JPS5861437A - 投影型ｍｔｆ測定装置におけるデ−タのサンプリング処理方法 - Google Patents
投影型ｍｔｆ測定装置におけるデ−タのサンプリング処理方法Info
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- JPS5861437A JPS5861437A JP15963581A JP15963581A JPS5861437A JP S5861437 A JPS5861437 A JP S5861437A JP 15963581 A JP15963581 A JP 15963581A JP 15963581 A JP15963581 A JP 15963581A JP S5861437 A JPS5861437 A JP S5861437A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0292—Testing optical properties of objectives by measuring the optical modulation transfer function
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は投影型ＭＴＦ測定装置におけるデータのサンプ
リング処理方法に関するものである。
リング処理方法に関するものである。
ＭＴＦ（モジュレーション・トランスファｍ−ファンク
ション）によって、結像光学系の結像性能を総合的に評
価し得ることが知られ、種々のＭＴＦ測定方法が提案さ
れている。
ション）によって、結像光学系の結像性能を総合的に評
価し得ることが知られ、種々のＭＴＦ測定方法が提案さ
れている。
従来、この種の測定方法として、例えば、固体撮像素子
からの光電変換信号を各フォトエレメント毎に連続して
取り出して演算処理する方法が知られている。しかし、
上記従来の方法を用いた場合、過剰サンプリングとなシ
その結果Ｊフーリエ変換に要するメモリーの容量が多く
なるとともに演算速度も低下してしまうという問題があ
る。このため仮に高速演算を行々う場合には、％変換器
等、高速演算用のＩＣを用いる必要があるため、コスト
を大幅に引き上げてしまう。
からの光電変換信号を各フォトエレメント毎に連続して
取り出して演算処理する方法が知られている。しかし、
上記従来の方法を用いた場合、過剰サンプリングとなシ
その結果Ｊフーリエ変換に要するメモリーの容量が多く
なるとともに演算速度も低下してしまうという問題があ
る。このため仮に高速演算を行々う場合には、％変換器
等、高速演算用のＩＣを用いる必要があるため、コスト
を大幅に引き上げてしまう。
本発明は、上記従来技術における問題に着目してなされ
たもので、フーリエ変換に関する演算速度の高速化とメ
モリー容量の低減化及び、簡易な回路構成と装置全体の
コストダウンを図ることのできる、投影型Ｍ Ｔ Ｆ測
定装置におけるテークのサンプリング処理方法を提供す
ることを目的とする。
たもので、フーリエ変換に関する演算速度の高速化とメ
モリー容量の低減化及び、簡易な回路構成と装置全体の
コストダウンを図ることのできる、投影型Ｍ Ｔ Ｆ測
定装置におけるテークのサンプリング処理方法を提供す
ることを目的とする。
以下、本発明の詳細な説明する。、
本発明に係るテークのサンプリング処理方法は、固体撮
像素子を形成するフォトエレメント間隔ΔＰ、被検レン
ズのカットオフ周波数ＵＣ１当該装置の測定最大周波数
ＵＭ 、投影倍率ｍに対して、を満足する自然数ル及び
定数ｋを求め、該固体撮像素子からの光電変換信号をフ
ォトエレメントに対して少くとも２ぽ以上毎にサンプリ
ングして演算処理を行なうことを特徴とする。
像素子を形成するフォトエレメント間隔ΔＰ、被検レン
ズのカットオフ周波数ＵＣ１当該装置の測定最大周波数
ＵＭ 、投影倍率ｍに対して、を満足する自然数ル及び
定数ｋを求め、該固体撮像素子からの光電変換信号をフ
ォトエレメントに対して少くとも２ぽ以上毎にサンプリ
ングして演算処理を行なうことを特徴とする。
例えばカメラレンズ等のＭＴＦ測定装置においては、３
０〜５０倍の有限距離で物体を拡大投影して測定する必
要がある。
０〜５０倍の有限距離で物体を拡大投影して測定する必
要がある。
ＭＴＦの測定には種々の方法があるが、上記の様な高倍
率の測定では一般に、幅数μｍ〜２０μｍ程度の極細な
スリットを用い、そのスリット像の幅方向光強度分布を
ＣＣＤ、 ＢＢＤ、 ＰＤＡ等の自己走査型固体撮像素
子によって求め、これを電気的にフーリエ変換する方法
が用いられている。
率の測定では一般に、幅数μｍ〜２０μｍ程度の極細な
スリットを用い、そのスリット像の幅方向光強度分布を
ＣＣＤ、 ＢＢＤ、 ＰＤＡ等の自己走査型固体撮像素
子によって求め、これを電気的にフーリエ変換する方法
が用いられている。
この固体、撮像素子を形成するフォトエレメントの大き
さは謀り常に小さく、例えば現在市販されている標準の
ものでは、フォトエレメント間隔が１３μｍとなってお
シ、これらが直線状に配列されている。
さは謀り常に小さく、例えば現在市販されている標準の
ものでは、フォトエレメント間隔が１３μｍとなってお
シ、これらが直線状に配列されている。
ところで、この様な自己走査型の受光素子を用いたＭＴ
Ｆ測定装置においては、第１図に示す如く、光源１から
の光をスリット２を介して被検レンズ３に導き、スリッ
ト像４を結像させる様になっておシ、さらに、このスリ
ット像４に対して直交する関係に、フォトエレメント５
が配列されてい、る（第２図、第３図参照）。
Ｆ測定装置においては、第１図に示す如く、光源１から
の光をスリット２を介して被検レンズ３に導き、スリッ
ト像４を結像させる様になっておシ、さらに、このスリ
ット像４に対して直交する関係に、フォトエレメント５
が配列されてい、る（第２図、第３図参照）。
ｉニー ０ｊＪＡ 合、各フォトエレメント５が、第３
図に示される様に矩形形状となっているため、その出力
強度は離散的にサンプリングされた値として表されるこ
とになる。従って、ＭＴＦを求める場合、上記自己走査
型受光素子の光電変換出力を離散的にフーリエ変換する
必要がある。この離散的にフＩＪ工変換する方法を離散
的フーリエ変換法と称する０ この離散的フーリエ変換の特質について説明すると、第
４図（ａ）に示す如く、スリーノド偉力；連続信号で検
出された場合にはＭＴＦも連続信号として対応した形で
表わされる。
図に示される様に矩形形状となっているため、その出力
強度は離散的にサンプリングされた値として表されるこ
とになる。従って、ＭＴＦを求める場合、上記自己走査
型受光素子の光電変換出力を離散的にフーリエ変換する
必要がある。この離散的にフＩＪ工変換する方法を離散
的フーリエ変換法と称する０ この離散的フーリエ変換の特質について説明すると、第
４図（ａ）に示す如く、スリーノド偉力；連続信号で検
出された場合にはＭＴＦも連続信号として対応した形で
表わされる。
一方、第４図（ｈ）に示す如く、スリット像をΔｉの間
隔でサンプリングした場合、ＭＴＦは −〇周Δ℃ 期で繰り返し変換されることになる。
隔でサンプリングした場合、ＭＴＦは −〇周Δ℃ 期で繰り返し変換されることになる。
又、サンプリング間隔Δ℃が粗い場合には、第４図（ｅ
）に示す如く、高周波部分のＭＴＦ値妙；重畳された形
で表されることになシ、この重畳された周波数領域にお
いてＭＴＦ誤差が犬きくなる。これをエリアジング誤差
と呼ぶ。
）に示す如く、高周波部分のＭＴＦ値妙；重畳された形
で表されることになシ、この重畳された周波数領域にお
いてＭＴＦ誤差が犬きくなる。これをエリアジング誤差
と呼ぶ。
逆に、サンプリング間隔Δ℃を必要以−ヒに密にした場
合には、第４図（Ｃ）に示す如（、ＭＴＦ誤差は伴なわ
ないが、゛フーリエ変換の計算処理が膨大となり、演算
速度が遅くなるばかりか、使用するＩＣの高速化及びメ
モリー容量が大きくなり、装置が複雑化しコストアップ
の原因となる。
合には、第４図（Ｃ）に示す如（、ＭＴＦ誤差は伴なわ
ないが、゛フーリエ変換の計算処理が膨大となり、演算
速度が遅くなるばかりか、使用するＩＣの高速化及びメ
モリー容量が大きくなり、装置が複雑化しコストアップ
の原因となる。
すなわち、離散的フーリエ変換を行なう場合には、第４
図（Ｃ）’ 、 （ｅ）の中間値として求められる第４
図（ｄ）の如き、必要最小限のサンプリング間隔が設定
される必要がちシ、その間隔でサンプリングすることに
よシ、エリアジング誤差がなく、しかも演算処理が必要
、十分なＭＴＦ値を得ることが可能となるわけである。
図（Ｃ）’ 、 （ｅ）の中間値として求められる第４
図（ｄ）の如き、必要最小限のサンプリング間隔が設定
される必要がちシ、その間隔でサンプリングすることに
よシ、エリアジング誤差がなく、しかも演算処理が必要
、十分なＭＴＦ値を得ることが可能となるわけである。
しかるに、前述したフォトエレメント間隔が非常に狭い
固体撮像装置を用いた従来のＭＴＦ測定方法ではこれら
のフォトエレメント各々に対して、光電変換信号を各々
取シ出し、且つ、これら光電変換出力各々に対してフー
リエ変換処理を行なっていたので、非常に計算時間が遅
く、メモリー容量も犬きくなシ、且つ高速演算を行おう
とすればする程、ろ変換器等の集積回路の応答速度が高
速のものが要求されるため回路構成が非常に複雑となり
コストアップの原因となっていた。
固体撮像装置を用いた従来のＭＴＦ測定方法ではこれら
のフォトエレメント各々に対して、光電変換信号を各々
取シ出し、且つ、これら光電変換出力各々に対してフー
リエ変換処理を行なっていたので、非常に計算時間が遅
く、メモリー容量も犬きくなシ、且つ高速演算を行おう
とすればする程、ろ変換器等の集積回路の応答速度が高
速のものが要求されるため回路構成が非常に複雑となり
コストアップの原因となっていた。
そこで、フォトエレメント間隔が極めて短かい市販の固
体撮像素子を用いても、回路構成が簡易で且つ高速にフ
ーリエ変換を行なうことができるサンプリング間隔をど
のようにして設定するかが問題となるが、その解は次の
如くして求められる。
体撮像素子を用いても、回路構成が簡易で且つ高速にフ
ーリエ変換を行なうことができるサンプリング間隔をど
のようにして設定するかが問題となるが、その解は次の
如くして求められる。
被検レンズのカットオフ周波数をＵｃ、投影型ＭＴＦ測
定装置で測定可能な最大周波数をＵＭ、倍率をｍＣｍ＞
１） 、サンプリング間隔をΔｌとすると、汎＝−に設
定すれば、サンプリング定理より、Ｕｃ 空間周波数Ｏ〜ＵｃまでのＭＴＦ値が全く誤差を生ぜず
に傅らｎることかわかる（第５図参照）。
定装置で測定可能な最大周波数をＵＭ、倍率をｍＣｍ＞
１） 、サンプリング間隔をΔｌとすると、汎＝−に設
定すれば、サンプリング定理より、Ｕｃ 空間周波数Ｏ〜ＵｃまでのＭＴＦ値が全く誤差を生ぜず
に傅らｎることかわかる（第５図参照）。
一方、被検レンズのカットオフ周波数Ｕｃは、カメラレ
ンズでは一般に２００〜３００７ｍｍの高周波領域に設
定されるが、ＭＴＦ測定装置で要求さ扛る空間周波数は
、フィルムの解像性能及び人間の解像性能から５０〜８
０ｃ／ｍ程度で十分である。従って、測定可能な最大周
波数Ｕ’Ｍも現実的には５０〜８０’／、であれば十分
であり、ＵＭ （Ｕｃとなる。
ンズでは一般に２００〜３００７ｍｍの高周波領域に設
定されるが、ＭＴＦ測定装置で要求さ扛る空間周波数は
、フィルムの解像性能及び人間の解像性能から５０〜８
０ｃ／ｍ程度で十分である。従って、測定可能な最大周
波数Ｕ’Ｍも現実的には５０〜８０’／、であれば十分
であり、ＵＭ （Ｕｃとなる。
従って、チャート面でＵＭ−（下限値）〜Ｕｃ （上限
値）、投影面でＵＭ 〜Ｕｃでは、エリアジング誤ｍ、
ｍ 差があっても実質上ＭＴＦ測定の演算精度には影響がで
ない。これを満足するサンプリング間隔汎の値は第５図
、第６図及び上記よシ、 を共に満足する範囲の値として求められる。
値）、投影面でＵＭ 〜Ｕｃでは、エリアジング誤ｍ、
ｍ 差があっても実質上ＭＴＦ測定の演算精度には影響がで
ない。これを満足するサンプリング間隔汎の値は第５図
、第６図及び上記よシ、 を共に満足する範囲の値として求められる。
ところでいま、固体撮像素子のフォトエレメント間隔を
ΔＰとすると、第２図に示す如く、ΔＰ〈Δｌなる関係
があるので、上式を満足するサンプリング間隔Δ℃の間
に°はフォトエレメント間隔ΔＰが幾つか含まれること
になる。その個数つ″！シサンプリング数をｎ（自然数
）とすると、Δρ−ｎΔＰと表示・され、上式は次の如
く変形される。
ΔＰとすると、第２図に示す如く、ΔＰ〈Δｌなる関係
があるので、上式を満足するサンプリング間隔Δ℃の間
に°はフォトエレメント間隔ΔＰが幾つか含まれること
になる。その個数つ″！シサンプリング数をｎ（自然数
）とすると、Δρ−ｎΔＰと表示・され、上式は次の如
く変形される。
ｋ≧□ （但し、ｋは定数）
ｔＪｍ
例えば、Ｕｃ ＝ ３００ ’４、ΔＰ ＝ ０．０１
３ ｙｉ７７１、ＵＭ ＝ １００ ’／−−１ｍ ＝
５０ （倍）とすれば、６．４≦・≦ １９．２３
、 ｋ≧２ となり、ｋ＝２とすれば、６．４≦ル≦
９．６２ となるため、ル＝７〜９でサンプリングし
ても空間周波数０〜１００ ／；ｍｒｎまでのＭＴＦが
誤差を伴なわずに測定可能となる。
３ ｙｉ７７１、ＵＭ ＝ １００ ’／−−１ｍ ＝
５０ （倍）とすれば、６．４≦・≦ １９．２３
、 ｋ≧２ となり、ｋ＝２とすれば、６．４≦ル≦
９．６２ となるため、ル＝７〜９でサンプリングし
ても空間周波数０〜１００ ／；ｍｒｎまでのＭＴＦが
誤差を伴なわずに測定可能となる。
そして、その時、データ量は従来装置に比較して１／９
〜１．／７ 程度に減少させることが可能となるためメ
モリー数はその分だけ減少し、且つ演算速度は７〜９倍
程度まで向上させることが可能となる。
〜１．／７ 程度に減少させることが可能となるためメ
モリー数はその分だけ減少し、且つ演算速度は７〜９倍
程度まで向上させることが可能となる。
次に、本発明の実施に適するサンプリング処理回路の構
成例は第７図に示す通りであり、上記回路によシ処理さ
れる信号のタイミングチャートを第８図に示す。
成例は第７図に示す通りであり、上記回路によシ処理さ
れる信号のタイミングチャートを第８図に示す。
第７図において、固体撮像素子としてはＣＣＤ１０が用
いられている。このＣＣＤ １０は、周知のよ’５Ｋ、
アナログシフトレジスタに蓄えられたところの、光強度
に比例した電荷を、クロック発生器１１からの転送りロ
ックφ８により順次転送して、スリット像光強度分布を
時系列信号に変換して取り出すものであり、転送りロッ
クφ、の一周期分のビデオ信号ｖＬがフォトエレメント
１個分の光強度に対応する。
いられている。このＣＣＤ １０は、周知のよ’５Ｋ、
アナログシフトレジスタに蓄えられたところの、光強度
に比例した電荷を、クロック発生器１１からの転送りロ
ックφ８により順次転送して、スリット像光強度分布を
時系列信号に変換して取り出すものであり、転送りロッ
クφ、の一周期分のビデオ信号ｖＬがフォトエレメント
１個分の光強度に対応する。
従って、ル進カウンター１２によシ転送りロックφＸを
分周してから、単安定マルチノζイブレータ１３により
パルス幅を適切に定めたパルス信号φ８Ｈをサンプル・
アンド・ホールド回路１４に人力することによシ、フォ
トニレメントル個間隔でビデオ信号ｖｉを取り出すこと
が可能となる。
分周してから、単安定マルチノζイブレータ１３により
パルス幅を適切に定めたパルス信号φ８Ｈをサンプル・
アンド・ホールド回路１４に人力することによシ、フォ
トニレメントル個間隔でビデオ信号ｖｉを取り出すこと
が可能となる。
この時、データ量は、実質的に−に減少させることが可
能となシ、前述の理由から、−に減少させても、０〜Ｕ
ＭまでのＭＴＦが誤差を伴なわずに測定可能である。
能となシ、前述の理由から、−に減少させても、０〜Ｕ
ＭまでのＭＴＦが誤差を伴なわずに測定可能である。
このように、サンプル・アンド・ホールドされた信号Ｖ
ｓｕは／Ｄ変換器１５の入力信号となり、およそ、転送
りロックφ、の周期ＴＣに対してｎ Ｔ（の時間内でＡ
／／Ｄ変換されることになる。
ｓｕは／Ｄ変換器１５の入力信号となり、およそ、転送
りロックφ、の周期ＴＣに対してｎ Ｔ（の時間内でＡ
／／Ｄ変換されることになる。
ここで、φＡＤはパルス信号φ８Ｈに対して遅延型のフ
リップフロツプ１６により位相を遅れさせられたパルス
信号であり、このパルス信号がＡ／Ｄ変換器１５のスタ
ート信号として入力される。
リップフロツプ１６により位相を遅れさせられたパルス
信号であり、このパルス信号がＡ／Ｄ変換器１５のスタ
ート信号として入力される。
又、サンプル・アンド・ホールド回路１４は、パルス信
号φ８Ｈが゛ハイレベルの時−にビデオ信号Ｖｔがこの
パルス信号φ、Ｈに同期してサンプリングされ、パルス
信号φ８Ｍカローレベルの時に、サンプリングされたビ
デオ信号ｖｉＯ値を保持する回路のことであり、ビデオ
信号ｖｔはこの回路に入力されると第８図に示す如き波
形となる。
号φ８Ｈが゛ハイレベルの時−にビデオ信号Ｖｔがこの
パルス信号φ、Ｈに同期してサンプリングされ、パルス
信号φ８Ｍカローレベルの時に、サンプリングされたビ
デオ信号ｖｉＯ値を保持する回路のことであり、ビデオ
信号ｖｔはこの回路に入力されると第８図に示す如き波
形となる。
以上述べた様に、ビデオ信号ＶＬは１、転送りロックφ
８に対して周期が−ＭＴ（Ｌ の間でサンプルホールド
及びＡ／Ｄ変換されるため、実質的にフォトニレメン）
Ｗ個間隔に対応したビデオ信号を塩９出し、Ａ／／Ｄ変
換することができる。
８に対して周期が−ＭＴ（Ｌ の間でサンプルホールド
及びＡ／Ｄ変換されるため、実質的にフォトニレメン）
Ｗ個間隔に対応したビデオ信号を塩９出し、Ａ／／Ｄ変
換することができる。
このＡ／Ｄ変換された信号は、ランダム′・アクセス・
メモＩＪ−１７に逐次蓄えられた後、フーリエ変換回路
１８に入力され、ＭＴＦ演算が行なわれる。
メモＩＪ−１７に逐次蓄えられた後、フーリエ変換回路
１８に入力され、ＭＴＦ演算が行なわれる。
そしてその時、従来技術に比べて固体撮像素子のビデオ
信号をフォトエレメントｎ個毎にサンプリングして取シ
出しているため、高速処理及びコストダウンを達成する
ことができる。
信号をフォトエレメントｎ個毎にサンプリングして取シ
出しているため、高速処理及びコストダウンを達成する
ことができる。
第１図は自己走査型の受光素子を用いたＭＴＦ測定装置
の概略構成図、第２図は受光素子の斜視図、第３図は受
光素子の断面図、第４図はスリット信号と、このスリッ
ト信号をフーリエ変換したＭＴＦ信号の図、第５図はす
・ンプリング間隔ΔＰを密にした際の限界におけるＭＴ
Ｆ波形の模式図、第６図はサンプリング間隔ΔＰを粗に
配列する際の限界におけるＭＴＦ波形の模式図、第７図
は一例としてのサンプリング処理回路の構成図、第８図
は同上図の処理回路で処理される信号のタイミングチャ
ートである。 ５・・・フォトエレメント。
の概略構成図、第２図は受光素子の斜視図、第３図は受
光素子の断面図、第４図はスリット信号と、このスリッ
ト信号をフーリエ変換したＭＴＦ信号の図、第５図はす
・ンプリング間隔ΔＰを密にした際の限界におけるＭＴ
Ｆ波形の模式図、第６図はサンプリング間隔ΔＰを粗に
配列する際の限界におけるＭＴＦ波形の模式図、第７図
は一例としてのサンプリング処理回路の構成図、第８図
は同上図の処理回路で処理される信号のタイミングチャ
ートである。 ５・・・フォトエレメント。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一スリットを被検レンズにて拡大投影し、スリット像の
光強度分布を直線状の受光領域を有する自己走査型固体
撮像素子にて光電変換し、該光電変換信号を電気的にフ
ーリエ変換してＭＴＦを測定する装置において、 該固体撮像素子を形成するフォトエレメント間隔ΔＰ、
Ｍ検レンズのカントオフ周波数Ｕｃ、当該装置の測定最
大周波数ＵＭ、投影倍率ｍに対して、を満足する自然数
ル及び定数ｋを求め、該固体撮像素子からの光電変換信
号をフォトエレメントに対して少くともル個毎にサンプ
リングして演算処理を行なうことを特徴とする投影型Ｍ
ＴＦ測定装置におけるデータのサンプリング処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15963581A JPS5861437A (ja) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | 投影型ｍｔｆ測定装置におけるデ−タのサンプリング処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15963581A JPS5861437A (ja) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | 投影型ｍｔｆ測定装置におけるデ−タのサンプリング処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5861437A true JPS5861437A (ja) | 1983-04-12 |
| JPH0225130B2 JPH0225130B2 (ja) | 1990-05-31 |
Family
ID=15698015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15963581A Granted JPS5861437A (ja) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | 投影型ｍｔｆ測定装置におけるデ−タのサンプリング処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5861437A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58213226A (ja) * | 1982-06-07 | 1983-12-12 | Ricoh Co Ltd | Ｍｔｆ測定装置 |
| JPS58215525A (ja) * | 1982-06-10 | 1983-12-15 | Ricoh Co Ltd | 画信号サンプリング制御方式 |
-
1981
- 1981-10-07 JP JP15963581A patent/JPS5861437A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58213226A (ja) * | 1982-06-07 | 1983-12-12 | Ricoh Co Ltd | Ｍｔｆ測定装置 |
| JPS58215525A (ja) * | 1982-06-10 | 1983-12-15 | Ricoh Co Ltd | 画信号サンプリング制御方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0225130B2 (ja) | 1990-05-31 |
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