JPS58215526A - 合焦表示装置 - Google Patents
合焦表示装置Info
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- JPS58215526A JPS58215526A JP9976882A JP9976882A JPS58215526A JP S58215526 A JPS58215526 A JP S58215526A JP 9976882 A JP9976882 A JP 9976882A JP 9976882 A JP9976882 A JP 9976882A JP S58215526 A JPS58215526 A JP S58215526A
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- comparator
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明Ｉｉ Ｍ Ｔ Ｆ測定装置に２ける合焦表示装置
に関する・ デジタル７−リエ変換方式のＭ Ｔ Ｆ ＩＩＩ定装置
は被検レンズに１って投影さｎるスリット像の幅方向光
強度分布（線像の光強度分布）をサンプリング測定して
離散的にフーリエ変換する。この１〜ＩＴＦ測定装置で
は線［象の光強度分布（ＬＳＦ） をサングリフグ数
ｎ、サンプリング間隔Δｔでサンプリングしてフーリエ
変換した場合その振幅部分がＭＴＦ になることから
、空間周波数Ｕに対応するＭ’ｌ’Ｆ Ｍ（ｕ）は次
式で与えらｎる。
に関する・ デジタル７−リエ変換方式のＭ Ｔ Ｆ ＩＩＩ定装置
は被検レンズに１って投影さｎるスリット像の幅方向光
強度分布（線像の光強度分布）をサンプリング測定して
離散的にフーリエ変換する。この１〜ＩＴＦ測定装置で
は線［象の光強度分布（ＬＳＦ） をサングリフグ数
ｎ、サンプリング間隔Δｔでサンプリングしてフーリエ
変換した場合その振幅部分がＭＴＦ になることから
、空間周波数Ｕに対応するＭ’ｌ’Ｆ Ｍ（ｕ）は次
式で与えらｎる。
・・・・・（１）
ここでＬｋはサンプリングされた線像の光強度であり、
ｍは投影倍率、ａはスリット幅である。また右辺の第１
項はスリットｍに対する補正係数を表わしており、スリ
ット幅が無限に小さい場合には無視し得る値となるが、
一般にはスリット幅が１０μｍ〜２０μｍ程邸となるた
め指定さｎる空間周波数Ｕに対応してあらかじめ計算す
べき１直である。
ｍは投影倍率、ａはスリット幅である。また右辺の第１
項はスリットｍに対する補正係数を表わしており、スリ
ット幅が無限に小さい場合には無視し得る値となるが、
一般にはスリット幅が１０μｍ〜２０μｍ程邸となるた
め指定さｎる空間周波数Ｕに対応してあらかじめ計算す
べき１直である。
第１図はデジタルフーリエ変換方式のＭ Ｔ Ｆ泪１ｊ
定装置の一汐ｌ」に３ける光学系を示す。チャート１１
は幅５μｍ〜２０μｍ Ｏ）極細な開口よりなるスリ
ットが各測定点に対応して形成されており、ランプ１２
及び拡散板１３ 、ｒりなる光源によって照射さｆ′Ｌ
る。チャートｌｌの各スリットヲ通過した光束は被検Ｉ
／ンズ１４にＩジ、各画定点に対応した位置に設置さｎ
でいる電荷結合素子又はフォトダイオードアレイ、バケ
ットブリゲートデバイス等の１次元自て走棄型固体撮諌
素子１５１〜１５１で受光さｆＬｌその光強度分布に対
応した時系列な電気信号に変換さｎる。被検レンズエ４
はレンズホルダー１６に装着さｎ、被検レンズ１４自体
のピント合わせ機構もしくはレンズボルダ−１６のピン
ト合わせ機構により上下に移動されて合焦調整が行なわ
ｎる。
定装置の一汐ｌ」に３ける光学系を示す。チャート１１
は幅５μｍ〜２０μｍ Ｏ）極細な開口よりなるスリ
ットが各測定点に対応して形成されており、ランプ１２
及び拡散板１３ 、ｒりなる光源によって照射さｆ′Ｌ
る。チャートｌｌの各スリットヲ通過した光束は被検Ｉ
／ンズ１４にＩジ、各画定点に対応した位置に設置さｎ
でいる電荷結合素子又はフォトダイオードアレイ、バケ
ットブリゲートデバイス等の１次元自て走棄型固体撮諌
素子１５１〜１５１で受光さｆＬｌその光強度分布に対
応した時系列な電気信号に変換さｎる。被検レンズエ４
はレンズホルダー１６に装着さｎ、被検レンズ１４自体
のピント合わせ機構もしくはレンズボルダ−１６のピン
ト合わせ機構により上下に移動されて合焦調整が行なわ
ｎる。
第２図は上記ＭＴＦ測定装置におけろ電気回路を示す。
（１式に３けるａ、ｕ、ｍ、Δｔの値及びＭ ’１’
Ｆ１厘の検査規格ｆ直がテレタイプ１７により人出方イ
ンター、ｙ 、−ス１８ ’ｒ：介してコンピー−１１
９に人力さｎ、こｎらのｆ直は人出カインターフーース
２０を介してフロッピーディスク２１に蓄えらｎる。ま
たコンピータ１９はＵに応じたｓｉｎ、ｃｏｓ）値を遂
次計算してフロッピーディスク２１Ｖｃ蓄え、（１）式
のスリット幅に応じた補正係数も計算しアイスフ２１に
蓄える。これらり値 ）ま沃食時には不変的な値となるので、セツティング時
、にフロッピーディスク２１に蓄えらｎる。
Ｆ１厘の検査規格ｆ直がテレタイプ１７により人出方イ
ンター、ｙ 、−ス１８ ’ｒ：介してコンピー−１１
９に人力さｎ、こｎらのｆ直は人出カインターフーース
２０を介してフロッピーディスク２１に蓄えらｎる。ま
たコンピータ１９はＵに応じたｓｉｎ、ｃｏｓ）値を遂
次計算してフロッピーディスク２１Ｖｃ蓄え、（１）式
のスリット幅に応じた補正係数も計算しアイスフ２１に
蓄える。これらり値 ）ま沃食時には不変的な値となるので、セツティング時
、にフロッピーディスク２１に蓄えらｎる。
咲介時にはフロッピーディスク２１に蓄えら汎た埴がコ
ンビーータ１９に内蔵さ扛ているダイナミノクランター
ムアクセスメモリ（以下１（、ＡＭ と呼ぶ）に転送
さｒｌ、このうちｓｉｎ、ｃｏｓＯ値がＣＱＳ用１尤Ａ
Ｍ２２．ｓｉｎ用ＲＡＭ２３に格納さｎる。この場合−
ｙンピ−−夕Ｌ９より７１ｊ７］インターフー−ス２４
゜データバス２５を通してアドレスカウンタ２６に初期
アドレスがプリセントさ扛、タイミング発生回路２７’
Ｌ！ｌ１発生するクロックパルスによりアドレスカウン
タ２６が歩進して行って７０ツピーデイスク２Ｌｆ９コ
ンビーータ１９内のダイナミックＲＡＭに転送さｎたｓ
ｉｎ、ｃｏｓノ値がＲＡＭ２２゜２．３に遂次格納さｎ
る。ここ筐での操作は検査準備としてあらかじめ行なわ
扛る。
ンビーータ１９に内蔵さ扛ているダイナミノクランター
ムアクセスメモリ（以下１（、ＡＭ と呼ぶ）に転送
さｒｌ、このうちｓｉｎ、ｃｏｓＯ値がＣＱＳ用１尤Ａ
Ｍ２２．ｓｉｎ用ＲＡＭ２３に格納さｎる。この場合−
ｙンピ−−夕Ｌ９より７１ｊ７］インターフー−ス２４
゜データバス２５を通してアドレスカウンタ２６に初期
アドレスがプリセントさ扛、タイミング発生回路２７’
Ｌ！ｌ１発生するクロックパルスによりアドレスカウン
タ２６が歩進して行って７０ツピーデイスク２Ｌｆ９コ
ンビーータ１９内のダイナミックＲＡＭに転送さｎたｓ
ｉｎ、ｃｏｓノ値がＲＡＭ２２゜２．３に遂次格納さｎ
る。ここ筐での操作は検査準備としてあらかじめ行なわ
扛る。
上記操作が完了したならば固体撮像素子１５１〜１５□
からの線［家元強度分布に対応した光電変換信号はコ
ンビーータ１９ｊ！７指示さｎるアドレスに従ってマル
テプレクス２８によって選択さ汎。
からの線［家元強度分布に対応した光電変換信号はコ
ンビーータ１９ｊ！７指示さｎるアドレスに従ってマル
テプレクス２８によって選択さ汎。
サンプルホールド回路２９にまりサンプルホールドさｎ
てアナログ／デジタル変換器３０によジデジタル化され
、線像用１（、ＡＭ ３１に遂次格納さｎる。
てアナログ／デジタル変換器３０によジデジタル化され
、線像用１（、ＡＭ ３１に遂次格納さｎる。
このＲＡＭ３１は上記ＲＡＭ２２．２３と同僚にアト１
／スが指定される。
／スが指定される。
固体撮像素子１５．〜１５ｉからの光電変換信号が１（
、ＡＭ３１に格納さｎろと、アドレスカウンタ２６から
リードエンド信号がコンピュータ１９に取込まｆ′Ｌ、
コンビーータ１９がこの信号をデコードして（１）式に
相応する計算を開始させろ指命信号を送出する。つまジ
コンビーータ１９はまず線像用）ｔＡＭ３１の先頭アド
レスをセントし、且つ定数用ＲＡＭ３２の先頭アドレス
をセットし、こ扛らのＲＡＭ３１．３２からのデータが
タイミング発生回路２７からのタロツクパルスによるア
ドレスカウンタ２．Ｉの歩進で順次送出さ汎て乗ｘ４３
３に人力される。乗算器３３はこｎらのデータを掛は合
わせ、その結果がアキームレータ３４で遂次加算さｎる
。こｎらの動作はタイミング発生回路３５から乗算器３
３．アキーム１ノータ３４に加えらｎるクロックパルス
によって制餌さｎろ。ここで定数用ＩもＡＭ３２には１
１０”Ｊ２値信号が格納さｆ’Ｌ ”（Ｌ−り、 （１
）式のΣＬｋが乗算器３３で演算さｎてアキームレータ
３４に格納さｎることになる。これは各固体撮像素子１
５．〜１５１ からの線像データについて繰り返さｎ、
その度にΣＬｋ の演算結果が７’ −ｐ ハス２５
ｆ Ｊしてコンビーータ１９のダイナミック）ｔＡＭ
に取込まれる。
、ＡＭ３１に格納さｎろと、アドレスカウンタ２６から
リードエンド信号がコンピュータ１９に取込まｆ′Ｌ、
コンビーータ１９がこの信号をデコードして（１）式に
相応する計算を開始させろ指命信号を送出する。つまジ
コンビーータ１９はまず線像用）ｔＡＭ３１の先頭アド
レスをセントし、且つ定数用ＲＡＭ３２の先頭アドレス
をセットし、こ扛らのＲＡＭ３１．３２からのデータが
タイミング発生回路２７からのタロツクパルスによるア
ドレスカウンタ２．Ｉの歩進で順次送出さ汎て乗ｘ４３
３に人力される。乗算器３３はこｎらのデータを掛は合
わせ、その結果がアキームレータ３４で遂次加算さｎる
。こｎらの動作はタイミング発生回路３５から乗算器３
３．アキーム１ノータ３４に加えらｎるクロックパルス
によって制餌さｎろ。ここで定数用ＩもＡＭ３２には１
１０”Ｊ２値信号が格納さｆ’Ｌ ”（Ｌ−り、 （１
）式のΣＬｋが乗算器３３で演算さｎてアキームレータ
３４に格納さｎることになる。これは各固体撮像素子１
５．〜１５１ からの線像データについて繰り返さｎ、
その度にΣＬｋ の演算結果が７’ −ｐ ハス２５
ｆ Ｊしてコンビーータ１９のダイナミック）ｔＡＭ
に取込まれる。
次に同様にコンビーータ１９がＣＯ３用ＲＡＭ２２゜線
ｒ家相）ＬＡＭ３１の先頭アドレスをセントし、Σルｋ
ＣＯＳθｋ（θに一一五一）が同様に計算されて各固体
撮（３）素子毎にデータバス２５を通しコンビーータ１
９のダイナミック）（、ＡＭ に取込まｎる。次にΣＬ
ｋｓｉｎθｋ（７Ｊ計算も全く同様に行なわｎてコンビ
ー−タ１９のダイナミックＲＡＭ に取り込まｎる。
ｒ家相）ＬＡＭ３１の先頭アドレスをセントし、Σルｋ
ＣＯＳθｋ（θに一一五一）が同様に計算されて各固体
撮（３）素子毎にデータバス２５を通しコンビーータ１
９のダイナミック）（、ＡＭ に取込まｎる。次にΣＬ
ｋｓｉｎθｋ（７Ｊ計算も全く同様に行なわｎてコンビ
ー−タ１９のダイナミックＲＡＭ に取り込まｎる。
そしてコンビーータ１９はダイナミック）ＬＡＭ に取
込んだΣＬｋ、ΣＬｋｓｉｎθに、ΣＬｋｃｏｓθｋ
ｊり（９式に従ってＭ Ｔ Ｆを各固体撮像素子毎に計
算し、この〜Ｉ ｉ’ Ｆ ％−ダイナミックＨ，ＡＭ
内の検査規格値と比・収し、その倹食結束をテレタイ
プ１７の陰極線管上に表示させる。なお固体撮像素子１
５１〜１５ｉは駆動回路３６によ！ｌ１４駆動さｎる。
込んだΣＬｋ、ΣＬｋｓｉｎθに、ΣＬｋｃｏｓθｋ
ｊり（９式に従ってＭ Ｔ Ｆを各固体撮像素子毎に計
算し、この〜Ｉ ｉ’ Ｆ ％−ダイナミックＨ，ＡＭ
内の検査規格値と比・収し、その倹食結束をテレタイ
プ１７の陰極線管上に表示させる。なお固体撮像素子１
５１〜１５ｉは駆動回路３６によ！ｌ１４駆動さｎる。
上記ＭＴＦ測定装置に３いてはＭＴＦを測定する前に被
検レンズの合焦調整を行う必要があＶ。
検レンズの合焦調整を行う必要があＶ。
軸上のＭＴＦ値が最大となるように被検レンズを調整し
なければならない。そこで従来は軸上のＭＴＦ値をアナ
ログメータで表示し、測定者がこのアナログメータを見
ながら被検レンズの合焦調整を行うという方法がとらｎ
ている。しかしこの方法では軸上りＭＴＦ値を求めるの
に膨大な量の演算を必要とするため、合焦調整に時間が
長くかかって操作性が悪かった。又測定者がアナログメ
ータ、ｘＢ輪軸上ＭＴＦ値を読み取っていたため。
なければならない。そこで従来は軸上のＭＴＦ値をアナ
ログメータで表示し、測定者がこのアナログメータを見
ながら被検レンズの合焦調整を行うという方法がとらｎ
ている。しかしこの方法では軸上りＭＴＦ値を求めるの
に膨大な量の演算を必要とするため、合焦調整に時間が
長くかかって操作性が悪かった。又測定者がアナログメ
ータ、ｘＢ輪軸上ＭＴＦ値を読み取っていたため。
測定者の読み取り誤差が大きく、且つアナログメータの
分解能が限らｎでいるため精度が低く、再現精度に問題
があった。
分解能が限らｎでいるため精度が低く、再現精度に問題
があった。
本発明は上記のような欠点を改善し、操作性の向上及び
再現精度の向上を計ることができる合焦表示装置を提供
することを目的とする。
再現精度の向上を計ることができる合焦表示装置を提供
することを目的とする。
以下図面を参照しながら本発明について実施例？あけて
説明する。
説明する。
第、３図は本発明の一実施例を示し、第４図はそのタイ
ミングチャートである。この実施例は上記ティジタルフ
ーリエ変換方式のＭＴＦ測定装置に付帯するものの例で
あり、軸上の固体撮像素子（この例では電荷結合素子）
１５、からの光電変換信号が増幅器３７で増幅さｎてサ
ンプルホールド回路２９でサンダルホールドさｎろ。即
ち合焦調整時にはコンビーータ１９からの信号によりマ
ルチブレフサ２８で固体撮像素子１５．からの光電変換
信号が選択さね、また増幅器３７が第２図では省略さｎ
ている。
ミングチャートである。この実施例は上記ティジタルフ
ーリエ変換方式のＭＴＦ測定装置に付帯するものの例で
あり、軸上の固体撮像素子（この例では電荷結合素子）
１５、からの光電変換信号が増幅器３７で増幅さｎてサ
ンプルホールド回路２９でサンダルホールドさｎろ。即
ち合焦調整時にはコンビーータ１９からの信号によりマ
ルチブレフサ２８で固体撮像素子１５．からの光電変換
信号が選択さね、また増幅器３７が第２図では省略さｎ
ている。
サンプルホールド回路２９からの信号Ｖｉｄｅｏ は
第４図に示′１″ようにスリット像の光強度分布に相似
な波形となり、コンパレータ３８に人力される。
第４図に示′１″ようにスリット像の光強度分布に相似
な波形となり、コンパレータ３８に人力される。
またコンパレ−タ３８は一定の直流電圧Ｖｓが分圧回路
３９にｘｖ分圧さｎて基準電圧ＶＨｅｆとして人力さｎ
、こルらの入力Ｖｉｄｅｏ、Ｖ’Ｈｅｆ ’ｆ（比較し
て入力Ｖ ｉ ｄ ｅｏが基準電圧ＶＨｅｆｊジ高いと
きにパルス〜Ｖヶ出力する。カウンタ４０は駆動回路３
６から出力さ几るトランスポートクロックφ□ が分周
回路４１で分周さｎてクロックパルスＣＬＫ として入
力さ几、コンパレータ３８からパルスＷが人力さルでい
る時にクロックパルスＣＬＫ ’ｆカウントすることに
よってパルスＷの幅を測定する。カウンタ４０のカウン
ト値はデコーダ４２で解読さｎて表示装置４３でそのカ
ウント値に対応した表示がなさｎる。制御パルス発生回
路４４はコンパレータ３８の出力パルスＷより制御パル
スを発生する回路であり、第４図のようにパルスＷの前
縁及び後縁に応じたスタートパルスＣＳとエフ １−”
パルスＣＲｉ発生する。カウンタ４ｏはこのスタートパ
ルスＣ８によりカウント動作をゼロから開始し。
３９にｘｖ分圧さｎて基準電圧ＶＨｅｆとして人力さｎ
、こルらの入力Ｖｉｄｅｏ、Ｖ’Ｈｅｆ ’ｆ（比較し
て入力Ｖ ｉ ｄ ｅｏが基準電圧ＶＨｅｆｊジ高いと
きにパルス〜Ｖヶ出力する。カウンタ４０は駆動回路３
６から出力さ几るトランスポートクロックφ□ が分周
回路４１で分周さｎてクロックパルスＣＬＫ として入
力さ几、コンパレータ３８からパルスＷが人力さルでい
る時にクロックパルスＣＬＫ ’ｆカウントすることに
よってパルスＷの幅を測定する。カウンタ４０のカウン
ト値はデコーダ４２で解読さｎて表示装置４３でそのカ
ウント値に対応した表示がなさｎる。制御パルス発生回
路４４はコンパレータ３８の出力パルスＷより制御パル
スを発生する回路であり、第４図のようにパルスＷの前
縁及び後縁に応じたスタートパルスＣＳとエフ １−”
パルスＣＲｉ発生する。カウンタ４ｏはこのスタートパ
ルスＣ８によりカウント動作をゼロから開始し。
エンドパルスＣＲが印加さｎるまでカウント動作を継続
する。また分圧回路３９は基準電圧ＶＲｅｆ２僅号Ｖｉ
ｄｅｏのレベルに応じて調整できる端子（例えば可変抵
抗器の摺動端子等）娶狩ち、あらかじめ所望の値に調整
さｎる。
する。また分圧回路３９は基準電圧ＶＲｅｆ２僅号Ｖｉ
ｄｅｏのレベルに応じて調整できる端子（例えば可変抵
抗器の摺動端子等）娶狩ち、あらかじめ所望の値に調整
さｎる。
ところで合焦時にはスリット像が最も尖鋭な状態になる
から、パルスＷの幅は最小となり、被検レンズをデフォ
ーカスするに従ってスリット像の尖鋭度が低下してパル
スＷの幅が大きくなる。従って合焦時にはカウンタ４０
のカウント値が最小になり、被検レンズをデフォーカス
するに従ってカウンタ４０のカウント値が大きくなる。
から、パルスＷの幅は最小となり、被検レンズをデフォ
ーカスするに従ってスリット像の尖鋭度が低下してパル
スＷの幅が大きくなる。従って合焦時にはカウンタ４０
のカウント値が最小になり、被検レンズをデフォーカス
するに従ってカウンタ４０のカウント値が大きくなる。
よって測定者は表示装置４３でカウンタ４０のカウント
値に対応して表示さｎる表示値を読み取って被検レンズ
の合焦調整を行うことができる。ここに基準電圧ＶＨｅ
ｆ ５化させることによって空間周波数成分に対応した
合焦を行うことが可能であり、基準電圧ＶＨｅｆ ｆ
低くする程高い空間周波数成分で合焦する。
値に対応して表示さｎる表示値を読み取って被検レンズ
の合焦調整を行うことができる。ここに基準電圧ＶＨｅ
ｆ ５化させることによって空間周波数成分に対応した
合焦を行うことが可能であり、基準電圧ＶＨｅｆ ｆ
低くする程高い空間周波数成分で合焦する。
第６図は空間周波数ｙ３ｏｃ／關とした例である。
な２表示装置４３ ＋まレベルメータでもよいし、デジ
タル表示２行うものでもよい。
タル表示２行うものでもよい。
第５図は本発明の他の実施例を示す。この実施列（ま基
準電圧ＶＲｅｆ ’ａ’信号ｖＩｄｅＯに合わせてダ
イナミックに変化させるものであり、上記実施例にり値
が分圧回路３９により分圧さｎて基準電圧ＶＲｅ ｆ
としてコンパレータ３８に人力さ几る。このようにサ
ンプルホールド回路２９の出力信号のピーク値に応じて
基準電圧ＶＲｅｆ ’ｉダイナミックに変化させｎば
前記実施例Ｊジ更に高精度な合焦調整を行うことができ
る。
準電圧ＶＲｅｆ ’ａ’信号ｖＩｄｅＯに合わせてダ
イナミックに変化させるものであり、上記実施例にり値
が分圧回路３９により分圧さｎて基準電圧ＶＲｅ ｆ
としてコンパレータ３８に人力さ几る。このようにサ
ンプルホールド回路２９の出力信号のピーク値に応じて
基準電圧ＶＲｅｆ ’ｉダイナミックに変化させｎば
前記実施例Ｊジ更に高精度な合焦調整を行うことができ
る。
以上のように本発明によｎばＭＴＦ測定装置に２いてフ
ーリエ変換を全く行なわずに合焦状態を検出尤で表示す
るので１合焦調整をリアルタイムで行うことが可能にな
９、合焦調整時開が短縮さ１゜ ｎて操作性が向上する。また軸上り受光素子の出力信号
をサンプルホールド後にコンバレータテ基準屯圧と比較
しその出力パルス幅をカウント手段で測定してこのカウ
ント手段の値に対応して合焦状態を表示装置で表示する
ので、再埃稽度の向上を計ることが可能である。
ーリエ変換を全く行なわずに合焦状態を検出尤で表示す
るので１合焦調整をリアルタイムで行うことが可能にな
９、合焦調整時開が短縮さ１゜ ｎて操作性が向上する。また軸上り受光素子の出力信号
をサンプルホールド後にコンバレータテ基準屯圧と比較
しその出力パルス幅をカウント手段で測定してこのカウ
ント手段の値に対応して合焦状態を表示装置で表示する
ので、再埃稽度の向上を計ることが可能である。
第１図は従来のＭＴＦ測定装置の一例における光学：系
を示す斜視図、第２図は同ＭＴＦ測定装置に２：ける電
気回路を示すブロック図、第３図は本発明の一実施汐１
ｉ示すブロック図、第４図は同実施列のタイミングチ
ャート、第５図は本発明の他の実施列を示すブロック図
、第６図は上記実施列？説明するための図である。 １５・・・ 軸上の受光素子、 ２９・・・サンプル
ホールド回路、 ３８・・・コンパレータ、３
９・・・分圧回路、 ４０・・・カラ／り。 ４：３・・・表示装置、 ４５・・・ピーク検出回
路。 床）口 亮陥２ 氾４図 ｎ−ｔ＜ Ｉ冊ＩＩＩＩＩＩ皿冊冊皿皿胴皿皿皿手
続補正書（自船 昭和５８年４月２８日 特許庁長官 若杉 和夫 殿 １ 事件の表示 昭和５７年特許願第９９７６８号 ２ 発明の名称 合焦表示装置 ３ 補正をする者 事件との関係 特許出願人 名 称 （６７４） 株式会社 リ コ −４
代理人 住 所 東京都世田谷区経堂４丁目５番４号明細
書の「発明の詳細な説明」の欄 ６ 補正の内容 （２） 同第４頁第３行の「て」を「己」に訂正する
。 （３）同第４頁第１８行の「遂」を「逐」に訂正ｔ２（
４） 同第５頁第１５行の「遂」を「逐」に訂正する
。 （５） 同第６頁第３行の「遂」を「逐」に訂正する
。 （６） 同第６頁第１８行の「遂」を「逐」に訂正す
る。
を示す斜視図、第２図は同ＭＴＦ測定装置に２：ける電
気回路を示すブロック図、第３図は本発明の一実施汐１
ｉ示すブロック図、第４図は同実施列のタイミングチ
ャート、第５図は本発明の他の実施列を示すブロック図
、第６図は上記実施列？説明するための図である。 １５・・・ 軸上の受光素子、 ２９・・・サンプル
ホールド回路、 ３８・・・コンパレータ、３
９・・・分圧回路、 ４０・・・カラ／り。 ４：３・・・表示装置、 ４５・・・ピーク検出回
路。 床）口 亮陥２ 氾４図 ｎ−ｔ＜ Ｉ冊ＩＩＩＩＩＩ皿冊冊皿皿胴皿皿皿手
続補正書（自船 昭和５８年４月２８日 特許庁長官 若杉 和夫 殿 １ 事件の表示 昭和５７年特許願第９９７６８号 ２ 発明の名称 合焦表示装置 ３ 補正をする者 事件との関係 特許出願人 名 称 （６７４） 株式会社 リ コ −４
代理人 住 所 東京都世田谷区経堂４丁目５番４号明細
書の「発明の詳細な説明」の欄 ６ 補正の内容 （２） 同第４頁第３行の「て」を「己」に訂正する
。 （３）同第４頁第１８行の「遂」を「逐」に訂正ｔ２（
４） 同第５頁第１５行の「遂」を「逐」に訂正する
。 （５） 同第６頁第３行の「遂」を「逐」に訂正する
。 （６） 同第６頁第１８行の「遂」を「逐」に訂正す
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検レンズによるスリット像の光強度分布を受光素
子で測定して離散的にフーリエ変換することによってＩ
ＶＩＴＦを求めるＭＴＦ測定装置に２いて、軸上の受光
素子の出力信号がサンプルホー ／ｌ／ドさｎた後に人
力さｎるコンパレータト。 このコンパレータに基準電圧を与える手段と。 前記コンパレータの出力パルス幅を測定スるカウント手
段と、このカウント手段のカウント値に対応して合焦状
態を表示する表示装置とを備えた合焦表示装置。 ２ 被検レンズによるスリット像の光強度分布を受光素
子で１１］定して離散的にフーリエ変換することによっ
てＭＴＦを求めるＭ Ｔ Ｆ ｉａ＋＋定装置において
、軸上り受光素子の出力信号がサンプルホールドさｎた
後に入力さｎるコンパレータ及びピーク検出回路と、こ
のピーク検出回路の出力電圧を分圧して前記コンパレー
タに基準電圧として加える分圧回路と、前記コンパレー
タの出力パルス幅ヲ測定するカウント手段と、このカウ
ント手段のカウント値に対応して合焦状態を表示する表
示装置とを備えた合焦表示装置。 ３ 基準電圧を調整する手段を備えた特許請求の範囲第
１項又は第２項に記載の合焦表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9976882A JPS58215526A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 合焦表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9976882A JPS58215526A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 合焦表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58215526A true JPS58215526A (ja) | 1983-12-15 |
| JPH0368334B2 JPH0368334B2 (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=14256143
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9976882A Granted JPS58215526A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 合焦表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58215526A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008304198A (ja) * | 2007-06-05 | 2008-12-18 | Acutelogic Corp | 撮像系におけるｍｔｆ測定方法及びｍｔｆ測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55137784A (en) * | 1979-04-16 | 1980-10-27 | Omron Tateisi Electronics Co | Focus adjustment system in image pickup device using image sensor |
| JPS562516A (en) * | 1979-06-21 | 1981-01-12 | Ricoh Co Ltd | Signal processing method of mtf measuring instrument |
-
1982
- 1982-06-10 JP JP9976882A patent/JPS58215526A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55137784A (en) * | 1979-04-16 | 1980-10-27 | Omron Tateisi Electronics Co | Focus adjustment system in image pickup device using image sensor |
| JPS562516A (en) * | 1979-06-21 | 1981-01-12 | Ricoh Co Ltd | Signal processing method of mtf measuring instrument |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008304198A (ja) * | 2007-06-05 | 2008-12-18 | Acutelogic Corp | 撮像系におけるｍｔｆ測定方法及びｍｔｆ測定装置 |
| JP4611342B2 (ja) * | 2007-06-05 | 2011-01-12 | アキュートロジック株式会社 | 撮像系におけるｍｔｆ測定方法及びｍｔｆ測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0368334B2 (ja) | 1991-10-28 |
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