JPS58182562A - アナログ計測光源用発光ダイオ−ドの温度補償回路 - Google Patents
アナログ計測光源用発光ダイオ−ドの温度補償回路Info
- Publication number
- JPS58182562A JPS58182562A JP6499482A JP6499482A JPS58182562A JP S58182562 A JPS58182562 A JP S58182562A JP 6499482 A JP6499482 A JP 6499482A JP 6499482 A JP6499482 A JP 6499482A JP S58182562 A JPS58182562 A JP S58182562A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- emitting diode
- temperature
- fixed resistance
- compensating circuit
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- Pending
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/02—Arrangements in which the value to be measured is automatically compared with a reference value
- G01R17/06—Automatic balancing arrangements
Landscapes
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はアナログ計測光源用発光ダイオードの温度補償
回路に係り、特にサーミスタと抵抗の粗金せにより広範
囲な温度域に亘って測定誤差を極めて小′さくしたアナ
ログ計測光源用発光ダイオードの湿度補償回路に関する
。
回路に係り、特にサーミスタと抵抗の粗金せにより広範
囲な温度域に亘って測定誤差を極めて小′さくしたアナ
ログ計測光源用発光ダイオードの湿度補償回路に関する
。
アナログ計測の1つの例として例えば高電圧部分におけ
る電圧または電流をアナログ的に計測する場合にはA/
D変換器などの電源を必要とする能動素子を用いる必要
のないこと及び人体への危険を防止する観点から、CT
またはFTを介して前記電圧または電流を低電圧部分の
電気信号に変換しこの電気信号でもって発光ダイオード
を直接光強度変調して光ファイバーに結合させ光ファイ
バーから導いた光を光電変換素子で計測する手段か採用
されつ\ある。
る電圧または電流をアナログ的に計測する場合にはA/
D変換器などの電源を必要とする能動素子を用いる必要
のないこと及び人体への危険を防止する観点から、CT
またはFTを介して前記電圧または電流を低電圧部分の
電気信号に変換しこの電気信号でもって発光ダイオード
を直接光強度変調して光ファイバーに結合させ光ファイ
バーから導いた光を光電変換素子で計測する手段か採用
されつ\ある。
しかしながら、発光ダイオードの発光特性は負の温度係
数を有しており、温度上昇に比例して光出力か低下する
性質を有していること、しかも前記電圧ないし電流の計
測は例えば送電電力の如き取引の対象となる電力計流の
場合にあっては、その性質上計測誤差は通常1%以下に
抑制するべく要請されているうえ、計測場所の関係から
もその温度範囲は極めて広いことか必要とされているこ
となどのため、発光ダイオードによる電圧・電流の計測
技術において送電線の場合には充分には適用しがたい現
状にある1、 本発明はか−る事情に鑑みてなされたもので、温度変動
かあった場合にも計測の誤差を1%以下に抑制しうるア
ナログ計測光源用発光ダイオードの温度補償回路を提供
することを目的としておへ以下に本発明の実施例につき
図示・説明する。
数を有しており、温度上昇に比例して光出力か低下する
性質を有していること、しかも前記電圧ないし電流の計
測は例えば送電電力の如き取引の対象となる電力計流の
場合にあっては、その性質上計測誤差は通常1%以下に
抑制するべく要請されているうえ、計測場所の関係から
もその温度範囲は極めて広いことか必要とされているこ
となどのため、発光ダイオードによる電圧・電流の計測
技術において送電線の場合には充分には適用しがたい現
状にある1、 本発明はか−る事情に鑑みてなされたもので、温度変動
かあった場合にも計測の誤差を1%以下に抑制しうるア
ナログ計測光源用発光ダイオードの温度補償回路を提供
することを目的としておへ以下に本発明の実施例につき
図示・説明する。
第1図は本発明の1実施例であって発光ダイオードLE
Dに温度補償回路1を直列接続した回路を示してあり、
測定端子A%塾には前記CTまたはFTによって低電圧
部分に変換された電気信号■が印加されている。
Dに温度補償回路1を直列接続した回路を示してあり、
測定端子A%塾には前記CTまたはFTによって低電圧
部分に変換された電気信号■が印加されている。
しかして、温度補償回路1は温度係数の低い固定抵抗]
1L1(この抵抗値をR1とする)とこれに直列に接続
された負特性サーミスタRt(このサーミスタの抵抗値
をRtとする)と温度係数の低い固定抵抗IL2(この
抵抗値を幻とする)の並列回路とから構成されている。
1L1(この抵抗値をR1とする)とこれに直列に接続
された負特性サーミスタRt(このサーミスタの抵抗値
をRtとする)と温度係数の低い固定抵抗IL2(この
抵抗値を幻とする)の並列回路とから構成されている。
したがって温度補償回路1の合成抵抗には、
で表わされる。
なおこのサーミスタは後述する理由から自己発熱により
抵抗値k【か変化しない素子であって、そのためには通
常抵抗値の小さい素子を複数個1刈接続して前記k【の
抵抗値にすることか望ましい。
抵抗値k【か変化しない素子であって、そのためには通
常抵抗値の小さい素子を複数個1刈接続して前記k【の
抵抗値にすることか望ましい。
負特性サーミスタの任意温度1゛0kにおける抵抗R【
は基準温度T:K(25℃)における抵抗値をkO、サ
ーミスタ定数を8とすれは 1 Rt−io e x P II(−1−−TO)=kO
It +++・++・++ (2)こ\でk(はサーミ
スタの温度係数であって次に発光ダイオードに例えば電
圧50Vを加え電流5001Aを流した場合における補
償例について説明する。
は基準温度T:K(25℃)における抵抗値をkO、サ
ーミスタ定数を8とすれは 1 Rt−io e x P II(−1−−TO)=kO
It +++・++・++ (2)こ\でk(はサーミ
スタの温度係数であって次に発光ダイオードに例えば電
圧50Vを加え電流5001Aを流した場合における補
償例について説明する。
すなわちこのダイオードを一20℃から+80℃の範囲
で使用する場合、5℃における電流を100%とすると
、−20℃における電流は89%、+80℃に詔ける電
流は113%にする必要があるものとする。
で使用する場合、5℃における電流を100%とすると
、−20℃における電流は89%、+80℃に詔ける電
流は113%にする必要があるものとする。
今、第1図において25℃における合成抵抗値をiLn
とすれば、 in = 50 V−50mA = l 0OOfL−
20℃における合成抵抗値1LniaxはjLmax=
10004 +0.89 = 1124 n+80℃
における合成抵抗値1jminはiLmin = 10
0OA÷1.12=885flとなるようR1、R2、
組を選ぶとすれば、サーミスタ定数1=’3100のサ
ーミスタの温度係数組は一加℃において6.36、+(
資)℃において0.2となるから、次式(3)、(4)
、(5)の連立方程式が成立する。
とすれば、 in = 50 V−50mA = l 0OOfL−
20℃における合成抵抗値1LniaxはjLmax=
10004 +0.89 = 1124 n+80℃
における合成抵抗値1jminはiLmin = 10
0OA÷1.12=885flとなるようR1、R2、
組を選ぶとすれば、サーミスタ定数1=’3100のサ
ーミスタの温度係数組は一加℃において6.36、+(
資)℃において0.2となるから、次式(3)、(4)
、(5)の連立方程式が成立する。
6.36 KO・R2
1Ll+ =1124 (4)
6.361Lo + R2 そこで、上記連立方程式を解くことにより、第1図に示
したILl、iL2および基準温度T:K (25℃)
にあけるサーミスタの抵抗KOが求まり、R1=826
.96fr、1Lz=341.1Lo=349.2fl
となる。たゾしここで基準温度におけ4抵抗値ILa
kl R49,2nの伊−ミスタを選ぶに当っては、第
1図の組モ流れる亀m1R14c留意する必要がある。
6.361Lo + R2 そこで、上記連立方程式を解くことにより、第1図に示
したILl、iL2および基準温度T:K (25℃)
にあけるサーミスタの抵抗KOが求まり、R1=826
.96fr、1Lz=341.1Lo=349.2fl
となる。たゾしここで基準温度におけ4抵抗値ILa
kl R49,2nの伊−ミスタを選ぶに当っては、第
1図の組モ流れる亀m1R14c留意する必要がある。
1組はであって各温度における合成抵抗kに対する値を
計算し、その湿度におけるサーミスタ抵抗k【の自己発
熱量WはW−を翼占itである故Wか、サーミスタの島
放射定数以下になるようなサーミスタを選ぶ必要がある
。
計算し、その湿度におけるサーミスタ抵抗k【の自己発
熱量WはW−を翼占itである故Wか、サーミスタの島
放射定数以下になるようなサーミスタを選ぶ必要がある
。
上記の如くして構成した温度補償回路の補償特性は理想
直線と3点で交叉するS字曲線となる力入S字−線の理
想直線からのずれを全温度域に亘り最小にするため屹は
計算で求めた上記R1,R2、助を多少修正する必要が
ある。
直線と3点で交叉するS字曲線となる力入S字−線の理
想直線からのずれを全温度域に亘り最小にするため屹は
計算で求めた上記R1,R2、助を多少修正する必要が
ある。
第21Eiは1Lt=830.Q、iL2=330m、
1Lo=351xとしたときの温度補償特性で、縦軸に
電流%相対値、横軸Gc湿温度をとり、補償誤差を明ら
かにするため、理想直線を点線、補償曲線を実線で示す
。この図から50’lCにおける誤差は最大でも0.9
%に入っており、全温度域において補償誤差は1%以内
に納まっている。
1Lo=351xとしたときの温度補償特性で、縦軸に
電流%相対値、横軸Gc湿温度をとり、補償誤差を明ら
かにするため、理想直線を点線、補償曲線を実線で示す
。この図から50’lCにおける誤差は最大でも0.9
%に入っており、全温度域において補償誤差は1%以内
に納まっている。
この発明による温度補償回路は備か3個の受動素子に1
、k2、R【を用いるのみで発光ダイオードの温度補償
を積度^く行うことが可能であるから広範囲の温度域に
おけるアナログ針鉤光源用発光ダイオードの湿度補償回
路として用いることができる。
、k2、R【を用いるのみで発光ダイオードの温度補償
を積度^く行うことが可能であるから広範囲の温度域に
おけるアナログ針鉤光源用発光ダイオードの湿度補償回
路として用いることができる。
第」図は本発明の1実施例を、第2図は温度補償特性を
示す図面である。 特許出願人 日新電機株式会社 特許出願人 関西電力株式会社 代理人弁理士大西孝治 第1図 第2図 m−T (”C) 手続補正、!F(自発) 4m七の関係 411許廁願人 7 ’i jj l オオ豐カレキク ?
す★ル!Ill +Ti 大阪市北区中之島3
丁MS番22号4、代理人 住 所 大阪市南区秘鳳町3番23号松鳳ビル四階六号
富1) 補旧こより増加する発明の数 07 補正の
対象 (1)第4頁、第6行の[exPJをreXPJ に
訂正する。 (2)第4頁、第8行の[exPJをreICPJに訂
正する。 9、前記以外の補正をする者 住 所 京都市右京区梅津高畝町47番地氏 名 (9
43)日新電機株式会社 代表者 山脇正霞
示す図面である。 特許出願人 日新電機株式会社 特許出願人 関西電力株式会社 代理人弁理士大西孝治 第1図 第2図 m−T (”C) 手続補正、!F(自発) 4m七の関係 411許廁願人 7 ’i jj l オオ豐カレキク ?
す★ル!Ill +Ti 大阪市北区中之島3
丁MS番22号4、代理人 住 所 大阪市南区秘鳳町3番23号松鳳ビル四階六号
富1) 補旧こより増加する発明の数 07 補正の
対象 (1)第4頁、第6行の[exPJをreXPJ に
訂正する。 (2)第4頁、第8行の[exPJをreICPJに訂
正する。 9、前記以外の補正をする者 住 所 京都市右京区梅津高畝町47番地氏 名 (9
43)日新電機株式会社 代表者 山脇正霞
Claims (1)
- (1)測定端子と発光ダイオードの関に挿入接続さ−れ
たアナログ計測光源用発光ダイオードの温度補償回路に
おいて、固定抵抗鼠1と前記組に直列に接続された固定
抵抗R2と前記幻に並列に接続さ札かつ電流による抵抗
値変化の小さい負特性サーミスタを具備したことを特徴
とするアナログ計測光源用発光ダイオードの温度補償回
路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6499482A JPS58182562A (ja) | 1982-04-19 | 1982-04-19 | アナログ計測光源用発光ダイオ−ドの温度補償回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6499482A JPS58182562A (ja) | 1982-04-19 | 1982-04-19 | アナログ計測光源用発光ダイオ−ドの温度補償回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58182562A true JPS58182562A (ja) | 1983-10-25 |
Family
ID=13274120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6499482A Pending JPS58182562A (ja) | 1982-04-19 | 1982-04-19 | アナログ計測光源用発光ダイオ−ドの温度補償回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58182562A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6383607U (ja) * | 1986-11-19 | 1988-06-01 | ||
DE102004057379B3 (de) * | 2004-11-26 | 2006-08-10 | Schott Ag | Temperaturstabilisiertes organisches Leuchtelement |
WO2009052023A3 (en) * | 2007-10-19 | 2009-06-04 | American Sterilizer Co | Lighting control system for a lighting device |
US7812551B2 (en) | 2007-10-19 | 2010-10-12 | American Sterilizer Company | Lighting control method having a light output ramping function |
CN105093089A (zh) * | 2015-09-11 | 2015-11-25 | 南通皋鑫电子股份有限公司 | 高压二极管过温恢复能力检测方法及其系统装置 |
-
1982
- 1982-04-19 JP JP6499482A patent/JPS58182562A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6383607U (ja) * | 1986-11-19 | 1988-06-01 | ||
DE102004057379B3 (de) * | 2004-11-26 | 2006-08-10 | Schott Ag | Temperaturstabilisiertes organisches Leuchtelement |
WO2009052023A3 (en) * | 2007-10-19 | 2009-06-04 | American Sterilizer Co | Lighting control system for a lighting device |
US7701151B2 (en) | 2007-10-19 | 2010-04-20 | American Sterilizer Company | Lighting control system having temperature compensation and trim circuits |
US7812551B2 (en) | 2007-10-19 | 2010-10-12 | American Sterilizer Company | Lighting control method having a light output ramping function |
US7990078B2 (en) | 2007-10-19 | 2011-08-02 | American Sterilizer Company | Lighting control system having a trim circuit |
CN105093089A (zh) * | 2015-09-11 | 2015-11-25 | 南通皋鑫电子股份有限公司 | 高压二极管过温恢复能力检测方法及其系统装置 |
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