JPS58196471A - 限界検査装置およびその装置を使用する機械 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 この発明は限界検査装置およびその装置を使用する機械
に関するものであり、特にデータ処理装置に関するもの
である。

従来技術 限界検査は、供給電圧またはりはツク周波数のような電
気回路のある動作条件をそれらの公称値の回りで変化さ
せて、回路素子の初期の故障を検出しかつ見つけるとい
う技術である０データブｐセツサは、集積回路デバイス
のためのいくつかの相互接続支持体を有する一組の印刷
配線カードを含んだキャビネットから成る０印刷配線カ
ードはそれぞれ給電線によって母線に接続され、その各
々は一定の値の異った供給電圧を配分する。

印刷配線カードのための既知の従来の限界検査技術はそ
れら印刷配線カードを限界ｔたは動作条件チェック発生
器に接続するためにそれら印刷配線カードの給電線を本
質的に切断しなければならない。この発生器は供給電圧
のための調節可能な制御か与えられる。この技術は多く
の欠点を有している。特に接続および切断のための操作
がそれ自身故障を発生し得るが、一方また給電線の切断
が機械を停止しなければならず、それは通常の動作状態
を回復する時に機械の良く知られた始動立ち上り問題の
すべてを提起する。

これら欠点に打ち勝つために、現在の傾向は動作状態チ
ェック装置の限界をデータプロセッサ内に集中させるこ
とである。それ故、この集中さ詐た装置は、中間および
広範囲のデータプロセッサを作る多くの印刷配線カード
の組のレベルで故障を検出しかつ見つけなければならな
い。仁の集中化はプロセッサの動作の広い視野を提供す
るという長所を有してはいるが、消耗的でない結果を得
るためには本質的に複雑かつ長い走行のチェックプ四グ
２人を実行しなければならないという欠点を有している
。

さらに既知の限界検査は論理信号すなわち供給または周
波数電圧とは無関係な動作状態に作用することによって
のみ実行可能でおるということに注意すぺ皐である。ま
た、ある回路によ（り　　） って、例えば高い寄生周波数を適用することによって論
理信号に関する限界検査を行ない、このような妨害を取
り除くことを確実にすることが望ましい。　　　□ この発明は従来のと詐らの欠点を克服することである。

この発明によれば、電気回路に結合される型の限界検査
装置は、その結合が磁気手段を介して行われるという事
実を特徴としている。それ故磁気誘導によって、試験信
号は回路を切断しなければならないということはなしに
もたらされ、種々の動作状態を試験する０選ばれるワイ
ヤは給電線でちって良くまた論理信号ワイヤであっても
良く、この場合において高い寄生周波数が、それら妨害
に対する回路の免除を確実にするために注入されても良
い０ この発明の他の特徴および長所は添付図面を参照して為
される以下の説明から尚業者には明白となるであろう０ （ｔ　） 実施例 第１図は外側にデータプロセッサｌ−を結合した限界検
査装置ＩＯを示しており、そのデータプロセッサ／−の
内部にはとの発明にとって重要な本質的表要素だけが示
されている。従ってデータブ曹セッサｌコは、周辺の入
出力端子１６を持ったいくつかの印刷配線カードｌダを
含んでおシ、その端子１６は導体回路網（図示せず）に
よって集積回路デバイスのための相互接続支持体／１に
接続される０カード端子／４＆および／ＡｂＦｉ一つの
異った電圧源の代表的な母＠／９および：１０に接続さ
れている。示された実施例において母線！９は接地電位
を送シ、一方母線コＯは各々の印刷配線カードｌ弘に給
電線コダによって、電源、２Ｊで与えられる電圧を送る
。

この発明によれば、絶縁ワイヤコダは磁気カブ２コロに
動作的に接続され、その磁気カブラ２６の入力端子コロ
１および一６ｂは、ケーブル７ノによって限界検査装置
のそれぞれの出力端子１０＆および１０ｂに接続されて
いる。長所的にはカプラコロは装置ＩＯが機械ｌλの外
側にある時ワイヤの回シでクランプされ得る電流クラン
プの形状を有している。このようなりランプはワイヤ：
ｌｐ（第１図には閉じられた状態で示されている）と、
１つの変圧器で形成されておシ、その変圧器の１つの顎
は、ａつの入力端子、２ＡＩＬおよびコロｂに接続され
かつ磁気コア、２ｇの一部に巻かれている一次巻線３０
を含んでいる。他の顎は磁気コアの他の部分を含んでお
シ、それ故その他の部分はクランプが動作中である時に
ワイヤ、２ＩＩの回シで閉じられた磁気回路を形成する
。

結合が磁気的であるので弱いエネルギで働くことが明ら
かに好ましい。ＯＭＬ技術において装置が適用されるワ
イヤは、弱い電流強度（例えばｌアンペア程度）を与え
る基準電圧（−Ｏ，，２？）を含んだものであるであろ
う１゜ この発明の限界または動作モードまたは状態チェック装
置の特定の実施例が第一図に具体的に示されている。こ
の実施例によれば、一つの出力端子１０％および１０ｂ
を持った装置ｉ。

は、装置１０のいくつかの動作モードを決めるために接
続されたスイッチング素子の形体で示されている制御回
路装置３コに結合されている。

３つの代表的な動作状態は、制御回路装置Ｊ２のそれぞ
れの状態ｌ、コおよび３に対応して第一図および第３図
に示された例において考慮されてきた。これら３つのす
べての位置は制御回路３コを形成する３つのスイッチ素
子ｊＪａ、ＪコｂおよびＪＪｃの各々に位置付けられる
。

装置１０はオシレータ３４Ｌ１信号整形装置Ｊ４、イン
ピーダンス減衰器３ｆ１調整装置ダＯおよび出力増幅器
ダコを備えておシ、これらすべての素子は点線のブロッ
クで示されている。オシレータ３４Ｉはスイッチング素
子３コａの位置／、コおよび３に対応した３つの接点端
子ｊ４１ａと、スイッチ素子３シｂの位置ｌ、コおよび
３に対応した３つの接点端子３４１１）とを備えている
。オシレータ３４Ｉは３つのトランジスタ（／／） ダダ、ｌｊ、４Ｉ４．ｔつの抵抗ダク〜ｓｊ１ダっのダ
イオードｊ６〜ｊ９、およびコンデンサ６゜からなる。

ダイオード５番およびｓ７は、端子３ｅａ（位置／およ
び３）と、抵抗ｌＩ７を経たトランジスタ＋＋のベース
との間に互い違いに並んで装着されている。同じ事はダ
イオード２２および！９に対しても言え、それらは端子
、ｔｕｂの位置ｌおよび３と抵抗４ｔｔを介してトラン
ジスタ＋＋のベースとの間に接続されている。端子、？
ｌａ　　（位置ａ）は端子、ｔｕｂ　　（位置ｌ）に接
続されておシ、他方端子、？４ｔｂ　（位置コおよび３
）は相互接続されている。トランジスタ４ｔダのベース
はダイオードｊ４および！９のアノードそしてダイオー
ドｓ７およびｊｌのカソードに接続されておシ、さらに
そのベースはコンデンサ６０を介して接地されている。

トランジスタＩＩ４！のコレクタおよびトランジスタ亭
６のエミッタは直接接地されている。トランジスタ亭５
のコレクタはトランジスタ亭６のベースに直接接続され
ておシ、それは抵抗ダ？を（／コ　） 介して接地キ詐ている。トランジスタダダおよび４１！
のエミッタは相互接続されそして抵抗Ｓθを介して電圧
−■に接続されている。トランジスタグ５０ベースは抵
抗に／を介して接地されかつ抵抗ｊ、ｔを介して電位−
■に接続され、さらに抵抗５コを介してトランジスタｌ
Ｉ６のコレクタに接続されている。スイッチ素子３２ａ
および３．２ｂはトランジスタ亭６のコレクタに相応す
る共通点ムに接続されておシ、その共通点ムは抵抗ｊ３
を介して電位−■に接続されている。オシレータ３１の
出力端子３１Ｉａは抵抗！４Ｉを介して点ムに接続され
ている◇信号整形装置３１はスイッチ素子３コ０の位置
／９．２および３に相応する３つの接点端子３６＆と、
出力端子３４ｍ）とを有している。この装置３４は６つ
のトランジスタ６１〜４６および７０個の抵抗６りａ、
４７ｂ、Ａｔ−７ｓから構成されている。トランジスタ
６／、４２．４３および４’ｌ、４！ｒ、６４は実質的
な対称回路を形成している。トランジスタ６１，４コお
よび１ｓ４Ｉ、＆にのエミッタはそれぞれ抵抗り０およ
び７１を介して電位−Ｖに接続されている。トランジス
タ６１およびｌｈりのコレクタはトランジスタ６３およ
び６４のベースに接続されておシ、抵抗６デおよびり３
によって接地されている。トランジスタ６：ｔおよび６
５のコレクタは直接接地されておシそれと共にトランジ
スタ３６の二定ツタに接続されている。トランジスタ６
１のエミッタは抵抗クダを介して接地されておシ、かつ
抵抗７ｓを介して電位−Ｖに接続されている◇トランジ
スタ６１のベースは抵抗６ｔを介して電位−■に接続さ
れておシ、かつ抵抗＆？ａ。

＆７ｂを介して端子３６ａ　（位置コおよび３）に接続
されている。ターミナル３６＆　（位置！およびコ）は
相互接続されている。スイッチ素子３λＣは抵抗クコに
よって接地されているトランジスタｈ４Ｉのベースに接
続されている。信号変換装置Ｊ６の出力端子Ｊ４ｂはト
ランジスタ４３および６６のコレクタの相互接続によっ
て形成され、かつトランジスタ６−および６！のベース
によって形成されている。

抵抗減衰器３ｔは装置ＩＯの電気回路の点Ｂを構成しか
つオシレータ３’ｌの出力端子３４ＩＣおよび信号整形
装置３番の出力端子Ｊｏｂに接続される入力端子３Ｓａ
と、出力端子３ざｂとを有する。

抵抗減衰器３ｔは一つのトランジスタ７６゜７７および
工きツタフォロア回路を形成するように一緒に装着され
た１つの抵抗りｔから構成されている。それ故トランジ
スタ７６は入力端子３ｔａに接続されたベースを有して
、そのエミッタはトランジスタ７りのコレクタに接続さ
れかつ出力端子、ｔｒｂに接続されておシ、そしてその
コレクタはトランジスタ７７のベースにかつ抵抗７７ｒ
の電位−Ｖに接続されている。トランジスタフ７のエミ
ッタは電位−■に接続されている。

調整装置ｌＩｏは抵抗減衰器３ｇの出力端子Ｊｌｒｂに
接続さ詐た入力端子＋Ｏａと、出力端子ダθｂとを有す
る。その調整装置ｌＩＯはボテ（ｌり ンシオメータグッと、コンデンサｔＯとからなり、ポテ
ンシオメータの抵抗は接地と端子４ＩＯａとの間に接続
されておシ、そしてそのカーソルはコンデンサｔｏを介
して出力端子ｑｏｂに接続されている。出力端子４ＬＯ
ｂは装置ＩＯの電気回路の点Ｃを構成する。

出力増幅器４Ｉ２は、入力端子４！Ｊ！Ｌと、装置ＩＯ
の出力端子１０ａ、ｌＯｂ　　を形成する一つの出力端
子とを有する。それは７つのトランジスタｇ／　〜ｌ！
；７．／／の抵抗１１〜デｔ１そして１つのコンデンサ
？デから構成される。トランジスタざコ、ｔ３は、差動
増幅器を形成し、その差動増幅器はトランジスタｔ３に
よって形成される電流源によって付勢されかつトランジ
スタｇ／、ｔ４ｔによって駆動される。トランジスタｔ
６によってとの差動増幅器から引き出された電圧はトラ
ンジスタｔりによって増幅される。

特にトランジスタ１／、１コ、Ｓダのコレクタとトラン
ジスタざ６のエミッタとトランジスタｔ３のベースとは
直接接地される。トランジスタ（／１） Ｉｒ３のコレクタはトランジスタｔ６のベースに接続さ
れ、かつ抵抗９３を介して接地される。

トランジスタクコおよびｔ３のエミッタはトランジスタ
ｊ５の；レクタに相互接続され、そのトランジスタｆｆ
ｊのエミッタとベースは抵抗デーおよびｔノを介して電
位−Ｖに接続される。

入力端子４ｔＪＩＬは、それぞれ抵抗１１を介して接地
に、抵抗１９を介して電位−Ｖに、そしてトランジスタ
ｘｉのベースに直接接続される。

トランジスタ１／のエミッタはトランジスタクコのベー
スを直接駆動し、他方電位−Ｖが抵抗？Ｏを介してそれ
に与えられる。トランジスタ１４Ｉは、そのエミッタが
トランジスタ１３のベースに接続され、そのベースがそ
れぞれ抵抗デフおよび９ｔを介して出力端子１０＆およ
び１０ｂに接続される。トランジスタｔ６のコレクタは
抵抗ＬＩ４ｔを介して電位−■に接続され、そして抵抗
？５を介してトランジスタｔ７のベースに接続される０
トランジスタｔ７のコレクタは端子１０ｂに接続され、
他方そのエミッタは電位−■に直接接続されかつコンデ
ンサデデを介して端子１０ａに接続され、端子ｉｏａと
分担さｎるそのアノードは抵抗９４を介して接地される
。端子ｉｏｂは装置１０の電気回路の注目すべき基準点
りを構成する。

第一図に示される装置ＩＯの動作が第３１図〜第３Ｃ図
および第１図の例を参照して説明され、機械ｌコはＯＭ
Ｉ＋技術のものであシかっ電源コＱは基準電圧（ｖｒｅ
ｆ　”−〇、：１７ボルト）を表すということを仮定し
ている。、第３ａ図〜第３Ｃ図の各々において波形Ａ−
Ｄは第１図に示された装置１０の電気回路の点ム〜Ｄに
おいて引き出されたものに相応する。

要約すればオシレータ３ダは、装置３６によって変成さ
れ、抵抗減衰器３ｇおよび調整装置ダ０によって振幅が
調整され、出力増幅器４Ｉコによって電圧および電流が
増幅され、そして装置ＩＯの出力端子１０＊、１０（ｂ
　　によって磁気カプシコ６に与えられる交流電圧を形
成している。

制御回路装置３コの３つのスイッチ素子の位置／、コ、
３は装置ｌθの３つの動作モードに相応する。位置ｌお
よび３は位置が７および３であるかどうかに依存して反
対の極性を有する交流の台形信号をカブｙｓｂに与える
のに相応し、位置コは交流の対称出力信号に相応する。

別の言いかたをすれば、位置ｌおよび３は他方に対して
の１つの限界に関する検査を強張するよう企ろまれてお
シ、位置コはコクの限界に関する検査に相応している。

特に第３ａ図を参照して、オシレータ３ダの点ムにおけ
る電圧は、例えば周期Ｔ１−４００μＢおよび／１５の
循環比（それ故θ＝／θＱμＩ！Ｉ）を有する負の矩形
信号であるということが容易に明白となる０点Ｂにおい
て信号は台形信号に相応する所望の形状を有しており、
その台形信号の先端および後端は、磁気カプラコ４にお
ける電流ピークを制限するためにオシレータ３４Ｉの周
波数と磁気カプラコロの特性との関数として調節される
。点Ａにおける信号変成のために装置３番はもし、もち
ろん、制限されるべき信号（ｌデ） が小さい振幅を有しているならば、並んで互い違いに設
けられたλつのダイオードによって置き変えられ得ると
言うととに注意すべきである。

点Ｂにおいて変成された信号ムは、抵抗減衰器３ｔおよ
び調整装置４！０によって調整された点０における振幅
を有している。抵抗減衰器３ｇは通常のエミッタフォロ
アで構成され、ポテンシオメータ７９は検査信号の振幅
が調整されるのを可能とする。明らかに信号変成装置３
６または調整装置ａＯの異った構造をもって、抵抗減衰
器は除去され得る。第３ａ図の点Ｏにおいて、信号は例
えばコＳＯミリボルトの正の振幅と６θミリボルトの負
の振幅を有した交流の非対称台形信号である。この信号
は点りにおいて例えばコＶの正の振幅と０．３■の負の
振幅とを有するように増幅される。巻線３０およびワイ
ヤａダがそれぞれ、例えば／：２０の比をもった変圧器
の一次および二次巻線を形成する磁気カプラ、２６に対
して、ワイヤコクに注入される信号は０．／ボルトに相
応する。

（−〇） 負の限界検査に対して、信号は制御回路装置３コの３つ
のスイッチ素子を位ｔ３に置くことによって反転され、
その場合において信号は第３Ｃ図のものに相応する。

同時のコつの限界検査に対して、制御回路装置３コの３
つのスイッチ素子は位置−に置かへその場合において信
号は例えば第３ｂ図のものである。この場合において選
ばれた周波数は例えばｓ　ｋＨｚ　（Ｔ−Ｊｏｏ／Ｊａ
）　ノわずかに高イモノであシ、それ故過度の磁化電流
がカプラ２乙に流入することを防ぐ。出方信号は例えば
各々コボルトの振幅を有した対称的な台形信号である。

同様に検査装置／θは機械ノー内に集められ得る０との
場合において各カード１４ｔへの作用は第７図に示され
る。第７図において試験装置ＩＯは機械１２内に組み込
まれておシそして機械の印刷配線カード／４（のすべて
の検査プログラムプ誼セッサ１３と組み合っている。３
つのカード／ダＩ　ｍ　”ｍ　ｓ　”ｍは実施例として
示されてきた。この発明によれば対応する給電！２４１
．。

コダ！＋”３ｓは物理的に絶縁されそしてコア、２ｔ、
　、２ｇ、、および−ｇ、によって取シ巻かれている。

それらコア上には、巻線３θ１，３θ、。

および３０．　　が巻かれている。試験装置ＩＯはケー
ブル／／、　、／／、　、／／、によってスイッチング
ブロックｌｓに接続されるいくつかの出力を有シ、その
スイッチングブロックｌ！は検査プログラムプロセッサ
１３の１つの出力１７によって制御される。スイッチン
グブロック１ｇはケーブル／？、　、／？＊、／デ、に
よって磁気カプラコ’１　ｔ”ｔ　＋コロ、のそれぞれ
の巻線３０１゜３０、．３０．に接続される出力を有す
る。それ故検査プログラムプロセッサ／３に集められた
検査プログ２ムの実行は、初期の欠陥を示す関数ブロッ
クを機械全体の中に検出しかつ見つけるのを可能とする
。それ故この発明によれば、修理されまたは置き変えら
れるべきカードを見つけるために、最後の検査が検出さ
れた関数ブロックの各カードのレベルで行なわれ得る。

とのようにケーブル１９の数は一般にケーブル／ｌの数
と異っていることができ、そして図面を参照して説明し
た特定の場合において３つのケーブル／／、　、／／、
　、／／、　　は第３ａ図、第３ｂ図および第３Ｃ図の
ような信号を長所的に運び、これら信号は次に集中化さ
れた検査プログラムプロセッサ１３の制御のもとにスイ
ッチングブロック／Ｓによって種々のカプラ（２ｉ、。

・・・、コロｎ）に撰択的に与えられるということが理
解されるであろう。

このように限界検査は、対応するワイヤ２４Ｉが別々に
接近可能であるならば、所望の位置において磁気結合に
よって行なわれる。一般にこのワイヤ２’ｌは給電線ま
たは論理信号ワイヤである６後者の場合において装置ｌ
θは高い寄生周波数発生器に対応する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明による外部の限界検査装置に接続され
たデータシロセッサを概略的に示す部分図、第２図はこ
の発明による限界検査装置の特定の実施例を示す回路図
、第３ａ図、第３（２３） ｂ図および第３Ｃ図゛は、３つの動作例に対してこの装
置の動作を説明するために、第一図に示された限界検査
装置の点Ａ−Ｄにおける波形を示す波形図、第４図はこ
の発明の別の実施例による集中化された限界検査装置を
含んだデータプロセッサを概略的に示す部分図である。 図において、ｌコはデータプロセッサ、１４ｔは印刷配
線カード、／Ａは入出力端子、／１は集積回路デバイス
、２４！は給電線、コロはカプラ、２ｇはコアである。 （！４１）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）　　内部に支持された複数の印刷配線カードを有
   したデータプロセッサを備え、前記印刷配線カードは周
   辺の入出力端子を含み、その入出力端子の少くとも１つ
   は前記印刷配線カードおよびそのカード上の集積回路デ
   バイスに外部電圧を供給するよう接続された給電線を有
   する、内部限界検査を使用するための装置において、前
   記印刷配線カードの内部検査を行なうための装置を備え
   、その装置は検査信号を発生するための限界検査発生器
   と、前記検査信号を前記給電線に磁気的に結合するカプ
   ラとを含んでいることを特徴とする内部限界検査を使用
   するだめの装置。 （２）　　前記カプラは前記給電線の回シを取り囲むた
   めの装置を有した電流クランプである特許請求の範囲第
   １項記載の内部限界検査を使用するだめの装置。 （３）　　前記カプラは変圧器のコアを形成する一対の
   顎素子を含み、その顎素子の少くとも１つは前記コアが
   給電線の回りでクランプされることができるように可動
   である特許請求の範囲第１項記載の内部限界検査を使用
   するための装置。 （４）　　前記給電線は前記変圧器の単巻きの二次巻き
   線を形成し、その−次巻き線は複数の巻きを備えそして
   前記発生器の出力を受けるように接続されている特許請
   求の範囲第３項記賊の内部限界検査を使用するための装
   置。 （５）　　前記発生器はその出力に論理信号に相応する
   信号を与えるための高い寄生周波数発生器であり、前記
   給電線は前記論理信号のために電源に接続される論理信
   号ワイヤである特許請求の範囲第ダ項記載の内部限界検
   査を使用するための装置。 （６）繭配給電線は電源に接続され、前記限界検査発生
   器は前記印刷配線カードの少くともｌつの動作状態をチ
   ェックするための信号を供給するためのオシレータを含
   む特許請求の範囲第１項記載の内部限界検査を使用する
   ための装置。 （７）　　複数の動作状態の検査を可能とするためにオ
   シレータ信号の形状を変える装置を含んだ特許請求の範
   囲第６項記載の内部限界検査を使用するための装置。 （８）　　前記限界検査発生器は検査信号を発生するた
   めのオシレータと、発生された検査信号の形状を変更す
   るよう接続された信号整形回路と、いくつかの動作状態
   の検査を可能とするためにその整形された信号を磁気カ
   プラに接続する装置とを含んだ特許請求の範囲第１項記
   載の内部限界検査を使用するための装置。 （９）　　前記カブ２は前記給電線を取り囲むための装
   置を有した電流クランプである特許請求の範囲第を項記
   載の内部限界］検査を使用するための装置。 （ＩＩ　　前記カプラは変圧器のコアを形成する一対の
   顎素子を含み、その顎素子の少くともｌっは前記コアが
   前記系電線の回シでクランプされるのを可能とするよう
   に可動である特許請求の範囲第９項記載の内部限界検査
   を使用するための装置。 （／／）前記限界検査発生器はデータプロセッサの内部
   にある特許請求の範囲第６項記載の内部限界検査を使用
   するだめの装置。 （／Ｊ）データプロセッサの入力回路ボードを検査する
   ための装置であって、各ボードは限界検査発生器を備え
   た指定された検査ワイヤと、限界検査発生器を検査ワイ
   ヤに磁気的に結合して少くとも１つの限界に関する検査
   のための信号を供給する装置とを有したデータプロセッ
   サの入力回路ボードを検査するための装置Ｑ１０ （／３）前記発生器は高い寄生周波数発生器であシ、そ
   して前記検査ワイヤは信号ワイヤである特許請求の範囲
   第１項記載の内部限界検査を使用するための装置。 （／→前記発生器は、オシレータ（３→と、このオシレ
   ータの出力を整形するための信号整形装置（３６）と、
   この整形された信号の振幅を設定するための振幅調整装
   置（４ＩＯ，ダ、２）と、整形された信号を検査ワイヤ
   に結合するための磁気カブ２０６）とを含んだ特許請求
   の範囲第７項記載の内部限界検査を使用するための装も
   （／菊前記結合装置は前記検査ワイヤ０→を取υ外し可
   能に取り囲むことが、できる電流クランプである特許請
   求の範囲第１項記載の内部限界検査を使用するための装
   置。 （１６）前記カプラＯ→は検査ワイヤの回シに設けられ
   るようにされたコア４２ｇ）と、このコア上に支持され
   かつ前記装置ａｌへ接続されるようにされた巻線（３ｄ
   ）とを備え、この巻線（３っけ変圧器の一次巻線を形成
   し二次巻線は検査ワイヤによって形成される特許請求の
   範囲第１項記載の内部限界検査を使用するための装置。 （ｌり）さらにスイッチングブロック（／ｊ）を含み、
   各巻線（３φが前記スイッチングブロック（／勢に接続
   さ詐て少くとも１つの出力信号を前記限界検査発生器か
   ら受けるようにした特許請求の範囲第１６項記載の内部
   限界検査を使用するための装置。 （／ｌ）前記限界検査発生器は第７、第コおよび第３位
   置の間で位置付は可能なスイッチングブロックを含み、
   装置の３つの異った動作モードを決めるようにした特許
   請求の範囲第１項記載の内部限界検査を使用するための
   装置。 （１９）前記動作モードは正の限界検査と、負の限界検
   査と、同時に一つの限界検査とに対応する特許請求の範
   囲第１１項記載の内部限界検査を使用するための装置。 ０φ限界検査発生器およびカブ２はデータプロセッサの
   内部に配置されている特許請求の範囲第１を項記載の内
   部限界検査を使用するための装置。