JPS58215525A - 画信号サンプリング制御方式 - Google Patents
画信号サンプリング制御方式Info
- Publication number
- JPS58215525A JPS58215525A JP9976682A JP9976682A JPS58215525A JP S58215525 A JPS58215525 A JP S58215525A JP 9976682 A JP9976682 A JP 9976682A JP 9976682 A JP9976682 A JP 9976682A JP S58215525 A JPS58215525 A JP S58215525A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sampling
- frequency
- solid
- projection magnification
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0292—Testing optical properties of objectives by measuring the optical modulation transfer function
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Editing Of Facsimile Originals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自己走ｉ型固体撮像素子を用いたＭＴＦψす足
装置における画信号サンプリング制両方式に関する。
装置における画信号サンプリング制両方式に関する。
ＭＴＦ測定装置には種々の方式があるが、投影倍千の高
い写真し／ズ等のＭＴＦを測定するものでは一般に数μ
ｍ〜２０μｍ程度の極細なスリットを被検レンズで受光
素子上に拡大投影し、その幅方向光強度分布をサンプリ
ングしてフーリエＫ ’ｂ’くすることによってＭＴＦ
を求めている。こわはデジタルフーリエ変換方式と呼ば
わているが、受光素子として単一の受光面を有するもの
を用いた場合機械曲走ｉに従ってスリット像の幅方向光
強度分布を測定する必要があり、測定速度が遅く且つ操
作性が悪く、その上に機償が複雑になるという欠点があ
る。この欠点を除くためファクシミリ。
い写真し／ズ等のＭＴＦを測定するものでは一般に数μ
ｍ〜２０μｍ程度の極細なスリットを被検レンズで受光
素子上に拡大投影し、その幅方向光強度分布をサンプリ
ングしてフーリエＫ ’ｂ’くすることによってＭＴＦ
を求めている。こわはデジタルフーリエ変換方式と呼ば
わているが、受光素子として単一の受光面を有するもの
を用いた場合機械曲走ｉに従ってスリット像の幅方向光
強度分布を測定する必要があり、測定速度が遅く且つ操
作性が悪く、その上に機償が複雑になるという欠点があ
る。この欠点を除くためファクシミリ。
光学的文字読取装置等に使用さ名ている亀荷結台素子、
７オトダイオードアレイ、バケットプリゲートデバイス
等の自己走置型固体う蟻像累子が利用されている。
７オトダイオードアレイ、バケットプリゲートデバイス
等の自己走置型固体う蟻像累子が利用されている。
しかし自己走Ｉ型固体擁像累子を用いたデジタルフーリ
エ変換方式のＭＴＦ測定装置ににいては被検レンズの投
影倍率が変化しても自己走五型固体撮像累子からの画信
号のサンプリングを−γのレートで行なって℃・だので
、祉倹レンズの投影倍率か高し・場合にはす／プリノブ
数が必要以上に多くなり、測定時間が長くなる。
エ変換方式のＭＴＦ測定装置ににいては被検レンズの投
影倍率が変化しても自己走五型固体撮像累子からの画信
号のサンプリングを−γのレートで行なって℃・だので
、祉倹レンズの投影倍率か高し・場合にはす／プリノブ
数が必要以上に多くなり、測定時間が長くなる。
本発明は上記のような欠点を改善し、デジタルフーリエ
変換方式のＭＴＦ測定装置において測定の高速化を計る
ことができる画信号サップリング制ｊ卸方式を提供する
ことを目的とする。
変換方式のＭＴＦ測定装置において測定の高速化を計る
ことができる画信号サップリング制ｊ卸方式を提供する
ことを目的とする。
以下図面を参照しながら本発明について実施例をあけて
説明する。
説明する。
３・１図はＭＴＦ測定装置における光学系の一例を示ス
。チャートｌｌ上のスリットよりなるターゲット１２は
ラング１３により照射されて被検レンズ１４により拡大
投影されるが、このスリ：ｙｌｌＪｔ１２ａの長手方向
が自己走登型固体撮像素子１５の受光面１５ａフオト工
レメント配列方向に垂直であってスリット像１２ａの幅
方向光強度分布が測定さＪする。
。チャートｌｌ上のスリットよりなるターゲット１２は
ラング１３により照射されて被検レンズ１４により拡大
投影されるが、このスリ：ｙｌｌＪｔ１２ａの長手方向
が自己走登型固体撮像素子１５の受光面１５ａフオト工
レメント配列方向に垂直であってスリット像１２ａの幅
方向光強度分布が測定さＪする。
自己走頁型固体撮像累子におけるフォトエレメントの大
きさはファクシミリ等で高解像性が要求さｆ＋ることが
ら非常に小さく、例えば魂在距販されて（・るフェアチ
ャイルド社のＣＣＤ １４２では′Ａ１２図に示すよう
にフォトエレメント１６が１３μｍの間隔で直線状に配
設さねて受光面１５ａが形成さえ１ている。このフォト
エレメント１６が各々矩形状になっているため、スリッ
ト像１２ａの幅方向強度分布は離散的にす／プリフグさ
れることになる。
きさはファクシミリ等で高解像性が要求さｆ＋ることが
ら非常に小さく、例えば魂在距販されて（・るフェアチ
ャイルド社のＣＣＤ １４２では′Ａ１２図に示すよう
にフォトエレメント１６が１３μｍの間隔で直線状に配
設さねて受光面１５ａが形成さえ１ている。このフォト
エレメント１６が各々矩形状になっているため、スリッ
ト像１２ａの幅方向強度分布は離散的にす／プリフグさ
れることになる。
スリット像１２ａの幅方向強度分布（実際にはその光電
変換信号）をフーリエ変換する場合３１３図（、）のよ
うにスリット像１２ａの幅方向強度分が連続的信号であ
るならばＭＴＦも連続的信号として対応した形になる。
変換信号）をフーリエ変換する場合３１３図（、）のよ
うにスリット像１２ａの幅方向強度分が連続的信号であ
るならばＭＴＦも連続的信号として対応した形になる。
一方１才３図（ｂ）のようにスリンＦ 像１２ａの幅方
向強度分布を△ｌの間隔でサンプリングした場合ＭＴＦ
は１／Δｌの周ル］で繰り返し変換されることになり、
ツ・３図（、）のようにサンプリングが粗い場合には高
窒間周阪数部分のＭ Ｔ Ｆ ７ｇが重畳された形で辰
わされることになり、この周波数領域においてＭＴＦ誤
差か太きくなる（こわをエリアジング誤差と叶ぶ）。逆
に才３図（ｃ）のようにサンプリングを密にした陽脅Ｍ
ＴＦ’誤差は伴なわないが、フーリエに’９Ｌを行うべ
きデータが多くなり７−リエ変換の速度が遅くなる。
向強度分布を△ｌの間隔でサンプリングした場合ＭＴＦ
は１／Δｌの周ル］で繰り返し変換されることになり、
ツ・３図（、）のようにサンプリングが粗い場合には高
窒間周阪数部分のＭ Ｔ Ｆ ７ｇが重畳された形で辰
わされることになり、この周波数領域においてＭＴＦ誤
差か太きくなる（こわをエリアジング誤差と叶ぶ）。逆
に才３図（ｃ）のようにサンプリングを密にした陽脅Ｍ
ＴＦ’誤差は伴なわないが、フーリエに’９Ｌを行うべ
きデータが多くなり７−リエ変換の速度が遅くなる。
従ってデジタルフーリエに浜方式ではす／プリング間隔
△ｌを必要最小限に設定すべきであり、そのようにすわ
ば被検レンズのカットオフ周波数Ｕｃ までエリアジ
ング誤差がないＭＴＦ’が測定できる。
△ｌを必要最小限に設定すべきであり、そのようにすわ
ば被検レンズのカットオフ周波数Ｕｃ までエリアジ
ング誤差がないＭＴＦ’が測定できる。
しかし写真レンズ等ではＭＴＦの測定は人間の解１象、
感材の解像等よりカットオフ周波数Ｕｃ まで必要と
しない場合が多く、必要とする最大空間周波数をＵＭ
とすると、 Ｕｕ−Ｕｃでエリアジング誤差があって
もよいことになる。即ち自己走萱型固体撮像素子を用い
たデジタル−フーリエ髪侠万式では被検レンズの投影倍
率と測定すべき空間ｉ司波式によって最適なサンプリン
グ間隔へｅを定めればよい。このサンプリング間隔Δｌ
は被検レンズの戊寝揖羊ｍ曳、測定すべぎ最大空間周波
数ＵＭ。
感材の解像等よりカットオフ周波数Ｕｃ まで必要と
しない場合が多く、必要とする最大空間周波数をＵＭ
とすると、 Ｕｕ−Ｕｃでエリアジング誤差があって
もよいことになる。即ち自己走萱型固体撮像素子を用い
たデジタル−フーリエ髪侠万式では被検レンズの投影倍
率と測定すべき空間ｉ司波式によって最適なサンプリン
グ間隔へｅを定めればよい。このサンプリング間隔Δｌ
は被検レンズの戊寝揖羊ｍ曳、測定すべぎ最大空間周波
数ＵＭ。
Ｍｍし／ズのカットオフ周液数ＵＣによす次ノヨうに与
えもねる。
えもねる。
従って固体撮像素子のフォトエレメント間隔を△ｐとす
ると。
ると。
とすると、固体撮像素子の駆動クロック・々ルス（例ｊ
ハ）ランスポートクロノクツくルスφＴ） に対し
て１／ｎｍ に分周したす／プリングツ（ルスで固体
撮像素子からの画信号をサンプリングすね、ばデータが
少なくて測定時間が速くなりＭＴＦ誤差も実質的に生じ
ない。
ハ）ランスポートクロノクツくルスφＴ） に対し
て１／ｎｍ に分周したす／プリングツ（ルスで固体
撮像素子からの画信号をサンプリングすね、ばデータが
少なくて測定時間が速くなりＭＴＦ誤差も実質的に生じ
ない。
第４図は木登１月の一実施例を示す。
劃−用コンピュータ２０は各ＶＬ検レンズの測定前に各
々あらかじめ（２）式におけるΔｐ、Ｕｕ、Ｕｃ。
々あらかじめ（２）式におけるΔｐ、Ｕｕ、Ｕｃ。
ｍの値が図示しない入力装置により入力さｔｌ１２Ｊ記
自己走亘型固体撮１オ累子１５は、年産１回路２１によ
り１１枢動されろが、この１屯動回Ｍ２１から出力され
るトラ／スポートクロノクバルスφア が分周回路２２
で分周さねてｎ種顛のす／プリ／グパルスφ８１〜φ３
ｏが発生する。スイッチング回路２３は制御筒用コノピ
ユータ２０からｎ。に対応する指令信号を受け、オ／プ
リ／グパルスφ３１〜φ８ｎのうちからクロックパルス
φＴ を１ ／ ｎｍ に分周したもの乞選択してサ
ンプルホールド回路２５及びアナログ／デジタル変俣諾
２６に〃目える。固体撮像素子１５かもの画信号は増幅
器２７で増幅さねてサンプルホールド回路２５ でス
イッチング回路２３からのサンプリングパルスによりサ
ンプルホールドされることによって測定すべき窒間周彼
数及び投影倍率に応じて必要最小限のサンプリング間隔
です／プルホールドさね、アナログ／デジタル変挨器２
６によりデジタル化さｈ℃線像ＲＡ Ｍ （う／ターム
アクセスメモリ）２８ に格納される。しかる後この
踪像ＲＡＭ２８と定数ＲＡＭ２９の内容は演算回路３０
によりフーリエ変侠に必要な演算がなされ、その結呆が
データバ、７３１を通して制御用ゴノピュータ２０に取
込まＪ］てフーリエ変涙さねることによりＩＶＩ Ｔ
Ｆ’値が求められる。このＭＴＦ値は表示装置３２によ
り表示される。
自己走亘型固体撮１オ累子１５は、年産１回路２１によ
り１１枢動されろが、この１屯動回Ｍ２１から出力され
るトラ／スポートクロノクバルスφア が分周回路２２
で分周さねてｎ種顛のす／プリ／グパルスφ８１〜φ３
ｏが発生する。スイッチング回路２３は制御筒用コノピ
ユータ２０からｎ。に対応する指令信号を受け、オ／プ
リ／グパルスφ３１〜φ８ｎのうちからクロックパルス
φＴ を１ ／ ｎｍ に分周したもの乞選択してサ
ンプルホールド回路２５及びアナログ／デジタル変俣諾
２６に〃目える。固体撮像素子１５かもの画信号は増幅
器２７で増幅さねてサンプルホールド回路２５ でス
イッチング回路２３からのサンプリングパルスによりサ
ンプルホールドされることによって測定すべき窒間周彼
数及び投影倍率に応じて必要最小限のサンプリング間隔
です／プルホールドさね、アナログ／デジタル変挨器２
６によりデジタル化さｈ℃線像ＲＡ Ｍ （う／ターム
アクセスメモリ）２８ に格納される。しかる後この
踪像ＲＡＭ２８と定数ＲＡＭ２９の内容は演算回路３０
によりフーリエ変侠に必要な演算がなされ、その結呆が
データバ、７３１を通して制御用ゴノピュータ２０に取
込まＪ］てフーリエ変涙さねることによりＩＶＩ Ｔ
Ｆ’値が求められる。このＭＴＦ値は表示装置３２によ
り表示される。
なお上記実施例においてＵＭ を一定に設定し、サン
プリング間隔を投影倍率に応じて父化させるようにして
もよい。
プリング間隔を投影倍率に応じて父化させるようにして
もよい。
以上のように本発明によねば自己走ｉ型同体操像素子を
用いたデジタルフーリエ変俣万式のＭＴＦ測定装置にお
いて、投影倍草に応じて画信号のサンプリ／グレートを
変化させるので、投影倍￥が高い場合にはサンプリング
が粗くなってデータか少なくなり測定速度が速くなる。
用いたデジタルフーリエ変俣万式のＭＴＦ測定装置にお
いて、投影倍草に応じて画信号のサンプリ／グレートを
変化させるので、投影倍￥が高い場合にはサンプリング
が粗くなってデータか少なくなり測定速度が速くなる。
又測定すべき仝間開波数によっても画信号のす／プリ／
グレートを変化させれば測定すべき窒間周仮数が低い場
合にもす／プリンクが粗くなって測定の高速化を計るこ
とができる。
グレートを変化させれば測定すべき窒間周仮数が低い場
合にもす／プリンクが粗くなって測定の高速化を計るこ
とができる。
才１図はＭ Ｔ Ｆ測定装置における光学系の−νりを
示す斜視図、３□ ２図は目己走萱型固体扼像系子の説
明図、３・３図は本発明を説明するための図、Ａ・４図
は本発明の一実施例を示すブロック図である。 ２０・・・別画１用コ／ピューク、２２・・・分局回路
、２３・・・スイッチング回路。
示す斜視図、３□ ２図は目己走萱型固体扼像系子の説
明図、３・３図は本発明を説明するための図、Ａ・４図
は本発明の一実施例を示すブロック図である。 ２０・・・別画１用コ／ピューク、２２・・・分局回路
、２３・・・スイッチング回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 自己走育型固体撮餘累子を有し画信号のサンプリ
ングを行うデジタルフーリエ変換方式のＭＴＦ測定装置
において、被検レンズの投影倍率を検出する又は入力す
る手段と、この手段の出力信号によりサンプリングのレ
ートを菱化させる手段とを備えた画信号サンプリング制
御方式。 ２、 自己走ｉ型固体撮像累子をＭし画信号のサンプリ
ングを行うデジタルフーリエ変換方式のＭＴＦ測疋装汝
において、被侠レンズの投影倍率及び測定すべき空間周
波数に応じて前記サンプリングのレートを変化させる手
段を圃えた画信号サンプリング制御＋１１方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9976682A JPS58215525A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 画信号サンプリング制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9976682A JPS58215525A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 画信号サンプリング制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58215525A true JPS58215525A (ja) | 1983-12-15 |
Family
ID=14256089
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9976682A Pending JPS58215525A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 画信号サンプリング制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58215525A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105716645A (zh) * | 2016-04-01 | 2016-06-29 | 湖北工程学院 | 一种国四商用车组合仪表的自动化检测装置及方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS562527A (en) * | 1979-06-21 | 1981-01-12 | Ricoh Co Ltd | Mtf measuring instrument |
| JPS5861437A (ja) * | 1981-10-07 | 1983-04-12 | Ricoh Co Ltd | 投影型ｍｔｆ測定装置におけるデ−タのサンプリング処理方法 |
| JPS5861436A (ja) * | 1981-10-07 | 1983-04-12 | Ricoh Co Ltd | 投影型ｍｔｆ測定装置の受光素子 |
-
1982
- 1982-06-10 JP JP9976682A patent/JPS58215525A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS562527A (en) * | 1979-06-21 | 1981-01-12 | Ricoh Co Ltd | Mtf measuring instrument |
| JPS5861437A (ja) * | 1981-10-07 | 1983-04-12 | Ricoh Co Ltd | 投影型ｍｔｆ測定装置におけるデ−タのサンプリング処理方法 |
| JPS5861436A (ja) * | 1981-10-07 | 1983-04-12 | Ricoh Co Ltd | 投影型ｍｔｆ測定装置の受光素子 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105716645A (zh) * | 2016-04-01 | 2016-06-29 | 湖北工程学院 | 一种国四商用车组合仪表的自动化检测装置及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS5928884B2 (ja) | 距離検出方式 | |
| US4659936A (en) | Line width measuring device and method | |
| DE3437126A1 (de) | Einrichtung zum fotografischen reproduzieren einer vorlage sowie verfahren zum messen der belichtungsbedingungen beim fotografischen reproduzieren einer vorlage | |
| EP0496867B1 (en) | Apparatus for locating perforation | |
| JPH0621959B2 (ja) | 露光スポットの調整および監視方法 | |
| US4076414A (en) | Motion picture printing apparatus | |
| JPS58215525A (ja) | 画信号サンプリング制御方式 | |
| JP2525056B2 (ja) | 結晶欠陥検査装置 | |
| US3686437A (en) | Electronic compensation for optical system focal length variation | |
| GB2064102A (en) | Improvements in electro- optical dimension measurement | |
| JP2691406B2 (ja) | 画像再構成装置 | |
| JPS5861436A (ja) | 投影型ｍｔｆ測定装置の受光素子 | |
| US5157522A (en) | Method and apparatus for providing correction of hologon transmission efficiency variations | |
| JPH04264205A (ja) | 干渉計 | |
| SU483641A1 (ru) | Трехкомпонентна магнитна вариационна станци | |
| GB2172993A (en) | Automated optical linewidth measurement | |
| JPS5861437A (ja) | 投影型ｍｔｆ測定装置におけるデ−タのサンプリング処理方法 | |
| JP2759663B2 (ja) | ズームレンズ機構のフォーカス制御装置 | |
| SU1037069A1 (ru) | Устройство дл измерени угловых перемещений объекта | |
| Chandrasekhar et al. | A high speed photometer in the optical region for lunar occultation studies | |
| O'connor et al. | Measurement using sensor arrays | |
| JP3044389B2 (ja) | 画像記録装置における濃度補正装置 | |
| JPS60105935A (ja) | 反射率測定装置 | |
| RU1798189C (ru) | Устройство формировани видеоинформации дл контрол рельефа деталей на конвейере | |
| JPS58215526A (ja) | 合焦表示装置 |