JPS58206947A

JPS58206947A - サンプリング装置

Info

Publication number: JPS58206947A
Application number: JP9100482A
Authority: JP
Inventors: Makoto Nishikawa; 西川　孚
Original assignee: Shimadzu Corp; Shimazu Seisakusho KK
Current assignee: Shimadzu Corp; Shimazu Seisakusho KK
Priority date: 1982-05-27
Filing date: 1982-05-27
Publication date: 1983-12-02

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】この発明はサンプリング装置に関し、特にサンプリング
場所での平均的濃度測定を可能にするサンプリング装置
を提供するものである。

大気汚染度を測定する場合、特定地点の汚染物質濃度が
気流の変化などにより激しく変動しているのが普通であ
り、従っである期間内の平均的濃度と見なしえるサンプ
ルを採取することが望まれる。　％にガスクロマトグラ
フィに付して汚染物質濃度を測定する場合は、ガスクロ
マトグラフィＯ原理から測定を間歇的に行なう必要があ
る。

しかしそれにもとすいて瞬時（採取したサンプルについ
て測定した汚染物質濃度は採取場所での大気の平均的濃
度を示しているかどうか疑問であった。

この発明はこれらの事情に鑑みなされたもので、その具
体的構成は、容積可変の２つのサンプル溜め室と、これ
らのサンプル溜め室から延びる２つの接続管と、サンプ
ル注入管と、サンプル移送管と、これらの各管を連結す
るバルブとを備え、かつ前記両すンプル溜め室を流体が
充満された定容積密封容器中に形成し、バルブの切換に
よって、交互に一方のテンプル溜め室のサンプルをサン
プル移送管を通じて適宜分析流路へ供給できると共に、
同時に他方のサンプル溜め室にサンプル注入管を通じて
新たなサンプルを取入できるよう構成してなるサンプリ
ング装置である。

すなわち、この発明はサンプル供給管＜２つのサンプル
溜め室を設け、一方のサンプル溜め室のサンプルが計量
・分離・分析されている間、そのサンプルの減少度に対
応して他方のサンプル室に新たなサンプルを注入できる
ようにすることによって、サンプルをほとんど連続的に
採取・分析できるようＫＬ、正しい汚染度の測定を可能
にするものである。

この発明において、容積可変のサンプル溜め室とは、サ
ンプルの溜め量に応じて容積を変えることができるサン
プル溜め室を意味し、具体的にはポリエチレン樹脂、ポ
リ弗化ビニル樹脂などのフィルムよりなる袋が用いられ
る。　このような容積可変のサンプル溜め室は、流体が
充満された定容積密封容器中に２つ形成される。　従っ
て、一方のサンプル溜め室の容積が小さくなると容器中
の流体の介在Ｋｘり他方のそれの容積がそれに対応して
大きくなり、結局両□サンプル溜め室の容積合計が一定
に保持される。　かくして一方のサンプル溜め室が容積
が小さくなるとき、他方のそれが大気に通じていると容
積合計が一定になるよう大気を吸引することになる。　
なお、前記容器中の流体としては空気、水などの使用が
望ましい。

以下図に示す実施例に基づいてこの発明を詳述する。　
なおこれによってこの発明が限定されるものではない。

第１図において自動平均化サンプリング装置（１）は、
キャリアガス供給管（２）、カラム■、ディテクタ（４
）を備えた分析流路（５）と、サンプル供給管（６）、
計量管（７）、吸引ポンプ（８）を備えたサンプル排出
管１９１を備えたサンプル計量流路■と、６方バルブ（
Ｖｌ）とから主として構成されている。　なお、０はキ
ャリアガス調節器である。

而してサンプル供給管（６）は、ポリエチレン樹脂フィ
ルムの袋ニジなる２つのサンプル溜め室（２）（２）と
、４方パルプ（ｖ３）と、サンプル注入管α４と、接続
管（至）（至）と、サンプル移送管面とからなり、両す
ンプル溜め室■（至）は空気面が充満された１つの密封
容器（２）中に収納されている。

次に以上の構成からなる装置（１）の作動を第１図及び
第２図を用いて説明する。

まず両バルブ（Ｖｒ）（Ｖｔ）が第１図の場合（実線部
分が連通）、吸引ポンプ（８）によってサンプル溜め室
υのサンプル（大気）が計量管（７）を通ってサンプル
排出管（９１より排出される。　次いで６方バルブ（Ｖ
ｌ）の切換えＫよって（点線部分が連通）、計量管（７
）が調節器但とカラム（３１との間に介挿され、計量さ
れたサンプル（例えば１ａ＋程度）がキャリアガス（Ｎ
りＫＪＣつてカラム（３）へ送られて分離され、検出器
（４）で分析される。　この間一方のサンプル溜め室０
３には、サンプル注入管（２）より、サンプル溜め室（
２）の容積減少に対応してサンプルが注入されている。

次に４方バルブ（Ｖ、）が切換えられ（点線部分が連通
）、更に６方バルブ（Ｖ、）が切換えられて、サンプル
溜め室（至）のサンプルについて上述と同様計量・分離
Φ分析が行なわれ、もちろんサンプル溜め室（２）（は
新たなサンプルが注入される。　な訃、両パルプｃｖ、
）　（Ｖ、　）の切換状態は第２図の通りであシ、この
ような切換作動はシーケンスタイマニヨつて行なわれる
。

以上のごとく、サンプルが連続していずれかのサンプル
溜め室に採取され、採取されたサンプルが順に分離・分
析されるので、ガスクロマトグラフィに適した間歇的な
測定であシながら、サンプルの平均的な汚染物質濃度が
測定できる。

なお、このような平均的な濃度測定はパルプ（Ｖ、　）
　（Ｖ、　）を作動させるだけで、特に動力源を必要と
せず、しかも従来装置のサンプル供給管（６１に簡単な
構成のものを付加するだけでよい。　もちろん従来のサ
ンプリング装置はｆａ１図のＡの部分で６５、（６ａ）
がそのときのサンプル供給管である。

なお１以上の実施例とは異なタ、定容積密封容器を第３
図のごとく別々に設置し１両部分をパイプなどで連通ず
るようＫしてもよい。　また容積可変の２つのサンプル
溜め室は１！４図のごとく定容積密封容器壁を利用して
形成しても工い（つま夕独立した室又は袋にする必要が
ない）。　更に第１図の吸引ポンプを同図のサンプル注
杢路α４に設けて本よく、第５図又は第６図のごとく両
容器部分の間に可逆ポンプ、プランジャポンプヲ設ｒｊ
ても工い。　もちろんサンプル自体が圧力を持っている
場合はこれらのポンプは不要である。

【図面の簡単な説明】

纂１図はこの発明のサンプリング装置の一実施例を示す
機能説明図、第２図はそのバルブの作動状態を示すグラ
フ、第８〜６図は他の実施例を示す要部機能説明図であ
る。（１）・−・自動平均化サンプリング装置、（２１−キ
ャリアガス供給管、（３）−・カラム、（４）−・・デ
ィテクタ、（６）・−サンプル供給管、（７）−計量管
、（９１−・サンプル排出管、■（至）・−サンプル溜
め室、Ｃｌ３）・−サンプル注入管、（至）ω・−接続
管、［１７＋・−・サンプル移送管、ｌ−空気、［１９
−密封容器、（Ｖ、）−４方バルブ、（Ｖ、）＝４方バ
ルブ。第１図第２図第３図　　　　　第４図第５図　　　　　　　第６図 −（（

Claims

【特許請求の範囲】

１、容積可変の２つのサンプル溜め室と、これらのサン
プル溜め室から延びる２つの接続管と、サンプル注入管
と、サンプル移送管と、これらの各管を連結するバルブ
とを備え、かつ前記両すンプル溜め室を流体が充満され
た定容積密封容器中に形成し、バルブの切換によって、
交互に一方のサンプル溜め室のサンプルをサンプル移送
管を通じて適宜分析流路へ供給できると共に１同時に他
方のサンプル溜め室にサンプル注入管を通じて新たなサ
ンプルを数人できるよう構成してなるサンプリング装置
。