JPH06241838A - 試験器 - Google Patents
試験器Info
- Publication number
- JPH06241838A JPH06241838A JP2772393A JP2772393A JPH06241838A JP H06241838 A JPH06241838 A JP H06241838A JP 2772393 A JP2772393 A JP 2772393A JP 2772393 A JP2772393 A JP 2772393A JP H06241838 A JPH06241838 A JP H06241838A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output
- periodic
- input
- circuit
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 静特性試験に併せて、周期性信号による試験
も、自動的に手間を要することなく行える試験器の提
供。 【構成】 設定時に、設定部２１から、メモリ１９に、
段階的にレベル変化する電圧と周期信号を発生する手順
をプログラムしておき、測定時にＣＰＵ１６の制御のも
と、周期信号発生回路１４を含む、信号発生回路１５か
ら、段階的にレベル変化と電圧に周期信号を重畳して出
力する。この出力された試験信号は、信号測定回路１
１、Ａ／Ｄ変換器１２を経て、ＣＰＵ１６に取込まれ
る。
も、自動的に手間を要することなく行える試験器の提
供。 【構成】 設定時に、設定部２１から、メモリ１９に、
段階的にレベル変化する電圧と周期信号を発生する手順
をプログラムしておき、測定時にＣＰＵ１６の制御のも
と、周期信号発生回路１４を含む、信号発生回路１５か
ら、段階的にレベル変化と電圧に周期信号を重畳して出
力する。この出力された試験信号は、信号測定回路１
１、Ａ／Ｄ変換器１２を経て、ＣＰＵ１６に取込まれ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はプロセス産業等で用い
られる工業計器の試験器に関する。
られる工業計器の試験器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の工業計器の試験方法は、図４に示
すように、工業計器１の入力側に基準信号発生器２を接
続し、基準信号発生器２より順次信号を段階的に変更し
ていき、その時の工業計器１の出力を測定器３で測定
し、プリンタ４で、一定のフォーマットでプリントする
ものであり、いわゆる静特性試験を行っている。
すように、工業計器１の入力側に基準信号発生器２を接
続し、基準信号発生器２より順次信号を段階的に変更し
ていき、その時の工業計器１の出力を測定器３で測定
し、プリンタ４で、一定のフォーマットでプリントする
ものであり、いわゆる静特性試験を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】一般に、工業計器は入
出力間の伝達画数は時間の進み、遅れを持っており、実
際に使用したときは、外部から入力される信号に周波数
成分を含み、工業計器の出力に不必要な信号が現れた
り、発振等の動作不良を起こすことがある。したがって
工業計器について、周期性信号によっても試験を行って
おく必要がある。しかしこの試験を行うとなると、従来
は、別にファンクションジェネレータのような周波数信
号発生器を用意し、この周波数信号を基準信号に重畳さ
せる必要があった。つまり、試験プログラムに応じて周
期信号発生回路を人手によって操作せねばならず、誤動
作や試験の中断が起こり、試験を実施するのに時間がか
かりすぎるという問題があった。
出力間の伝達画数は時間の進み、遅れを持っており、実
際に使用したときは、外部から入力される信号に周波数
成分を含み、工業計器の出力に不必要な信号が現れた
り、発振等の動作不良を起こすことがある。したがって
工業計器について、周期性信号によっても試験を行って
おく必要がある。しかしこの試験を行うとなると、従来
は、別にファンクションジェネレータのような周波数信
号発生器を用意し、この周波数信号を基準信号に重畳さ
せる必要があった。つまり、試験プログラムに応じて周
期信号発生回路を人手によって操作せねばならず、誤動
作や試験の中断が起こり、試験を実施するのに時間がか
かりすぎるという問題があった。
【０００４】この発明は上記問題点に着目してなされた
ものであって、周期性信号による試験も、静特性試験に
併せて、自動的に可能であり、かつその信号を容易、か
つ短時間でなし得る試験器を提供することを目的として
いる。
ものであって、周期性信号による試験も、静特性試験に
併せて、自動的に可能であり、かつその信号を容易、か
つ短時間でなし得る試験器を提供することを目的として
いる。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び作用】この発明の試験
器は、試験プログラム等を予め設定する設定部と、入出
力データを表示する表示部と、入力信号を測定する信号
測定回路と、周期函数信号回路を含み、出力信号を発生
する信号発生回路と、前記信号測定回路と信号発生回路
とを試験プログラムによって動作させるための制御演算
部とから構成され、試験プログラムに重畳して周期函数
信号を出力し、入出力校正を行うようにしている。
器は、試験プログラム等を予め設定する設定部と、入出
力データを表示する表示部と、入力信号を測定する信号
測定回路と、周期函数信号回路を含み、出力信号を発生
する信号発生回路と、前記信号測定回路と信号発生回路
とを試験プログラムによって動作させるための制御演算
部とから構成され、試験プログラムに重畳して周期函数
信号を出力し、入出力校正を行うようにしている。
【０００６】この試験器では、プログラム中に、予め段
階的な電圧信号（直流レベル）の変化過程で、周期函数
信号回路の周期、振幅、波形等を設定しておけば、測定
時にプログラムにしたがって静的な信号に、周期函数信
号が自動的に重畳されるので、測定者は何らの手間を取
ることもなく、静的試験と周期函数による試験を同時に
行うことができる。
階的な電圧信号（直流レベル）の変化過程で、周期函数
信号回路の周期、振幅、波形等を設定しておけば、測定
時にプログラムにしたがって静的な信号に、周期函数信
号が自動的に重畳されるので、測定者は何らの手間を取
ることもなく、静的試験と周期函数による試験を同時に
行うことができる。
【０００７】
【実施例】以下、実施例により、この発明をさらに詳細
に説明する。図１は、この発明の一実施例試験器の構成
を示すブロック図である。この試験器は、工業計器（図
示省略）からの入力信号を測定する信号測定回路１１
と、測定された信号をデジタル信号に変換して取込むＡ
／Ｄ変換器１２と、出力すべき段階信号をデジタルから
アナログに変換するＤ／Ａ変換器１３と、周期信号発生
回路１４を含む信号発生回路１５と、プログラムにした
がって信号測定回路１１、信号発生回路１５、その他の
回路に対し制御、演算を行うＣＰＵ１６と、設定された
プログラムを記憶する記憶部１７やデータを記憶する記
憶部１８を有するメモリ１９と、Ｉ／Ｏポート２０と、
プログラム等を設定するための設定部２１と、印字部２
２と、表示部２３とを備えている。周期信号発生回路１
４は、プログラムによって設定される周期・振幅・波形
の信号を出力する。
に説明する。図１は、この発明の一実施例試験器の構成
を示すブロック図である。この試験器は、工業計器（図
示省略）からの入力信号を測定する信号測定回路１１
と、測定された信号をデジタル信号に変換して取込むＡ
／Ｄ変換器１２と、出力すべき段階信号をデジタルから
アナログに変換するＤ／Ａ変換器１３と、周期信号発生
回路１４を含む信号発生回路１５と、プログラムにした
がって信号測定回路１１、信号発生回路１５、その他の
回路に対し制御、演算を行うＣＰＵ１６と、設定された
プログラムを記憶する記憶部１７やデータを記憶する記
憶部１８を有するメモリ１９と、Ｉ／Ｏポート２０と、
プログラム等を設定するための設定部２１と、印字部２
２と、表示部２３とを備えている。周期信号発生回路１
４は、プログラムによって設定される周期・振幅・波形
の信号を出力する。
【０００８】次に、上記実施例試験器により、図３に示
すような出力信号が、出力される場合について説明す
る。この出力信号は、時間とともにレベルが段階的にＩ
〔Ｖ〕、２〔Ｖ〕、３〔Ｖ〕、…と上昇してゆき、かつ
各レベル段階で周期信号が重畳される。このような、出
力信号の波形を出すには、あらかじめ、図２に示すプロ
グラムが設定部２１より、メモリ１９のプログラム記憶
部１７に設定されている。設定は、先ず直流レベルの１
〔Ｖ〕が設定され（Ｓ１）、次にその１〔Ｖ〕の継続さ
れる時間ｔ1 が設定され（Ｓ２）、さらにそれ以後、直
流レベル１〔Ｖ〕に重畳される周期信号の振幅、周期が
設定される（Ｓ３）。続いて、周期信号が停止し、かつ
直流レベルが段階的に上昇する時間ｔ2 が設定される
（Ｓ４）とともに、切替後のレベル２〔Ｖ〕が設定され
る（Ｓ５）。そして、この直流レベル２〔Ｖ〕のみの継
続が停止し、２〔Ｖ〕に周期信号の重畳する信号に切替
わる時点ｔ3が設定される（Ｓ６）。次に続く、周期信
号の重畳には、同じ振幅、周期のものとするので、Ｓ３
の設定のものを使用すればよく、再度の設定は不要であ
り、続いて、重畳が停止する時間ｔ4 を設定する（Ｓ
７）。このｔ4 の設定は周期信号の接続時間が前回と同
じであれば、スキップしてもよい。次に、時間ｔ4 で直
流レベルを切替えるために３Ｖを設定する（Ｓ８）。以
下、同様にして、図３の波形にしたがって、設定してゆ
けばよい。
すような出力信号が、出力される場合について説明す
る。この出力信号は、時間とともにレベルが段階的にＩ
〔Ｖ〕、２〔Ｖ〕、３〔Ｖ〕、…と上昇してゆき、かつ
各レベル段階で周期信号が重畳される。このような、出
力信号の波形を出すには、あらかじめ、図２に示すプロ
グラムが設定部２１より、メモリ１９のプログラム記憶
部１７に設定されている。設定は、先ず直流レベルの１
〔Ｖ〕が設定され（Ｓ１）、次にその１〔Ｖ〕の継続さ
れる時間ｔ1 が設定され（Ｓ２）、さらにそれ以後、直
流レベル１〔Ｖ〕に重畳される周期信号の振幅、周期が
設定される（Ｓ３）。続いて、周期信号が停止し、かつ
直流レベルが段階的に上昇する時間ｔ2 が設定される
（Ｓ４）とともに、切替後のレベル２〔Ｖ〕が設定され
る（Ｓ５）。そして、この直流レベル２〔Ｖ〕のみの継
続が停止し、２〔Ｖ〕に周期信号の重畳する信号に切替
わる時点ｔ3が設定される（Ｓ６）。次に続く、周期信
号の重畳には、同じ振幅、周期のものとするので、Ｓ３
の設定のものを使用すればよく、再度の設定は不要であ
り、続いて、重畳が停止する時間ｔ4 を設定する（Ｓ
７）。このｔ4 の設定は周期信号の接続時間が前回と同
じであれば、スキップしてもよい。次に、時間ｔ4 で直
流レベルを切替えるために３Ｖを設定する（Ｓ８）。以
下、同様にして、図３の波形にしたがって、設定してゆ
けばよい。
【０００９】上記実施例試験器において、図３の波形の
信号を出力する場合には、ＣＰＵ１６で、プログラム記
憶部１７に記憶されているプログラムにしたがい、信号
発生回路１５より、段階的な直流レベル信号を出力しつ
つ、さらに周期信号発生回路１４で、プログラムされた
振幅、周期の周期信号を発生し、信号発生回路１５直流
レベルに重畳して出力する。その結果、試験すべき工業
計器には、図３に示す波形の信号が入力される。工業計
器に入力された信号は、工業計器を経て、信号測定回路
１１に入力され、ＣＰＵ１６に取込まれる。これによ
り、工業計器の入力と出力をチエックし、その特性を測
定できる。
信号を出力する場合には、ＣＰＵ１６で、プログラム記
憶部１７に記憶されているプログラムにしたがい、信号
発生回路１５より、段階的な直流レベル信号を出力しつ
つ、さらに周期信号発生回路１４で、プログラムされた
振幅、周期の周期信号を発生し、信号発生回路１５直流
レベルに重畳して出力する。その結果、試験すべき工業
計器には、図３に示す波形の信号が入力される。工業計
器に入力された信号は、工業計器を経て、信号測定回路
１１に入力され、ＣＰＵ１６に取込まれる。これによ
り、工業計器の入力と出力をチエックし、その特性を測
定できる。
【００１０】なお、一定振幅の周期信号の周期を時間的
に変化、つまり増加、あるいは減少させていき、その入
出力特性データを記憶し、いわゆるボート線図を作成す
ることもできる。また、周期信号発生回路１４から出力
された周期函数が工業計器に入力され、さらにその出力
が、信号測定回路１１に入力された場合の、入出力減衰
比、および入出力の位相のずれを、印字部２２でプリン
トアウトし、表示部２３で表示することもできる。
に変化、つまり増加、あるいは減少させていき、その入
出力特性データを記憶し、いわゆるボート線図を作成す
ることもできる。また、周期信号発生回路１４から出力
された周期函数が工業計器に入力され、さらにその出力
が、信号測定回路１１に入力された場合の、入出力減衰
比、および入出力の位相のずれを、印字部２２でプリン
トアウトし、表示部２３で表示することもできる。
【００１１】
【発明の効果】この発明によれば、プログラムにより、
段階的に変化する直流レベル信号に加え、周期的に変化
する信号を重畳して、工業計器に加え、かつその出力を
信号測定回路に取込んで入出力と比較できるので、工業
計器の出力には誘導性、容量性負荷が接続されて、発振
現象などの不具合が起こったり、あるいは個々の計器の
部品のバラツキによって起こったり起こらなかったりす
ることがあることに対し、周期性信号による試験を行う
ことにより上記発振現象の発生するものの未前防止する
ことができる。又入力ノルマルモードノイズ試験にも利
用できる。
段階的に変化する直流レベル信号に加え、周期的に変化
する信号を重畳して、工業計器に加え、かつその出力を
信号測定回路に取込んで入出力と比較できるので、工業
計器の出力には誘導性、容量性負荷が接続されて、発振
現象などの不具合が起こったり、あるいは個々の計器の
部品のバラツキによって起こったり起こらなかったりす
ることがあることに対し、周期性信号による試験を行う
ことにより上記発振現象の発生するものの未前防止する
ことができる。又入力ノルマルモードノイズ試験にも利
用できる。
【図１】この発明の一実施例試験器の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】同実施例試験器のプログラム設定を説明するた
めのフロー図である。
めのフロー図である。
【図３】同実施例試験器でプログラム設定された出力信
号波形の一例を示す図である。
号波形の一例を示す図である。
【図４】従来の工業計器の試験を説明するためのブロッ
ク図である。
ク図である。
１１ 信号測定回路 １４ 周期信号発生回路 １５ 信号発生回路 １６ ＣＰＵ １７ プログラム記憶部 １９ メモリ ２１ 設定部
Claims (1)
- 【請求項１】試験プログラム等を予め設定する設定部
と、入出力データを表示する表示部と、入力信号を測定
する信号測定回路と、周期函数信号回路を含み、出力信
号を発生する信号発生回路と、前記信号測定回路と信号
発生回路とを試験プログラムによって動作させるための
制御演算部とから構成され、試験プログラムに重畳し
て、周期函数信号を出力し、入出力校正を行うようにし
た試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2772393A JPH06241838A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2772393A JPH06241838A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06241838A true JPH06241838A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12228945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2772393A Pending JPH06241838A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06241838A (ja) |
-
1993
- 1993-02-17 JP JP2772393A patent/JPH06241838A/ja active Pending
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