JPS582675A - ノイズ測定装置 - Google Patents

ノイズ測定装置

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Publication number
JPS582675A
JPS582675A JP10034181A JP10034181A JPS582675A JP S582675 A JPS582675 A JP S582675A JP 10034181 A JP10034181 A JP 10034181A JP 10034181 A JP10034181 A JP 10034181A JP S582675 A JPS582675 A JP S582675A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
noise
signal
memorized
memory
Prior art date
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Pending
Application number
JP10034181A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Otake
和夫 大竹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP10034181A priority Critical patent/JPS582675A/ja
Publication of JPS582675A publication Critical patent/JPS582675A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/26Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はノイズ調**tcsn、特に既入力され九ノイ
ズ信号と比較して履遥したノイズ入力の鉛生時にその波
形の表示を行うノイズ#11yIl鋏置に関する。
電子計算機Vステムを運周中KVステムが障害を発生し
その解決を的確に行い良いという要求が高tj+′)−
ある。一方Vステムは高書度O半導体素子で構成され益
々高這が要求されている。この高速になるに従って半導
体素子に供給される入力11 信号に突発的なノイズが発生すると半導体素子が誤動作
をしてVステふ運用を妨げ障害となる。従って陣書を解
性する一−K”突発的に発生するノイズを測定すゐ装置
が用いられている。従来のノイズ測定装置は第111に
示すように入力端子1に入力されるノイメ信fを減aS
S意と高域フイ〜り8を遥してA/D変換回路4にてデ
ィ5yptv信号としてしVネタ8に格納するとともに
、高域フイ〜I3を通過し九ノイメ信号を設電回路6に
設定された所要値電位と比較回路6にて比較しノイズ信
号が大暑い場舎制御marを作動させ前記したしシスタ
8に11納畜れ良ディVり〜信号を波高値検出回路9に
て波高値を取シ出し、制御回路70指示によりノイズ発
生時刻とともに印字表示10とするのである。ところが
従来のむの方法によると連続的に長時間に渡る印字表示
から障害を発生したノイズ波高値を検索するOK長時間
要するのみならずノイズ波形も得られないという欠点が
あったO 本発明は以上の欠点に鑑みなされ九40にして、本発明
は障害を発生したノイズを的確に把握し検索するのに能
率のよいしかも波形出力も可能なノイズ測定装置を提供
することを目的とする4のである。本発明を略説すれば
ノイズ信号Oディジタμ信号を記憶する第1.第11O
記憶回路を設け、両記憶図路の内容を比較して大きいデ
ィVり〜信号を常に第2の記憶回路に記憶さぜ、記憶さ
せるタイミングにその値を波形として印字表示すること
を特徴とするものである。
以下図を用すて本発明を実施するのに好宜しい具体例に
ついて詳細に説明する。第2図は本発明のノイズ測定装
置を示す一実施例のブロック図でToル、第1図と同−
一所轄岡符号を用いるとともべその説明も省略する。1
1ないし16はゲート回路117a第1.記憶回路、1
8は第鵞記憶回路、19は第1検出回路、20は第2検
出回路、21と22はしVスタ、!8は比較回路、24
はアンド回路、25と26社レジスタ、27はD/A変
換回路、28は印字−置である。A/D変換回路4にて
グイv声μ信号となう九ノイズ信号の内n#ill!し
たように設定回路6に設定された所要値電位を超えたノ
イズ信号線制御回路7の指示に基ずいてゲート回路11
を1通”として第1記憶図路17に記憶させるのである
。第1記憶回路17はノイズ発生時島とノイズを記憶す
ゐ。この内春管制御園路7の指示に基すいてゲート回路
18を1通”として第1検出回路!9に入力する。ls
1検出回路194Cてノイズ信号のピーク値を検出して
しシスタ211’C入力すゐ。ζO間ノイズ発生時刻も
しシスタ21に入力されるのである。一方路2記憶回路
18、ゲート回路14、第2検出図路20、しシスタ意
!亀岡−〇動作を行うのであるがノイXjli定開始時
にハ第2 記憶111路18C)F’!lIa@o’で
あシ、101信号がしVメタ22に入力される。
しシフタ21.22の出力をゲート回路1bと16にそ
れぞれ入力し比較回路28に入力する。比較回路28は
それぞれのピーク値を比較するのであるが、この際はレ
ジスタ21側が勿論@O″よシ大であシ、@11紀憶路
17のノイズ信号が第2紀憶回路18のノイズ信号よル
大である。この際比較回路28は出力信号をゲート回路
12に送信し第1記憶回路17の内賽即ちノイズ信号及
び発生時刻を第2紀憶回路18に記憶せしめるのである
従って刻々入力されるノイズ信号の最大値が常に第2紀
憶回路18に記憶されていることとなる。
第2紀憶図路18に記憶される動作が完了すると制御回
路7が第2紀憶目絡18の内容をアンド回路24を介し
て出力し、しVメタ26と26とにそれぞれ時刻及びピ
ーク値を格納せしめるとともにノイズ信号をD/A変換
回路27に入力する。このノイズ測定装置に使用される
印字鋏置28社図形表示の出来る例えばドツト打点方式
のプリンタである。制御回路7は印字装置28が図形表
示のしうるタイミングにて記録指示を行うのである〇両
起憶回路の収納春量によって波形表示の精度が保たれる
のは貰うまでもない。
以上の説明よシ明らかなように、本発明は入力されたノ
イズの最高値を常に保持し、その最高値保持のときにノ
イズ信号を波形として印字出力し検索能事のよいノイズ
測定装置となり、本発明を電子計算機システムの障害解
稀に適用すれば障害対策上きわめて利点の多いものとな
る・
【図面の簡単な説明】 第1図は従来のノイズ測定装置のブロック図、!s2図
は本発明のノイズ測定装置を示す一実施例のブロック図
である。 図において、4はA/D変換回路、17は第1記憶回路
、18は第2記憶図路、19は第1検出回路、2Gは第
8検出回路、28は比較回路、28は印字装置を示す。 第1図 第21η

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 所定の電位レベμを超過して入力されるノイズ信号をデ
    ィVり〜信号となし、誼ディyppv儒号1 の波高値を検出して鋏波高値と前記ノイズ信号発生時刻
    とを連続して印字表示するノイズ測!I!装置において
    、前記ディVり〃信号を記憶するIII及び第2の記憶
    回路と、腋両記憶囚路それぞれに該ディVり〃信号の波
    高値を検出する111.第2011 検出囲路と、該第1と第1!0検出回路O出力を比較す
    る比較回路と、該比較回路の出力によル高い波高値側の
    前記ディジI/%/値号t−前記第!O記憶回路に記憶
    させる手段とを設け、該手II!0作動時に該第2の記
    憶回路の前記ディtypp値号を波形として印字表示す
    ることを特徴とするノイズ測定装置。
JP10034181A 1981-06-26 1981-06-26 ノイズ測定装置 Pending JPS582675A (ja)

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