JPS5832654B2 - 織布走査装置 - Google Patents

織布走査装置

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JPS5832654B2
JPS5832654B2 JP53095164A JP9516478A JPS5832654B2 JP S5832654 B2 JPS5832654 B2 JP S5832654B2 JP 53095164 A JP53095164 A JP 53095164A JP 9516478 A JP9516478 A JP 9516478A JP S5832654 B2 JPS5832654 B2 JP S5832654B2
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scanning
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アービング・リチヤード・ブレンホールト
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ST Regis Paper Co
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles

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  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は織布走査装置に関し、詳細には織布を横方向に
フライングスポットで走査することにより織布の欠陥を
検出する織布走査装置(こ関する。
移動する織布を有する数多くの製造プロセスは織布の品
質が検査されることを必要とする。
毎分当り5000フイートまでの織布速度で、孔、切断
、しわ、しみ等の欠陥に対する紙織布等の大きい幅の織
布の100多領域検査が必要である。
現在市販されているかあるいは発明者にわかっている織
布走査装置は、点あるいはスリットスキャナ、または多
ヘツド固定フィールド検出器のカテゴリーに入る。
点スキャナは織布を横方向に検査するレーザー及びテレ
ビジョンカメラスキャナから成る。
スリットスキャナは織布の横方向に配置されたスリット
を有しビームの走査によらずに移動する織布によってこ
の織布の領域の検査を行なうものである。
多ヘツド固定フィールド検出器は、個々のヘッドが織布
の小部分だけを走査し全多重ヘッドからのまとめられた
領域が織布を横切って存在しこの織布が移動されるにつ
れて検査を行なうものである。
これら従来技術の走査装置の欠点は次のようである。
点スキャナは、織布が横に移動する点に対して極めて遅
い速度で移動しなければ移動している織布の100%の
検査を行なえない。
イメージデスセクタのようなスリットスキャナは100
φの検査を戊しうるが走査されている全領域の強いかつ
一様な照射を必要とする。
可視光スペクトラムにおける動作は、通常の交流工業照
射装置により発生される変調干渉をなくすために特殊の
直流照射源を必要とする。
多ヘツド固定フィールドデテクタはそれぞれが独立した
感度あるいはバランス調整を必要とする数百の検出器/
増幅器組合わせを必要とするという点で複雑である。
与えられた織布の欠陥に対する電気的出力は広帯域信号
増幅装置を必要とする織布速度に直接に比例する。
これら従来の装置のほとんどは織布の上あるいは下のど
ちらかに織布に極めて接近して照射を必要とする。
多くの装置Eこおいて、織布はこのセンサによって縫う
ように照射される。
従来技術のすべての市販装置は製造の複雑さ、織布照射
の間特別の強さが必要、あるいは複雑なオンライン調整
のために高価である。
解決されるべき問題は前述された欠点を取り除いた織布
走査装置を構成することである。
前述の問題は径路に沿って移動できる織布用の次の構成
になる織布走査装置により解決された。
すなわち、この織布走査装置は放射デテクタ、織布の1
方の側面から他方の側面へこの移動している織布を横方
向に周期的に走査するフライングスポット走査路を確立
する走査装置、少なくとも織布のフライングスポット走
査部分を照射する装置、前記デテクタに織布のフライン
グスポット照射部の影f象を送る装置、前記デテクタの
出力を微分するように接続された微分器、及び前記微分
器の出力端に接続され織布の走査中前記デテクタから正
規の出力に関連した増加及び減少信号を特性づける出力
特性づけ回路から購威されている。
本発明の目的は動作が信頼でき簡単である織布走査装置
を提供することにある。
本発明の別の目的はセンサによって織布を縫うようにす
ること(threading )を避けるためにこの織
布の1方の側にすべて取付けることができる織布走査装
置を提供することにある。
本発明の別の目的は可変幅織布を走査し自動的に織布幅
fこ調節する織布走査装置を提供することにある。
本発明の別の目的は織布からの明反別及び暗反別を識別
する織布走査装置を提供することにある。
本発明の別の目的は、織布幅の与えられた部分が反別の
平均の変化としてサンプルされ全織布幅にわたって平均
利得を制御する織布走査装置を提供することにある。
本発明の別の目的は、センサーヘッドが内蔵され、いか
なる外部光源が必要とされなくとも、このセンサは明る
い工業照射装置により変化されないような織布走査装置
を提供することにある。
本発明の別の目的は、容易に手で持てる大きさにまとめ
られ織布から遠い位置に配設できる織布走査装置を提供
することにある。
本発明の他の目的及び十分な理解は添付図面に関連して
行なわれたり下の説明及び特許請求の範囲を参照するこ
と(こより得られる。
第1図は織布走査装置11の全体の斜視図であり、移動
している織布13が第1の端14から第2の端15まで
走査されるように全体的に走査装置12を備えている。
放射源が設けられており、本実施例においてはこれは放
射源である。
この照明源は好ましくはライン光源16あるいは外部入
剖灯17あるいはその両方により発生される近赤外領域
にある。
ライン光源16は例えば自動車の12ボルト細形フイラ
メントランプであり、外部入躬灯は例えば115ポルt
−A、C,入躬灯のような商用使用電圧で動作する通常
のランプである。
これらの2つのランプは115ボルト電源に直列に接続
され、各ランプは近赤外領域で動作される半分の電圧で
動作し織布走査装置11のトラブルのない動作の非常(
こ長い稼動を行なう。
ビームスプリッタ−18はライン光源16からの光をレ
ンズ19を介して走査ミラー20へ反別する。
このミラー20は稼動している織布13を横方向に走査
する装置である。
この走査ミラーは多面回転鏡であり、本実施例では振動
の周期の確立を補助するためのぴんと張られた帯21上
に支持された振動するミラーである。
マスク24は、光学頭載を遮断するが細長いスリット2
5が設けられフィルタ26を通ってホトデテクタ27へ
放射を通す。
細長いスロ゛ソト25はその幅の少なくとも10倍の、
好ましくはおよ−そ50倍の長さを有している。
このスリット25の影偉はレンズ19により織布13上
に投射され、織布13を横方向に走査するフライングス
ポット28を与える。
このように、細長いスリット25はホトデテクタ27へ
人別するエネルギを、織布13の面上のフライングスポ
ット28の細長く狭い四角形からもたらされるエネルギ
に幾何学的に制限する。
第2図及び第3図はこの走査装置12の構造の詳細をよ
く示している。
この走査装置12は、容易に手でさ\えられるほど小さ
い体積となるように外部入躬灯17を除いてライン光源
16及び他のすべての部品がハウジング29内に取付け
られている。
糸を通されたロッド30はレンズ19の焦点調整装置用
に備えられており、電気ケーブルプラグ31はら下に説
明される電気回路部をなすプリント回路板32を備えた
この走査装置12内の部品に対する電気的接続を行なう
ホトデテクタ27は2次電子放出光電子増倍管であり、
好ましくは近赤外スペクトラムに感応するソリッドステ
ート広帯域ホトダイオードである。
この光学フィルタ26は近赤外放射は通し、光学スペク
トラムの紫外線及びほとんどの可視領域を遮断する。
効率的な工業照射装置は可視スペクトラムにおける最大
の放射を与える。
アメリカ合衆国においては、この照射装置は通常120
ヘルツの電源線周波数の2倍の変調により特徴づけられ
る。
この分野に入る工業照射装置は螢光水銀・ナトリウム灯
を旋えている。
工業白熱照射装置は可視スペクトラムにおいては最大の
変調、通常120ヘルツ、を発生し近赤外においては最
小の変調を発生する。
すべての有効な工業照射装置は近赤外における最小放射
あるいは近赤外における放射の最小の変調を発生する。
周囲の照射の周期的な変動、前述のような変調は、情報
形式が時間の関数としての放射束密度対装置の形状寸法
であるような光電装置の機能特性にとって有害である。
これらの理由により、光学フィルタ26の機能は光学ス
ペクトラムの紫外領域及可視領域における放射を排除し
、近赤外線領域における放射を受けることである。
放射源16あるいは17は織布の照射を行ない、少なく
とも、デテクター−スリット組合わせにより見通される
フライングスポット走査路である織布上の瞬時の領域を
照射する。
ライン光源は、直接にあるいは円筒形レンズないし複合
円筒と共に用いられる白熱タングステンワイアあるいは
リボンである。
この光源はまた高温ガス毛細管である。最大効率には、
各影f象が織布13の面上に投射されることを考えると
、このライン光源は長さ及び幅でデテクタスリットサイ
ズに等しくあるべきである。
このビームスプリッタ−18は、織布面のスリット25
の受動影f象上にライン光源16の能動影偉を重畳する
手段である。
このビームスプリッタ−は、はゾ2%を反則する通常の
ガラスである。
このガラス上の分子金属付着は光線の反射成分を増すが
この要素を介していくらかの伝送を生じる。
またこのビームスプリッタ−は、中心に開口を有する鏡
かあるいはこのビームのある部分をおXいかくす鏡であ
る。
主光学軸に対してビームスプリッタを45度に位置する
ことは長も便利である。
レンズ19は織布13上の正しく同じ位置にスリット2
5及びライン光源16の影f象を形成する。
このレンズの直径すなわち開口は織布への最大の光の放
射及び織布からの最大の光の受信を行なうのに便利であ
るだけ大きくあるべきである。
このレンズの焦点距離は、スリット25への距離、ライ
ン光源16への等距離、織布13への距離、及び織布1
3における所望の影f象の大きさのパラメーターによる
この細長い影伸は織布13の縦移動方向に平行な成分を
有しており、本実施例においてはこのフライングスポッ
ト四角形28の長さの寸法はこの織布の縦移動方向に平
行である。
この走査ミラー20の機能は、この織布が感知装置12
の下に移動するにつれて走査路中を織布を横切って周期
的にフライングスポットの重畳された影偉を移動するこ
とである。
このミラー20は、回転する多面ミラーであるが、本実
施例ではぴんと張られた衛士に振動するように取付けら
れこれ(こより回転ミラーのベアリングに伴う問題をな
くしたミラーである。
このような振動するミラーは毎秒数千回振動され、ここ
に意図された例えばおよそ1インチ四方のより大きいミ
ラーは30度の範囲にわたって毎秒100回まで振動さ
れる。
このプリント回路板32はホトデテクタ27の出力信号
を増幅する前置増幅器を備えている。
第4図は、遠方に取付けることができ、ケーブルにより
ケーブルプラグ31へ接続される第2の回路板35を示
している。
この回路35は微分器36、被制御利得増幅器37、能
動低域フィルター38、AGC回路39、ドライバーコ
イル41に接続されミラー20を振動するオツシレータ
ー40、このオツシレータ−40の入力端に接続された
フィードバックコイル42、ワンショットマルチバイブ
レーク43及びアナログスイッチ44を備えている。
このフィルタ38は低周波数信号だけ通過させることに
よって電気的雑音を識別するように動作する。
前置増幅器32の出力端33は、微分器36の入力端に
接続される。
この微分器36は増幅器37を附勢する。
この増幅器の利得はAGC回路39により制御さ11、
この織布が走査されるにつれである平均値をとる出力信
号が能動低減フィルタ38を介して出力端子45へ送ら
れる。
このオツシレータ40はポテンショメーク47からミラ
ー20を振動する駆動信号を供給し、また端子48に出
力を有する。
ワンショットマルチバイブレーク43は短時間アナログ
スイッチ44によりオン(こされる端子46の入力を有
しており、このためこの織布の幅の所定の第1の部分だ
け走査され、ここからの反則された放射を平均するよう
にサンプルされる。
これはAGC回路39を制御する。
第5図は第3の回路板50を示している。
この回路50は、増幅によりオツシレータ周波数を平方
する自乗増幅器51を与える端子48への接続を有して
いる。
第4図の回路35の端子45からの出力信号は第5図の
端子45に供給される。
これは増幅器53への1人力として与えられ、この出力
は導体54へ与えられる。
この導体は4つの電圧調整器55,56,57及び58
への入力を与える。
導体54からこれら電圧比較器への入力は比較器55及
び56の非反転入力及び比較器57及び58の反転入力
である。
正スレシホールド電圧はポテンショメーク59及び60
により比較器55及び56の反転入力へ供給され、ポテ
ンショメータ61及び62により比較器57及び58の
非反転入力へ供給される。
電圧比較器55及び58の出力はそれぞれワンショット
マルチバイブレーク63及び64に与えられる。
これらワンショットマルチバイブレークのQ出力はそれ
ぞれ導体65及び66に接続され、これらの導体65及
び66は遮断接続にある他のワンショットマルチバイブ
レークのリセット端子に接続される。
これらワンショットマルチバイブレーク63及び64の
Q出力はそれぞれ遅延ワンショットマルチバイブレーク
67及び68に接続される。
ワンショットマルチバイブレーク67及び68のQ出力
はそれぞれワンショット69及び70に接続される。
ワンショット69の出力はNORゲ゛−ドア1゜72及
び73を介して増幅器74に接続され、この増幅器の出
力は端子75にある。
同じように、ワンショット70はNORゲート76.7
7及び78を介して出力端子80を有する増幅器79へ
接続される。
電圧比較器56及び57は、通常は低にありNORゲー
ト85の入力に接続されている。
この出力は通常は高にありワンショット86のトリガー
人力に接続されている。
このQ出力は両NORゲート71及び76の入力に接続
され、またエツジ信号出力87にも接続されている。
エツジカウンター回路88は、ワンショット86のQ出
力からのフリップフロップ90へのクロック入力を有す
るJ、にフリップフロップ89及び90を備えている。
「2」位置にあるジャンパー91により、フリップフロ
ップ89のQ出力はNORゲート92及び93を介して
フリップフロップ89のJ、に入力及びワンショット8
6のリセット端子へ接続されている。
大きい欠陥出力端子94は2つのNORゲート92及び
93間に接続される。
フリップフロップ89のQ出力はまたジャンパ96の「
2」位置を介してNORゲート73及び78の入力端へ
接続されている。
この織布が非常に広くて一方の織布端だけが走査されて
いるならば、ジャンパ91及び96は「l」位置に置か
れる。
通常の使用では、走査路は2つの織布端を走査するので
、ジャンパーは「2」位置にある。
このジャンパーが「1」位置にあるならば、NORゲー
ト95が用いられる。
フリップフロップ89及び90の出力はこのゲ゛−ト9
5への入力として接続され、このゲート95の出力はジ
ャンパー96を介してNORゲート73及び78の入力
端へ行く。
時間遅延回路97は、この織布が移動し始めた時閉にな
るスイッチ34から光学結合器98を介してワンショッ
トマルチバイブレーク99へ及びこのQ出力からセット
−リセットフリップフロップ100として配線されたJ
、にフリップフロップへの入力に接続される。
このフリップフロップ100のQ出力はNORゲ゛−ト
103の入力へ接続される。
これは、織布が移動し始め正しい張りに達するまで第5
図の回路の出力を遅延する時間遅延である。
ジャンパー96を介したNORゲ−ト95の出力はまた
織布パルス出力端子102へNORゲート101を与え
る。
第6図はアラームアンドカウント回路110を示してお
り、この回路110は第5図の回路50からの入力とし
て端子75及び80を園えている。
これらの端子は共にリレー112を附勢するサイリスク
111のゲートにワイヤドOR接続で接続されている。
このリレー112の接点の閉或はアラーム113を附勢
する。
出力端子75は1つの形式の欠陥、例えば、織布13の
孔、の信号を与える。
この出力端子は3つのトランジスタ114,115及び
116を附勢するために接続される。
第5図の回路の出力端子80は別の形式の欠陥、例えば
織布13上のしわ、の信号を与える。
第6図におけるこの端子80はトランジスタ118−1
20を附勢するために接続される。
オーデオアラーム113回路は両チャンネルに共通であ
る。
各チャンネルの回路の残りは同一であるが分離している
孔欠陥用の欠陥計数パルスは3つのトランジスタ114
゜115及び116をオンにし、しわ欠陥用の欠陥計数
パルスはトランジスタ118,119及び120をオン
にする。
トランジスタ116あるいは120の附勢はこれらの欠
陥を計数するためにそれぞれ孔計数器122あるいはし
わ計数器123をオンにする。
トランジスタ114の附勢は単安定マルチバイブレーク
124をオンにしパルスストレッチャーとして動作する
これはリレー125を附勢する。
このリレー125はフラッグ装置126あるいは塗料塗
布器を附勢しこの織布の端に塗料を塗布し、その点が巻
き取られた織布製品上の欠陥の型と位置を示すようにす
る。
トランジスタ115の附勢はパルスストレッチャーとし
て単安定マルチバイブレーク128を附勢しリレー12
9を附勢しインジケータランプ130を附勢する。
同じように、しわが織布に検出された時(こ、トランジ
スタ118の附勢はリレー133を附勢するパルススト
レッチャーとして単安定マルチバイブレーク132を附
勢し、このリレー接点の閉成はフラッグ装置134を附
勢し欠陥をフラッグするかあるいは塗料塗布器を織布の
端に異なった色を塗布し巻取られた織布製品上のしわ欠
陥の型と位置を示す。
トランジスタ119の附勢はリレー137を附勢するパ
ルスストレッチャーとして単安定マルチバイブレータ1
36を附勢し、この接点の閉或はインジケータランプ1
38を附勢する。
ランプ130及び138は異なった欠陥を容易に識別す
るため異なった色である。
第4図に示されたオツシレータ40は、ミラー20を振
動する駆動コイル41へ駆動電圧を供給するために、1
例としておよそ100ヘルツの正弦波を発生する。
この装置が附勢されると、ライン光源16が織布13の
横方向に四角形フライングスポット28を走査させる。
外部入躬灯17が次に用いられると、この織布13の走
査領域は完全(こ照射され、スリット25の影伶が横方
向に織布13の走査路を走査される。
いずれにしても、この織布が縦に移動されながら横方向
に走査され、反躬された放射がデテクタ27に与えられ
る。
1例として、フライングスポット28としての織布13
上のスリット25の影f剰ま6インチ長、14インチ幅
である。
100ヘルツの走査速度においては、これは毎秒当り5
0フイートまですなわち毎分当り3000フイートまで
の織布速度に対して織布の100%検査を可能にする。
より高い走査周波数はより高い織布速度を可能にする。
この織布走査装置11は1例として紙織布を走査するた
めに用いられ、また織布13中の2つの異なった型の欠
陥を検出するのと同じように織布13の端を決定するた
め(こ用いられる。
走査路における暗背景22があれば、もし孔が織布13
中lこ見られると、デテクタ27へ反躬される光量が減
少する。
しわが織布中にあると、検出器上の光量が増す。
従って、この装置はこれら2つの異なった型の欠陥を検
出しそれらを識別する。
この装置はまた非常に感度が良く、小さな孔例えば直径
がたった14インチの孔が検出器の出力を変化し孔の存
在を十分に信号することが決められた。
これは6インチ×九インチであるフライングスポット2
8上のスリットの影伶によってであり、そのためこれは
デテクタ27へ反躬される光の平均値におけるたった約
2φの変化でしかない。
フライングスポット28が織布13を横切って走査して
いる時に、ホトデテクタ27が平均あるいは公称出力を
有するような照射の平均値があり、そして第7図侭Aに
おける生信号の曲線A、すなわちホトデテクタ27の出
力、を示している。
すなわちこれは前置増幅器32の出力と考えられる。
ミラーは、織布13の端14及び15を越えて走査する
ように十分な偏倚工程で駆動される。
従って、先縁14が走査されるにつれて、曲線Aは14
0にある負の出力信号が発生されることを示す。
微分器36はこの負の信号140の変化速度を決定し、
第4図の回路35の出力端子45にある曲線Bに示され
た負パルス141が発生する。
この織布の後縁15が走査されるにつれて、正の信号1
42は端子45に曲線B上の正のパルス143を与える
デテクタ27により発生される。
このAGC制御回路39は、パルス141あるいは14
3のピーク値が所望の範囲内にあるようにポテンショメ
ータ144で調整できる。
単なる1例として、正常な織布13の走査中の平均値は
出力端子45上(こ7.5ポルI−DCの電圧を発生し
、曲線B上のこれはベースライン145である。
パルス141及び143のピーク値は1例としては1.
5ボルトである。
本装置の利点は、可変幅の織布が走査でき、単に固定織
布幅にだけ使用できる回路を備える必要がないことであ
る。
組織布が走査されるべき所では、織布幅は18インチか
ら60インチレ上に変化でき、オツシレータ中のポテン
ションメータ146の調整は走査駆動電圧を調節しミラ
ー20の振幅行程を変えて最大幅に適するようにする。
もし18インチが特定の紙製造あるいは紙使用プラント
において走査されるべき最も狭い織布の1例であるなら
ば、ワンショットマルチバイブレーク43の時間長は先
行縁から12インチの織布走査に一致するように選択さ
れる。
この先行縁信号は端子46に供給されワンショット43
をオン(こする。
従って、これはアナログスイッチ44が織布走査の最初
の12インチだけ走査するのを可能にする。
これは、この最初の12インチについての織布からの反
則における平均の変化がコンデンサ147を充電するA
GC回路39に伝送され、これは織布が次に走査される
まで増幅器37上の自動利得制御の所定のレベルを維持
する。
AGC回路39は、この回路における最初の増幅器がこ
の信号を増幅し2つのダイオードがこの信号を信号振幅
に比例したDCレベルに変換する回路である。
このDCレベルはポテンショメータ144cこより設定
されたDCレベルが減算される。
この回路における第2の増幅器の出力は増幅器37への
制御電流を与える。
第5図の回路50は、第7図の曲線B(こ示された入力
信号を評価する出力特性回路であり、何か欠陥が存在す
るか否か決定する。
もしこの回路が欠陥があると決定すると、孔あるいはし
わの欠陥の形式が決定′され血止な出力パルスが孔欠陥
に対しては出力端子75にしわ欠陥に対しては端子80
に発生される。
第7図の波形Bは次Gこ負パルス151が引続く正パル
ス150で孔によりもたらされた信号を示している。
しわ型の欠陥により生じた信号はまず正パルス153が
次に続く負パルス152を発生する。
孔欠陥すなわちコントラストにより生じた信号は孔信号
と呼ばれ、しわ欠陥すなわち明コントラストに生じた信
号はしわ信号と呼ばれる。
第5図のこの回路の入力端における端子45上のこの波
形Bは増幅器53中で増幅され電圧比較器55−58に
印加される。
この電圧比較器のスレシホルドレベルすなわちバイアス
レベルは各電圧比較器に関連したポテンショメータ59
−62により設定される。
織布13の平均走査中通常の出力が導体54に7.5ボ
ルトDCを確立するとすれば、ポテンショメータ59及
び60はこの値よりも大きいスレシホルドレベルに設定
されポテンショメータ61及び62はこの値よりも小さ
いスレシホールドレベルlこ設定される。
1例として、ポテンショメータ59が8ボルトに設定さ
れると、ポテンショメータ60は8.5ボルトに、ポテ
ンショメータ61は6.5ボルトにそしてポテンショメ
ータ62は7ボルトに設定される。
まずしわ信号を考えると、このしわ信号の負パルス15
2は比較器58及び55を同時に同じ大きさに出力パル
スを持たせるようにする。
まず比較器58は第7図の曲線C(こ示された出力パル
ス155を有し、これはワンショット64へ印加すれる
第4図及び第5図の回路の種々のワンショット回路は、
正あるいは負の入力パルスをオンにトリガーするか否か
示している小さく狭い信号を有する。
ワンショット64は、このQ出力が高lこQ出力が低に
なるように正パルスをオンにトリガーする。
これは導体66上fこ低信号を配しワンショット63を
ロックアウトする。
ワンショット63及び64間のこの交叉接続は、どちら
かのQ出力が高状態にある時他方のワンショットがその
Q出力が高にならないようにする。
このワンショット64の出力は曲線D(こ示されたしわ
パルスである。
このしわ156は、ワンショット63が比較器55から
のトリガーパルスを受けた時にこのワンショット63が
使用禁にされるために十分な持続時間を有している。
この持続時間はしわ信号の正部分153により発生され
る。
孔信号は、第7図の曲線Bに示された、負パルス151
が続く正パルス150を含んでいる。
この孔信号はまず電圧比較器55に第7図の曲線■に示
されたパルス158を出力させる。
比較器55から出力パルスはワンショット63Iこ孔パ
ルスと呼ばれるパルス159を出力させ、このパルス1
59はワンショット64が孔信号の負部分151に対す
るパルスを出力することをできないようOこする。
織布の前縁14が走査されるにつれて、これは曲線Bに
示された負の織布縁信号141であるので、比較器57
及び58共にパルスを出力する。
比較器55及び56は、織布の後縁15が正の織布縁信
号143に応じて走査された時にパルスを出力する。
比較器56及び57の出力は通常像であるので、NOR
ゲート85の出力は通常高である。
織布の後縁あるいは前縁を信号する比較器56あるいは
57からの出力はNORゲ’ −ト85の出力を低にせ
しめ、これがワンショット86をトリガーする。
ワンショット86のQ出力上に、織布端パルス161が
第7図(こ曲線Gで示されたように出力端子87上に発
生される。
これは装置を通って移動している織布の横位置を制御す
るために用いられる。
回路50は、共に最初は正パルスを有している孔及び織
布後縁を識別する。
孔パルスはワンショット63による出力である。
この孔パルスは、曲線K(こ示されるような出力パルス
162を有するワンショット67により遅延される。
このパルスは、曲線りに示されるように出力パルス16
3を有するワンショット69をトリガーする。
これらワンショット67及び69は孔を意味するパルス
を遅延する。
NORゲート71が同時に孔パルス及び織布縁パルスを
受けると、出力は不変である。
これは第7図の曲線り及びGの終端でのケースである。
ワンショット69のQ出力は通常高であり、これはNO
Rゲート71を使用禁止にする。
注目されるべき織布縁パルス161が、ワンショット1
69からのパルス163が低となる前に高になることで
ある。
NORゲート71への1人力が高ににある限りは、この
ゲートは使用禁止(こあり曲線Mに示されるようにいか
なる出力も乱撃数出力端子75へ供給されない。
NORゲート71が曲線りの中央に示されたように孔パ
ルス163だけを受けると、次にこれは乱撃数出力パル
ス164としてNORゲート72,73及び増幅器74
を介して端子75へ送られる。
同じ動作が、織布の前縁14で生ずる負の織布縁に対し
て生ずる。
織布のこの前縁(こ対して、比較器57及び5日共に1
出力を右し、比較器57からの出力はNORゲート85
を介して通り曲線G上に織布縁パルス161として現わ
れる。
しわ信号はまず負パルス152を有し、比較器58から
の出力パルス155は曲線C上に示されている。
これは曲線りに示されたようにワンショット64からの
出力パルス156を与える。
遅延ワンショット68は曲線Eに示されたように出力パ
ルス166を有し、これは曲線Ffこ示されるようにワ
ンショット70からの遅延された出力パルス167を生
ずる。
これはNORゲート76.77.78及び増幅器79を
介して通り、曲線Hに示されるしわ計数出力パルス16
8として端子80上に現われる。
この回路50は、共に負の初期パルスを有するしわと織
布の前縁とを識別する。
曲線Bのこの負の織布縁パルス141に対して、比較器
58は曲線Cのパルス169を発生しまたワンショット
64は曲線りのパルス170を発生する。
ワンショット68は曲線Eのパルス171を発生し、遅
延ワンショット70は曲線Fの遅延パルス172を発生
する。
これは端子80にしわ計数出力を発生しない。
この理由は、負パルス172がワンショット70からこ
のNORゲートに印加される前に、ワンショット86か
らの曲線Gのパルス161がNORゲート76上で高に
なるからである。
このように、織布縁信号161はNORゲートを使用禁
止に維持し、しわ計数出力がないようにする。
増幅器51は正弦波ミラー駆動信号をミラー信号と呼ば
れる矩形波に変換する。
この信号はワンショット69及び70をオン及びオフし
、フリップフロップ89及び90をリセットするために
用いられる。
ワンショット69及び70のオフは、前縁14から後縁
15まで及び振動の最後の半周期中にこの装置が遮断さ
れた時だけこの走査が有効であることを意味する。
これは織布13の100優の検査を確立する。
時々、電圧比較器56にとって織布縁と同様なくらい十
分に大きい孔信号を発生する大きな孔が生じ、そのため
この信号は孔出力パルスを生じない。
第8図に1例が例示されている。この第8図Iこおいて
は、波形Aはデテクタ27からのそのままの信号である
この信号には大きな孔信号173がある。
端子451こおける曲線Bはこのように正のパルス17
4及び負のパルス175をこの大きな孔の始まりと終わ
りに有する。
第8図の他の曲線は第4図及び第5図の相応の文字づけ
された部分に存在するパルスの曲線である。
大きい孔信号が存在すると、縁計数回路88のフリップ
フロップ89及び90が走査毎の織布縁の数を計数する
この計数が2より大きいならば、フリップフロップ89
及び90がNORゲート92及び93をしてワンショッ
ト86をリセットさせる。
これは1つの余分な孔パルスを出力端子75へ送られる
よう(こし、織布の縁として大きい孔を計数している第
5図の回路により失なわれたパルスと置換する。
フリップフロップ89及び90は各走査の後リセットさ
れる。
この縁計数回路88の動作は、ワンショット86が織布
の前縁が走査されるにつれてパルス161を放躬するこ
とである。
これはフリップフロップ89をクロックし曲線Nに示さ
れたQ出力が177で低になるよう(こする。
大きい孔縁が正パルス174で走査された時、別の織布
縁パルス(パルス178)がワンショット86により放
躬される。
これは曲線Nの179においてワンショット89のQ出
力を高にし、曲線Oの180においてフリップフロップ
90のQ出力を低にする。
大きい孔ノ他の縁が負パルス175で走査された時に、
ワンショット86は曲線Gの織布縁パルス181を有す
る。
このワンショット89は再びQでトリガーされ曲線Nの
182で低になり、この信号はNORゲート92を介し
て通り大きい欠陥出力94を曲線Pの183で高にする
NORゲート93の出力は低になりワンショット86を
オフにし、これによりパルス181を非常に短いパルス
にする。
曲線F及びGを比較すると、孔計数器パルスワンショッ
ト70からの遅延パルス167はパルス181によりマ
スクされず代わりにパルス184を孔計数出力端子75
へ送る。
曲線Sは平方器51の出力を示す。
振動周期の半分の終わりに、平方器51の出力は導体5
2上。
で低になる。
NORゲート103を介して動作した後、これはワンシ
ョット69及び70をリセットするように高でありその
ためこの走査の戻り中いかなる出力もない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の織布走査装置の機械要素の斜視図、第
2図はセンサ及び走査装置の側板がはずされた状態の立
面図、第3図は第1図の装置の低板がはずされた状態の
底面図、第4図は微分器及びホトデテクタに接続された
関連回路の回路図、第5図は第2図の出力端に接続され
た出力特性回路の回路図、第6図は出力及びアラーム回
路の回路図、第7図はこの回路の動作を説明している電
圧パルスのグラフ、第8図は異なった条件下での動作を
説明している別のグラフを示している。 11:織布走査装置、12:センサ及び走査装置、13
:織布。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ぴ)放射デテクタ、 (0) フライングスポット走査路を確立し、移動し
    ている織布をこの織布の1方の縁の前の点から織布を横
    切って他方の縁を過ぎた点まで横方向に周期的に走査し
    、かつ織布のどちらか1方の縁の背景も走査する装置、 (/ウ 少なくとも織布のフライングスポット走査部
    分を明るくする装置、 に)前記デテクタへ織布のフライングスポット走査部分
    のf象を送信する装置、 (ホ)前記デテクタの出力を微分するために接続された
    微分器、 (ハ)前記微分器の出力に接続され、織布走査中に前記
    デテクタからの正規出力に関連して、織布中のそれぞれ
    しわ及び孔を示す増加信号及び減少信号を特徴づける出
    力特性づけ回路、 から成る前記径路に沿って移動できる織布用の織布走査
    装置。
JP53095164A 1977-08-05 1978-08-04 織布走査装置 Expired JPS5832654B2 (ja)

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