JPS5819504A - 形状測定装置 - Google Patents

形状測定装置

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JPS5819504A
JPS5819504A JP11822481A JP11822481A JPS5819504A JP S5819504 A JPS5819504 A JP S5819504A JP 11822481 A JP11822481 A JP 11822481A JP 11822481 A JP11822481 A JP 11822481A JP S5819504 A JPS5819504 A JP S5819504A
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JP
Japan
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measured
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shape
detector
rotary table
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Pending
Application number
JP11822481A
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English (en)
Inventor
Masaji Isa
伊佐 正司
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Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP11822481A priority Critical patent/JPS5819504A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/20Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring contours or curvatures, e.g. determining profile
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/30Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring roughness or irregularity of surfaces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 事MWNは、形状igt*装置に係勤、待に、真円度濶
電機或−は真璽度置電機等O湊状誤羞測定装置KJII
%A為に好適な、被測定物に対して相対移動可能壜検尚
響を備え、被測定物と検出at相対移動畜せ九時の検出
−の出力から被測定物O廖状會知為ようkし九廖状測定
装置の改良に関する。
119体褒状の被測定物を回転移動すゐ九めの、被測定
物が職置畜れる回転テーブル等O園転移動ll1lIと
、被測定物に先端が接触畜れる接触子を有す為、111
1配置された検出器とを備え、被m置物t11転移動さ
せ九時O検出−の出力から被測定物O真円からOずれを
知ゐようにした真円度iim機ijxgRもれて−る・
このような真円度測庫機に用−られて−暴a転移動機構
、例えば、被測定物が職置されゐ回転テーブルには、少
なくとも該回転テーブルを回転可能とするための遊隙に
起因する、回転テーブルの軸振れ、偏心等が存在してお
り、従って、前記検出器の出力は、被測定物の形状に対
応すゐ信号に、回転移動機構の遊隙に起因する信号が重
畳されたものとなっている。従って、従来の真円度測定
機Kかいては、回転移動機構の遊隙による測定誤着を防
止すゐべく、回転テーブルの軸振れ、偏心等管可能な限
砂小畜(するようにしているが、そ0ためには、回転テ
ーブルの軸受部分を非常に精密に仕上げ為必要があり、
製造ブストが高くなってし壇う・しかも、回転テーブル
を回転可能な状態とするためには、最小限の遊瞭の存在
が必要であシ、このような遊隙t−排除してしまうとと
嬬不可能である・特に、測定精度として数μmオーダを
要求される場合には、回転テーブルの遊隙に起因する誤
差管解消することは不可能である・ 一方、回転移動機構011111J:生ずる偏心等によ
る誤差を、測定機補正するtのとして、特公昭42−!
@874量で示される如く、11m@Om電で得大測定
値O最小値に積分値(平場値)を加えることによって仮
想円を作成し、2回1IOIIlji[で該仮想円とI
Il窺値を比較するととKよって、回転移動機構の誤差
t−櫂正するようにした形状誤差検出装置%mat畜れ
ているが、装置が非常に複雑となるだけでなく、絶対値
を知ゐことができず、真円に対す1誤I11がiw*で
暑ないという聞題点を有し九〇 本発明は1前記従来の欠点を解消するぺ(な畜れ九もO
で、簡単な構成によシ、II9#移動機構の彰響會受け
1に%A被濶定置物140廖状を容易に得ることがで暑
る形状測定装置を提供するζ之V?目的とする・ 本発明は、被測定物に対して相対移動可能な検85Wを
備え、被測定物と検出at相対移動させた時の検出−の
出力から被測定物の形状を知るようにした形状測定装置
において、前記被測定物に一体的に固定器れる、被測定
物に対応ずゐ形状の基準体と、前記検IMIIlに一体
的Kil定され、前記基準体に対して、被測定物に対す
為前記検出器の相対移動と同様の相対移動を行なう基準
体積Ij!IIIIとを設け、前記検出器の出力を前記
基準体検出IIO出力で補正するようにして1、前記[
9’を達成し九もので魯る・ 又、前記被測定物及び基準体を、相対移動機構によ〕移
動すみよ5にし、前記検tBll及び基準体検出響會、
調定配置するようにしたもOである0形 更に、前記被測定物O形状が回転体l状である場合に、
前記基準体O形状t−Pi形とし、前記被測定物及び基
準体を1回転移動機構によe1m&移動するようにし大
ものである0 以下図面を参照して、本発@0実施例tllpgに説明
すゐ・ 享発@O第1実施例は、第1図及び第2図に示す如く、
、gl@l状体状えば、円筒状の被測定物1Gが噴量さ
れる、軸受1gKよりてベース14K11転自#!に支
持畜れた回転テーブル16と、lI[gl@テーブル!
・上E1m置された被測定物100内屑11に所定圧で
肖接す為方向に付勢てれ圧接触子1$aが、アーム1s
bo先端に支持畜れて−る検出11118とを備え、被
測定物10t−回転テーブル16によ)8m@移動させ
良陣の検出器180出力から被測定物100形状O真円
からのずれを知るようにした真円度測定機にシいて、前
記回転テーブル1 mt)H@軸X70下端にねじ20
によjl[定器れた、被測定物10と共に回転移動畜れ
ゐ球状の基準体111雪と、前記検出器18と一体的K
ll定され良、接触子1!41がアーム24bの先端に
支持畜れて%/%る基準体検出−24と、前記検出11
180出力と前記基準体検出@24の出力管加算し、更
に、基準体言20形状に対応する信号tJ算す為演算装
置86と、験演算装置26O出力管記録す為、−転チヤ
ード28畠を有する記―装置28と1−設け、前記検出
器18の出力を前記基準体検出−340聞力で補正する
ことによって、回転テーブルO道瞭等O影響管受けない
被測定物10の真O廖状が記Sat雪80a&チャート
281上に記#I″fiれ纂ようにし九40でめる〇前
記検出11!18及び基準体検出量24は、いずれモ、
接触子18as2410位置、即ち、アーム1llb、
!4bO送や出し量から、被測定物10の内面溶状、或
いは、基準体22の外園形状!−出力する15に畜れて
いる。従りて、検出tsxs。
出力は、被測定物10の真O内面形状に対応する形状信
号D1に、回転テーブル1@ei!IIIKよる誤差Δ
81が加わったものとなゐe又、基準体検出器340I
I力は、基準体2Mt)外面形状に対応する形状信号り
、に、同じく回転テーブル160遊瞭によ為誤差−Δ8
婁が加わつ九もOとなって−る・ここで、基準体積m@
240誤差にマイナスW号を付けたものは、被測定物1
0と基準体22が、軸受13t−介してそ0両側に配設
畜れておシ、検allllllと基準体検出器24とで
社、誤差の方向が逆Ke&と考えられるからで6石0前
記基準体!!2の形状は、摩状としておくと、ねじ20
によ)基準体zsta転テーブルOIi1@軸11にl
l電するl[K若千傾いても、基準寸法としての直径が
炭わもない九め、補正計算が容易であゐ・又、高精度O
基準体!入乎することも容易以下作層會11@する・測
定Kllては、まず、lI@テーブル16上に被測定物
10を固定し、検iugtxso@触子111mが被測
定物100内馬面に廁接するように設定すると共に、B
I@テーブル1@t)WE@軸11の下端に、ねじ20
によ砂基単体!!t−11定すh o C01111s
基準体23に長穴221が廖、成されていゐOで、被測
定物10が回転テーブル16に対して若干ずれて同定さ
れて%/%九場会Kか%/%”C%、これに対応して基
準体重3の位置をずらすむとによって、容易に対応でI
Ih・基準体ssowwtが終了した後、回転テーブル
16をlI@畜せて測定を行なう・この際に検出111
11から得られる信号は、被測定1物10の、内!I形
状に対応する償−tDmに、回転テーブルlllID遊
隙に対応すみ娯羞Δ11m#加えられ良も−Oと1って
いるロ一方1!!単体検出−140出力信号は、基準、
体220外wwi状に対応す為信号D 、 K、同じ<
WA転テーブル160遊蒙に対応する誤差−八81が加
えられ九%のと′&うて%AるO従って、演算装置26
においては、次式に示す如く、前記検出−18の出力信
号(D 1+Δ81 ) Ks前記基準体検出器24の
出力信号(Ds−Δ8雪)を加え、更に、予め正確に求
められてい為、基準体2flO外If形状に対応する信
号Dsl引くことによって、被測定物100真の内面溶
状K11応する信号DIを得る・ DI−((DI+Δ8t)+k(Da−Δ8 m ) 
) −・1(13シ・・・−pDz−・−(1)こζで
係数には、被測定物100内径と基準体22の外ll0
II異を傭圧する丸めの係数で6秒、両者が一致す為場
合には、lと畜れるOこO演算装置鵞60出力管記係装
置280回転チャート28m上置記−す為ことによって
、回1テーブルops差の影響を受けない被測定物の真
の内面形状を得ることがで暑るOなお、第2図に破線人
で示す如く、基準体形状も重畳表示することによって、
被測定物の形状(実111B)との比較を容易とするこ
とも可能であるO 尚、前記実施4111においては、基準体!!2が球状
と畜れ、回転テーブル160回転軸1γO下端に111
1111れて%1%九が、基準体の形状、配設位置はこ
れK1m1*畜れず、例えば基準体を回転テーブル16
と軸受1!05IKli定す為ことも可能であるOこの
場合には、検tMIll18出力におけh回転テーブル
l1lO誤羞Δ810方向と、基準体検出W24出力に
シける回転テーブル16の誤差Δ8sO方肉が一致す↓
Oで、演算装置26におけゐ演算は、次式の如くと1に
為0 1)1 sw ((D I+Δ8u)−k(Ds+Δ8
g))ニー%、D t・、・・十に島−一(2) 叉、基準体を電路し、II@テーブル16の外周w或い
はII@軸1フO外周面自体を基準体として利用すみこ
とも可能であ石拳 亭発[0第2実施例を第8図及び第4図に示すO本実施
例は、被測定物30が配設されるiii*テーブル3s
と、被測定物30に対して直轄移動可能な、接腋子$4
#を有すゐ検出ll34と、該検出器84!11181
1定テープvsxに対して直線的に相対移動す為ためO
tS送9装置s6と!雪見翫検出1184を直轄送〉装
置3・によ)直線的に移動させた時O検出[I$40a
4力から被測定i30の真直線からのずれ、即ち真直度
1*るようにした真直度測定11において、前記固定テ
ーブル3!O表面を基準1182mとす為と共に、前記
検出器34内に、前記基準WiB2aK当接する接触子
34bt−設け、前記接触子sago出力を前記接触子
34bO出力で被圧することによって、直轄送り装置s
6の廖響を受けない被測定物sOの真O廖状が得られる
ようKしたもOである。
本実施例の作NKついては前記第1実施例と基本的に同
一で番るめで説明は看略す為・以上説明し九遺勤、本発
明によれば、簡単な機構を用いて、相対移動機構の影響
を受けない被測定物OxO形状を容易に得ゐことかで1
iゐという優れた効果を有する0
【図面の簡単な説明】
第1IIは、本発明に係ゐ形状測定装置Oj[1実施例
を示す平面図、第3図は、同じく一部ブロック線図會含
む断面図、第3図は、本発明に係る形状測定装置の第2
実施例管系す正面図、第4図は、第3m!1のff−f
f纏に沿う断面図である。 10%80−一被測定物、16−回転テーブル、18.
34・軸検聞響、 1mm524at、34m、8ab−接触子、22・−
基準体、24・・・基準体検出器、26二演算装置、!
 8−・・記−装置、82−一同定テーブル、32 m
 −・・基準面、36−・璽1111D装置・ 代理人  高  失    論 (?1か1名)′

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  被測定物一対して相対移動可能表検出器を備
    え、被測定物と検出器を相対移動させた時の検出器の出
    力から被測定物の形状を知るようにし丸形状測定装置に
    おいて、前記被測定物に一体的に固定される、被測定物
    に対応する形状の基準体と、前記検出11に一体的Kf
    l定され、前記基準体に対して、被測定物に対する前記
    検出器の相対移動と同様の相対移動を行なう基準体検出
    器とを設け、前記検出器の出力管前記基準体検出器の出
    力で補正することによって、相対移動機構の影響を受け
    ない被測定物の真の形状を得るようにしたことを特徴と
    する形状測定装置0
  2. (2)前記被測定物及び基準体が、相対移動機構によ)
    移動するようにされ、前艷検出器及び基準体検出器が、
    固定配置されている特許請求の範囲第1項に記載の形状
    測定装置0 (2)前記被濶電物O廖状が回転体形状であり、前記基
    準□体O浄状−円形と畜れ、前記被測定物及び基準体が
    、llI@移動機構によ)同転移動するように−11れ
    てい為特許請求O範■第2頂に記載の形状側j11ml
    lle
JP11822481A 1981-07-28 1981-07-28 形状測定装置 Pending JPS5819504A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6080704A (ja) * 1983-10-11 1985-05-08 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 立体物測定機
JPS63182510A (ja) * 1987-01-26 1988-07-27 Toyota Motor Corp 軸物センター穴の真円度簡易測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6080704A (ja) * 1983-10-11 1985-05-08 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 立体物測定機
JPS63182510A (ja) * 1987-01-26 1988-07-27 Toyota Motor Corp 軸物センター穴の真円度簡易測定装置

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