JPS5821734Y2 - 記録装置 - Google Patents
記録装置Info
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- JPS5821734Y2 JPS5821734Y2 JP1981007647U JP764781U JPS5821734Y2 JP S5821734 Y2 JPS5821734 Y2 JP S5821734Y2 JP 1981007647 U JP1981007647 U JP 1981007647U JP 764781 U JP764781 U JP 764781U JP S5821734 Y2 JPS5821734 Y2 JP S5821734Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- conductive
- conductive wire
- recording element
- block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Electronic Switches (AREA)
- Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
- Electrophotography Using Other Than Carlson'S Method (AREA)
- Fax Reproducing Arrangements (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は感熱記録、静電記録あるいは放電記録等に使用
される記録装置に関し、特に記録ヘッド部の小形化と歩
留りの向上を図った記録装置に関する。
される記録装置に関し、特に記録ヘッド部の小形化と歩
留りの向上を図った記録装置に関する。
最近、ファクシミリあるいはプリンタ等において、多数
個の発熱抵抗体を一列に並べた記録ヘッドで記録を行な
う感熱記録方式が実用化されつつある。
個の発熱抵抗体を一列に並べた記録ヘッドで記録を行な
う感熱記録方式が実用化されつつある。
この方式は、感熱記録に限らず、静電記録や放電記録等
でもいえることであるが、非常に多数個(一般に数百な
いし+側程度)の記録素子を駆動するために、記録素子
と駆動回路との接続が問題となる。
でもいえることであるが、非常に多数個(一般に数百な
いし+側程度)の記録素子を駆動するために、記録素子
と駆動回路との接続が問題となる。
普通、この接続部分を簡略化するために、第1図に示す
ように、ダイオードマトリクスを用いて駆動回路への接
続端子数を減らしている。
ように、ダイオードマトリクスを用いて駆動回路への接
続端子数を減らしている。
第1図において、R11〜Rtn 、 R21〜R2n
、・・・・・・は記録素子列で、連続するn個ずつから
なる複数のブロックBl、B2.・・・・・・に区分さ
れ、その各一端はブロック毎に共通接続されている。
、・・・・・・は記録素子列で、連続するn個ずつから
なる複数のブロックBl、B2.・・・・・・に区分さ
れ、その各一端はブロック毎に共通接続されている。
記録素子列R11〜R1n。R2□〜R2n 、・・・
・・・の各他端は、ダイオードD1、〜Dtn、D21
〜D2n 、・・・・・・をそれぞれ介して、各ブロッ
クBl、B2.・・・・・・で同一位置の記録素子にそ
れぞれ共通に設けられた導電線L1〜L、に接続され、
この導電線L1〜L、は駆動回路に接続されている。
・・・の各他端は、ダイオードD1、〜Dtn、D21
〜D2n 、・・・・・・をそれぞれ介して、各ブロッ
クBl、B2.・・・・・・で同一位置の記録素子にそ
れぞれ共通に設けられた導電線L1〜L、に接続され、
この導電線L1〜L、は駆動回路に接続されている。
上記構成によると、導電線L1〜L、を記録素子列の各
ブロックBl、B2.・・・・・・に共通に用いている
ため、その本数は1ブロツク内の記録素子数nと同じで
済み、記録回路との接続は簡単となるが、記録素子列と
ダイオードマトリックス回路との間の接続線数は全記録
素子数分だけ必要となる。
ブロックBl、B2.・・・・・・に共通に用いている
ため、その本数は1ブロツク内の記録素子数nと同じで
済み、記録回路との接続は簡単となるが、記録素子列と
ダイオードマトリックス回路との間の接続線数は全記録
素子数分だけ必要となる。
従来、この間の接続法として、高密度の平行導電線を印
刷したフレキシブルケーブルの両端を記録素子列および
ダイオードマトリックス回路印刷基板にそれぞれ圧着す
る方法が採られていた。
刷したフレキシブルケーブルの両端を記録素子列および
ダイオードマトリックス回路印刷基板にそれぞれ圧着す
る方法が採られていた。
しかしながら、この方法によると、装置が大形になるこ
と、取扱いおよび接続工程の煩雑さ等が問題となる。
と、取扱いおよび接続工程の煩雑さ等が問題となる。
一方、上記問題点を解消するために、第2図に示すごと
き厚膜技術による多層印刷法が考案されている。
き厚膜技術による多層印刷法が考案されている。
これは記録素子である発熱抵抗体が形成される絶縁基板
1上にダイオードとマスリクス配線を同時に形成するも
ので、図には多層配線部分のみち示している。
1上にダイオードとマスリクス配線を同時に形成するも
ので、図には多層配線部分のみち示している。
このように構成すると、上記した問題点は解消するが、
新たに次のようなことが問題となってくる。
新たに次のようなことが問題となってくる。
すなわち、第2図中11□〜l In、’21〜l 2
n、・・・・・・は前記ダイオードDIl〜Din、D
21〜D2n 、・・・・・・から導かれる第1の導電
線で、記録素子列と同一密度で絶縁基板1上に印刷され
る。
n、・・・・・・は前記ダイオードDIl〜Din、D
21〜D2n 、・・・・・・から導かれる第1の導電
線で、記録素子列と同一密度で絶縁基板1上に印刷され
る。
ファクシミリ記録装置では、この密度は4本/mm〜6
本/mmであるから、この導電線の間隔Pは167〜2
50μmとなる。
本/mmであるから、この導電線の間隔Pは167〜2
50μmとなる。
この導電線11□〜lln、121〜l 2n、・・・
・・・は、終端が全体として鋸歯状になるように、記録
素子列の1つのブロックに対応する1つの群内で異なっ
た長さに形成され、この上に絶縁層2が印刷される。
・・・は、終端が全体として鋸歯状になるように、記録
素子列の1つのブロックに対応する1つの群内で異なっ
た長さに形成され、この上に絶縁層2が印刷される。
この絶縁層2は導電線11□〜11n、12□〜l 2
n、・・・・・・の終端に対向した位置に連絡孔3を有
し、この連絡孔3内には導体が充填される。
n、・・・・・・の終端に対向した位置に連絡孔3を有
し、この連絡孔3内には導体が充填される。
そして、絶縁層2上には第1の導電線111〜lln、
12□〜l 2n、・・・・・・の各群間で同一長さの
導電線終端部に対応する連絡孔3内の導体相互間を短絡
接続するように、第2の導電線り、〜L、が印刷され、
この第2の導電線L1〜L、は図示してない駆動回路に
接続される。
12□〜l 2n、・・・・・・の各群間で同一長さの
導電線終端部に対応する連絡孔3内の導体相互間を短絡
接続するように、第2の導電線り、〜L、が印刷され、
この第2の導電線L1〜L、は図示してない駆動回路に
接続される。
ここで、上記のように構成した場合には、前記連絡孔3
の近傍における第1の導電線111〜l In。
の近傍における第1の導電線111〜l In。
l 21〜l 2n、・・・・・・相互間のショートの
発生が問題となってくる。
発生が問題となってくる。
すなわち、連絡孔3の径は導線幅より多少大きめにしな
ければ、第1の導電線11、〜l in、121〜l
2n+・・・・・・と第2の導電線L1〜L、どの接続
が不確実になる。
ければ、第1の導電線11、〜l in、121〜l
2n+・・・・・・と第2の導電線L1〜L、どの接続
が不確実になる。
このようにした場合、我々の経験によると、第1の導電
線相互間の間隔Pは200μmが限界で、これ以下にす
るとショート事故が多発し、製品の歩留りが極度に低下
することが判明した。
線相互間の間隔Pは200μmが限界で、これ以下にす
るとショート事故が多発し、製品の歩留りが極度に低下
することが判明した。
間隔Pを300μm以上に選べば、このようなショート
の発生は少なくなるが、このためには記録素子の間隔が
前述したように167〜250μmであるから、第1の
導電線111〜lln、12□〜l 2nの間隔を途中
で広げることが必要となる。
の発生は少なくなるが、このためには記録素子の間隔が
前述したように167〜250μmであるから、第1の
導電線111〜lln、12□〜l 2nの間隔を途中
で広げることが必要となる。
しかし、こうするとヘッド全体が非常に大形化する結果
を招く。
を招く。
第3図に従来のより改良された感熱記録装置の記録ヘッ
ド部の結線図を示す。
ド部の結線図を示す。
R1□〜R1n、R2□〜R2n 、・・・・・・は発
熱抵抗体からなる記録素子列であり、その配列方向にお
いて同数ずつの素子からなる複数のブロックBl、B2
.・・・・・・に区分されている。
熱抵抗体からなる記録素子列であり、その配列方向にお
いて同数ずつの素子からなる複数のブロックBl、B2
.・・・・・・に区分されている。
この記録素子列R1□〜R1楔、R2□〜R2n 、・
・・・・・の各一端はブロックBl、B2.・・・・・
・毎に選択端子CI。
・・・・・の各一端はブロックBl、B2.・・・・・
・毎に選択端子CI。
C2,・・・・・・に共通接続されており、また各他端
はダイオードD1□〜D□。
はダイオードD1□〜D□。
、B2、〜D2n 、・・・・・・の各一端に接続され
ている。
ている。
このダイオードD1□〜D工。、D2□〜D2n 、・
・・・・・の各他端は複数群の第1の導電線11、 l
2.・・・・・・にそれぞれ接続されている。
・・・・・の各他端は複数群の第1の導電線11、 l
2.・・・・・・にそれぞれ接続されている。
この第1の導電線11. l 2.・・・・・・は、そ
れぞれ記録素子列R1、〜R1n、R2□〜R2n 、
・・・・・・の隣り合うブロックB1B2間、B3−B
4間、・・・・・・の境界線El、 B3.・・・・・
・に対して線対称位置にある各一対の記録素子相互間を
上記ダイオードDIl〜D1n、D21〜D2n 、・
・・・・・を介して接続するものである。
れぞれ記録素子列R1、〜R1n、R2□〜R2n 、
・・・・・・の隣り合うブロックB1B2間、B3−B
4間、・・・・・・の境界線El、 B3.・・・・・
・に対して線対称位置にある各一対の記録素子相互間を
上記ダイオードDIl〜D1n、D21〜D2n 、・
・・・・・を介して接続するものである。
すなわち、第1の導電線11、 l 2.・・・・・・
は各群がn本の導電線からなっており、記録素子列R1
1〜R1n、R2□〜R2n、・・・・・・の隣り合う
ブロックBI B2間、83B4間、・・・・・・に
おいて、配列方向における順序がi番目(i =1.2
.・・・・・・n)の記録素子と(n+1−i)番目の
記録素子とが、それぞれに接続されたダイオードを介し
て、上記第1の導電線l 1. l 2.・・・・・・
により接続されるのである。
は各群がn本の導電線からなっており、記録素子列R1
1〜R1n、R2□〜R2n、・・・・・・の隣り合う
ブロックBI B2間、83B4間、・・・・・・に
おいて、配列方向における順序がi番目(i =1.2
.・・・・・・n)の記録素子と(n+1−i)番目の
記録素子とが、それぞれに接続されたダイオードを介し
て、上記第1の導電線l 1. l 2.・・・・・・
により接続されるのである。
例えば゛、ブロックB1−B2間に着目すると、R11
R2n、 R12R2)n−xt、”・・” RtnR
21の相互間がガイオードDo D2n、Dt□D2
)n−12,+++・++Din−D21をそれぞれ介
して、導電線11により接続される。
R2n、 R12R2)n−xt、”・・” RtnR
21の相互間がガイオードDo D2n、Dt□D2
)n−12,+++・++Din−D21をそれぞれ介
して、導電線11により接続される。
そして上記第1の導電線11. l 2.・・・・・・
は第2の導電線りに接続される。
は第2の導電線りに接続される。
この第2の導電線りはn本の導電線L1〜Lnからなっ
ており、第1の導電線11. l 2.・・・・・・の
各群間の前記境界線E、、E3゜・・・・・・に対して
同一位置にある記録素子に対応した導電線相互間を接続
するものである。
ており、第1の導電線11. l 2.・・・・・・の
各群間の前記境界線E、、E3゜・・・・・・に対して
同一位置にある記録素子に対応した導電線相互間を接続
するものである。
上記したような結線方法によれば、第1図に示したよう
な結線方法に比べて第1の導電線l□。
な結線方法に比べて第1の導電線l□。
12、・・・・・・と第2の導電線りとの接続点数が1
ブロツク内の記録素子数をn、ブロック数をmとすると
、nX7と半減するので歩留りの向上が期待できる。
ブロツク内の記録素子数をn、ブロック数をmとすると
、nX7と半減するので歩留りの向上が期待できる。
本考案は第2図に示した如き結線の記録ヘッドの実装構
造を改良することによって、歩留りの非常により記録装
置を提供しようとするものであり、以下図面を参照して
実施例を説明する。
造を改良することによって、歩留りの非常により記録装
置を提供しようとするものであり、以下図面を参照して
実施例を説明する。
第4図は本考案の一実施例として、第2図の結線の記録
ヘッドを厚膜多層印刷によって構成した場合のマトリク
ス配線部の平面図を示したものである。
ヘッドを厚膜多層印刷によって構成した場合のマトリク
ス配線部の平面図を示したものである。
11は前記記録素子Ru 〜R1゜+ R21R2n。
・・・・・・およびダイオードD1□〜Din、D2□
〜D2n 、・・・・・・が形成された絶縁基板であり
、この基板11上には、さらに上記ダイオードD1□〜
D工。
・・・・・・およびダイオードD1□〜Din、D2□
〜D2n 、・・・・・・が形成された絶縁基板であり
、この基板11上には、さらに上記ダイオードD1□〜
D工。
、D2□〜D211゜・・・・・・の各一端が接続され
た第1の導電線11. l 2゜・・・・・・が厚膜印
刷技術により形成される。
た第1の導電線11. l 2゜・・・・・・が厚膜印
刷技術により形成される。
この第1の導電線11. l 2.・・・・・・はU字
形に形成されており、記録素子列R1□〜R1n、R2
□〜R2n 、・・・・・・の配列方向における間隔P
は記録素子列Ru〜R1n、R2□〜R2n +・・・
・・・の配列間隔、例えば167〜250μmと等しく
、またこれと直角方向における間隔QはPより大きく例
えば300μm以上に選ばれる。
形に形成されており、記録素子列R1□〜R1n、R2
□〜R2n 、・・・・・・の配列方向における間隔P
は記録素子列Ru〜R1n、R2□〜R2n +・・・
・・・の配列間隔、例えば167〜250μmと等しく
、またこれと直角方向における間隔QはPより大きく例
えば300μm以上に選ばれる。
この第1の導電線l 1. l 2.・・・・・・の上
には絶縁層12が厚膜印刷により設けられる。
には絶縁層12が厚膜印刷により設けられる。
この絶縁層12は第1の導電線11. l 2.・・・
・・・を形成するU字形導体の底辺部を横切る位置に長
孔13を有する。
・・・を形成するU字形導体の底辺部を横切る位置に長
孔13を有する。
この絶縁層12上には、記録素子列R1□〜R1n、R
2□〜R2n 、・・・・・・の配列方向と平行に、か
つ上記U字形導体の底辺部の間隔Qと等間隔で第2の導
電線りが形成される。
2□〜R2n 、・・・・・・の配列方向と平行に、か
つ上記U字形導体の底辺部の間隔Qと等間隔で第2の導
電線りが形成される。
そして、第1の導電線l 1. l 2.・・・・・・
と第2の導電線りとは、長孔13を通して接続されてい
る。
と第2の導電線りとは、長孔13を通して接続されてい
る。
このように構成すれば、第3図に示したような結線が実
現されることになる。
現されることになる。
上記構成によれば、第1の導電線l工、12・・・・・
・と第2の導電線りとの接続部の、隣接導体との間隔は
、第1の導電線11. l 2.・・・・・・の導体間
隔を従来と等しく選んだ場合、図の左右方向において、
最も近接した場所でも3倍以上にすることができる。
・と第2の導電線りとの接続部の、隣接導体との間隔は
、第1の導電線11. l 2.・・・・・・の導体間
隔を従来と等しく選んだ場合、図の左右方向において、
最も近接した場所でも3倍以上にすることができる。
したがって、第1の導電線11. l 2.・・・・・
・の間隔はP = 167μm(密度で表わすと6本/
mm)まで小さくしても、P<Qとしたことと相まって
第1の導電線11. l 2.・・・・・・相互間にお
けるショートの発生のおそれは非常に少なくなる。
・の間隔はP = 167μm(密度で表わすと6本/
mm)まで小さくしても、P<Qとしたことと相まって
第1の導電線11. l 2.・・・・・・相互間にお
けるショートの発生のおそれは非常に少なくなる。
このため、歩留りが向上するのみならず、第1の導電線
11. l 2゜・・・・・・の間隔を記録素子列R□
1〜R工。
11. l 2゜・・・・・・の間隔を記録素子列R□
1〜R工。
、R2□〜R2n1・・・・・・の配列間隔以上に拡げ
ていないので、記録ヘッド全体を小形化し得る。
ていないので、記録ヘッド全体を小形化し得る。
さらに、第1の導電線11. l 2.・・・・・・と
第2の導電線りとは、長孔13を通して接続されている
ため、第2図の如く接続点毎に連絡孔を設ける方法のよ
うに、連絡孔に充填される導体が周囲に拡がって接続点
間を短絡させるおそれがなく、この点からも歩留りの向
上が期待できる。
第2の導電線りとは、長孔13を通して接続されている
ため、第2図の如く接続点毎に連絡孔を設ける方法のよ
うに、連絡孔に充填される導体が周囲に拡がって接続点
間を短絡させるおそれがなく、この点からも歩留りの向
上が期待できる。
一方、第5図の例は第4図の例における第1の導電線l
□、12.・・・・・・の印刷工程までは同じであるが
、第4図における絶縁層12の代りに可撓性絶縁フィル
ムを用いたものである。
□、12.・・・・・・の印刷工程までは同じであるが
、第4図における絶縁層12の代りに可撓性絶縁フィル
ムを用いたものである。
すなわち、第5図中21は例えば30〜100μm程度
の厚みのポリイミドフィルムからなる可撓性絶縁フィル
ムであり、前記第1の導電線11. l 2.・・・・
・・上に印刷形成されている。
の厚みのポリイミドフィルムからなる可撓性絶縁フィル
ムであり、前記第1の導電線11. l 2.・・・・
・・上に印刷形成されている。
このフィルム21上には50〜100μrr4の銅箔を
エツチングして形成した第2の導電線りが配線され、こ
の第2の導電線りは、上記可撓性絶縁フィルム21の前
記第1の導電線11. l 2.・・・・・・を形成す
るU字形導体の底辺の中央部に対向する位置に設けた長
孔22を通して、半田等により第1の導電線11. l
2.・・・・・・と接続される。
エツチングして形成した第2の導電線りが配線され、こ
の第2の導電線りは、上記可撓性絶縁フィルム21の前
記第1の導電線11. l 2.・・・・・・を形成す
るU字形導体の底辺の中央部に対向する位置に設けた長
孔22を通して、半田等により第1の導電線11. l
2.・・・・・・と接続される。
第6図はこの接続部分の拡大斜視図である。
この第5図の例によっても、第4図の場合と同様な効果
が得られる。
が得られる。
また、この第5図の例によると、可撓性絶縁フィルム2
1の端部を図示のように延長して、コネクタ23に直接
導くことも可能である。
1の端部を図示のように延長して、コネクタ23に直接
導くことも可能である。
さらに、この場合第5図に示したように第2の導電線り
を一本おきに左右に振り分けて引出すようにすれば、導
電線抵抗の片寄りによる発色濃度の左右方向(記録素子
列配列方向)における傾斜を全体として平均化できる利
点もある。
を一本おきに左右に振り分けて引出すようにすれば、導
電線抵抗の片寄りによる発色濃度の左右方向(記録素子
列配列方向)における傾斜を全体として平均化できる利
点もある。
なお、本考案の場合記録素子列R11〜Ran、R2、
〜R2n 、・・・・・・は第2の導電線L(L、〜L
o)に対する接続順序が隣接するブロック毎に逆となっ
ている。
〜R2n 、・・・・・・は第2の導電線L(L、〜L
o)に対する接続順序が隣接するブロック毎に逆となっ
ている。
すなわち、ブロックBl、 B3.・・・・・・の記録
素子列R11〜R1n、 R31−R3n、−・・・・
−とブロックB2. B4゜・・・・・・の記録素子列
R21〜R2n、R41〜R4n、・・・・・・の第2
の導電線りに対する接続順序は互いに逆である。
素子列R11〜R1n、 R31−R3n、−・・・・
−とブロックB2. B4゜・・・・・・の記録素子列
R21〜R2n、R41〜R4n、・・・・・・の第2
の導電線りに対する接続順序は互いに逆である。
したがってシリアルに入力される記録情報信号をそのま
まの順序で第2の導電線りに供給すると、例えば偶数番
目のブロックB2. B4.・・・・・・の記録素子列
R21〜R2n、R4□〜R4n、・・・・・・による
記録状態が左右逆となってしまい、正常な記録側が得ら
れない。
まの順序で第2の導電線りに供給すると、例えば偶数番
目のブロックB2. B4.・・・・・・の記録素子列
R21〜R2n、R4□〜R4n、・・・・・・による
記録状態が左右逆となってしまい、正常な記録側が得ら
れない。
そこで、本考案では第2の導電線L1〜L、に対し、記
録情報信号をブロックBl、B2.・・・・・・の選択
毎に順序を反転させて供給するが、このような処理機能
を有する記録回路の一例を第7図に示す。
録情報信号をブロックBl、B2.・・・・・・の選択
毎に順序を反転させて供給するが、このような処理機能
を有する記録回路の一例を第7図に示す。
以下、記録素子数、n=7の場合について説明する。
第7図において、SR1,SR2はシフトレジスタであ
り、SR1はQ7からQlの方向へ、SR2はQlから
Q7の方向へシフト動作するものとする。
り、SR1はQ7からQlの方向へ、SR2はQlから
Q7の方向へシフト動作するものとする。
いま、記録情報信号S。
とじて、例えば記録素子列のブロックB1に対応するシ
リアルな画像信号が入力されるとき、レジスタ選択信号
S2が1となり、シフトパルスS1がアンドゲートG1
を介してシフトレジスタSR1に供給され、これにより
シフトレジスタSR1に画像信号が書込まれる。
リアルな画像信号が入力されるとき、レジスタ選択信号
S2が1となり、シフトパルスS1がアンドゲートG1
を介してシフトレジスタSR1に供給され、これにより
シフトレジスタSR1に画像信号が書込まれる。
このときシフトレジスタSR2は停止状態にある。
シフトレジスタSR1に7ビツト分の画像信号が書込ま
れると、レジスタ選択信号S2がOとなり、インバータ
G3の出力が1となるため、今度はシフトパルスS1が
アンドゲートG2を介してシフトレジスタSR2に供給
され、これによりシフトレジスタSR2に画像信号が書
込まれ始め、シフトレジスタSR1は停止状態となる。
れると、レジスタ選択信号S2がOとなり、インバータ
G3の出力が1となるため、今度はシフトパルスS1が
アンドゲートG2を介してシフトレジスタSR2に供給
され、これによりシフトレジスタSR2に画像信号が書
込まれ始め、シフトレジスタSR1は停止状態となる。
このとき、シフトレジスタ選択信号S2が0になると、
ブロックB1の選択端子C,(第3図参照)に駆動電源
が接続されると同時に、インバータG3の出力1となる
ことによって、シフトレジスタSR1のQ1〜Q7の内
容がアンドゲートG1□〜G17を介してパラレルに読
出される。
ブロックB1の選択端子C,(第3図参照)に駆動電源
が接続されると同時に、インバータG3の出力1となる
ことによって、シフトレジスタSR1のQ1〜Q7の内
容がアンドゲートG1□〜G17を介してパラレルに読
出される。
この読出された画像信号はオアゲートG31〜G37お
よび゛図示してないドライブ用トランジスタを介して前
記第2の導電線りのL1〜L7に供給される。
よび゛図示してないドライブ用トランジスタを介して前
記第2の導電線りのL1〜L7に供給される。
これにより、ブロックB1の記録素子列R1、〜R1n
による記録が行なわれる。
による記録が行なわれる。
一方、シフトレジスタSR2に7ビツト分の画像信号が
書込まれると、レジスタ選択信号S2が1に復帰するこ
とによって、停止状態となっていたシフトレジスタSR
1が再び始動する。
書込まれると、レジスタ選択信号S2が1に復帰するこ
とによって、停止状態となっていたシフトレジスタSR
1が再び始動する。
そして、ブロックB2の選択端子C2に駆動電源が接続
されると同時に、シフトレジスタSR2のQ1〜Q7の
内容がアンドゲートG2□〜G27を介して読出され、
同様にオアゲート63□〜G37および゛ドライブ用ト
ランジスタを介して第2の導電線りのL1〜L7に供給
される。
されると同時に、シフトレジスタSR2のQ1〜Q7の
内容がアンドゲートG2□〜G27を介して読出され、
同様にオアゲート63□〜G37および゛ドライブ用ト
ランジスタを介して第2の導電線りのL1〜L7に供給
される。
これにより、ブロックB2の記録素子列R2□〜R27
による記録が行なわれる。
による記録が行なわれる。
この場合、シフトレジスタSR2の書込み時のシフト動
作は前述したようにシフトレジスタSR1とは逆の方向
に行なわれるため、シフトレジスタSR2より読出され
た画像信号は、第2の導電線りのL1〜L7に対し、シ
フトレジスタSR工より読出された画像信号とは逆の順
序で供給される。
作は前述したようにシフトレジスタSR1とは逆の方向
に行なわれるため、シフトレジスタSR2より読出され
た画像信号は、第2の導電線りのL1〜L7に対し、シ
フトレジスタSR工より読出された画像信号とは逆の順
序で供給される。
したがって、ブロックB2においても正常な記録が行な
われる。
われる。
このように、奇数番目のブロックBl、 B3. Bs
、・・・・・・では画像信号はそのままの順序で、又偶
数番目のブロックB2゜B4. B、、・・・・・・で
は画像信号は逆の順序で供給され、正常な画像記録がな
されることになる。
、・・・・・・では画像信号はそのままの順序で、又偶
数番目のブロックB2゜B4. B、、・・・・・・で
は画像信号は逆の順序で供給され、正常な画像記録がな
されることになる。
このように一方向にのみシフト動作可能なシフトレジス
タを2個用いこれらを選択するブロックに応じて切り換
え用いているので、このような回路も記録ヘッド部分に
設けることが可肯雪で゛あり、構成が簡単で小形な記録
装置が得られる。
タを2個用いこれらを選択するブロックに応じて切り換
え用いているので、このような回路も記録ヘッド部分に
設けることが可肯雪で゛あり、構成が簡単で小形な記録
装置が得られる。
なお、本考案は以上の実施例に限定されるものではなく
、例えば第4図および第5図では絶縁基板の一方の側面
に第1および第2の導電線を絶縁層を介して形威したが
、絶縁基板の一方の面に第1の導電線を、他方の面に第
2の導電線をそれぞれ形威し、両者をスルーホールを介
して接続するようにしてもよい。
、例えば第4図および第5図では絶縁基板の一方の側面
に第1および第2の導電線を絶縁層を介して形威したが
、絶縁基板の一方の面に第1の導電線を、他方の面に第
2の導電線をそれぞれ形威し、両者をスルーホールを介
して接続するようにしてもよい。
また、第6図の例では可撓性絶縁フィルム21に長孔2
2を設け、この長孔22を通して第1の導電線11.
l 2.・・・・・・と第2の導電線上とを接続したが
、この代りに、可撓性絶縁フィルム21上に上記長孔2
2と同様の形状の部分を除いて第2の導電線りを構成す
る銅箔表面に絶縁層を形成し、可撓性絶縁フィルム21
を第6図の場合と表裏逆にして設け、第1の導電線11
. l 2.・・・・・・と第2の導電線りとを接続す
るようにしてもよい。
2を設け、この長孔22を通して第1の導電線11.
l 2.・・・・・・と第2の導電線上とを接続したが
、この代りに、可撓性絶縁フィルム21上に上記長孔2
2と同様の形状の部分を除いて第2の導電線りを構成す
る銅箔表面に絶縁層を形成し、可撓性絶縁フィルム21
を第6図の場合と表裏逆にして設け、第1の導電線11
. l 2.・・・・・・と第2の導電線りとを接続す
るようにしてもよい。
さらに、前記実施例では感熱記録装置に本考案を適用し
た場合について説明したが、本考案は静電記録、放電記
録等にも適用できる。
た場合について説明したが、本考案は静電記録、放電記
録等にも適用できる。
第1図は従来の感熱記録装置における記録ヘツド部の結
線図、第2図は第1図の記録ヘッド部のマトリクス配線
部分の構成例を示す平面図、第3図は従来の感熱記録装
置における記録ヘッド部の他の例を示す結線図、第4図
は本考案の一実施例に係る記録装置における記録ヘッド
部のマトリクス配線部分の構成例を示す平面図、第5図
は同マトリクス配線部分の他の構成例を示す平面図、第
6図は第5図の要部を拡大して示す斜視図、第7図は本
考案装置における記録回路部の構成例を示す図である。 R1□〜R1□、R2□〜R211、・・・・・・記録
素子(発熱抵抗体)、11,12・・・・・・第1の導
電線、L・・・・・・(L、〜L、)・・・・・・第2
の導電線、11・・・・・・絶縁性基板、12・・・・
・・絶縁層、13・・・・・・長孔、21・・・・・・
可撓性絶縁フィルム、22・・・・・・長孔、23・・
・・・・コネクタ、SR1,SR2・・・・・・シフト
レジスタ。
線図、第2図は第1図の記録ヘッド部のマトリクス配線
部分の構成例を示す平面図、第3図は従来の感熱記録装
置における記録ヘッド部の他の例を示す結線図、第4図
は本考案の一実施例に係る記録装置における記録ヘッド
部のマトリクス配線部分の構成例を示す平面図、第5図
は同マトリクス配線部分の他の構成例を示す平面図、第
6図は第5図の要部を拡大して示す斜視図、第7図は本
考案装置における記録回路部の構成例を示す図である。 R1□〜R1□、R2□〜R211、・・・・・・記録
素子(発熱抵抗体)、11,12・・・・・・第1の導
電線、L・・・・・・(L、〜L、)・・・・・・第2
の導電線、11・・・・・・絶縁性基板、12・・・・
・・絶縁層、13・・・・・・長孔、21・・・・・・
可撓性絶縁フィルム、22・・・・・・長孔、23・・
・・・・コネクタ、SR1,SR2・・・・・・シフト
レジスタ。
Claims (1)
- 同数の記録素子からなる複数のブロックに区分された記
録素子列と、この記録素子列の隣り合うブロック間でこ
のブロック間の境界線に対して線対称な位置にある各一
対の記録素子相互間を接続する複数の第1の導電線と、
この複数の第1の導電線を各ブロックの対応する導電線
毎に共通接続する複数の第2の導電線と、前記記録素子
列の各ブロックを選択すると共に記録情報信号を前記第
2の導電線に供給する記録回路とを備え、この記録回路
は、一方向にのみシフト動作すると共にこのシフト方向
に対して互いに逆の位置にある各出力端子が前記第2の
導電線に接続された2つのシフトレジスタと、前記選択
されたブロックの位置に応じて前記2つのシフトレジス
タのいずれか一方を選択する手段とからなる記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981007647U JPS5821734Y2 (ja) | 1981-01-22 | 1981-01-22 | 記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981007647U JPS5821734Y2 (ja) | 1981-01-22 | 1981-01-22 | 記録装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56118465U JPS56118465U (ja) | 1981-09-10 |
JPS5821734Y2 true JPS5821734Y2 (ja) | 1983-05-09 |
Family
ID=29604307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1981007647U Expired JPS5821734Y2 (ja) | 1981-01-22 | 1981-01-22 | 記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5821734Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8864898B2 (en) | 2011-05-31 | 2014-10-21 | Honeywell International Inc. | Coating formulations for optical elements |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5419876Y2 (ja) * | 1974-04-24 | 1979-07-20 |
-
1981
- 1981-01-22 JP JP1981007647U patent/JPS5821734Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56118465U (ja) | 1981-09-10 |
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