光学的再生装置Info
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- JPS5834008B2 JPS5834008B2 JP53128967A JP12896778A JPS5834008B2 JP S5834008 B2 JPS5834008 B2 JP S5834008B2 JP 53128967 A JP53128967 A JP 53128967A JP 12896778 A JP12896778 A JP 12896778A JP S5834008 B2 JPS5834008 B2 JP S5834008B2
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- sound groove
- wall portion
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えば通常のミュージック・レコード円盤な
どのように、情報が溝壁に凹凸の形で記録されたレコー
ド円盤(以下、単にレコードと呼ぶ)から、無接触で記
録情報を再生するようにした光学的再生装置に関するも
のである。
どのように、情報が溝壁に凹凸の形で記録されたレコー
ド円盤(以下、単にレコードと呼ぶ)から、無接触で記
録情報を再生するようにした光学的再生装置に関するも
のである。
従来から提案されている光学的レコード再生方式には、
大別して次の3つがある。
大別して次の3つがある。
(I) 音溝とランド部との境界部分の変位を検出す
るもの。
るもの。
(II) 音溝からの反射光によって形成される回折
像の変位を検出するもの。
像の変位を検出するもの。
(III) 音溝壁の傾き角の変化を検出するもの。
前記(I)の方式は、記録信号が微弱で音溝壁の振幅が
光の波長程度以下になると、レンズの解像限界を超える
ため検出が困難になるという欠点がある。
光の波長程度以下になると、レンズの解像限界を超える
ため検出が困難になるという欠点がある。
実際に、例えばIKHzで一20d13以下になると、
振幅は0.5μm以下となり、可視光の波長と同程度も
しくは、それ以下となるため、検出は困難となる。
振幅は0.5μm以下となり、可視光の波長と同程度も
しくは、それ以下となるため、検出は困難となる。
また、実際のレコードでは、隣合う音溝が互いに殆んど
接しているような部分もあり、そのような場所では検出
が困難になるという欠点もある。
接しているような部分もあり、そのような場所では検出
が困難になるという欠点もある。
前記(If)の方式は、回折像を形成するために、音溝
に照射する光ビームのスポット径を大きくして、音溝の
両壁にまたがるようにする必要があり、記録波長の短か
い信号の再生が困難であるという欠点がある。
に照射する光ビームのスポット径を大きくして、音溝の
両壁にまたがるようにする必要があり、記録波長の短か
い信号の再生が困難であるという欠点がある。
さらに回折像の形状や位置は、音溝の両壁の相互の位置
関係によって決まるため、例えばステレオ・レコードを
再生する場合には左右の信号を分離するこυS困難であ
るという欠点もある。
関係によって決まるため、例えばステレオ・レコードを
再生する場合には左右の信号を分離するこυS困難であ
るという欠点もある。
これらに対して前記(III)の方式は、前述したよう
な欠点は原理的に存在せず、微弱信号や周波数の高い信
号も再生可能であり、音溝の両壁に記録された信号相互
のクロス・トークも原理的に発生しないという長所があ
る。
な欠点は原理的に存在せず、微弱信号や周波数の高い信
号も再生可能であり、音溝の両壁に記録された信号相互
のクロス・トークも原理的に発生しないという長所があ
る。
ところが音溝壁が光ビームの入射方向に対して角度θだ
け傾くと、反射光は角度2θの偏向を受けるため、大信
号の再生時に反射光は大きな角度で偏向されて検出が困
難となり、検出が不可能となる場合も発生し得るという
欠点がある。
け傾くと、反射光は角度2θの偏向を受けるため、大信
号の再生時に反射光は大きな角度で偏向されて検出が困
難となり、検出が不可能となる場合も発生し得るという
欠点がある。
また、この方式では音溝壁の傾き角を精度よく検出する
ために、反射光の広がり角を小さくすることが望まれる
が、そのようにするとフォーカス検出の精度が悪くなる
という欠点がある。
ために、反射光の広がり角を小さくすることが望まれる
が、そのようにするとフォーカス検出の精度が悪くなる
という欠点がある。
ここで、図面を参照して、その理由を説明する。
第1図は、音溝壁1によって光ビーム2が反射されてい
るところを拡大したものである。
るところを拡大したものである。
反射光ビーム3の広がり角は、入射光2の集光する角度
θとほぼ同程度であると考えられ、上記角度θを小さく
すればするほど、反射光の広がり角を小さくすることが
できる。
θとほぼ同程度であると考えられ、上記角度θを小さく
すればするほど、反射光の広がり角を小さくすることが
できる。
ところが角度θで集光する光ビームの焦点深iDは、光
の波長をλとすれば、となり、θを小さくすると、それ
に伴って焦点深度りは大きくなる。
の波長をλとすれば、となり、θを小さくすると、それ
に伴って焦点深度りは大きくなる。
この場合、音溝壁の位置が焦点深度内で変位したときの
フォーカス誤差の検出感度が低下するという欠点がある
。
フォーカス誤差の検出感度が低下するという欠点がある
。
また、前記の各方式に共通の問題として、レコード針と
同等のトレーシング歪が原理的に発生しないため、従来
からレコード音溝のカッティング時に一般に行なわれて
いるトレーシング歪補正が逆に歪として残留し、これを
除去するためには逆補正が必要になるという欠点がある
。
同等のトレーシング歪が原理的に発生しないため、従来
からレコード音溝のカッティング時に一般に行なわれて
いるトレーシング歪補正が逆に歪として残留し、これを
除去するためには逆補正が必要になるという欠点がある
。
さらに、音溝の変位、傾き角等の各種変化量を検出する
具体的手段として、これらの変化量を検出光の光量変化
に変換して検出する方式においては、照射光量の変化、
音溝壁の反射率の変化等により雑音が生じ易いという欠
点もある。
具体的手段として、これらの変化量を検出光の光量変化
に変換して検出する方式においては、照射光量の変化、
音溝壁の反射率の変化等により雑音が生じ易いという欠
点もある。
本発明は以上の従来例のもつ欠点を解消した光学的再生
装置を提供するものである。
装置を提供するものである。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第2図は本発明の詳細な説明するための概略構成図であ
る。
る。
同図において、複数の光源8a。8b、8cは音溝壁4
に対して異なった方向から光ビームを照射する。
に対して異なった方向から光ビームを照射する。
それらの光ビームの反射光ビームを、それぞれ9 a
、9 b 、9 cとする。
、9 b 、9 cとする。
これらの反射光ビームのうち、限られた特定方向のもの
だけをハーフ・ミラー5で反射させて検出器7の受光部
分に入射し、少なくとも一つの反射光ビームが検出され
るように構成されている。
だけをハーフ・ミラー5で反射させて検出器7の受光部
分に入射し、少なくとも一つの反射光ビームが検出され
るように構成されている。
レンズ6は検出器7を小さくするためのもので、検出器
7の受光面積が十分広ければ必ずしも必要としない。
7の受光面積が十分広ければ必ずしも必要としない。
この場合、上記光源sa、sb、sCは光ビームを音溝
壁部分に対して複数の異なる入射角で照射する第1の手
段を構成し、上記ノ1−フ・ミラー5、レンズ6および
検出器7は上記音溝壁部分からの特定の方向の反射光を
検出する第2の手段を構成する。
壁部分に対して複数の異なる入射角で照射する第1の手
段を構成し、上記ノ1−フ・ミラー5、レンズ6および
検出器7は上記音溝壁部分からの特定の方向の反射光を
検出する第2の手段を構成する。
このようにすれば、音溝壁の傾き角がかなり大きくなっ
ても、いずれかの反射光が必ず検出器7に入射するよう
に構成することができ、大信号の再生も容易になる。
ても、いずれかの反射光が必ず検出器7に入射するよう
に構成することができ、大信号の再生も容易になる。
また、音溝壁からのそれぞれの反射光ビーム9a、9b
、9Cが互いに広がる角度は、一本の反射光ビームの回
折床がり角に比べて大きく、これらの反射光ビームをレ
ンズで集光すると、一本の反射光ビームを集光する場合
に比べて、上記3本の光ビーム全体に対する焦点深度が
浅くなり、光学系の音溝壁に対する相対位置を高精度で
制御することが可能となる。
、9Cが互いに広がる角度は、一本の反射光ビームの回
折床がり角に比べて大きく、これらの反射光ビームをレ
ンズで集光すると、一本の反射光ビームを集光する場合
に比べて、上記3本の光ビーム全体に対する焦点深度が
浅くなり、光学系の音溝壁に対する相対位置を高精度で
制御することが可能となる。
なお、受光した反射光ビームから信号を再生する手段は
特に限定されるものではなく、いかなる手段を用いても
前述の長所は本質的には損われるものではない○しかし
、受光した反射光ビームから信号を再生するためには、
一般に、受光した反射光ビームが、どの入射角の光ビー
ムの反射光であるかを識別する必要がある。
特に限定されるものではなく、いかなる手段を用いても
前述の長所は本質的には損われるものではない○しかし
、受光した反射光ビームから信号を再生するためには、
一般に、受光した反射光ビームが、どの入射角の光ビー
ムの反射光であるかを識別する必要がある。
そこで、前記第1の手段についてさらに詳しく説明する
。
。
第2図において、検出器7に入射する反射光ビームが、
光源8a、8b、8cのいずれから照射された光ビーム
の反射光であるかを識別するためには、それぞれの光ビ
ームに何らかの特徴づけをする必要がある。
光源8a、8b、8cのいずれから照射された光ビーム
の反射光であるかを識別するためには、それぞれの光ビ
ームに何らかの特徴づけをする必要がある。
上記特徴づけは例えば、それぞれの光ビームを異なる周
波数で変調してもよいし、異なる波長の光を用いること
によっても可能である。
波数で変調してもよいし、異なる波長の光を用いること
によっても可能である。
また、それぞれの光ビームの照射時刻が互いに異なるよ
うにすれば、検出反射光ビームがどの方向からの照射光
ビームのものであるかを容易に識別することが可能であ
る。
うにすれば、検出反射光ビームがどの方向からの照射光
ビームのものであるかを容易に識別することが可能であ
る。
そこで、音溝壁に対して複数の異なる入射角の光ビーム
をそれぞれ互いに異なる時刻に照射する方法として、一
本の光ビームを走査する手段を用いれば、装置の構成が
簡素化され、光ビームの音溝壁に対する入射角も連続的
に変化させられるため、信号の再生も容易にすることが
可能である。
をそれぞれ互いに異なる時刻に照射する方法として、一
本の光ビームを走査する手段を用いれば、装置の構成が
簡素化され、光ビームの音溝壁に対する入射角も連続的
に変化させられるため、信号の再生も容易にすることが
可能である。
第3図は光ビームの走査により、入射角を時間的に変化
させる手段の原理図である。
させる手段の原理図である。
同図において、光ビーム14はレンズ11によって偏向
器12上に集光し、偏向された光ビームはレンズ13上
を走査するように構成されている。
器12上に集光し、偏向された光ビームはレンズ13上
を走査するように構成されている。
この場合、偏向器としては可動ミラーが一般によく用い
られているが、例えば、ガルバノ式あるいは回転ミラ一
式のいずれであっても使用でき、特に限定されるもので
はない。
られているが、例えば、ガルバノ式あるいは回転ミラ一
式のいずれであっても使用でき、特に限定されるもので
はない。
図示のごとく、偏向器12上に光ビーム14を集光する
ことにより、偏向された光ビームは、あたかも偏向器1
2上の点光源から発せられたかのように進み、結像位置
は光ビームを走査しても、変位しないようにすることが
できる。
ことにより、偏向された光ビームは、あたかも偏向器1
2上の点光源から発せられたかのように進み、結像位置
は光ビームを走査しても、変位しないようにすることが
できる。
また、第4図に例示するように回折格子を用いて光ビー
ムを走査することも可能である。
ムを走査することも可能である。
同図において、レーザー光18は第1の回折格子17H
によって回折されて第2の回折格子17bに入射する。
によって回折されて第2の回折格子17bに入射する。
第2の回折格子17bで回折された光ビームはレンズ1
6に入射し、レコードの音溝壁15上に結像するように
構成されている。
6に入射し、レコードの音溝壁15上に結像するように
構成されている。
この場合、2つの回折格子i7a、17bの格子定数は
、互いに等しく、かつ時間的に変化するようにし、第1
の回折格子17Hに入射するレーザー光18の方向をレ
ンズ16の光軸と平行にすれば、レーザー光18はレン
ズ16の光軸に平行のままで、レンズ16上を走査すす
るようにできる。
、互いに等しく、かつ時間的に変化するようにし、第1
の回折格子17Hに入射するレーザー光18の方向をレ
ンズ16の光軸と平行にすれば、レーザー光18はレン
ズ16の光軸に平行のままで、レンズ16上を走査すす
るようにできる。
このようにすれば、光ビーム18を走査してもレンズ1
6による結像位置は移動しない。
6による結像位置は移動しない。
この場合、回折格子は音響波を利用したものでもよいし
、ホログラムを回転するものでもよく、特に限定される
ものではない。
、ホログラムを回転するものでもよく、特に限定される
ものではない。
次に、音溝壁からの特定方向の反射光を検出する前記第
2の手段に関してさらに詳しく説明する。
2の手段に関してさらに詳しく説明する。
第2図に示した例では、前記第2の手段は、ハーフ・ミ
ラー5、レンズ6および検出器7から構成されている。
ラー5、レンズ6および検出器7から構成されている。
音溝壁部分に光ビームを照射して信号を再生する方式に
は、反射光の反射方向から音溝壁の傾き角を検出する方
式と、ドツプラー・シフトによる反射光の周波数変化か
ら音溝壁の傾き角を検出する方式とが現在提案されてい
るが、検出器7は、それらのいずれの方式によるもので
あっても良い。
は、反射光の反射方向から音溝壁の傾き角を検出する方
式と、ドツプラー・シフトによる反射光の周波数変化か
ら音溝壁の傾き角を検出する方式とが現在提案されてい
るが、検出器7は、それらのいずれの方式によるもので
あっても良い。
第5図は、上記前者の再生方式を用いた一例を示す概略
構成図である。
構成図である。
図に示したように、2本の光ビーム22a、22bが音
溝壁19の同一部分Rを異なる方向から照射しており、
上記光ビーム22a、22bは、音溝壁19に垂直で回
転周速度■に平行な平面内で、上記音溝壁1oの回転周
速度■の垂直方向に対して、それぞれ互いに逆方向に4
5°の角度をもっているものとする。
溝壁19の同一部分Rを異なる方向から照射しており、
上記光ビーム22a、22bは、音溝壁19に垂直で回
転周速度■に平行な平面内で、上記音溝壁1oの回転周
速度■の垂直方向に対して、それぞれ互いに逆方向に4
5°の角度をもっているものとする。
さらに、音溝壁上の照射部分Rからハーフ・ミラー20
を見こむ角度が上記音溝壁19に垂直な平面内で90°
以上になるようにすれば、上記光ビーム22 a t
22 bの少なくともいずれか一方の反射光は、ハーフ
・ミラー2oにより反射されて位置検出器21に入射す
るように構成することができる。
を見こむ角度が上記音溝壁19に垂直な平面内で90°
以上になるようにすれば、上記光ビーム22 a t
22 bの少なくともいずれか一方の反射光は、ハーフ
・ミラー2oにより反射されて位置検出器21に入射す
るように構成することができる。
上記位置検出器21で反射光の入射位置を検出すること
により、照射部分Rからの光ビームの反射方向が回転周
速度■の垂直方向に対してなす角φの値を知ることがで
きる。
により、照射部分Rからの光ビームの反射方向が回転周
速度■の垂直方向に対してなす角φの値を知ることがで
きる。
この場合、音溝壁の回転周速度方向に対する傾き角θは
次式で表わせる。
次式で表わせる。
このとき、θ±45°まで検出が可能である。
θとφの関係が(2a)式か(2b)式のいずれになる
かを判別するためには。
かを判別するためには。
検出反射光ビームが22a、22bのいずれの照射光ビ
ームの反射光であるかを識別する必要がある。
ームの反射光であるかを識別する必要がある。
この識別は、例えば光ビーム22a 、22bを交互に
照射することにより容易に可能となる。
照射することにより容易に可能となる。
位置検出器21は、例えばCODイメージセンサ、MO
Sイメージセンサなどの一次元イメージセンサや、ある
いは第6図に例示するような光電式無接触ポテンショメ
ータと同様の構造にすることもできる。
Sイメージセンサなどの一次元イメージセンサや、ある
いは第6図に例示するような光電式無接触ポテンショメ
ータと同様の構造にすることもできる。
第6図を説明すると、基板24上に、細長い抵抗体26
と電極27cを平行に近接して設け、それらを光導電体
25で電気的に接続した構造になっている。
と電極27cを平行に近接して設け、それらを光導電体
25で電気的に接続した構造になっている。
成極27aと電極27b間に一定の電圧を印加し、光ス
ポット28を光導電体25上に照射すると、光スポット
の位置に応じた醒位が電極27cに発生するので、光ビ
ームの入射位置を検出することができる。
ポット28を光導電体25上に照射すると、光スポット
の位置に応じた醒位が電極27cに発生するので、光ビ
ームの入射位置を検出することができる。
第7図はドツプラー・シフトを検出して信号を再生する
方式を用いた実施例を示す概略構成図である。
方式を用いた実施例を示す概略構成図である。
この実施例では、レコードの音溝壁29に対して異なる
複数の入射角で光を照射する手段として、光ビームを走
査する方式を用いて、入射角が−αから+αまで時間的
に変化するようにしている。
複数の入射角で光を照射する手段として、光ビームを走
査する方式を用いて、入射角が−αから+αまで時間的
に変化するようにしている。
また、音溝壁部分からの反射光は、上記音溝壁部分の回
転周速度■の垂直方向に対する角度が+αと−αのもの
だけ検出するように検出器34a、34bを設けている
。
転周速度■の垂直方向に対する角度が+αと−αのもの
だけ検出するように検出器34a、34bを設けている
。
この場合、検出器34aあるいは34bで反射光が検出
されるときの照射光ビーム42が音溝壁部分の回転周速
iVに対してなす角度φは次式のごとくとなる。
されるときの照射光ビーム42が音溝壁部分の回転周速
iVに対してなす角度φは次式のごとくとなる。
φ−2θ−α(検出器34a、0≦θ≦α)・・・(3
a)φ−2θ十α(検出器34b、−α≦θ≦0)・・
・(3,、)一方、ドツプラー−シフトによる周波数変
化fDは、 となるので、周波数変化fDを検出すれば、音溝の傾き
角θ力腎M)す、信号を再生することができる。
a)φ−2θ十α(検出器34b、−α≦θ≦0)・・
・(3,、)一方、ドツプラー−シフトによる周波数変
化fDは、 となるので、周波数変化fDを検出すれば、音溝の傾き
角θ力腎M)す、信号を再生することができる。
ドツプラー・シフトによる周波数変化fDは、音溝壁2
9からの反射光ビームと照射光ビームの一部を混合し、
そのビートを発生させることにより検出することができ
る。
9からの反射光ビームと照射光ビームの一部を混合し、
そのビートを発生させることにより検出することができ
る。
検出器34a、34bから得られるビート信号は、それ
ぞれ周波数−電圧変換器37a 、37bにより電圧に
変換し、差動増幅器38に入力する。
ぞれ周波数−電圧変換器37a 、37bにより電圧に
変換し、差動増幅器38に入力する。
そして、それらの差電圧と、関数発生器39による■・
sinαに比例した電圧とを加算器40で加算すること
により、出力信号Eoを■・sinφに比例した電圧に
することができる。
sinαに比例した電圧とを加算器40で加算すること
により、出力信号Eoを■・sinφに比例した電圧に
することができる。
記録信号の速度振幅νが小さいときには、出力信号Eo
はνに比例し、速度振幅νが太きいときにはE。
はνに比例し、速度振幅νが太きいときにはE。
を補正してνに比例した信号を得ることができる。
なお、第7図中における30は偏向器、31゜32.3
3はレンズ、35a〜35fはハーフ・ミラー、36は
ミラーを示す。
3はレンズ、35a〜35fはハーフ・ミラー、36は
ミラーを示す。
上述の実施例は、いずれも信号の再生手段として、従来
から既に提案されている方式を応用したものであるが、
本発明では照射光ビームの入射方向が一つの方向に固定
されていないので、レコードの音溝壁からの反射方向が
特定の方向となる照射光ビームの入射方向を検出する新
規な方式によっても信号の再生が可能である。
から既に提案されている方式を応用したものであるが、
本発明では照射光ビームの入射方向が一つの方向に固定
されていないので、レコードの音溝壁からの反射方向が
特定の方向となる照射光ビームの入射方向を検出する新
規な方式によっても信号の再生が可能である。
以下、上記した新規方式の具体的な構成について説明す
る。
る。
第8図は本方式の原理を示す概略構成図である。
同図において、光ビーム42は偏向器43によってレン
ズ44上を走査し、音溝壁41上の再生部分を照射する
光ビームの入射角は時間的に変化するように構成されて
いる。
ズ44上を走査し、音溝壁41上の再生部分を照射する
光ビームの入射角は時間的に変化するように構成されて
いる。
本方式では、光ビームの走査方法は特に限定されるもの
ではないが、以下、一定方向に繰返し走査するものとし
て説明する。
ではないが、以下、一定方向に繰返し走査するものとし
て説明する。
音溝壁41からの反射光ビームのうち、ハーフ・ミラー
46により反射され、アパーチャ47を通過するものだ
けが光電検出器48で検出されるように構成されている
。
46により反射され、アパーチャ47を通過するものだ
けが光電検出器48で検出されるように構成されている
。
そこで、光電検出器48の受光強度が最大となる時刻か
ら、照射光ビームの音溝壁41に対する入射方向を読み
取れば、音溝壁41の照射部分の傾き角を検出すること
ができる。
ら、照射光ビームの音溝壁41に対する入射方向を読み
取れば、音溝壁41の照射部分の傾き角を検出すること
ができる。
この場合、光ビームを走査する手段は必ずしも不可欠の
要素ではなく、例えば、多数の光源を一次的に配夕1ル
、どの光源からの光ビームの反射光が検出されるかを検
索するようにしても本質的には伺ら差支えない。
要素ではなく、例えば、多数の光源を一次的に配夕1ル
、どの光源からの光ビームの反射光が検出されるかを検
索するようにしても本質的には伺ら差支えない。
ただ、この第8図の構成では、検出する音溝壁41の傾
き角が一θmから+0mの範囲で変化するとすれば、照
射光ビームの入射方向を一2θmから+2θmまで変化
する必要があり、大信号の検出が困難であるという従来
からの欠点は解消されない。
き角が一θmから+0mの範囲で変化するとすれば、照
射光ビームの入射方向を一2θmから+2θmまで変化
する必要があり、大信号の検出が困難であるという従来
からの欠点は解消されない。
そこで第9図に示すように2個の光電検出器49a、4
9bを設ければ、第7図と類似の構成で上記の欠点は解
決できる。
9bを設ければ、第7図と類似の構成で上記の欠点は解
決できる。
なお、第8図および第9図における45はレンズを示す
。
。
さらに大振幅信号を容易に検出できる別の新規な方式に
ついて説明する。
ついて説明する。
前記した第7図、第9図の実施例では、いずれも、音溝
壁の傾き角が正の場合(図で反時計方向)と負の場合(
図で時計方向)とで検出器を切替える必要があった。
壁の傾き角が正の場合(図で反時計方向)と負の場合(
図で時計方向)とで検出器を切替える必要があった。
第10図は上記した欠点を解消した新規な検出手段の概
略構成図である。
略構成図である。
この方式は、照射光ビームとほぼ同一の光路を逆にたど
る音溝壁50からの反射光ビームだけ、ハーフ・ミラー
54で取り出し、アパーチャ55を通過したものを検出
器56で検出するように構成されている。
る音溝壁50からの反射光ビームだけ、ハーフ・ミラー
54で取り出し、アパーチャ55を通過したものを検出
器56で検出するように構成されている。
例えば、この図の場合、音溝壁50に対してレンズ51
を通して直に入射する光ビーム57の反射光は検出され
るが、入射光ビーム58の反射光は図示のように検出器
56では受光されない。
を通して直に入射する光ビーム57の反射光は検出され
るが、入射光ビーム58の反射光は図示のように検出器
56では受光されない。
このとき、信号の再生手段は特に限定されるものではな
く、検出器56の受光強度が最大となる時刻の照射光ビ
ームの入射方向が、音溝壁50の回転周速度■の垂直方
向に対してなす角度φを検出してもよいし、反射光ビー
ムのドツプラー・シフトによる周波数変化を検出しても
よい。
く、検出器56の受光強度が最大となる時刻の照射光ビ
ームの入射方向が、音溝壁50の回転周速度■の垂直方
向に対してなす角度φを検出してもよいし、反射光ビー
ムのドツプラー・シフトによる周波数変化を検出しても
よい。
また、光源にレーザー・ダイオードを用いれば、放射し
たレーザー光が反射して元のレーザー・ダイオードに帰
還したとき、該レーザー・ダイオードの注入電流が変化
する、いわゆる自己結合効果を用いて、音溝壁からの反
射光ビームを検出することもできる。
たレーザー光が反射して元のレーザー・ダイオードに帰
還したとき、該レーザー・ダイオードの注入電流が変化
する、いわゆる自己結合効果を用いて、音溝壁からの反
射光ビームを検出することもできる。
この場合には、ハーフ・ミラー54、アパーチャ55、
検出器56を省略することもできる。
検出器56を省略することもできる。
なお、第10図における52は偏向器、53はレンズを
示す。
示す。
次に、照射光ビームの入射角が変化することを利用した
新規なフォーカス検出手段について説明する。
新規なフォーカス検出手段について説明する。
第11図は、その−例を示す概略構成図である。
同図において、レンズ65のフォーカス位置が正しく制
御されているものとする。
御されているものとする。
レコードの音溝壁59で反射し、レンズ65を通って出
た反射光ビーム60はハーフ・ミラー61で反射した後
、図示のごとく近接して設けられた2個の光電検出器6
2a、62bの中間位置に集束するように構成されてい
る。
た反射光ビーム60はハーフ・ミラー61で反射した後
、図示のごとく近接して設けられた2個の光電検出器6
2a、62bの中間位置に集束するように構成されてい
る。
このとき、レンズ65と音溝壁59の距離が変化し、フ
ォーカスがずれると、反射光は上記光電検出器62a、
62bの中間位置に正しく集束せずに、照射光ビームの
走査に同期して上記光電検出器62a 、62bの上を
変化するようになる。
ォーカスがずれると、反射光は上記光電検出器62a、
62bの中間位置に正しく集束せずに、照射光ビームの
走査に同期して上記光電検出器62a 、62bの上を
変化するようになる。
したがって、これらの光電検出器の出力の差として発生
するところの照射光ビームの走査と同軸した信号を差動
増幅器63から得、その出力であるフォーカス検出信号
に基いてフォーカス制御器64は5駆動電流を、環状永
久磁石67内に配された可動コイル66に流してレンズ
65を光軸に沿って駆動し、フォーカス制御することが
できる。
するところの照射光ビームの走査と同軸した信号を差動
増幅器63から得、その出力であるフォーカス検出信号
に基いてフォーカス制御器64は5駆動電流を、環状永
久磁石67内に配された可動コイル66に流してレンズ
65を光軸に沿って駆動し、フォーカス制御することが
できる。
実際にレンズ65のフォーカスがずれたときに、光電検
出器62a、62bの出力の差として得られる信号の波
形は、フォーカスのずれの方向および音溝壁の傾きの方
向によって異なったものとなる。
出器62a、62bの出力の差として得られる信号の波
形は、フォーカスのずれの方向および音溝壁の傾きの方
向によって異なったものとなる。
第12図は、第11図におけるレンズ65と音溝壁59
が、正規の距離より近すぎるときのフォーカス検出の様
子を模式的に表わしたものである。
が、正規の距離より近すぎるときのフォーカス検出の様
子を模式的に表わしたものである。
なお、光電検出器へ入射する反射光ビームは左図a ’
= eの矢印の方向(下から上)に照射光ビームと同期
して走査するものとする。
= eの矢印の方向(下から上)に照射光ビームと同期
して走査するものとする。
同図でa ”−eは、音溝壁59の傾きにより、光電検
出器62a。
出器62a。
62bに入射する反射光ビームの入射方向が全体的に偏
ることを示したもので、音溝壁の傾きに応じて、いずれ
かの状態になる。
ることを示したもので、音溝壁の傾きに応じて、いずれ
かの状態になる。
また、同図で破線で示した反射光ビームは実際にはレン
ズ65で集光されず、光電検出器62a、62bには入
射しないことを示している。
ズ65で集光されず、光電検出器62a、62bには入
射しないことを示している。
第12図a ”−eのそれぞれの場合における光電検出
器62a 、62bの出力の差信号の波形は、それぞれ
の図の右側に示したa′〜e愉のようになる。
器62a 、62bの出力の差信号の波形は、それぞれ
の図の右側に示したa′〜e愉のようになる。
一方、レンズ65と音溝壁59が正規の距離より逆に遠
すぎるときのフォーカス検出の様子を第12図と同様に
模式的に示すと第13図のようになる。
すぎるときのフォーカス検出の様子を第12図と同様に
模式的に示すと第13図のようになる。
第12図a′−e′と第13図a′〜e′を比較すれば
、互いに波形が異なっており、レンズ65のフォーカス
のずれの方向が識別できることは明かである。
、互いに波形が異なっており、レンズ65のフォーカス
のずれの方向が識別できることは明かである。
また、第14図に示すように、音溝壁からの反射光ビー
ムが偏向器68で反射した後でフォーカス検出するよう
にすれば、レンズ65のフォーカスのずれの方向の識別
が容易になる0なお、第14図において、69はレンズ
、70a、70bは光電検出器、71はアパーチャ、7
2は先の7゜34a、34b、56に相当する検出器で
ある。
ムが偏向器68で反射した後でフォーカス検出するよう
にすれば、レンズ65のフォーカスのずれの方向の識別
が容易になる0なお、第14図において、69はレンズ
、70a、70bは光電検出器、71はアパーチャ、7
2は先の7゜34a、34b、56に相当する検出器で
ある。
第15図aはレンズ65と音溝壁59が正規の距離より
近すぎるときのフォーカス検出の様子を模式的に表わし
たものである。
近すぎるときのフォーカス検出の様子を模式的に表わし
たものである。
このときの光電検出器70a 、70bの出力の差信号
は、同図aの右側のa′に示すように、検出器72によ
って反射光ビームが検出される時刻を境にして極性が反
転したものとなる。
は、同図aの右側のa′に示すように、検出器72によ
って反射光ビームが検出される時刻を境にして極性が反
転したものとなる。
レンズ65と音溝壁59が正規の距離より遠すぎる場合
は第15図すに示すごとくで、その場合の光電検出器7
0a 、70bの出力の差信号は、第15図b′のよう
になり、第15図a′の場合と比べて極性が反対になる
。
は第15図すに示すごとくで、その場合の光電検出器7
0a 、70bの出力の差信号は、第15図b′のよう
になり、第15図a′の場合と比べて極性が反対になる
。
そこで、例えば第16図のような構成にすれば、レンズ
65のフォーカスのずれの方向を識別することができる
。
65のフォーカスのずれの方向を識別することができる
。
その動作を説明すると次のようになる。照射光ビームを
走査のする各周期のスタート時には、スイッチ回路・7
5は差動増幅器73からの入力Aを出力する状態になっ
ているが、検出器72が反射光ビームを受光すると、そ
の出力がスイッチ回路75に供給され、該スイッチ回路
75は、反転器74によって極性の反転された入力Bを
出力するように切替わる。
走査のする各周期のスタート時には、スイッチ回路・7
5は差動増幅器73からの入力Aを出力する状態になっ
ているが、検出器72が反射光ビームを受光すると、そ
の出力がスイッチ回路75に供給され、該スイッチ回路
75は、反転器74によって極性の反転された入力Bを
出力するように切替わる。
このような構成にすれば、第15図aのような方向にフ
ォーカスがずれた場合には出力が常に正になり、また、
第15図すのような方向にフォーカスがずれた場合には
逆に出力は負となる。
ォーカスがずれた場合には出力が常に正になり、また、
第15図すのような方向にフォーカスがずれた場合には
逆に出力は負となる。
したがってフォーカスのずれの方向を出力の極性で容易
に識別することが可能であるO 本発明は、さらにレコード針による再生時に発生するト
レーシング歪と同等のトレーシング歪を発生させること
が可能である。
に識別することが可能であるO 本発明は、さらにレコード針による再生時に発生するト
レーシング歪と同等のトレーシング歪を発生させること
が可能である。
現在市販されているレコードの殆んどは、トレーシング
歪補正が加えられており、トレーシング歪のない再生手
段により再生すると、トレーシング歪補正が逆に歪とし
て残留するという欠点がある。
歪補正が加えられており、トレーシング歪のない再生手
段により再生すると、トレーシング歪補正が逆に歪とし
て残留するという欠点がある。
本発明によると、この欠点を容易に解決することができ
ることを次に説明する。
ることを次に説明する。
第17図は再生針によるトレーシング歪を説明するため
の図である。
の図である。
同図において、半径rの再生針77と音溝壁76が図の
ように接しており、その接点における音溝壁76の傾き
角がθであるとする。
ように接しており、その接点における音溝壁76の傾き
角がθであるとする。
このとき、接点の位置は再生針77の中心の位置に対し
て、音溝壁の回転周速度■の方向にr−31nθだけず
れており、時間誤差、(1は、となる。
て、音溝壁の回転周速度■の方向にr−31nθだけず
れており、時間誤差、(1は、となる。
これを一般にトレーシング歪と呼んでおり、現在市販の
殆んどのレコードは、このようなトレーシング歪を補償
するように記録波形が補正されている。
殆んどのレコードは、このようなトレーシング歪を補償
するように記録波形が補正されている。
第18図は、本発明によってトレーシング歪が発生する
原理を説明するための図である。
原理を説明するための図である。
同図に示すように、n個の異なる入射角で光ビームを照
射し、それらの照射光は一度F点に集束し、それらの照
射光は一度F点に集束味その後、音溝壁78を照射する
ように構成されている。
射し、それらの照射光は一度F点に集束し、それらの照
射光は一度F点に集束味その後、音溝壁78を照射する
ように構成されている。
音溝i78からの反射光ビームは、音溝壁78の回転周
速度■に垂直な方向のものだけが検出され、例えば、回
転周速度■の垂直方向に対してθiの角度をなす方向か
ら入射する照射光ビームの反射光ビームが検出されるも
のとする○上記照射光ビームが音溝壁78上に投射する
点をPとし、P点とF点の距離をriとすれば、P点が
F点から回転速度■の方向に沿ってずれていることによ
る時間誤差、Jtiは、 となる。
速度■に垂直な方向のものだけが検出され、例えば、回
転周速度■の垂直方向に対してθiの角度をなす方向か
ら入射する照射光ビームの反射光ビームが検出されるも
のとする○上記照射光ビームが音溝壁78上に投射する
点をPとし、P点とF点の距離をriとすれば、P点が
F点から回転速度■の方向に沿ってずれていることによ
る時間誤差、Jtiは、 となる。
したがって、θの小さな範囲ではriがレコード針の半
径rの半分程度になるように制御すれば、レコード針に
よる再生と同程度のトレーシング歪を発生させることが
できる。
径rの半分程度になるように制御すれば、レコード針に
よる再生と同程度のトレーシング歪を発生させることが
できる。
また、先の第10図のように、音溝壁78からの反射光
ビームが、入射光ビームと同じ光路を逆にたどるときだ
け、上記反射光を検出するように構成すれば、θi−θ
となって、前記(6)式は次式のようになる。
ビームが、入射光ビームと同じ光路を逆にたどるときだ
け、上記反射光を検出するように構成すれば、θi−θ
となって、前記(6)式は次式のようになる。
この場合、ri”’rとすれば、あらゆるθの値に対し
て、レコード針と同様のトレーシング歪を発生させるこ
とができる。
て、レコード針と同様のトレーシング歪を発生させるこ
とができる。
また、riの値を調節してトレーシング歪の大きさをコ
ントロールすることもでき、必要であればトレーシング
歪を殆んど無くすることも可能である。
ントロールすることもでき、必要であればトレーシング
歪を殆んど無くすることも可能である。
また、照射光ビームを走査し、その走査時間を利用して
も、上記トレーシング歪と同様の時間誤差を生じるよう
にすることが可能である。
も、上記トレーシング歪と同様の時間誤差を生じるよう
にすることが可能である。
例えば第10図のような構成では、音溝壁50の回転周
速度■の垂直方向と照射光ビーム57のなす角度φは時
間的に変化し、φが音溝壁50の傾き角θとほぼ等しく
なったときだけ反射光ビームは検出器56で検出される
ため、上記反射光ビームが検出される時刻は音溝壁50
の傾き角θに供存することになる。
速度■の垂直方向と照射光ビーム57のなす角度φは時
間的に変化し、φが音溝壁50の傾き角θとほぼ等しく
なったときだけ反射光ビームは検出器56で検出される
ため、上記反射光ビームが検出される時刻は音溝壁50
の傾き角θに供存することになる。
一方、検出された反射光から再生された信号は、反射光
の検出時刻に関係なく一定の周期で照射光ビームの走査
に同期して出力するものとすれば、反射光を検出する時
刻と再生信号を出力する時刻との時間差は角度θに応じ
て変化する。
の検出時刻に関係なく一定の周期で照射光ビームの走査
に同期して出力するものとすれば、反射光を検出する時
刻と再生信号を出力する時刻との時間差は角度θに応じ
て変化する。
そこで、照射光ビームの走査速度を適当に制御すると、
レコード針によるトレーシング歪と同等の時間誤差を生
じるようにすることができる。
レコード針によるトレーシング歪と同等の時間誤差を生
じるようにすることができる。
このことを、もう少し定量的に説明すると、仄のように
なる。
なる。
照射光ビーム57の入射角φが0のときの時刻をOとし
、 となるように上記照射光ビームが走査されるとする。
、 となるように上記照射光ビームが走査されるとする。
このとき、傾き角・θの音溝壁50からの反射光ビーム
が検出される時刻tθは明らかに、となり、これが時間
誤差となる。
が検出される時刻tθは明らかに、となり、これが時間
誤差となる。
そこで、(5) 、 (9)式より、
とし、sinの変化速度が音溝壁回転周速度■に比例し
て変化するようにすれば、常にレコード針のトレーシン
グ歪と同等のトレーシング歪を発生させることが可能と
なる。
て変化するようにすれば、常にレコード針のトレーシン
グ歪と同等のトレーシング歪を発生させることが可能と
なる。
また、上記した2つの方式によるトレーシング歪発生手
段は、それぞれ単独で用いるだけでなく、両者を並用し
ても伺ら差支えない。
段は、それぞれ単独で用いるだけでなく、両者を並用し
ても伺ら差支えない。
このときには、音溝壁の回転周速度の減少にしたがって
、照射光ビームの走査速度を減少させ、第18図のF点
とP点の距離を一定とするか、あるいは逆に、上記F点
とP点の距離を増加させ、上記走査速度を一定とするこ
とにより、常にレコード針と同等のトレーシング歪を発
生させることができる。
、照射光ビームの走査速度を減少させ、第18図のF点
とP点の距離を一定とするか、あるいは逆に、上記F点
とP点の距離を増加させ、上記走査速度を一定とするこ
とにより、常にレコード針と同等のトレーシング歪を発
生させることができる。
以上の説明から明かなように本発明は、
■ 大振幅の信号を容易に検出できる○
■ フォーカス検出の精度を高くできる。
■ レコード針による再生時と同等のトレーシング歪を
もたせることができ、トレーシング歪補正されたレコー
ドの再生にも適している。
もたせることができ、トレーシング歪補正されたレコー
ドの再生にも適している。
という特長があり、さらに音溝壁からの反射光ビームの
検出光量が最大となるような、照射光ビームの入射方向
から音溝壁の傾き角を検出する方式■ 検出器は受光強
度を検出すればよいので、検出器の構成が簡単でよい。
検出光量が最大となるような、照射光ビームの入射方向
から音溝壁の傾き角を検出する方式■ 検出器は受光強
度を検出すればよいので、検出器の構成が簡単でよい。
■ 反射光が成る程度の広がり角をもっていても高精度
の検出が可能である。
の検出が可能である。
■ 照射光の強度変化や音溝壁の反射率の変化などによ
る反射光の強度変化による雑音を少なくできる。
る反射光の強度変化による雑音を少なくできる。
といった非常にすぐれた数々の特長を有するものである
。
。
第1図は光ビームを小さなスポットに絞るときの絞りの
限界および回折族がり角を説明するための図、第2図は
本発明の主要な部分を示す原理図、第3図は照射光ビー
ムを走査する手段の原理図、第4図は光ビームを走査す
る偏向器に回折格子を用いた走査手段の一実施例の概略
構成図、第5図は本発明の一実施例を示す概略構成図、
第6図は位置検出器の一例を示す概略構成図、第7図は
本発明の池の実施例を示す概略構成図、第8図は信号再
生手段の原理を示す概略構成図、第9図は第8図の改良
案の原理図、第10図は本発明のさらに別の実施例を示
す概略構成図、第11図はフォーカス制御手段の一例を
示す概略構成図、第12図および第13図の各a、b、
c、d、eおよびa′、b′、e′、d′、e′はフォ
ーカス検出の動作を説明するための図、第14図はフォ
ーカス検出の池の例を示す概略構成図、第15図a 、
a’、 b 、 b’はそのフォーカス検出動作を説
明するための図、第16図は本発明で使用し得るフォー
カスずれ方向識別回路の一例を示す図、第17図はレコ
ード針によるトレーシング歪を説明するための図、第1
8図は本発明におけるトレーシング歪発生を説明するた
めの原理図である。 1.4,10,15,19,29,41,50゜59
、76 、78・・・・−・音溝壁、2.22a 、2
2b。 42 、57 、58・・・・・・照射光ビーム、3,
9a〜9c 、23a 、23b 、60−反射光ビー
ム、5.20,35a〜35f、46,54,61・・
・・・・ハーフ・ミラー 6,13,16,31 .3
2゜33.44,45,51.53,65,69・・・
・・・レンズ、7.34a、34b、56.72−−−
−−−検出器、8a〜8c・・・・・・光源、12,3
0,43゜52.68・・・・・・偏向器、14・・・
・・・光ビーム、17a。 17b・・・・・・回折格子、18・・・・・ルーザー
光、21・・・・・・位置検出器、37a、37b・・
・・・・周波数−電圧変換器、38,63.73・・・
・・・差動増幅器、39・・・・・・関数発生器、40
・・・・・・加算器、47 、55 。 71−−・−・・アパーチャ、48,49a、49b。 62a、62b、70a、70b・・・・・・光電検出
器、64・・・・・・フォーカス制御器、66・・・・
・・可動コイル、67・・・・・・永久磁石、74・・
・・・・反転器、75・・・・・・スイッチ回路、77
・・・・・・レコード針。
限界および回折族がり角を説明するための図、第2図は
本発明の主要な部分を示す原理図、第3図は照射光ビー
ムを走査する手段の原理図、第4図は光ビームを走査す
る偏向器に回折格子を用いた走査手段の一実施例の概略
構成図、第5図は本発明の一実施例を示す概略構成図、
第6図は位置検出器の一例を示す概略構成図、第7図は
本発明の池の実施例を示す概略構成図、第8図は信号再
生手段の原理を示す概略構成図、第9図は第8図の改良
案の原理図、第10図は本発明のさらに別の実施例を示
す概略構成図、第11図はフォーカス制御手段の一例を
示す概略構成図、第12図および第13図の各a、b、
c、d、eおよびa′、b′、e′、d′、e′はフォ
ーカス検出の動作を説明するための図、第14図はフォ
ーカス検出の池の例を示す概略構成図、第15図a 、
a’、 b 、 b’はそのフォーカス検出動作を説
明するための図、第16図は本発明で使用し得るフォー
カスずれ方向識別回路の一例を示す図、第17図はレコ
ード針によるトレーシング歪を説明するための図、第1
8図は本発明におけるトレーシング歪発生を説明するた
めの原理図である。 1.4,10,15,19,29,41,50゜59
、76 、78・・・・−・音溝壁、2.22a 、2
2b。 42 、57 、58・・・・・・照射光ビーム、3,
9a〜9c 、23a 、23b 、60−反射光ビー
ム、5.20,35a〜35f、46,54,61・・
・・・・ハーフ・ミラー 6,13,16,31 .3
2゜33.44,45,51.53,65,69・・・
・・・レンズ、7.34a、34b、56.72−−−
−−−検出器、8a〜8c・・・・・・光源、12,3
0,43゜52.68・・・・・・偏向器、14・・・
・・・光ビーム、17a。 17b・・・・・・回折格子、18・・・・・ルーザー
光、21・・・・・・位置検出器、37a、37b・・
・・・・周波数−電圧変換器、38,63.73・・・
・・・差動増幅器、39・・・・・・関数発生器、40
・・・・・・加算器、47 、55 。 71−−・−・・アパーチャ、48,49a、49b。 62a、62b、70a、70b・・・・・・光電検出
器、64・・・・・・フォーカス制御器、66・・・・
・・可動コイル、67・・・・・・永久磁石、74・・
・・・・反転器、75・・・・・・スイッチ回路、77
・・・・・・レコード針。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 音溝の壁に信号が凹凸の形式で記録されているレコ
ードの音溝壁部分に光ブームを照射して信号を再生する
装置であって、前記光ビームを前記音溝壁部分に対して
、複数の異なる入射角で順次照射する第1の手段と、前
記音溝壁部分からの特定の方向の反射光ビームを検出す
る第2の手段とを具備してなることを特徴とする光学的
再生装置。 2、特許請求の範囲第1項の記載において、前記第1の
手段は、光源と、前記音溝壁部分に光ビームを集光する
レンズと、該レンズの口径内でその口径に比べて十分細
く絞った光ビームを走査する偏向器とを有し、前記偏向
器によって前記音溝壁部分に対する光ビームの入射角が
時間的に変化するように構成されていることを特徴とす
る光学的再生装置。 3 特許請求の範囲第2項の記載において、前記光ビー
ムを走査する速度を、前記音溝壁部分の回転周速度に比
例して変化させるように構成されていることを特徴とす
る光学的再生装置。 4 特許請求の範囲第2項の記載において、前記偏向器
は、適当な間隔をおいて設置された互いに平行な2枚の
格子定数可変の回折格子を有し、それらの回折格子の格
子定数を互いに等しくし、かつ時間的に変化させるよう
に構成されていることを特徴とする光学的再生装置。 5 特許請求の範囲第2項の記載において、前記レンズ
は1駆動装置によってフォーカス制御するように構成さ
れ、かつ前記レンズを透過して帰ってくる前記音溝壁部
分からの反射光ビームを集束し、前記反射光ビームの集
束位置に設置した複数個の光電検出器のそれぞれの出力
の差として得られるところの前記光ビームの走査と同期
した信号から、前記フォーカス制御用駆動装置の制御信
号を得るように構成されていることを特徴とする光学的
再生装置。 6 特許請求の範囲第1項または第2項の記載において
、前記光ビームは前記音溝壁部分から特定の距離だけ離
れた点にすべて集束するように制御されることを特徴と
する光学的再生装置。 7 特許請求の範囲第6項の記載において、前記特定距
離は、前記音溝壁部分の回転周速度の変化に伴って変化
するように構成されていることを特徴とする光学的再生
装置。 8 特許請求の範囲第1項の記載において、前記第2の
手段は、音溝壁からの反射光ビームの強度を検出するよ
うに構成され、かつ前記反射光ビームの検出強度が最大
となるときの前記光ビームの音溝壁部分に対する入射方
向を実質的に読みとることにより信号を再生する手段を
含めて構成されていることを特徴とする光学的再生装置
。 9 %許請求の範囲第1項の記載において、前記反射光
ビームの特定の方向は、反射角が前記音溝壁部分に垂直
で、前記光ビームの入射光路と同一もしくは、はぼ同一
の光路を逆にたどるような方向であることを特徴とする
光学的再生装置。 10 特許請求の範囲第9項の記載において、前記第1
の手段は光源としてレーザー・ダイオードを含み、該レ
ーザー・ダイオードは前記第2の手段の反射光を検出す
る機能を合わせ持つことを特徴とする光学的再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53128967A JPS5834008B2 (ja) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | 光学的再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53128967A JPS5834008B2 (ja) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | 光学的再生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5555442A JPS5555442A (en) | 1980-04-23 |
JPS5834008B2 true JPS5834008B2 (ja) | 1983-07-23 |
Family
ID=14997832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53128967A Expired JPS5834008B2 (ja) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | 光学的再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5834008B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60179606A (ja) * | 1984-07-27 | 1985-09-13 | Nakanishi Kinzoku Kogyo Kk | 測長器 |
-
1978
- 1978-10-18 JP JP53128967A patent/JPS5834008B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60179606A (ja) * | 1984-07-27 | 1985-09-13 | Nakanishi Kinzoku Kogyo Kk | 測長器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5555442A (en) | 1980-04-23 |
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