JPS58196434A - 光フアイバ端面検査装置 - Google Patents
光フアイバ端面検査装置Info
- Publication number
- JPS58196434A JPS58196434A JP8043382A JP8043382A JPS58196434A JP S58196434 A JPS58196434 A JP S58196434A JP 8043382 A JP8043382 A JP 8043382A JP 8043382 A JP8043382 A JP 8043382A JP S58196434 A JPS58196434 A JP S58196434A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- far
- receiving element
- end faces
- light receiving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光通信用等に用いる単一モード光ファイバ（
以下、単に光ファイバという）の加工した端面の検査用
に用いる装置に関するものである。
以下、単に光ファイバという）の加工した端面の検査用
に用いる装置に関するものである。
光通信において半導体レーザを用いるとき、光ファイバ
の端面で生じるレーザ光の反射があると、その反射によ
り再注入される光が問題となる。そこで、このような反
射再注入光の影響を軽減するために、光ファイバの端面
をテーパ状にするなどの各種の端面加工が行なわれてお
り、このとき加工した端面の良否を検査する必要がある
。
の端面で生じるレーザ光の反射があると、その反射によ
り再注入される光が問題となる。そこで、このような反
射再注入光の影響を軽減するために、光ファイバの端面
をテーパ状にするなどの各種の端面加工が行なわれてお
り、このとき加工した端面の良否を検査する必要がある
。
かかる光ファイバの加工端面の検査は、実際に半導体レ
ーザと端面加工した光ファイバを結合し、伝送された光
信号余計価することによシ可能ではある。しかし、光フ
ァイバと半導体レーザとΩ結合には数μｍ以下の高い位
置精度が要求されるため、その検査には時間を要する。
ーザと端面加工した光ファイバを結合し、伝送された光
信号余計価することによシ可能ではある。しかし、光フ
ァイバと半導体レーザとΩ結合には数μｍ以下の高い位
置精度が要求されるため、その検査には時間を要する。
しかも、位置合せのときに光ファイバによって半導体レ
ーザを損傷させる危険が伴う々どの問題が多い。
ーザを損傷させる危険が伴う々どの問題が多い。
単一モードの光ファイバに限っていえば、検査３１・−
ン したい光ファイバの加工していない一端から適当な波長
のレーザ光を入射させると、光フアイバ内の伝送モード
が単一となるために加工端面からの遠視野パターンはそ
の加工端面の状態によってのみ決定され、それ以外の条
件によっては変動がほとんど生じないという特徴がある
。そこで、この遠視野パターンをスクリーン上に投影す
るようにしておけば、その遠視野パターンの形状等を目
視することにより加工端面の良否がある程度は判定でき
る。しかし、現在の光ファイバはｏ、８／Ｘｎ帯以上の
波長の赤外光に適合するように作成されているだめに遠
視野パターンを目視観察することができず、光源に可視
光レーザを用いると光フアイバ内の伝送モードが多モー
ドになる恐れがあり好ましくない。
ン したい光ファイバの加工していない一端から適当な波長
のレーザ光を入射させると、光フアイバ内の伝送モード
が単一となるために加工端面からの遠視野パターンはそ
の加工端面の状態によってのみ決定され、それ以外の条
件によっては変動がほとんど生じないという特徴がある
。そこで、この遠視野パターンをスクリーン上に投影す
るようにしておけば、その遠視野パターンの形状等を目
視することにより加工端面の良否がある程度は判定でき
る。しかし、現在の光ファイバはｏ、８／Ｘｎ帯以上の
波長の赤外光に適合するように作成されているだめに遠
視野パターンを目視観察することができず、光源に可視
光レーザを用いると光フアイバ内の伝送モードが多モー
ドになる恐れがあり好ましくない。
そこで本発明は、かかる従来の不都合に鑑み、光ファイ
バの加工端面の検査に要する時間を短縮しかつ定量的な
検査を実現することのできる装置を提供することを目的
とし、そのために本来の使用波長のレーザ光を入射して
その透視野パターンをスクリーンに投影するようにし、
そのスクリーン上に当該波長の光を検出できる受光素子
を設けるようにしたものである。
バの加工端面の検査に要する時間を短縮しかつ定量的な
検査を実現することのできる装置を提供することを目的
とし、そのために本来の使用波長のレーザ光を入射して
その透視野パターンをスクリーンに投影するようにし、
そのスクリーン上に当該波長の光を検出できる受光素子
を設けるようにしたものである。
以下、本発明につき、その一実施例を示す図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
まず、第１図に本装置の一実施例の全体構成を示す。こ
こで、１は一端に端面加工をした単一モードの光ファイ
バ、２は光ファイバ１にその本来の使用波長のレーザ光
を入射させる為の半導体レーザ等の光源、３は光ファイ
バ１の加工端面、４は加工端面から射出された遠視野パ
ターン、５はその遠視野パターン４を投影する為のスク
リーン、６は加工端面３を固定する為の固定台、了は遠
視野パターン４が投影される領域でスクリーン５上に設
けた当該使用波長に感度を有する受光素子である。また
、固定台６は、単に加工端面３を固定する為だけではな
く、加工端面３とスクリーン５との位置関係を一定に保
つ為のものでもある。
こで、１は一端に端面加工をした単一モードの光ファイ
バ、２は光ファイバ１にその本来の使用波長のレーザ光
を入射させる為の半導体レーザ等の光源、３は光ファイ
バ１の加工端面、４は加工端面から射出された遠視野パ
ターン、５はその遠視野パターン４を投影する為のスク
リーン、６は加工端面３を固定する為の固定台、了は遠
視野パターン４が投影される領域でスクリーン５上に設
けた当該使用波長に感度を有する受光素子である。また
、固定台６は、単に加工端面３を固定する為だけではな
く、加工端面３とスクリーン５との位置関係を一定に保
つ為のものでもある。
第２図に、その加工端面３の形状による遠視野パターン
４の変化状態の例を示す。加工端面３が６７・−・・ 光ファイバ１の光軸に対して垂直なときの遠視野パター
ン４が図中に破線４で示すような広がりをもつものとす
ると、加工端面３を半球状にしたときの遠視野パターン
４Ａは図中に実線４Ａで示すように遠視野パターン４よ
りも広がる。
４の変化状態の例を示す。加工端面３が６７・−・・ 光ファイバ１の光軸に対して垂直なときの遠視野パター
ン４が図中に破線４で示すような広がりをもつものとす
ると、加工端面３を半球状にしたときの遠視野パターン
４Ａは図中に実線４Ａで示すように遠視野パターン４よ
りも広がる。
また、加工端面３の一部が欠けているときなどは、その
損傷に応じた変化が遠視野パターン４にもみられる。そ
こで、第２図に示すようにスクリーン５上に、標準とな
る加工端面３からの遠視野パターン４が投影される領域
に受光素子７を設けておけば、加工端面３の形状不良に
よるパターンの変化を受光素子７の出力信号により検知
することができる。
損傷に応じた変化が遠視野パターン４にもみられる。そ
こで、第２図に示すようにスクリーン５上に、標準とな
る加工端面３からの遠視野パターン４が投影される領域
に受光素子７を設けておけば、加工端面３の形状不良に
よるパターンの変化を受光素子７の出力信号により検知
することができる。
第３図は、受光素子７を複数の領域に分割して配置した
ときの実施例である。図すは、標準となる加工端面３Ｃ
をもつ光ファイバ１の一部を示したものでありこのとき
の遠視野パターンを図ａ中に破線４Ｃで示す。破線４Ｃ
で囲まれた領域を本実施例では４分割している。その分
割された各領域にそれぞれ受光素子７Ａ、７Ｂ、７Ｃ，
７Ｄを６ベーニｊ 配置している。
ときの実施例である。図すは、標準となる加工端面３Ｃ
をもつ光ファイバ１の一部を示したものでありこのとき
の遠視野パターンを図ａ中に破線４Ｃで示す。破線４Ｃ
で囲まれた領域を本実施例では４分割している。その分
割された各領域にそれぞれ受光素子７Ａ、７Ｂ、７Ｃ，
７Ｄを６ベーニｊ 配置している。
ここで、同図Ｃに示すような加工端面３Ｄをもつ光ファ
イバを検査するとき、加工端面３Ｄからスクリーンに投
影される遠視野パターン４Ｄは、図ａ中に実線４Ｄで示
すように偏位する。このとき、各受光素子７Ａ 、７Ｂ
、７Ｃ，７Ｄから得られる出力信号Ｐ Ａ、 Ｐ Ｂ
、 Ｐ ｃ 、 Ｐ ｐは、互いに異なることになる
。そこで、これらの得られた出力信号から遠視野パター
ン４Ｄの偏位を検知するには、例えば第４図に示すよう
な加算回路８〜１１．減算回路１２．１３の回路に入力
すればよい。この回路の出力信号ＰＸおよびＰＹがそれ
ぞれＰｘ＞。
イバを検査するとき、加工端面３Ｄからスクリーンに投
影される遠視野パターン４Ｄは、図ａ中に実線４Ｄで示
すように偏位する。このとき、各受光素子７Ａ 、７Ｂ
、７Ｃ，７Ｄから得られる出力信号Ｐ Ａ、 Ｐ Ｂ
、 Ｐ ｃ 、 Ｐ ｐは、互いに異なることになる
。そこで、これらの得られた出力信号から遠視野パター
ン４Ｄの偏位を検知するには、例えば第４図に示すよう
な加算回路８〜１１．減算回路１２．１３の回路に入力
すればよい。この回路の出力信号ＰＸおよびＰＹがそれ
ぞれＰｘ＞。
且つＰｙ ） Ｏ、ＰＸ＜Ｏ且つＰｙ＞Ｏ，ＰＸ＜Ｏ且
っＰｙ＜Ｏ，ＰＸ＞Ｏ且っＰｙ＜Ｏの場合、ＦＦＰ４Ｄ
の偏位方向はそれぞれ領域７Ａ、７Ｂ、７Ｃ。
っＰｙ＜Ｏ，ＰＸ＞Ｏ且っＰｙ＜Ｏの場合、ＦＦＰ４Ｄ
の偏位方向はそれぞれ領域７Ａ、７Ｂ、７Ｃ。
７Ｄにあるととがわかる。
そして、このような受光素子の分割を増す程、偏位に関
する情報が正確になることは言うまでもないＯ しかし、遠視野パターン４Ｄが、遠視野バター７ ベー
ジ ン４Ｃと同心円状をなし、しかも、その径が小さい場合
には、本実施例では良否の判定が出来ない恐れがある。
する情報が正確になることは言うまでもないＯ しかし、遠視野パターン４Ｄが、遠視野バター７ ベー
ジ ン４Ｃと同心円状をなし、しかも、その径が小さい場合
には、本実施例では良否の判定が出来ない恐れがある。
そのような場合には、各受光素子７Ａ 、７Ｂ 、７Ｃ
，７Ｄの外周にさらに複数の受光素子を配置しておけば
よい。
，７Ｄの外周にさらに複数の受光素子を配置しておけば
よい。
また、異なる外形の端面を検査するときには遠視野パタ
ーン４０大きさも変わる。このようなときには、固定台
６とスクリーン５との距離を変えることにより、遠視野
パターン４の投影像の大きさを変えてちょうど受光素子
７に投影することが簡単にできる。
ーン４０大きさも変わる。このようなときには、固定台
６とスクリーン５との距離を変えることにより、遠視野
パターン４の投影像の大きさを変えてちょうど受光素子
７に投影することが簡単にできる。
゛スクリーン６上の受光素子７を設ける位置にバンドル
ファイバ端面を設け、別の場所に設けた受光素子まで導
ひいてきてもよい。
ファイバ端面を設け、別の場所に設けた受光素子まで導
ひいてきてもよい。
このように、本発明によれば、単一モードの光ファイバ
の加工端面の検査を行々うにあたり受光素子を用いて加
工端面よシの遠視野パターンの大きさおよび偏位を検出
するようにしているため、検査時間を大幅に短縮でき、
且つ定量的検査が可能である。さらに、その光ファイバ
の使用波長のレーザ光で検査できるので正確な検査が可
能である０
の加工端面の検査を行々うにあたり受光素子を用いて加
工端面よシの遠視野パターンの大きさおよび偏位を検出
するようにしているため、検査時間を大幅に短縮でき、
且つ定量的検査が可能である。さらに、その光ファイバ
の使用波長のレーザ光で検査できるので正確な検査が可
能である０
第１図は本発明の一実施例における光フアイバ端面検査
装置のブロック図、第２図はその要部の側面図、第３図
ａ、ｂ、ｃは本発明の他の実施例における光フアイバ端
面検査装置の要部の正面図および光ファイバの加工端面
の側面図、第４図はその回路図である。 １・・・・・・単一モードの光ファイバ、２・・・・・
・光源、３ 、３Ｃ、３Ｄ−−−−加工端面、４．４Ａ
、４Ｃ。 ４Ｄ・・・・・・遠視野パターン、５・・・・・・スク
リーン、６・・・・・・固定台、７，７Ａ、７Ｂ、７Ｃ
，７Ｄ・川・・受光素子、８，９，１０．１１・・川・
加算回路、１２゜１３・・・・・・減算回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが１名第１
図 第２図 １１４図
装置のブロック図、第２図はその要部の側面図、第３図
ａ、ｂ、ｃは本発明の他の実施例における光フアイバ端
面検査装置の要部の正面図および光ファイバの加工端面
の側面図、第４図はその回路図である。 １・・・・・・単一モードの光ファイバ、２・・・・・
・光源、３ 、３Ｃ、３Ｄ−−−−加工端面、４．４Ａ
、４Ｃ。 ４Ｄ・・・・・・遠視野パターン、５・・・・・・スク
リーン、６・・・・・・固定台、７，７Ａ、７Ｂ、７Ｃ
，７Ｄ・川・・受光素子、８，９，１０．１１・・川・
加算回路、１２゜１３・・・・・・減算回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが１名第１
図 第２図 １１４図
Claims (3)
- （１）加工した一端をもつ単一モード光ファイバの他端
にレーザ光を入射させる光源と、前記単一モード光ファ
イバの加工端面からの遠視野パターンを投影するスクリ
ーンと、前記単一モード光ファイバの加工端面と前記ス
クリーンとの位置関係を一定に保つように前記単一モー
ド光ファイノζを固定する固定台とを備え、前記スクリ
ーン上の遠視野パターンが投影される領域に受光素子を
設けたことを特徴とする光フアイバ端面検査装置。 - （２）遠視野パターンが投影される領域を少なくとも２
分割し、それぞれの領域に受光素子を設けたことを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の光フアイバ端面検査
装置。 - （３） 固定台とスクリーンとの距離を可変にしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載
の光フアイバ端面検査装置。 ２ベージ
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8043382A JPS58196434A (ja) | 1982-05-12 | 1982-05-12 | 光フアイバ端面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8043382A JPS58196434A (ja) | 1982-05-12 | 1982-05-12 | 光フアイバ端面検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58196434A true JPS58196434A (ja) | 1983-11-15 |
Family
ID=13718126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8043382A Pending JPS58196434A (ja) | 1982-05-12 | 1982-05-12 | 光フアイバ端面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58196434A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109612689A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-04-12 | 长飞光纤光缆股份有限公司 | 一种光纤端面检测方法及系统 |
-
1982
- 1982-05-12 JP JP8043382A patent/JPS58196434A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109612689A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-04-12 | 长飞光纤光缆股份有限公司 | 一种光纤端面检测方法及系统 |
| CN109612689B (zh) * | 2018-12-26 | 2020-12-18 | 长飞光纤光缆股份有限公司 | 一种光纤端面检测方法及系统 |
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