JPS58206119A - 薄膜生成装置 - Google Patents

薄膜生成装置

Info

Publication number
JPS58206119A
JPS58206119A JP57088846A JP8884682A JPS58206119A JP S58206119 A JPS58206119 A JP S58206119A JP 57088846 A JP57088846 A JP 57088846A JP 8884682 A JP8884682 A JP 8884682A JP S58206119 A JPS58206119 A JP S58206119A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reaction chamber
gas
thin film
chamber
net
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57088846A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinobu Morita
森田 喜信
Hiroshi Haruki
春木 弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP57088846A priority Critical patent/JPS58206119A/ja
Publication of JPS58206119A publication Critical patent/JPS58206119A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45502Flow conditions in reaction chamber
    • C23C16/45504Laminar flow
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45587Mechanical means for changing the gas flow
    • C23C16/45591Fixed means, e.g. wings, baffles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02524Group 14 semiconducting materials
    • H01L21/02532Silicon, silicon germanium, germanium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/0257Doping during depositing
    • H01L21/02573Conductivity type
    • H01L21/02576N-type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/0257Doping during depositing
    • H01L21/02573Conductivity type
    • H01L21/02579P-type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/0262Reduction or decomposition of gaseous compounds, e.g. CVD

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は太陽電池などに用いるシリコン薄膜、特に非晶
質シリコン薄膜の生成装置に関する。
このような薄膜は、例えば第1図に示すような成膜装置
を用い、円筒状の真空反応室1内でのグロー放電分解法
によって生成される。反応室1円に導入管2よりSiH
4,B2I(s 、PH・3などの反応ガスを注入し、
排気管3に接続された真空系によって反応室内を真空に
保ちながら図示しない′iIt極によってグロー放電を
発生をせ、反応ガスの放電分解によりサセプタ4の上で
加熱さnる基板5iC薄膜を成長させる。しかしこの方
法によると、導入管2から排気口3に至るガス流がサセ
プタ上を通る際、サセプタの全面にわたって羽−な流を
形成することは困難である。従って基板5の上に生成さ
れる本発明の目的は、従来の方法のこのような欠点1除
き、均一な薄膜を基体上に生成でさる装置を提供するこ
とにある。
この目的は真空反応室へのカスの導入口が多数°ゐ一様
に分散配置された細孔よジなり、ぞの細孔の開口面積の
総和は細孔の外側に2VTるカス流路の断面積より小さ
く、各細孔力・ら開口面積の総和が大きくとも細孔の開
口面積の総和と同程度の排気口に至る最短距離がほぼ等
しくすることによって達成されるっ 以下図を引用して本発明の実施fQについて説明する。
第1図を含めた各図における共通の部分には同一の符号
が付されている。第2図に示す真空反応室1は方形の断
面を有する。反応室の前後には、例え500メツシュ以
上の同面潰の纒6,7が平行に張られているっガス導入
管2より網6の反応室に対して外側にある前室8に蓄え
られたガスは網6を通って反応室1に入る。網6のや目
の面積の総和は前室8の断面積より小さく、ガスは網6
によって絞られて流路に垂直な断面積が一様である反応
室1内を流れて網7を通り、反応室に対1にわたって均
一に流れるので、サセプタ4の上の基板5の上に生成さ
れる薄膜は全面にわたって均一である。
第3図・ri真真空窓芯室1円筒形でちる和■f4を示
す。この場合も第2図の場合と同様に反応ガスは網6を
介して断面一様な円筒状反応室1を層流をなして通り、
網7を介して排気管3より排気される。この間図示しな
い亀唖テよって生ずるグロー放電(でより同じく図示し
ない基板上、て薄膜が成長する。
二 第4図はさらに別の実施例を示し、この場合は基板5は
円筒形真空反応室1の底面上に置かれる。
)入管2より入った反応ガスは円筒の円周に沿って設け
られた環状の前室8に蓄えられ、内側に設けられた円筒
状の網6より反応室1の中心に位置する排気口10に向
けて流れる。従ってこの場合ガス流は層流ではないが、
排気口10に゛向けて求心方向に流れるガスは排気口1
0を中心とする円周上では均一であり、従って円周上に
配置さnている基板5には均一に薄膜が成長する。なお
この場合排気口10の断面が小さければ排気口側には必
ずしも網を備える必要がない。
上述の実施例における網6,7の代りに訓孔を明けた隔
壁を用いてもよい。第5図はそのような隔壁11を通過
するガスの流量を変化させるためにスリット12を有す
るシャッター3を用いる方法を示し、隔壁11に明けら
れた各細孔14をシャッタ13によって同一面積だけ塞
ぐことによりなガス流を形成することができる。
以上述べたように、本発明は真空反応室に導入゛βする
反応ガスの流路の断面積金網または細孔を有“する隔壁
を用いて絞ることにより反応室内に均一1、なガス流を
形成するものであり、これによって多′数の基板上へ同
時に均一な薄膜を生成することあるいは大面積の基板に
全面均一な薄膜を生成することが可能になるので、特に
太陽電池の量産あるいは大面積太陽電池の裏作に唖めて
有効に適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は薄膜生成装置の従来例の断面図、第2図は本発
明の一実施例の断面図、第3.第4図はそれぞれ別の実
施例の断面図、第5図ぽさらに別の実画列の一部を示す
斜視図でりるっ に 1・・真空反応7.5・・・基板、6,7・・・網、8
・・・前室、9・・鎌至、10・・・排気口、11・・
・隔壁、14・・・細孔。 才1図 第2I!1 73[!] t4−[!]

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)排気口を介して真空排気される真空反応室へ、1導
    入口を介して導入される反応ガスのグロー放電分解によ
    り基体上に薄膜を生成するものにおいて、導入口が一様
    に分散配置された多数の細孔よりなり、該細孔の開口面
    積の総和は細孔の外側に2けるガス流路の断面積より小
    さく、各細孔から開口2面積の総和が大きくとも前記細
    孔の開口面積の総1和と同程度の排気口に至る最短距離
    がほぼ等しい′1箋とを特徴とする薄膜生成装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、細孔が
    網目であることを特徴とする薄膜生成装置。
JP57088846A 1982-05-27 1982-05-27 薄膜生成装置 Pending JPS58206119A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57088846A JPS58206119A (ja) 1982-05-27 1982-05-27 薄膜生成装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57088846A JPS58206119A (ja) 1982-05-27 1982-05-27 薄膜生成装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58206119A true JPS58206119A (ja) 1983-12-01

Family

ID=13954332

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57088846A Pending JPS58206119A (ja) 1982-05-27 1982-05-27 薄膜生成装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58206119A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2623524A1 (fr) * 1987-11-20 1989-05-26 Lami Philippe Perfectionnement au procede et au dispositif de depot metallique sur un echantillon
JPH04110755U (ja) * 1991-03-02 1992-09-25 株式会社エステツク 化学気相蒸着装置のワークホルダー
US6194030B1 (en) 1999-03-18 2001-02-27 International Business Machines Corporation Chemical vapor deposition velocity control apparatus
WO2009140431A3 (en) * 2008-05-16 2010-03-11 Xyratex Technology Limited Laminated wall for uniform fluid flow
CN101935826A (zh) * 2010-09-13 2011-01-05 宁波升日太阳能电源有限公司 一种等离子体增强化学气相沉积炉

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5046074A (ja) * 1973-08-28 1975-04-24
JPS55154726A (en) * 1979-05-22 1980-12-02 Shunpei Yamazaki Manufacture of semiconductor device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5046074A (ja) * 1973-08-28 1975-04-24
JPS55154726A (en) * 1979-05-22 1980-12-02 Shunpei Yamazaki Manufacture of semiconductor device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2623524A1 (fr) * 1987-11-20 1989-05-26 Lami Philippe Perfectionnement au procede et au dispositif de depot metallique sur un echantillon
JPH04110755U (ja) * 1991-03-02 1992-09-25 株式会社エステツク 化学気相蒸着装置のワークホルダー
US6194030B1 (en) 1999-03-18 2001-02-27 International Business Machines Corporation Chemical vapor deposition velocity control apparatus
WO2009140431A3 (en) * 2008-05-16 2010-03-11 Xyratex Technology Limited Laminated wall for uniform fluid flow
US8707971B2 (en) 2008-05-16 2014-04-29 Xyratex Corporation Laminated walls for uniform fluid flow
CN101935826A (zh) * 2010-09-13 2011-01-05 宁波升日太阳能电源有限公司 一种等离子体增强化学气相沉积炉

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5833829A (ja) 薄膜形成装置
JP2004529834A (ja) 結晶構造層を堆積するための方法、この方法を実施するためのガス吸入素子及び装置
JPS58206119A (ja) 薄膜生成装置
JPH02234419A (ja) プラズマ電極
JPS5943861A (ja) ル−バ−式化学的蒸着装置
JPH0658880B2 (ja) 気相エピタキシヤル成長装置
JPH02200784A (ja) Cvd電極
JPS5790933A (en) Manufacture of amorphous semiconductor film
CN218756027U (zh) 一种气相沉积设备的气体组件及气相沉积设备
JPS60200531A (ja) 処理装置
CN203346518U (zh) 一种硅片热处理反应管
JPS60260126A (ja) 半導体の拡散装置
JPH01295414A (ja) プラズマcvd装置
JPS61102727A (ja) 膜形成装置
JPS60177180A (ja) プラズマcvd装置
JPS6123011Y2 (ja)
JPH03131594A (ja) 気相成長装置
JPS59225517A (ja) 非晶室半導体の製造方法
JPH0613256Y2 (ja) 反応室ガス導入器
JPH03151629A (ja) 半導体薄膜製造装置及び半導体多層薄膜の製造方法
JPH05112870A (ja) 縦型減圧cvd装置
JPS60200522A (ja) 被膜形成装置
JPH04308087A (ja) 減圧気相成長装置
JPS62158317A (ja) Cvd装置用ガスノズル
JPH01198016A (ja) 横形プラズマcvd装置