JPS58215528A - 合焦表示装置 - Google Patents
合焦表示装置Info
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- JPS58215528A JPS58215528A JP9977082A JP9977082A JPS58215528A JP S58215528 A JPS58215528 A JP S58215528A JP 9977082 A JP9977082 A JP 9977082A JP 9977082 A JP9977082 A JP 9977082A JP S58215528 A JPS58215528 A JP S58215528A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- counter
- circuit
- pulses
- dividing
- light emitting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＭＴＦ測定装置における合焦表示装＃に関する
。
。
デジタルフーリエ変換方式のＭＴＦ測定装置は被検レン
、、２によって投影されるスリット像の幅方向光強変分
布（線像の光強変分布）をサンツーリング測定して離散
的にフーリエ変換する。このＭＴＦ ｌ１ｌ１１１定装
置では線像の光強変分布（ＬＳＦ）をサンフリンＬτ グ数ｎ１ ザンフーリング間隔△ｅでサングリンメーリ
エ変換した場合その振幅部分がＭＴＦになることから、
空間周波数Ｕに対応するＭＴＦ Ｍ（ｕ）は次式で与え
られる。
、、２によって投影されるスリット像の幅方向光強変分
布（線像の光強変分布）をサンツーリング測定して離散
的にフーリエ変換する。このＭＴＦ ｌ１ｌ１１１定装
置では線像の光強変分布（ＬＳＦ）をサンフリンＬτ グ数ｎ１ ザンフーリング間隔△ｅでサングリンメーリ
エ変換した場合その振幅部分がＭＴＦになることから、
空間周波数Ｕに対応するＭＴＦ Ｍ（ｕ）は次式で与え
られる。
ココでＬｋはサンプリングされた線像の強テであり、ｍ
は投影倍率、ａはスリ、ト幅である。また右辺の募１項
はスリ、７ト幅に対する補正係数を表わしており、スｌ
、ｂ幅が無限に小さい場合には無ネ芹し得る値となる
が、一般にはスリ、Ｖト幅がＩＯμｍ〜２０μｍ程明と
なるため指定される空間周波数μに対応してあらかじめ
計算すべき値である。
は投影倍率、ａはスリ、ト幅である。また右辺の募１項
はスリ、７ト幅に対する補正係数を表わしており、スｌ
、ｂ幅が無限に小さい場合には無ネ芹し得る値となる
が、一般にはスリ、Ｖト幅がＩＯμｍ〜２０μｍ程明と
なるため指定される空間周波数μに対応してあらかじめ
計算すべき値である。
駆１図はデジタルフーリエ変換方式のＭＴＦ測定装置の
一例における光学系を示す。チャート１１ば幅５μｍ〜
２０μｍの極細な開口よりなるスリ、７トが各測定点に
対応して形Ｗざ凡ており、ランプ＋２及び拡散板１３よ
りなる光源によって照射される。チャート１】の各スリ
ットを通過した元来は被検レンズ１４により、各ｉ＋＋
定点に対応した位置に設置てれている雷荷結会素子又は
フォトダイオードアレイ、バケットブリゲートデバイス
等の１次元自己走青型固体撮像素子１５．〜１５ｉで受
光され、その元強朋分布に対応した時系列な電気信号に
変換きれる。
一例における光学系を示す。チャート１１ば幅５μｍ〜
２０μｍの極細な開口よりなるスリ、７トが各測定点に
対応して形Ｗざ凡ており、ランプ＋２及び拡散板１３よ
りなる光源によって照射される。チャート１】の各スリ
ットを通過した元来は被検レンズ１４により、各ｉ＋＋
定点に対応した位置に設置てれている雷荷結会素子又は
フォトダイオードアレイ、バケットブリゲートデバイス
等の１次元自己走青型固体撮像素子１５．〜１５ｉで受
光され、その元強朋分布に対応した時系列な電気信号に
変換きれる。
被検レンズ１４はレンズホルダー１６に装着され、被検
レンズ１４目体のピント合わせ機構もしくはレンズホル
ダー１６のピント合わせ機構により上下に移動されて無
要調整が行なわれる。
レンズ１４目体のピント合わせ機構もしくはレンズホル
ダー１６のピント合わせ機構により上下に移動されて無
要調整が行なわれる。
胆２図は上記ＭＴＦ測定装置における電気回路を示す。
（１）式におけるａＸ ｕ、ｍ、△ｌの値及びＭＴＦ値
の検査規格値がテレタイプ１７により人出力インターフ
ェース１８を介してコンピュータ１９に入力され、これ
らの値は入出力インターフェース２０ｆ介してフロッピ
ーディスク２１に蓄えられる。またコンピュータ１９は
Ｕに応じたｓｉｎ 、ｃｏｓＯ値を逐次計算してフロッ
ピーディスク２１に蓄え、（１）式のスリット幅に応じ
た補正係数も計算してフロッピーディスク２１ Ｋ蓄え
る。これらの値は検査時には不変的な値となるので、セ
ツティング時にフロッピーディスク２１に蓄えられる。
の検査規格値がテレタイプ１７により人出力インターフ
ェース１８を介してコンピュータ１９に入力され、これ
らの値は入出力インターフェース２０ｆ介してフロッピ
ーディスク２１に蓄えられる。またコンピュータ１９は
Ｕに応じたｓｉｎ 、ｃｏｓＯ値を逐次計算してフロッ
ピーディスク２１に蓄え、（１）式のスリット幅に応じ
た補正係数も計算してフロッピーディスク２１ Ｋ蓄え
る。これらの値は検査時には不変的な値となるので、セ
ツティング時にフロッピーディスク２１に蓄えられる。
検査時にはフロッピーディスク２１に蓄えられた値がコ
ノピユータ１９に内蔵されているダイナミックランダム
アクセスメモリ（け下ＲＡ［ＶＩと呼ぶ）に転送され、
このうちｓｉｎ Ｘｃｏｓの値がＣＯ３用ＲＡＭ ２３
に格納される。この場合コンピータ１９よす入出力イン
ターフェース２４、データバス２５全通ジチアドレスカ
ウンタ２６に初期アドレスかフリセ、トサれ、タイミン
グ発生臣］路２７より発生するクロックパルスによりア
ドレスカウンタ２６が歩進して行ってフロンピーディス
ク２１よりコンピュータ１９内のダイナミ、りＲＡＭに
転送されたｓｉｎ 、 ｃｏｓＯ値がＲＡＭ２２．２３
に逐次格納される。ここまでの操作は検査準備としてあ
らかじめ行なわ九る。
ノピユータ１９に内蔵されているダイナミックランダム
アクセスメモリ（け下ＲＡ［ＶＩと呼ぶ）に転送され、
このうちｓｉｎ Ｘｃｏｓの値がＣＯ３用ＲＡＭ ２３
に格納される。この場合コンピータ１９よす入出力イン
ターフェース２４、データバス２５全通ジチアドレスカ
ウンタ２６に初期アドレスかフリセ、トサれ、タイミン
グ発生臣］路２７より発生するクロックパルスによりア
ドレスカウンタ２６が歩進して行ってフロンピーディス
ク２１よりコンピュータ１９内のダイナミ、りＲＡＭに
転送されたｓｉｎ 、 ｃｏｓＯ値がＲＡＭ２２．２３
に逐次格納される。ここまでの操作は検査準備としてあ
らかじめ行なわ九る。
上記操作が完了したならば固体撮像素子１５□〜】５１
からの線像光強９分布に対応した元笛変換信妥はコンピ
ュータ１９よυ指示されるアドレスに従ってマルチプレ
クサ２８によって選択され、サンプルホールド回路２９
によりサンフルホールドされて７−Ｊ−ロク／テシタル
変換器３０によりデジタル［ヒサれ、線像用ＲＡＭ３１
に逐次格納される。このＲＭ（３１は上記ＲＡＭ２２．
２３とＰｉ様にアドレスが指定される。
からの線像光強９分布に対応した元笛変換信妥はコンピ
ュータ１９よυ指示されるアドレスに従ってマルチプレ
クサ２８によって選択され、サンプルホールド回路２９
によりサンフルホールドされて７−Ｊ−ロク／テシタル
変換器３０によりデジタル［ヒサれ、線像用ＲＡＭ３１
に逐次格納される。このＲＭ（３１は上記ＲＡＭ２２．
２３とＰｉ様にアドレスが指定される。
固体撮像素子１５．〜１５ｉηユらの光電変換信号がＲ
ＡＭ ３］に格納されると、アドレスカウンタ２６カら
リードエンド信号がコンピュータ１９に取込ま几、コン
ピュータ１９がこの信号をデコードして（１）式に相応
する計算を開始させる指命信置を送出する。
ＡＭ ３］に格納されると、アドレスカウンタ２６カら
リードエンド信号がコンピュータ１９に取込ま几、コン
ピュータ１９がこの信号をデコードして（１）式に相応
する計算を開始させる指命信置を送出する。
つまりコンピュータ】９はまず線像用ＲＡＭ３］の先頭
アドレスをセットし、且つ定数用ＲＡＭ ３２の先頭ア
ドレスをセットし、これらのＲＡＭ３］ 、３２からの
データがタイミング発生回路２７カラのクロックパルス
によるアドレスカウンタ２ｂの歩進で順次送出されて乗
算器３３に入力される。乗算器３３はこれらのデータを
掛は会わせ、その結果がアキ−ムレ−タ３４で逐次加算
される。これらの動作はグイミング発生回路３５カら乗
算器３３、アキュムレータ：つ４に加エラれるクロック
パルスによって制御される。
アドレスをセットし、且つ定数用ＲＡＭ ３２の先頭ア
ドレスをセットし、これらのＲＡＭ３］ 、３２からの
データがタイミング発生回路２７カラのクロックパルス
によるアドレスカウンタ２ｂの歩進で順次送出されて乗
算器３３に入力される。乗算器３３はこれらのデータを
掛は会わせ、その結果がアキ−ムレ−タ３４で逐次加算
される。これらの動作はグイミング発生回路３５カら乗
算器３３、アキュムレータ：つ４に加エラれるクロック
パルスによって制御される。
ここで定数用ＲＡＭ３２にば１．０の２値信岩が格納さ
れており、（１）式のΣＬｋが乗算器３３で演算されて
アキュムレータ３４に格納されることＶＣなる。これは
各固体撮像素子１５１〜１５ｉ７１・らの線像データに
ついて繰り返され、その僕にΣＬｋのα算結果がデータ
バス２５を面してコンビ１．−タ】９のダイナミ、、り
ＲＡＭに取込ま、几る。
れており、（１）式のΣＬｋが乗算器３３で演算されて
アキュムレータ３４に格納されることＶＣなる。これは
各固体撮像素子１５１〜１５ｉ７１・らの線像データに
ついて繰り返され、その僕にΣＬｋのα算結果がデータ
バス２５を面してコンビ１．−タ】９のダイナミ、、り
ＲＡＭに取込ま、几る。
次に同様にコンピータ１９かｃｏｓ用ＲＡＭ２２、線像
用ＲＡＭ３１の先頭アドレスをセットし、ΣＬ ｋ Ｃ
ＯＳ ／／ ｋ（θに＝２１ｒｕ〆恒１−）が同様に計
算されて各固体撮像素子 ナミックＲＡｔＶＩ Ｋ即込捷几る。次にΣＬｌ＜ｓｉ
ｎθにの計算も全＜Ｐ１様に行なりＴ′Ｌでコンピュー
タ】９のダイナミックＲＡＭに取り込まｆる。そしてコ
ンピータ１９はダイナミックＲＡＲ’ｌに叡込んたΣＬ
ｋ 、ΣＬｋｓｉｎθに１ ΣＬｋＳ１ｎθに、ｌ：り
（１）式に従って」νｒＴＦ ′ｆ％固体ｊｍｌ像素子
毎に計算し、このＭＴＦをダイナミックＲＡＭ内の倹倉
規格値と比較し、その検査結果をテレタイプ】７の陰極
線管士に表示させる。なお、固体撮像素子１５１〜１５
１は駆動回路３６により駆動される。
用ＲＡＭ３１の先頭アドレスをセットし、ΣＬ ｋ Ｃ
ＯＳ ／／ ｋ（θに＝２１ｒｕ〆恒１−）が同様に計
算されて各固体撮像素子 ナミックＲＡｔＶＩ Ｋ即込捷几る。次にΣＬｌ＜ｓｉ
ｎθにの計算も全＜Ｐ１様に行なりＴ′Ｌでコンピュー
タ】９のダイナミックＲＡＭに取り込まｆる。そしてコ
ンピータ１９はダイナミックＲＡＲ’ｌに叡込んたΣＬ
ｋ 、ΣＬｋｓｉｎθに１ ΣＬｋＳ１ｎθに、ｌ：り
（１）式に従って」νｒＴＦ ′ｆ％固体ｊｍｌ像素子
毎に計算し、このＭＴＦをダイナミックＲＡＭ内の倹倉
規格値と比較し、その検査結果をテレタイプ】７の陰極
線管士に表示させる。なお、固体撮像素子１５１〜１５
１は駆動回路３６により駆動される。
上記ＭＴＦ泪１１定装置においてはＭＴＦ （ｉ−測定
する前に被検レンズの合焦調整を行う必要があり、軸上
のＭＴＦ値が最大となるように被検レンズを調整しなけ
ればならない。そこで従来は軸上のＭＴＦ値をアナログ
メータで表示し、測定者がこのアナログメータを見なが
ら被検レンズの合焦調整を行うという方法がとられてい
る。し７１＞ Ｌこの方法でＶｉ卸よのＭＴＦ値を求め
るのに膨大な量の演算を必要とするため、合焦調整に時
間が畏くかかつて操作性が悪〃・った。又測定者がアナ
ログメータより畑土のＭＴＦ値を読み取っていたため、
測定者の読み取り誤差が大すく、且つアナログメータの
分解能が限られているため精変が低く、再現精吐に問題
があった。
する前に被検レンズの合焦調整を行う必要があり、軸上
のＭＴＦ値が最大となるように被検レンズを調整しなけ
ればならない。そこで従来は軸上のＭＴＦ値をアナログ
メータで表示し、測定者がこのアナログメータを見なが
ら被検レンズの合焦調整を行うという方法がとられてい
る。し７１＞ Ｌこの方法でＶｉ卸よのＭＴＦ値を求め
るのに膨大な量の演算を必要とするため、合焦調整に時
間が畏くかかつて操作性が悪〃・った。又測定者がアナ
ログメータより畑土のＭＴＦ値を読み取っていたため、
測定者の読み取り誤差が大すく、且つアナログメータの
分解能が限られているため精変が低く、再現精吐に問題
があった。
本発明は上記のような欠点を改善し、操作性の向よ及び
再功精テの向上を計るＣとができる合焦表示装置を提供
することを目的とする。
再功精テの向上を計るＣとができる合焦表示装置を提供
することを目的とする。
り下図面を参照しながら本発明について実ｋＪ例をあげ
て説明する。
て説明する。
第３図は本発明の一実施医１を示し、駆４図はそのタイ
ミングチャートである。この実施例は土配ディジタルフ
ーリエ変換方式のＭＴＦ測定装置に付帯するものの例で
あり１軸士の固体撮像素子（この例では電荷結合素子）
１５１、η・らの光電変換信号が増幅器３７で増幅され
てサンプルホールド回路２９でサンプルホールドされる
。即ち合焦調整時にはコンピュータ、１９７１）らの信
号によＶマルチフレフサ２８で固体撮像素子】５５、刀
・らの光電変換信号が選択され、捷た増幅器３７が尿２
］ン１では省略されている。す／プルホールド回路２７
からの信ｇＶｉｄｅ。
ミングチャートである。この実施例は土配ディジタルフ
ーリエ変換方式のＭＴＦ測定装置に付帯するものの例で
あり１軸士の固体撮像素子（この例では電荷結合素子）
１５１、η・らの光電変換信号が増幅器３７で増幅され
てサンプルホールド回路２９でサンプルホールドされる
。即ち合焦調整時にはコンピュータ、１９７１）らの信
号によＶマルチフレフサ２８で固体撮像素子】５５、刀
・らの光電変換信号が選択され、捷た増幅器３７が尿２
］ン１では省略されている。す／プルホールド回路２７
からの信ｇＶｉｄｅ。
はｍ４［￥１に示すようにス’Ｉ ｙ ト像の大強度分
布に相似な波形となり、コンパレータ３８に入力される
。
布に相似な波形となり、コンパレータ３８に入力される
。
またコンパレータ３８は一定の直流電圧Ｖｓが分圧回路
３９により分圧されて基準電圧Ｖｒｅｆとして入力され
、これらの入力Ｖｉｄｅｏ 、Ｖｒｅｆを比較して入力
Ｖｉｄｅｏが基準電圧Ｖｒｅ ｆより高いときにパルス
Ｗを出力する。カウンタ４０は駆動中１路３６刀１ら出
力されるトランスポートクロックφＴが分周回路４１で
分周されてクロックパルスＣＬＫとして入力され、コン
パレータ３８からパルスが入力されている時にクロック
パルスＣＬＫを計数することによって）くルスＷの幅を
測定する。カウンタ４０の最終的な計数値はラッチ回路
４６でラッチされてデコーダ４２で解読され、表示装着
４３でその計数値に対応した値が表示される。制御パル
ス発生回路４４はコンパレータ３８の出力パルスＷによ
り卸；御パルスを発生する回路でめり、與４図のように
パルスＷの前縁及び後縁Ｋ 応Ｕ ｆｃスタートパルス
Ｃ８とエンドパルスＣＲ’ｋ 発生する。カウンタ４０
はこのスタートパルスＣ８により計数動作をゼロより開
始し、エントノきパルスＣＲが印加されるまで計数動作
を継続する。また分圧回路３９に基準電圧Ｖｒｅｆを信
号Ｖｉｄｅｏのレベルに応じて調整できる端子（例えば
可変杭抗器の摺動端子等）を持ち、あらかじめ所望の値
に調整される。
３９により分圧されて基準電圧Ｖｒｅｆとして入力され
、これらの入力Ｖｉｄｅｏ 、Ｖｒｅｆを比較して入力
Ｖｉｄｅｏが基準電圧Ｖｒｅ ｆより高いときにパルス
Ｗを出力する。カウンタ４０は駆動中１路３６刀１ら出
力されるトランスポートクロックφＴが分周回路４１で
分周されてクロックパルスＣＬＫとして入力され、コン
パレータ３８からパルスが入力されている時にクロック
パルスＣＬＫを計数することによって）くルスＷの幅を
測定する。カウンタ４０の最終的な計数値はラッチ回路
４６でラッチされてデコーダ４２で解読され、表示装着
４３でその計数値に対応した値が表示される。制御パル
ス発生回路４４はコンパレータ３８の出力パルスＷによ
り卸；御パルスを発生する回路でめり、與４図のように
パルスＷの前縁及び後縁Ｋ 応Ｕ ｆｃスタートパルス
Ｃ８とエンドパルスＣＲ’ｋ 発生する。カウンタ４０
はこのスタートパルスＣ８により計数動作をゼロより開
始し、エントノきパルスＣＲが印加されるまで計数動作
を継続する。また分圧回路３９に基準電圧Ｖｒｅｆを信
号Ｖｉｄｅｏのレベルに応じて調整できる端子（例えば
可変杭抗器の摺動端子等）を持ち、あらかじめ所望の値
に調整される。
とごろで合焦時にはスｌ 、、 ト像が最も尖鋭な状態
になるからパルスＷの幅が最小になり、被検レンズをデ
フォーカスするに従ってスリ・ソト像の尖鋭変が低下し
てパルスＷの幅が大さくなる。従って合焦時にはカウン
タ４０の計数値が最小になり、被検レンズをデフォーカ
スするに従ってカウンタ４０の計数値が大さくなる。よ
って測定者は表示長＃４３でカウンタ４０の計数値に対
応して表示される値を読み取って被検レンズの合焦調整
を行うことができる。ここに基準電圧Ｖｒｅｆを変ｒヒ
さぞることにより空間周波数成分に対応した合評を行う
ことが可能であり、基準電圧を低くする程高い空間周波
数成分で、合焦する。
になるからパルスＷの幅が最小になり、被検レンズをデ
フォーカスするに従ってスリ・ソト像の尖鋭変が低下し
てパルスＷの幅が大さくなる。従って合焦時にはカウン
タ４０の計数値が最小になり、被検レンズをデフォーカ
スするに従ってカウンタ４０の計数値が大さくなる。よ
って測定者は表示長＃４３でカウンタ４０の計数値に対
応して表示される値を読み取って被検レンズの合焦調整
を行うことができる。ここに基準電圧Ｖｒｅｆを変ｒヒ
さぞることにより空間周波数成分に対応した合評を行う
ことが可能であり、基準電圧を低くする程高い空間周波
数成分で、合焦する。
第５し１は上２実施例の一部を具体的に示すものであり
、表示長＃４３が駆８図に示すような９段階の発元ダイ
オードレベルメータを用いた構成となっている。カウン
タ４０は４ｂｉｔの２進カウンタよＶなり、その各計数
値が外部からのクロックパルスＣＬｋ２ Ｋより逐次一
時的にラッチ回路４６に一時に格納されてデコーダ４２
により解読される。にに早６図及び纂７図はカウンタ４
０及びデコーダ４２の真理値表を示しており、デコーダ
４２の各出力端子０〜９はカウンタ４０の計数値に対応
して低レベル（論理値０）になる。デコーダ４２の出刃
端子３〜９からの各出刃信号はアナログスイッチＡＳ８
、ＡＳ７、ＡＳ６−＝ＡＳ２の？１ｉｌｌ Ｎ端子にそ
几ぞｎ入力され、デコーダ４２の出力端子１からの出力
信号がインバータ４７で反転されてデコーダ４２の出力
端子０からの信号とともにオア回路４８を介してアナロ
グスイッチＡＳ９の制御端子に入力される。またデコー
ダ４２の全出力端子０〜９７１）らの出力信法がナンド
回路４９ ｖＣ入力され、このナンド回路４９の出力信
号及びデコーダ４２の出力端子０からの出力信置がアン
ド回路５０に入力されてこのアンド回路５０の出力信置
がアナログスイッチＡＳ１の制御端子に入力される。ア
ナログスイッチＡＳ、〜ＡＳ９は直流電源Ｖｃｃニ直列
に接続され、アナログスイッチＡＳ、〜ＡＳ９ノ各一端
と接地点との間に発光ダイオードＬＥＤｌ、〜ＬＥＤ９
が抵抗Ｒ１〜Ｒ９を介して接続される。アナログスイッ
チＡＳ、〜ＡＳ９は通常は制純端子が高レベルで短絡状
態となり、制御端子に低レベルの信号が入った時に切れ
ることになる。
、表示長＃４３が駆８図に示すような９段階の発元ダイ
オードレベルメータを用いた構成となっている。カウン
タ４０は４ｂｉｔの２進カウンタよＶなり、その各計数
値が外部からのクロックパルスＣＬｋ２ Ｋより逐次一
時的にラッチ回路４６に一時に格納されてデコーダ４２
により解読される。にに早６図及び纂７図はカウンタ４
０及びデコーダ４２の真理値表を示しており、デコーダ
４２の各出力端子０〜９はカウンタ４０の計数値に対応
して低レベル（論理値０）になる。デコーダ４２の出刃
端子３〜９からの各出刃信号はアナログスイッチＡＳ８
、ＡＳ７、ＡＳ６−＝ＡＳ２の？１ｉｌｌ Ｎ端子にそ
几ぞｎ入力され、デコーダ４２の出力端子１からの出力
信号がインバータ４７で反転されてデコーダ４２の出力
端子０からの信号とともにオア回路４８を介してアナロ
グスイッチＡＳ９の制御端子に入力される。またデコー
ダ４２の全出力端子０〜９７１）らの出力信法がナンド
回路４９ ｖＣ入力され、このナンド回路４９の出力信
号及びデコーダ４２の出力端子０からの出力信置がアン
ド回路５０に入力されてこのアンド回路５０の出力信置
がアナログスイッチＡＳ１の制御端子に入力される。ア
ナログスイッチＡＳ、〜ＡＳ９は直流電源Ｖｃｃニ直列
に接続され、アナログスイッチＡＳ、〜ＡＳ９ノ各一端
と接地点との間に発光ダイオードＬＥＤｌ、〜ＬＥＤ９
が抵抗Ｒ１〜Ｒ９を介して接続される。アナログスイッ
チＡＳ、〜ＡＳ９は通常は制純端子が高レベルで短絡状
態となり、制御端子に低レベルの信号が入った時に切れ
ることになる。
例えばカウンタ４０の計数１直が１であればデコーダ４
２は出力端子１が低レベルで出力端子０．２〜９が高レ
ベルになり、アナログスイッチＡＳ、〜Ａｓ。
２は出力端子１が低レベルで出力端子０．２〜９が高レ
ベルになり、アナログスイッチＡＳ、〜Ａｓ。
が全て短絡状Ｗｖｃなって発光ダイオードＬＥＤ、〜Ｌ
ＥＤ９が全て点灯する。
ＥＤ９が全て点灯する。
一部、カウンタ４０の計算値が２になればデコーダ４２
は出力端子０、］、３〜９が高レベルで出力端子２が低
レベルになり、アナログスイッチＡＳ９がオフして発光
ダイオードＬＥＤ９が消灯しアナログスイッチＡＳ、″
−ＡＳ８がオンして発光ダイオードｒ、ＥＤ。
は出力端子０、］、３〜９が高レベルで出力端子２が低
レベルになり、アナログスイッチＡＳ９がオフして発光
ダイオードＬＥＤ９が消灯しアナログスイッチＡＳ、″
−ＡＳ８がオンして発光ダイオードｒ、ＥＤ。
〜ＬＥＤ８が点灯する。
同様にカウンタ４０の計算値が３．４・・・と大さくな
るに従ってアナログスイッチＡＳ８、ＡＳ７・・・と１
個づつオフして行って発光ダイオードがＬＥＤ８、ＬＥ
Ｄ７・・・と１個づつ消灯して行く。そしてカウンタ４
０の計算値が９になると、アナログスイ・チＡＳ。
るに従ってアナログスイッチＡＳ８、ＡＳ７・・・と１
個づつオフして行って発光ダイオードがＬＥＤ８、ＬＥ
Ｄ７・・・と１個づつ消灯して行く。そしてカウンタ４
０の計算値が９になると、アナログスイ・チＡＳ。
のみがオンで発光ダイオードＬＥＱのみが７Ｑ灯する。
またカウンタ４０の計算値が１０〜ｊ５又はＯ［ｆ：っ
り場合アナログ１スイッチＡＳ、〜ＡＳ９が全てオフし
て発光ダイオードＬＥＤ、〜ＬＥＤ９が全て消灯する。
り場合アナログ１スイッチＡＳ、〜ＡＳ９が全てオフし
て発光ダイオードＬＥＤ、〜ＬＥＤ９が全て消灯する。
このようにコンパレータ３８の出力パルスＷの幅が小さ
い程合光ダイオードが多く点灯することになり、測定者
は発光ダイオードＬＥＤ、〜ＬＥＤ、の点灯状態をみな
から合焦調整を行うことができる。
い程合光ダイオードが多く点灯することになり、測定者
は発光ダイオードＬＥＤ、〜ＬＥＤ、の点灯状態をみな
から合焦調整を行うことができる。
上２実施例では４ ｂｉｔの２進カウンタと９段階の発
光ダイオードレベルメータを用いたが、２進カウンタの
ビット数及び発光ダイオードレベルメータの段階敬を増
やしてもよいことは勿論である。
光ダイオードレベルメータを用いたが、２進カウンタの
ビット数及び発光ダイオードレベルメータの段階敬を増
やしてもよいことは勿論である。
なお、上記実施例のようにスＩ）ット像の尖鋭間に対応
した幅をもつパルスを発生させてその幅をカウンタで測
定しこのカウンタの計測値をデコーダで解読して発光ダ
イオードレベルメータで表示する方式ではカウンタのビ
ット数が比較的少斤くてもよいということが実験結果に
より確望されており、発光ダイオードレベルメータは一
般には９段階のもので充分である。
した幅をもつパルスを発生させてその幅をカウンタで測
定しこのカウンタの計測値をデコーダで解読して発光ダ
イオードレベルメータで表示する方式ではカウンタのビ
ット数が比較的少斤くてもよいということが実験結果に
より確望されており、発光ダイオードレベルメータは一
般には９段階のもので充分である。
り土のように本発明によればＭＴＦ測定装置においてス
リ、ト像の尖鋭間に対応した幅をもつ電気的なパルスを
発生さぞこのパルスの幅を計数手段で測定して解読し表
示するので、フーリエ変換２行う必要がなくなり、合焦
調整時間を短剣して操作性を向上さぜることができる。
リ、ト像の尖鋭間に対応した幅をもつ電気的なパルスを
発生さぞこのパルスの幅を計数手段で測定して解読し表
示するので、フーリエ変換２行う必要がなくなり、合焦
調整時間を短剣して操作性を向上さぜることができる。
また計数手段の計数値を解読して複数のアナログスイッ
チロ 制御しこれらのアナログスイッチにより複数の発
光ダイオードを制御するので、デジタル表示を行うこと
になって測定者の読み取り誤差を大幅に低減でさ、再現
積蓄を向上させることができる。
チロ 制御しこれらのアナログスイッチにより複数の発
光ダイオードを制御するので、デジタル表示を行うこと
になって測定者の読み取り誤差を大幅に低減でさ、再現
積蓄を向上させることができる。
駆１図１はＭＴＦ測定装置の−しく］における光学系を
示す斜視図ＩＸ第２図は同ＭＴＦ測定鋲管における雷気
ＩＥｌ路に示すブロック図、厚３図は本発明の一実施例
を示すプロ、ンク図、舅４図は同実施例■〃イミングチ
ヤード、第５図は同実施例の一部を具体的に示すブロッ
ク図、第６図１及び駆７図は同Ｔ於例を説明するだめの
図、與８図は同実施例の表示部を示す斜視図である。 ２９・・・サンフールホールド回路、３８・・・コンパ
レータ、４０・・・カウンタ、４２・・・デコーダ、Ａ
Ｓ１〜ＡＳ９０１．アナロググイ１．チ、ＬＥＤ＋〜Ｌ
ＥＤ９・・・発光ダイオード。 代 理 人 樺 山 〒夕）床ぼ 抛？閃 杷６茜 剤４圀 Ｃムノ（冊■曲冊離皿皿冊冊皿冊冊
示す斜視図ＩＸ第２図は同ＭＴＦ測定鋲管における雷気
ＩＥｌ路に示すブロック図、厚３図は本発明の一実施例
を示すプロ、ンク図、舅４図は同実施例■〃イミングチ
ヤード、第５図は同実施例の一部を具体的に示すブロッ
ク図、第６図１及び駆７図は同Ｔ於例を説明するだめの
図、與８図は同実施例の表示部を示す斜視図である。 ２９・・・サンフールホールド回路、３８・・・コンパ
レータ、４０・・・カウンタ、４２・・・デコーダ、Ａ
Ｓ１〜ＡＳ９０１．アナロググイ１．チ、ＬＥＤ＋〜Ｌ
ＥＤ９・・・発光ダイオード。 代 理 人 樺 山 〒夕）床ぼ 抛？閃 杷６茜 剤４圀 Ｃムノ（冊■曲冊離皿皿冊冊皿冊冊
Claims (1)
- 被検レンズによるスリット像の光強変分布を受光素子で
測定して離散的にフーリエ変換することによりＭＴＦを
測定するＭＴＦ測定ｇ＃において、スリット像の尖鋭変
に対応した幅をもつ電気的なパルスを発生させる手段と
、この手段からのパルスの幅を測定する計数手段と、こ
の計数手段の計数値を解読する解読手段と、この解読手
段の出力信器により制御される複数のアナログスイッチ
と、この複数のアナログスイッチにより制御される複数
の発光ダイオードとを備えた会焦表示ｇ瞳。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9977082A JPS58215528A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 合焦表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9977082A JPS58215528A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 合焦表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58215528A true JPS58215528A (ja) | 1983-12-15 |
Family
ID=14256197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9977082A Pending JPS58215528A (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | 合焦表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58215528A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55137784A (en) * | 1979-04-16 | 1980-10-27 | Omron Tateisi Electronics Co | Focus adjustment system in image pickup device using image sensor |
| JPS562516A (en) * | 1979-06-21 | 1981-01-12 | Ricoh Co Ltd | Signal processing method of mtf measuring instrument |
-
1982
- 1982-06-10 JP JP9977082A patent/JPS58215528A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55137784A (en) * | 1979-04-16 | 1980-10-27 | Omron Tateisi Electronics Co | Focus adjustment system in image pickup device using image sensor |
| JPS562516A (en) * | 1979-06-21 | 1981-01-12 | Ricoh Co Ltd | Signal processing method of mtf measuring instrument |
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